JPH02263133A - 静電容量式圧力検出器 - Google Patents
静電容量式圧力検出器Info
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- JPH02263133A JPH02263133A JP1091092A JP9109289A JPH02263133A JP H02263133 A JPH02263133 A JP H02263133A JP 1091092 A JP1091092 A JP 1091092A JP 9109289 A JP9109289 A JP 9109289A JP H02263133 A JPH02263133 A JP H02263133A
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- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/0041—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
- G01L9/0072—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in capacitance
- G01L9/0073—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in capacitance using a semiconductive diaphragm
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- G01L9/12—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in capacitance, i.e. electric circuits therefor
- G01L9/125—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in capacitance, i.e. electric circuits therefor with temperature compensating means
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は、圧力に応じて変位する1個のダイヤフラム
とこのダイヤフラムの各側に配設された固定電極との間
にそれぞれ形成される静電容量に基づいて圧力が測定さ
れる単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器であって
、とくにダイヤフラムと各固定電極との周縁接合部にお
ける静電容量の影響を除去するようにして検出信号の直
線化を図った静電容量式圧力検出器、および中央電極の
両側に設けられた2個のダイヤフラムを有する双ダイヤ
フラム形の検出器であって、とくに各ダイヤフラムと各
固定電極との周縁接合部における静電容量の影響を除去
するようにして検出信号の直線化を図った静電容量圧力
検出器に関する。
とこのダイヤフラムの各側に配設された固定電極との間
にそれぞれ形成される静電容量に基づいて圧力が測定さ
れる単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器であって
、とくにダイヤフラムと各固定電極との周縁接合部にお
ける静電容量の影響を除去するようにして検出信号の直
線化を図った静電容量式圧力検出器、および中央電極の
両側に設けられた2個のダイヤフラムを有する双ダイヤ
フラム形の検出器であって、とくに各ダイヤフラムと各
固定電極との周縁接合部における静電容量の影響を除去
するようにして検出信号の直線化を図った静電容量圧力
検出器に関する。
圧力に応じて変位する1個のダイヤフラムとこのダイヤ
フラムの各側に配置された固定電極との間にそれぞれ形
成される静電容量に基づいて圧力が測定される単ダイヤ
フラム形の静電容量式圧力検出器は、例えば米国特許筒
2,999,386号明細書に開示されている。 第13図はかかる従来の単ダイヤフラム形静電容量式圧
力検出器の要部の構成を示す断面図である。 この第13図において、69はシリコンから成るダイヤ
フラムであり、61.62は所定の厚さを有するガラス
接合部67、68を介してダイヤフラム69に接合され
た固定電極である。65はダイヤフラム69と固定電極
61との間に形成された空隙、66はダイヤフラム69
と固定電極62との間に形成された空隙である。63は
固定電極61にあけられて空隙65に圧力P1を導く圧
力導入孔、64は固定電極62にあけられて空隙66に
圧力P2を導く圧力導入孔である。 ダイヤフラム69と固定電極61とによって第1のコン
デンサが形成され、このコンデンサの静電容量C61が
リードピンAI、 A3を介して取出される。 また、ダイヤフラム69と固定電極62とによって第2
のコンデンサが形成され、このコンデンサの静電容量C
62がリードピンA2. A3を介して取出される。な
お、61a、62a、69aばそれぞれ導体板である。 そして今、圧力PI、P2がダイヤフラム69に作用す
ると、その差圧(Pi〜P2)に応じてダイヤフラム6
9が変位し、この変位に応じて静電容量C61゜C62
が変化し、この変化に基づいて差圧を測定することがで
きる。 なお、第13図に示した圧力検出器は通常は圧力PI、
P2を受圧する二つのシールダイヤフラムによって密閉
されたハウジング内に収納され、かつ、このハウジング
内に圧力伝達用の非圧縮性流体たとえばシリコーンオイ
ルが封入される。それゆえ、空隙65.66ならびに導
圧孔63.64にはシリコーンオイルが充填されること
になる。 双ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器は、特公昭5
8−29862号公報に開示されている。 第15図はかかる双ダイヤフラム形の静電容量式圧力検
出器の従来例の要部の断面図で、同図において要部であ
る検出部は、中央電極123、その各側にこれと対称的
に配設されるダイヤフラム127゜固定電極121、お
よびダイヤフラム128.固定電極122からなる。な
お、名称の同じ各部材は部材としては同一である。 中央電極123は、その外周に導体板123aが設けら
れ、両方の各側にダイヤフラム127.12Bが周縁部
でガラス接合部131 、132を介して接合される。 このガラス接合部131,132には、それぞれ1箇所
に中空部131h、 132hがあけられている。した
がって、ダイヤフラム127.128と中央電極123
との各対向間隙は、ガラス接合部131132の厚さと
同しである。 ダイヤフラム127,128のそれぞれ他方の側には固
定電極121,122が接合され、ダイヤフラム127
と固定電極121 との間、ダイヤフラム128と固定
電極122との間にはそれぞれ空間が設けられる。 また、固定電極121 、122は、その中心部を貫通
して圧力導入孔121h、122hがあげられ、外周面
に導体板121a、 122aを設ける。導体板121
a、 122a、 123aには、それぞれリードピン
AI、A2.A3が接触し、これらのリードビンによっ
て後述するように静電容量が取り出される。 ダイヤフラム127の右側空間U1には、固定電極12
1の圧力導入孔121hを通して圧力P1が作用し、ダ
イヤフラム127.中央電極123間の空間tJ2、中
央電極123.ダイヤフラム128間の空間U3、およ
びダイヤフラム128.固定電極122間の空間U4に
は、固定電極122の圧力導入孔122h、ガラス接合
部131,132の中空部131h、132hを通して
圧ノJP2が作用する。したがって、圧力差(P2−P
I)によってダイヤフラム127は変位するが、ダイヤ
フラム128は変位しない。 なお、第15図に示した圧力検出器は、通常は圧力Pi
、P2を受圧する2つのシールダイヤフラムによって密
閉されたハウジングまたはP2のみを受圧する1つのシ
ールダイヤフラムによって密閉されたハウジング内に収
納され、かつ、このハウジング内に圧力伝達用の非圧縮
性流体たとえばシリコーンオイルが封入される。 ところで、第15図に示した検出部は、いわゆる双ダイ
ヤフラム形で、この形の検出部の特徴は、■測定すべき
各圧力の媒体が異なっていても測定が可能である、たと
えば空間Ulを充填する媒体がM、空間U2.U3.U
4を充填する媒体がNであり得る、■温度変化による影
響を抑制、補償することが容易に可能である、ことなど
である。 第16図は従来例での静電容量の等価回路図である。第
15図における固定電極121と中央電極123との間
に形成される静電容量、言いかえれば、リードピンAL
A3によって取り出される静電容量は、■中央電極12
3の右側表面とダイヤフラム127との対向間隙を介し
て形成される静電容量、C。 /(1−Δ/d)、■固定電極121 とダイヤフラム
127と中央電極123との周縁部を介して形成される
静電容量C131、が並列接続されたものである。 なお、dはダイヤフラム127に作用する差圧(P2−
Pi)が零のときの、中央電極123の右側表面とダイ
ヤフラム127との対向間隙、Coは同じくその間の静
電容量、C131はガラス接合部131の厚さ方向に係
る静電容量である。また、P2がPlより大きいとする
。 同様に、リードビンA2.A3間の静電容量は、中央電
極123の左側表面とダイヤフラム128との間の静電
容量Coと、ガラス接合部132の厚さ方向の静電容量
C132との並列接続されたものである。
フラムの各側に配置された固定電極との間にそれぞれ形
成される静電容量に基づいて圧力が測定される単ダイヤ
フラム形の静電容量式圧力検出器は、例えば米国特許筒
2,999,386号明細書に開示されている。 第13図はかかる従来の単ダイヤフラム形静電容量式圧
力検出器の要部の構成を示す断面図である。 この第13図において、69はシリコンから成るダイヤ
フラムであり、61.62は所定の厚さを有するガラス
接合部67、68を介してダイヤフラム69に接合され
た固定電極である。65はダイヤフラム69と固定電極
61との間に形成された空隙、66はダイヤフラム69
と固定電極62との間に形成された空隙である。63は
固定電極61にあけられて空隙65に圧力P1を導く圧
力導入孔、64は固定電極62にあけられて空隙66に
圧力P2を導く圧力導入孔である。 ダイヤフラム69と固定電極61とによって第1のコン
デンサが形成され、このコンデンサの静電容量C61が
リードピンAI、 A3を介して取出される。 また、ダイヤフラム69と固定電極62とによって第2
のコンデンサが形成され、このコンデンサの静電容量C
62がリードピンA2. A3を介して取出される。な
お、61a、62a、69aばそれぞれ導体板である。 そして今、圧力PI、P2がダイヤフラム69に作用す
ると、その差圧(Pi〜P2)に応じてダイヤフラム6
9が変位し、この変位に応じて静電容量C61゜C62
が変化し、この変化に基づいて差圧を測定することがで
きる。 なお、第13図に示した圧力検出器は通常は圧力PI、
P2を受圧する二つのシールダイヤフラムによって密閉
されたハウジング内に収納され、かつ、このハウジング
内に圧力伝達用の非圧縮性流体たとえばシリコーンオイ
ルが封入される。それゆえ、空隙65.66ならびに導
圧孔63.64にはシリコーンオイルが充填されること
になる。 双ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器は、特公昭5
8−29862号公報に開示されている。 第15図はかかる双ダイヤフラム形の静電容量式圧力検
出器の従来例の要部の断面図で、同図において要部であ
る検出部は、中央電極123、その各側にこれと対称的
に配設されるダイヤフラム127゜固定電極121、お
よびダイヤフラム128.固定電極122からなる。な
お、名称の同じ各部材は部材としては同一である。 中央電極123は、その外周に導体板123aが設けら
れ、両方の各側にダイヤフラム127.12Bが周縁部
でガラス接合部131 、132を介して接合される。 このガラス接合部131,132には、それぞれ1箇所
に中空部131h、 132hがあけられている。した
がって、ダイヤフラム127.128と中央電極123
との各対向間隙は、ガラス接合部131132の厚さと
同しである。 ダイヤフラム127,128のそれぞれ他方の側には固
定電極121,122が接合され、ダイヤフラム127
と固定電極121 との間、ダイヤフラム128と固定
電極122との間にはそれぞれ空間が設けられる。 また、固定電極121 、122は、その中心部を貫通
して圧力導入孔121h、122hがあげられ、外周面
に導体板121a、 122aを設ける。導体板121
a、 122a、 123aには、それぞれリードピン
AI、A2.A3が接触し、これらのリードビンによっ
て後述するように静電容量が取り出される。 ダイヤフラム127の右側空間U1には、固定電極12
1の圧力導入孔121hを通して圧力P1が作用し、ダ
イヤフラム127.中央電極123間の空間tJ2、中
央電極123.ダイヤフラム128間の空間U3、およ
びダイヤフラム128.固定電極122間の空間U4に
は、固定電極122の圧力導入孔122h、ガラス接合
部131,132の中空部131h、132hを通して
圧ノJP2が作用する。したがって、圧力差(P2−P
I)によってダイヤフラム127は変位するが、ダイヤ
フラム128は変位しない。 なお、第15図に示した圧力検出器は、通常は圧力Pi
、P2を受圧する2つのシールダイヤフラムによって密
閉されたハウジングまたはP2のみを受圧する1つのシ
ールダイヤフラムによって密閉されたハウジング内に収
納され、かつ、このハウジング内に圧力伝達用の非圧縮
性流体たとえばシリコーンオイルが封入される。 ところで、第15図に示した検出部は、いわゆる双ダイ
ヤフラム形で、この形の検出部の特徴は、■測定すべき
各圧力の媒体が異なっていても測定が可能である、たと
えば空間Ulを充填する媒体がM、空間U2.U3.U
4を充填する媒体がNであり得る、■温度変化による影
響を抑制、補償することが容易に可能である、ことなど
である。 第16図は従来例での静電容量の等価回路図である。第
15図における固定電極121と中央電極123との間
に形成される静電容量、言いかえれば、リードピンAL
A3によって取り出される静電容量は、■中央電極12
3の右側表面とダイヤフラム127との対向間隙を介し
て形成される静電容量、C。 /(1−Δ/d)、■固定電極121 とダイヤフラム
127と中央電極123との周縁部を介して形成される
静電容量C131、が並列接続されたものである。 なお、dはダイヤフラム127に作用する差圧(P2−
Pi)が零のときの、中央電極123の右側表面とダイ
ヤフラム127との対向間隙、Coは同じくその間の静
電容量、C131はガラス接合部131の厚さ方向に係
る静電容量である。また、P2がPlより大きいとする
。 同様に、リードビンA2.A3間の静電容量は、中央電
極123の左側表面とダイヤフラム128との間の静電
容量Coと、ガラス接合部132の厚さ方向の静電容量
C132との並列接続されたものである。
以上説明したように、従来の単ダイヤフラム形の検出器
では、たとえばダイヤフラム69と固定電極61との間
には実際には二つのコンデンサが形成されている。一つ
のコンデンサはダイヤフラム69空隙65−固定電極6
1によって形成されており、その静電容量は周知のよう
に、Co/(1−Δ/d)で表される。ただし、co
=差圧(P2−Pl)が零のときの静電容量、Δ:差圧
(P2−PL)によるダイヤフラム69の右方向への変
位、d:差圧(P2−Pl)が零のときの空隙65の厚
さ、である。なお一般に、P2 >PIであるとする。 他の一つのコンデンサはダイヤフラム69−ガラス接合
部67−固定電極61によって形成されており、その静
電容量C67はダイヤフラム69の変位とは無関係に定
まる容量で、詳しくは後述するように測定上有害なもの
である。 また、ダイヤフラム69と固定電極62との間にも二つ
のコンデンサが形成されており、一方のダイヤフラム6
9−空隙66−固定電極62によって形成されたコンデ
ンサの静電容量はCo/(1+Δ/d)で表される。他
方のダイヤフラム69−ガラス接合部68−固定電極6
2によって形成されたコンデンサの静電容量C68は先
程の静電容IC67と同様にダイヤフラム69の変位と
は無関係に定まり、測定上有害である。 そして、前記の各静電容量は等価的には第14図のよう
に接続されているとみなせる。この第14図において、
リードピンAl−A3間から見た静電容量は、Co/(
1−Δ/d)+C67、リードピンA2−A3間から見
た静電容量は、Co/(1+Δ/d)+C68で表され
る。 次に、静電容11c67、 C6Bが静電容量Co /
(l−Δ/d)、Co/(1+Δ/d)に対して測定上
有害であることについて具体的に説明する。 すなわち、−例として、ダイヤフラム69および固定電
極61.62が一辺の長さ9mmの正方形体から成り、
空隙65.66が直径7mmの円形体から成り、空隙6
5.66にシリコーンオイルが封入され、かつガラス接
合部67、68が日本電気ガラス(l勾製のガラス接着
剤5M−36Aから成るとすると、詳しい計算過程は省
略するが、静電容量Co : 75.2Hp F)、C
67= C68: 150.50 (P F )である
。なお、空隙65、66の厚さおよびガラス接合部67
、68の厚さはそれぞれ12μmとし、シリコーンオイ
ルの比誘電率は2.65、上記5M−36Aの比誘電率
は4.8、真空誘電率は8.85 x 10− ”であ
るとする。この説明から明らかなように、測定に関係す
る静電容量Coに対して、測定に関与しない静電容量C
67C6Bは約2倍の大きさであり、測定上好ましくな
い。 さて、よく知られているように、C67、C68がCo
に比べて無視できる程度に小さいときには、Cl0=C
o / (1−Δ/ d )、 C20= Co /
(1+Δ/d)のように一対の静電容量CIO,C20
が差動的に変化するため、次の演算式によってダイヤフ
ラム変位Δに比例する信号Fを得るようにしている。 F = (Cl0− C20) / (C10+ C2
0)−Δ/d しかしながら、第13図の例の場合には、C67゜C6
BはCoの約2倍であるから、差圧(PI−P2)に対
する信号Fは上式のようにはならず、Δ/dの高次項が
発生して直線性は著しく悪化することになる。なお、C
67、C6BをCoに比べて無視できる程度に小さくす
るために、空隙65.66における電極面積を極めて太
きくず方法もあるが、このようにした場合には圧力検出
器全体の構成寸法が極めて大きくなり、好ましくない。 次に、従来の双ダイヤフラム形の検出器においてはC1
31,C132はCoに比べて少なくとも無視できる程
には小さくないから、周知の方法、つまりリードピンA
1.A3間の合成静電容量をCIO、リードピンA2.
A3間の合成静電容量をC20としたとき、F= (C
IO−C20) /CIOで与えられる信号Fを回路的
に得る方法によって、ダイヤフラム27の変位Δ、つま
り差圧(PI−P2)に比例する検出信号を得ることは
できない。 従って、この発明の目的は、従来の単ダイヤフラム形の
静電容量式圧力検出器がもつ以上の問題点を解消し、ダ
イヤフラ11と各固定電極との周縁接合部における静電
容量の影響を除去するようにして検出信号の直線化を図
った静電容量式圧力検出器を提供することにある。 また、この発明の目的は、従来の双ダイヤフラム形の静
電容量式圧力検出器がもつ以上の問題点を解消し、双ダ
イヤフラムのそれぞれと各固定電極との周縁接合部にお
ける静電容量の影響を除去するようにして検出信号の直
線化を図った静電容量式圧力検出器を提供することにあ
る。
では、たとえばダイヤフラム69と固定電極61との間
には実際には二つのコンデンサが形成されている。一つ
のコンデンサはダイヤフラム69空隙65−固定電極6
1によって形成されており、その静電容量は周知のよう
に、Co/(1−Δ/d)で表される。ただし、co
=差圧(P2−Pl)が零のときの静電容量、Δ:差圧
(P2−PL)によるダイヤフラム69の右方向への変
位、d:差圧(P2−Pl)が零のときの空隙65の厚
さ、である。なお一般に、P2 >PIであるとする。 他の一つのコンデンサはダイヤフラム69−ガラス接合
部67−固定電極61によって形成されており、その静
電容量C67はダイヤフラム69の変位とは無関係に定
まる容量で、詳しくは後述するように測定上有害なもの
である。 また、ダイヤフラム69と固定電極62との間にも二つ
のコンデンサが形成されており、一方のダイヤフラム6
9−空隙66−固定電極62によって形成されたコンデ
ンサの静電容量はCo/(1+Δ/d)で表される。他
方のダイヤフラム69−ガラス接合部68−固定電極6
2によって形成されたコンデンサの静電容量C68は先
程の静電容IC67と同様にダイヤフラム69の変位と
は無関係に定まり、測定上有害である。 そして、前記の各静電容量は等価的には第14図のよう
に接続されているとみなせる。この第14図において、
リードピンAl−A3間から見た静電容量は、Co/(
1−Δ/d)+C67、リードピンA2−A3間から見
た静電容量は、Co/(1+Δ/d)+C68で表され
る。 次に、静電容11c67、 C6Bが静電容量Co /
(l−Δ/d)、Co/(1+Δ/d)に対して測定上
有害であることについて具体的に説明する。 すなわち、−例として、ダイヤフラム69および固定電
極61.62が一辺の長さ9mmの正方形体から成り、
空隙65.66が直径7mmの円形体から成り、空隙6
5.66にシリコーンオイルが封入され、かつガラス接
合部67、68が日本電気ガラス(l勾製のガラス接着
剤5M−36Aから成るとすると、詳しい計算過程は省
略するが、静電容量Co : 75.2Hp F)、C
67= C68: 150.50 (P F )である
。なお、空隙65、66の厚さおよびガラス接合部67
、68の厚さはそれぞれ12μmとし、シリコーンオイ
ルの比誘電率は2.65、上記5M−36Aの比誘電率
は4.8、真空誘電率は8.85 x 10− ”であ
るとする。この説明から明らかなように、測定に関係す
る静電容量Coに対して、測定に関与しない静電容量C
67C6Bは約2倍の大きさであり、測定上好ましくな
い。 さて、よく知られているように、C67、C68がCo
に比べて無視できる程度に小さいときには、Cl0=C
o / (1−Δ/ d )、 C20= Co /
(1+Δ/d)のように一対の静電容量CIO,C20
が差動的に変化するため、次の演算式によってダイヤフ
ラム変位Δに比例する信号Fを得るようにしている。 F = (Cl0− C20) / (C10+ C2
0)−Δ/d しかしながら、第13図の例の場合には、C67゜C6
BはCoの約2倍であるから、差圧(PI−P2)に対
する信号Fは上式のようにはならず、Δ/dの高次項が
発生して直線性は著しく悪化することになる。なお、C
67、C6BをCoに比べて無視できる程度に小さくす
るために、空隙65.66における電極面積を極めて太
きくず方法もあるが、このようにした場合には圧力検出
器全体の構成寸法が極めて大きくなり、好ましくない。 次に、従来の双ダイヤフラム形の検出器においてはC1
31,C132はCoに比べて少なくとも無視できる程
には小さくないから、周知の方法、つまりリードピンA
1.A3間の合成静電容量をCIO、リードピンA2.
A3間の合成静電容量をC20としたとき、F= (C
IO−C20) /CIOで与えられる信号Fを回路的
に得る方法によって、ダイヤフラム27の変位Δ、つま
り差圧(PI−P2)に比例する検出信号を得ることは
できない。 従って、この発明の目的は、従来の単ダイヤフラム形の
静電容量式圧力検出器がもつ以上の問題点を解消し、ダ
イヤフラ11と各固定電極との周縁接合部における静電
容量の影響を除去するようにして検出信号の直線化を図
った静電容量式圧力検出器を提供することにある。 また、この発明の目的は、従来の双ダイヤフラム形の静
電容量式圧力検出器がもつ以上の問題点を解消し、双ダ
イヤフラムのそれぞれと各固定電極との周縁接合部にお
ける静電容量の影響を除去するようにして検出信号の直
線化を図った静電容量式圧力検出器を提供することにあ
る。
上記目的を達成するために、本発明に係る第1の単ダイ
ヤフラム形の静電容量式圧力検出器は、圧力に応じて変
位するダイヤフラムとこのダイヤフラムの各側に配設さ
れた固定電極との間にそれぞれ形成される静電容量に基
づいて前記圧力が測定される検出器において、 前記各固定電極は、 前記ダイヤフラムの中央部表面に近接対向する突出部を
中央部にもちかつ前記圧力用導入孔を設ける電極本体と
; この電極本体の前記突出部の側の周縁部に前記突出部を
囲む形で接合され、かつこの接合部と逆側の端面で前記
ダイヤフラムの周縁部と接合され絶縁材料からなる支持
体と;を備える。 次に、第2の単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器
は、 圧力に応じて変位するダイヤフラムとこのダイヤフラム
の各側に配設された固定電極との間にそれぞれ形成され
る静電容量に基づいて前記圧力が測定される検出器にお
いて、 前記各固定電極は、 一方の端面が前記ダイヤフラムの中央部表面に近接対向
しかつ前記圧力用導入孔を設ける中心電極体と; この中心電極体の外周面に接合される環状絶縁体と; この環状絶縁体の外周面に接合され、一方の端面で前記
ダイヤフラムの周縁部と絶縁的に接合される環状導体と
; を備え、前記ダイヤフラムと前記各環状導体とが電気的
に接続される。 また、第3の単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器
は、 圧力に応じて変位するダイヤフラムとこのダイヤフラム
の各側で周縁部同士が絶縁的に接合された固定電極との
間にそれぞれ形成される静電容量に基づいて前記圧力が
測定される検出器において、前記ダイヤフラムと前記各
固定電極との前記周縁接合部におけるのと同じ温度特性
の静電容量をもつ補正用コンデンサを備え、 この補正用コンデンサの静電容量によって、前記ダイヤ
フラムと前記各固定電極との前記周縁接合部における静
電容量の影響分が除去される。 また、本発明に係る双ダイヤフラム形の静電容量式圧力
検出器は、 中央電極と、この中央電極の各側に絶縁的に接合される
第1.第2の各ダイヤフラムと、この第1゜第2各ダイ
ヤフラムと前記接合の反対側でそれぞれ導通的に接合さ
れこの第1.第2各ダイヤフラムとの間にそれぞれ空間
を形成する第1.第2の各固定電極とを具備し、前記中
央電極と前記第1゜第2各固定電極との間にそれぞれ形
成される静電容Nに基づいて、前記第2ダイヤフラムの
両側の空間と前記第1ダイヤフラムの前記中央電極の側
の空間とに導入される一方の圧力と、前記第1固定電極
と前記第1ダイヤフラムとの間の空間に導入される他方
の圧力との差圧が測定される検出器において、 前記中央電極は、 電極基板と; この電極基板の各側に接合される絶縁板と;この各絶縁
板の外側の中央部に接合されかつ前記電極基板と電気的
に接続される導通板と;を備える。
ヤフラム形の静電容量式圧力検出器は、圧力に応じて変
位するダイヤフラムとこのダイヤフラムの各側に配設さ
れた固定電極との間にそれぞれ形成される静電容量に基
づいて前記圧力が測定される検出器において、 前記各固定電極は、 前記ダイヤフラムの中央部表面に近接対向する突出部を
中央部にもちかつ前記圧力用導入孔を設ける電極本体と
; この電極本体の前記突出部の側の周縁部に前記突出部を
囲む形で接合され、かつこの接合部と逆側の端面で前記
ダイヤフラムの周縁部と接合され絶縁材料からなる支持
体と;を備える。 次に、第2の単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器
は、 圧力に応じて変位するダイヤフラムとこのダイヤフラム
の各側に配設された固定電極との間にそれぞれ形成され
る静電容量に基づいて前記圧力が測定される検出器にお
いて、 前記各固定電極は、 一方の端面が前記ダイヤフラムの中央部表面に近接対向
しかつ前記圧力用導入孔を設ける中心電極体と; この中心電極体の外周面に接合される環状絶縁体と; この環状絶縁体の外周面に接合され、一方の端面で前記
ダイヤフラムの周縁部と絶縁的に接合される環状導体と
; を備え、前記ダイヤフラムと前記各環状導体とが電気的
に接続される。 また、第3の単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器
は、 圧力に応じて変位するダイヤフラムとこのダイヤフラム
の各側で周縁部同士が絶縁的に接合された固定電極との
間にそれぞれ形成される静電容量に基づいて前記圧力が
測定される検出器において、前記ダイヤフラムと前記各
固定電極との前記周縁接合部におけるのと同じ温度特性
の静電容量をもつ補正用コンデンサを備え、 この補正用コンデンサの静電容量によって、前記ダイヤ
フラムと前記各固定電極との前記周縁接合部における静
電容量の影響分が除去される。 また、本発明に係る双ダイヤフラム形の静電容量式圧力
検出器は、 中央電極と、この中央電極の各側に絶縁的に接合される
第1.第2の各ダイヤフラムと、この第1゜第2各ダイ
ヤフラムと前記接合の反対側でそれぞれ導通的に接合さ
れこの第1.第2各ダイヤフラムとの間にそれぞれ空間
を形成する第1.第2の各固定電極とを具備し、前記中
央電極と前記第1゜第2各固定電極との間にそれぞれ形
成される静電容Nに基づいて、前記第2ダイヤフラムの
両側の空間と前記第1ダイヤフラムの前記中央電極の側
の空間とに導入される一方の圧力と、前記第1固定電極
と前記第1ダイヤフラムとの間の空間に導入される他方
の圧力との差圧が測定される検出器において、 前記中央電極は、 電極基板と; この電極基板の各側に接合される絶縁板と;この各絶縁
板の外側の中央部に接合されかつ前記電極基板と電気的
に接続される導通板と;を備える。
第1の単ダイヤフラノ、形の静電容量式圧力検出器では
、ダイヤフラムと各電極本体との間に形成される静電容
量の内で、ダイヤフラム周縁部および支持体を経由して
形成される静電容量と、ダイヤフラムの中間部を経由し
て形成される静電容量とがそれぞれ、ダイヤフラムの中
央部を経由して形成され差動的に変化して圧力に関して
直線特性をもつようになし得る静電容量に比べて無視で
きる程度に小さくなし得る。 第2の単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器では、
ダイヤフラムと各中心電極体との間に形成される静電容
量の内で、ダイヤフラム周縁部。 環状導体および環状絶縁体を経由して形成される静電容
量が、ダイヤフラムの中央部を経由して形成され差動的
に変化して圧力に関して直線特性をもつようになし得る
静電容量に比べて無視できる程度に小さくなし得る。 第3の単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器では、
ダイヤフラムと各固定電極との間に形成される静電容量
の内で、ダイヤフラム周縁部を経由して形成される静電
容量が、補正用コンデンサの静電容量によって除去され
、ダイヤフラムの中央部を経由して形成され差動的に変
化して圧力に関して直線特性をもつようになし得る静電
容量だけになし得る。 また、双ダイヤフラム形の検出器においては、第1.第
2の各固定電極と電極基板との間にそれぞれ形成される
静電容量の内で、電極基板、各絶縁板および各ダイヤフ
ラムの周縁部をそれぞれ経由して形成される静電容量と
、電極基板、各絶縁板および各ダイヤフラムの中間部を
それぞれ経由して形成される静電容量とがそれぞれ、電
極基板。 各導通板および各ダイヤフラムの中央部をそれぞれ経由
して形成され差圧に関して直線特性をもつようになし得
る静電容量に比べて無視できる程度に小さくなし得る。
、ダイヤフラムと各電極本体との間に形成される静電容
量の内で、ダイヤフラム周縁部および支持体を経由して
形成される静電容量と、ダイヤフラムの中間部を経由し
て形成される静電容量とがそれぞれ、ダイヤフラムの中
央部を経由して形成され差動的に変化して圧力に関して
直線特性をもつようになし得る静電容量に比べて無視で
きる程度に小さくなし得る。 第2の単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器では、
ダイヤフラムと各中心電極体との間に形成される静電容
量の内で、ダイヤフラム周縁部。 環状導体および環状絶縁体を経由して形成される静電容
量が、ダイヤフラムの中央部を経由して形成され差動的
に変化して圧力に関して直線特性をもつようになし得る
静電容量に比べて無視できる程度に小さくなし得る。 第3の単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器では、
ダイヤフラムと各固定電極との間に形成される静電容量
の内で、ダイヤフラム周縁部を経由して形成される静電
容量が、補正用コンデンサの静電容量によって除去され
、ダイヤフラムの中央部を経由して形成され差動的に変
化して圧力に関して直線特性をもつようになし得る静電
容量だけになし得る。 また、双ダイヤフラム形の検出器においては、第1.第
2の各固定電極と電極基板との間にそれぞれ形成される
静電容量の内で、電極基板、各絶縁板および各ダイヤフ
ラムの周縁部をそれぞれ経由して形成される静電容量と
、電極基板、各絶縁板および各ダイヤフラムの中間部を
それぞれ経由して形成される静電容量とがそれぞれ、電
極基板。 各導通板および各ダイヤフラムの中央部をそれぞれ経由
して形成され差圧に関して直線特性をもつようになし得
る静電容量に比べて無視できる程度に小さくなし得る。
本発明に係る静電容量式圧力検出器の実施例について、
以下に図面を参照しながら説明する。 第1図は本発明による単ダイヤフラム形の静電容量式圧
力検出器の第1実施例の要部の断面図で、同図において
要部である検出部は、ダイヤフラム9と、その各側にこ
れと対称的に配設される固定電極L 2からなる。固
定電極1,2は主として、それぞれ電極本体3.4およ
び支持体5,6からなる。名称の同じ各部材は部材とし
ては同一であるから、以下の説明はとくに断らない限り
、一方の固定電極1の側で代表させる。 電極本体3は中央部に突出部を有する厚板状部材で、中
心部を貫通して圧力導入孔3hがあけられ、外周面に導
体板1aを設ける。支持体5は絶縁材料からなる環状部
材で、一方の端面で電極本体3の周縁部に、先程の突出
部を囲む形で接合される。電極本体3の突出部表面と支
持体5の自由端面とは同一平面上にある。固定電極1は
、ダイヤフラム9の右側表面にガラス接合部7を介して
接合される。したがって、ダイヤフラム9の右側表面と
電極本体3の突出部表面との間隙は、ガラス接合部7の
厚さと同じである。ダイヤフラム9の右側空間には圧力
P1が作用する。ダイヤフラム9の外周面には導体板9
aが設けられる。導体板1aにはリードピンA1が、導
体板9aにはり−ドビンA3がそれぞれ接触し、リード
ピンAI。 A3によって後述するように固定電極l、ダイヤフラム
9間に形成される静電容量が取り出される。 なお、他方の固定電極2に係るガラス接合部、導体板、
リードピンの各符号は、8.2a、A2である。 第2図は第1実施例において固定電極1の側で形成され
る静電容量の模式図である。固定電極1とダイヤフラム
9との間に形成される静電容量、言いかえれば、リード
ピンAI 、A3によって取り出される静電容量は、■
電極本体3の突出部表面とダイヤフラム9との対向間隙
を介して形成される静電容量、Co/(1−Δ/d)、
■電極本体3の中間部表面とダイヤフラム9との対向間
隙を介して形成される静電容(JCm、■支持体5の静
電容量C5、が並列接続されたものである。なお、dは
ダイヤフラム9に作用する差圧(P2−PL)が零のと
きの、電極本体3の突出部表面とダイヤフラム9との対
向間隙、Coは同じくその間の静電容量、C5は支持体
5の厚さ方向に係る静電容量である。導体板9aを第1
図示の如くガラス接合部7を被うように設けることによ
って、ガラス接合部の静電容量は存在しなくなる。また
、P2はダイヤフラム9の左側に作用する圧力で、P2
がPlより大きいとする。 第3図は第1実施例における静電容量の等価回路図で、
第2図に示した内容と同一である。ここで、C6,Cn
はそれぞれC5,Cmに対応する静電容量で、値が同一
であるとする。いま、C5,C6゜Cm、CnをCoに
比べて充分小さく選択することによって、リードビンA
I、A3間、A2.A3間の各静電容量をC1,C2と
すると、 C1=Co / (1−Δ/d) C2=Co / (1十Δ/d) が近似的に成立する。例えば、電極本体3の突出部の外
径を5.8mmとし、支持体5,6を比誘電率5.8の
セラミックスで形成して、その内径を6.7mm、厚さ
を2mmとすると、C5=C6=1.18pF、Cm
=Cn =Q、103pF 、 Co =51.6pF
、となり、上記の2つの式が成立するとして差しつかえ
ない。 なお、C2の方の分母にある十符号は、ダイヤフラム9
が電極本体4の突出部表面から離れる方向に変位するこ
とを示す。 したがって、既に従来例のところで説明したように、ダ
イヤフラム9の変位Δ、つまり差圧(P2PL)に比例
する検出信号を得ることができる。 次に、本発明に係る静電容量式圧力検出器の第2の実施
例について、以下に図面を参照しながら説明する。第4
図は第2実施例の要部の断面図で、同図において要部の
検出部は、ダイヤフラム19と、その各側にこれと対称
的に配設される固定電極1112からなる。固定電極1
1.12は主として、それぞれ中心電極体13.14、
環状絶縁体15A、 16Aおよび環状導体15B、1
6Bからなる。名称の同じ各部組は部材としては同一で
あるから、以下の説明はとくに断らない限り、一方の固
定電極11の側で代表させる。 中心電極体13は大、水工つの直径の部分からなる2段
用柱状体で、中心部を貫通して圧力導入孔13hがあけ
られ、大直径部分の外周面に環状絶縁体15Aがその内
周面で接合され、この環状絶縁体15Aの外周面に環状
導体1511がその内周面で接合される。中心電極体1
3の小直径部分の外周面に導体板13aが設ジノられる
。中心電極体13.環状絶縁体15Aおよび環状導体1
5Bの各左側の端面ば同一平面」−にある。固定電極1
1は、ダイヤフラム19の右側表面にガラス接合部17
を介して接合される。 したがって、ダイヤフラム19の右側表面と中心電極体
13の左側表面との間隙は、ガラス接合部17の厚さと
同じである。 ダイヤフラム19の右側空間には圧力P1が作用する。 ダイヤフラム19の外周面と環状導体15B。 16Bとをつなく形で導体板19aが設けられる。導体
板13aにはリードピンA1が、導体板19aにはリー
ドピンA3がそれぞれ接触し、リードピンAI、A3に
よって後述する固定電極11.ダイヤフラム19間に形
成される静電容量が取り出される。 なお、他方の固定電極12に係るガラス接合部、導体板
、リードピンの各符号は、18.14a、 A2である
。 第5図は第2実施例において固定電極11の側で形成さ
れる静電容量の模式図である。固定電極11とダイヤフ
ラム19との間に形成される静電容量、言いかえれば、
リートピンΔ1.A3によって取り出される静電容量は
、■中心電極体13の左側端面とダイヤフラム19との
対向間隙を介して形成される静電容量、Co/(1−Δ
/d)、■中心電極体13.環状絶縁体15Δ、環状導
体15Bを介して形成される静電容量C15−が並列接
続されたものである。なお、C15は環状絶縁体15A
の直径方向の厚さについての静電容量である。その他の
符号は、いずれも第1実施例におけるのと同じである。 第6図は第2実施例における静電容量の等価回路図で、
第5図に示した内容と同一である。ここで、C16はC
15に対応する静電容量で、その値は同じである。いま
、C15,C16をCoに比べて非常に小さく選択する
ことにより、リードピンAlA3間、A2.A3間の各
静電容量をC1l、 C12とすると、 C11=Co / (1−Δ/d) C11=Co / (1+Δ/d) が近似的に成立する。なお、CI2の方の分母にある十
符号は、ダイヤフラム19が中心電極体14の右側表面
から離れる方向に変位することを示す。したがって、既
に説明したように、ダイヤフラム19の変位Δ、つまり
差圧(P2−PL)に比例する検出信号を得ることがで
きる。 また次に、本発明に係る静電容量式圧力検出器の第3の
実施例について、以下に図面を参照しながら説明する。 第7図は第3実施例の要部の断面図で、同図において要
部である検出部は、検出部本体と、これに付設される補
正用コンデンサとからなる。検出部本体は、ダイヤフラ
ム29と、その各側にそれぞれガラス接合部27 、2
8を介して接合される固定電極2L22からなる。補正
用コンデンサ30は、環状のガラス接合部33を挟んで
その各側に接合されるドーナツ状の電極3L 32から
なる。 補正用コンデンサ30は、固定電極22と電極31との
、環状絶縁体23を介しての接合によって付設される。 検出部本体の固定電極2L22には、その中心部を貫通
して圧力導入孔21h、22hがあけられ、また外周面
にはそれぞれ導体板21a、 22aが設けられる。 また、補正用コンデンサ30の電極3L 32それぞれ
の外周面には、導体板31a、 32aが設けられる。 ダイヤフラム29の右側表面と固定電極21の左側表面
との間隙は、ガラス接合部27の厚さと同じである。同
様に、ダイヤフラム29の左側表面と固定電極22の右
側表面との間隙は、ガラス接合部28の厚さと同じで、
この場合にはガラス接合部27.28の厚さは等しい。 ダイヤフラム29の右側空間には圧力P1が、また左側
空間には圧力P2がそれぞれ作用する。ダイヤフラム2
9の外周面に導体板29aが設けられる。 検出部本体側の導体板21aにはリードピンA1が、導
体板22aにはリードピンA2が、導体板29aにはリ
ードピンA3がそれぞれ接触し、リードピンA1.A3
によって固定電極21.ダイヤフラム29間に形成され
る静電容量C21が、リードピンA2゜A3によって固
定電極22.ダイヤフラム29間に形成される静電容量
C22がそれぞれ取り出される。 また、補正用コンデンサ30側の導体板31aにはリー
ドピンA4が、導体板32aにはリードピンA5がそれ
ぞれ接触し、リードピンA4.A5によって電極3L3
2間に形成される静電容量C30が取り出される。 第8図は第3実施例における静電容量の等価回路図であ
る。ここで、C27,C2Bは、ガラス接合部27 、
28を誘電体として形成される静電容量で、その値は同
じであるとする。また、補正用コンデンサ30の静電容
量をC30とすると、C30=2・C27=2・02B
になるように選択され、かつ環状絶縁体23の静電容量
は非常に小さく選択される。 しかも、C30,C27,C28は、いずれもガラス接
合部であるから、その温度特性を同じにすることができ
る。また、その他の符号は、いずれも第1実施例、第2
実施例におけるのと同じである。 さて、従来例で説明したように、C27,C28は、い
ずれもCoに比べて無視できない程度の値であるから、
この検出部本体だけでは、ダイヤフラム29の変位Δ、
つまり差圧(P2−PL)に比例する検出信号を得るこ
とはできない。そこで、補正用コンデンサ30が、次に
詳しく説明するように、比例する検出信号を得るために
機能する。 第9図は第3実施例における、差圧に比例する検出信号
を得るための検出回路図である。第9図において、40
は定電流回路、4L42,43はいずれも整流器、44
は差動増幅器、TI、T2.T3はいずれもトランス、
RLR2はいずれも直流電圧取出し用の抵抗である。ト
ランスTI、T2はともに同位相で、この位相に対して
トランスT3のそれは逆になっている。 さて、それぞれ直列接続された抵抗R1,静電容量C2
1,整流器41.トランスTlと、抵抗R2,静電容量
C22,整流器42.トランスT2と、静電容量C30
,整流器43.トランスT3とが並列接続され、この並
列回路に定電流回路40から一定電流が供給され、その
ときの抵抗R1,R2の各両端電圧Vl、V2が差動増
幅器44に入力される。この差動増幅器44の出力Vo
が求めるべき検出信号になる。 C21,C22,C30を流れる電流を、N、J2.J
3、各トランスから供給される交流電圧、その周波数を
E、f、R1=R2=R1とすると、Jl冨f −C2
1・E J2=f−C22・ E J3=f−C30・ E したがって、kを定数とすると、 Vo =k (Vl −V2 ) =k f R−E (C21−C22) ・・・(1
)定電流回路40からの一定電流をJoとすると、Jo
=J1 +J2−J3 −f E (C2H−C22−C30) ・・・(2
)Joは定数であるから、(1)、 (2)式からfを
消去すると、 Vo =c(C21C22) /(C21+ C22−
C30) −(3)但し、c=kRJ。 ここで、 C21=C27+Co / (1−Δ/d)C22=C
2B十C,o / (1+Δ/d)C30=2・C27
=2・C28 であるから、 Vo=cΔ/d ・・・・・・(4
)となり、Voは C27,C28の影響は全く受けな
いことになる。しかも、C30,C27,C2Bはいず
れも近接して設置され、同一温度にあると見なせるから
、周囲温度が変化しても C30=2・C27=2・C28 の関係が成り立ち、したがって、(4)式も成り立つこ
とになる。言いかえれば、検出信号は、周囲温度が変化
しても、ダイヤフラム29の変位量Δ、つまり差圧(P
2−PI )と直線特性をもつ。 次に、本発明に係る双ダイヤフラム形の静電容量式圧力
検出器の実施例について説明する。第10図はこの実施
例の要部の断面図で、同図において要部である検出部は
、中央電極103、その各側にこれと対称的に配設され
るダイヤフラム107.固定電極101、およびダイヤ
フラム108.固定電極102からなる。なお、名称の
同じ各部材は部材としては同一である。 中央電極103は、電極基板104と、その各側に接合
された絶縁板105,106と、導通部109とからな
る。この導通部109は、中央の導通管109Cとその
各側の導通板109a、 109bとが一体化された部
材で、電極基板104と絶縁板105.106との中心
を貫通ずる形で設LJられ、導通板109a、 109
bが絶縁板105.106の表面に出る。電極基板10
4の外周に導体板103aが設けられる。絶縁板105
,106の各側にダイヤフラム107.108が周縁部
でガラス接合部111112を介して接合される。この
ガラス接合部111112には、それぞれ1箇所に中空
部111h、112hがあけられている。 ダイヤフラム107.108のそれぞれ他方の側には片
側に凹部をもつ固定電極101,102が導通的に接合
され、ダイヤフラム107と固定電極101との間、ダ
イヤフラム108と固定電極102との間にはそれぞれ
先程の凹部に相当する空間5LS4が設げられる。また
、固定電極101,102は、その中心部を貫通する圧
力導入孔101h、102hを、また外周面に導体板1
01a、 122aを設ける。導体板101a、 10
2a103aには、それぞれリードピンAt、A2.A
3が接触し、これらのリードピンAI、A2.A3によ
って後述するように静電容量が取り出される。 ダイヤフラム107の右側空間S1には、固定電極10
1の圧力導入孔101hを通して圧力P1が作用し、ダ
イヤフラム107.中央電極103間の空間S2、中央
電極103.ダイヤフラム108間の空間S3、および
ダイヤフラム108.固定電極102間の空間S4には
、固定電極102の圧力導入孔102h、ガラス接合部
111,112の中空部111h、112hを通して圧
力P2が作用する。したがって、ダイヤフラム107は
変位するが、ダイヤフラム108は変位しない。 第11図はこの実施例において固定電極101の側で形
成される静電容量の模式図である。固定電極101 と
中央電極103との間に形成される静電容量、言いかえ
れば、リードピンAI、A3によって取り出される静電
容量は、■ダイヤフラム7の左側表面の中央部と導通部
109aの表面との対向間隙を介して形成される静電容
量、Co/(1−Δ/d)、■ダイヤフラム107の中
間部の左側表面と絶縁板105との対向間隙を介して形
成される静電容量、つまり直列接続されたCp、ClO
3’、■ガラス接合部111.絶縁板105を介して形
成される静電容量、つまり直列接続されたCIIL C
lO3、が並列接続されたものである。なお、dはダイ
ヤフラム107に作用する差圧(PI−P2)が零のと
きの、ダイヤフラム7と導通部109aとの対向間隙、
Coは同じくその間の静電容量である。Cp、ClO3
’は、それぞれダイヤフラム107の中間部の左側表面
と絶縁板105の表面との間に形成される静電容量、絶
縁板105の厚さ方向の静電容量である。また、C11
1はガラス接合部111の厚さ方向の静電容量、ClO
3はガラス接合部111に対向した絶縁板105の厚さ
方向の静電容量である。なお、P2はダイヤフラム10
9の左側に作用する圧力で、PlがP2より大きいとす
る。 第12図はこの実施例における静電容量の等価回路図で
、第2図に示した内容と同一である。ここで、Coはダ
イヤフラム108と導通部109bとの間の一定の静電
容量、CQ+ C106’は、それぞれダイヤフラム1
08の中間部の左側表面と絶縁板106の表面との間に
形成される静電容量、絶縁板106の厚さ方向の静電容
量、C112はガラス接合部112の厚さ方向の静電容
量、C106はガラス接合部112に対向した絶縁板1
06の厚さ方向の静電容量であいま、ClO3,ClO
3’、 C106,C106”をC111゜C112
,Cp、 cqに比べて非常に小さく選択することによ
って、リードピンAI、A3間、A2.A3間の各静電
容量C1,C2は、近似的に CI =Co / (1−Δ/d) C2=C。 となる。例えば、ガラス接合部11L112の内径を6
.7mm、厚さを12μm 、絶縁板105.106比
誘電率5.8のセラミックスで形成し、その厚さを2
mm。 導通板109a、 109bの外径を5.8mmとする
と、c111=C112=195.7pF XClO3
=C106=1.18ρF1C105’=C106’−
0,2268pF、 cp =cq =17.268p
FSCo =51.6pFとなる。従ッテ、clllと
C105の合成値CGIはCc+=1.173pF 、
ClO3’とcpの合成値CG2はCcz=0.22
4pF 、よって、Goに対する浮遊容量の合成値は、
Cc+ + Ccz8=i1.4pFとなって、Co
=51.6pPに比べて無視できる程度まで小さくなる
。したがって、周知の方法、F=(CI −c2)/C
1で与えられる信号Fを回路的に得る方法によって、ダ
イヤフラム107の変位Δ、つまり差圧(PI−P2)
に比例する検出信号を得ることができる。 以上に説明したように、第1.第2の各固定電極と電極
基板との間にそれぞれ形成される静電容量の内で、電極
基板、各絶縁板および各ダイヤフラムの周縁部をそれぞ
れ経由して形成される静電容量と、電極基板、各絶縁板
および各ダイヤフラムの中間部をそれぞれ経由して形成
される静電容量とがそれぞれ、電極基板、各導通板およ
び各ダイヤフラムの中央部をそれぞれ経由して形成され
差圧に関して直線特性をもつ主静電容量に比べて無視で
きる程度に小さくなし得る。
以下に図面を参照しながら説明する。 第1図は本発明による単ダイヤフラム形の静電容量式圧
力検出器の第1実施例の要部の断面図で、同図において
要部である検出部は、ダイヤフラム9と、その各側にこ
れと対称的に配設される固定電極L 2からなる。固
定電極1,2は主として、それぞれ電極本体3.4およ
び支持体5,6からなる。名称の同じ各部材は部材とし
ては同一であるから、以下の説明はとくに断らない限り
、一方の固定電極1の側で代表させる。 電極本体3は中央部に突出部を有する厚板状部材で、中
心部を貫通して圧力導入孔3hがあけられ、外周面に導
体板1aを設ける。支持体5は絶縁材料からなる環状部
材で、一方の端面で電極本体3の周縁部に、先程の突出
部を囲む形で接合される。電極本体3の突出部表面と支
持体5の自由端面とは同一平面上にある。固定電極1は
、ダイヤフラム9の右側表面にガラス接合部7を介して
接合される。したがって、ダイヤフラム9の右側表面と
電極本体3の突出部表面との間隙は、ガラス接合部7の
厚さと同じである。ダイヤフラム9の右側空間には圧力
P1が作用する。ダイヤフラム9の外周面には導体板9
aが設けられる。導体板1aにはリードピンA1が、導
体板9aにはり−ドビンA3がそれぞれ接触し、リード
ピンAI。 A3によって後述するように固定電極l、ダイヤフラム
9間に形成される静電容量が取り出される。 なお、他方の固定電極2に係るガラス接合部、導体板、
リードピンの各符号は、8.2a、A2である。 第2図は第1実施例において固定電極1の側で形成され
る静電容量の模式図である。固定電極1とダイヤフラム
9との間に形成される静電容量、言いかえれば、リード
ピンAI 、A3によって取り出される静電容量は、■
電極本体3の突出部表面とダイヤフラム9との対向間隙
を介して形成される静電容量、Co/(1−Δ/d)、
■電極本体3の中間部表面とダイヤフラム9との対向間
隙を介して形成される静電容(JCm、■支持体5の静
電容量C5、が並列接続されたものである。なお、dは
ダイヤフラム9に作用する差圧(P2−PL)が零のと
きの、電極本体3の突出部表面とダイヤフラム9との対
向間隙、Coは同じくその間の静電容量、C5は支持体
5の厚さ方向に係る静電容量である。導体板9aを第1
図示の如くガラス接合部7を被うように設けることによ
って、ガラス接合部の静電容量は存在しなくなる。また
、P2はダイヤフラム9の左側に作用する圧力で、P2
がPlより大きいとする。 第3図は第1実施例における静電容量の等価回路図で、
第2図に示した内容と同一である。ここで、C6,Cn
はそれぞれC5,Cmに対応する静電容量で、値が同一
であるとする。いま、C5,C6゜Cm、CnをCoに
比べて充分小さく選択することによって、リードビンA
I、A3間、A2.A3間の各静電容量をC1,C2と
すると、 C1=Co / (1−Δ/d) C2=Co / (1十Δ/d) が近似的に成立する。例えば、電極本体3の突出部の外
径を5.8mmとし、支持体5,6を比誘電率5.8の
セラミックスで形成して、その内径を6.7mm、厚さ
を2mmとすると、C5=C6=1.18pF、Cm
=Cn =Q、103pF 、 Co =51.6pF
、となり、上記の2つの式が成立するとして差しつかえ
ない。 なお、C2の方の分母にある十符号は、ダイヤフラム9
が電極本体4の突出部表面から離れる方向に変位するこ
とを示す。 したがって、既に従来例のところで説明したように、ダ
イヤフラム9の変位Δ、つまり差圧(P2PL)に比例
する検出信号を得ることができる。 次に、本発明に係る静電容量式圧力検出器の第2の実施
例について、以下に図面を参照しながら説明する。第4
図は第2実施例の要部の断面図で、同図において要部の
検出部は、ダイヤフラム19と、その各側にこれと対称
的に配設される固定電極1112からなる。固定電極1
1.12は主として、それぞれ中心電極体13.14、
環状絶縁体15A、 16Aおよび環状導体15B、1
6Bからなる。名称の同じ各部組は部材としては同一で
あるから、以下の説明はとくに断らない限り、一方の固
定電極11の側で代表させる。 中心電極体13は大、水工つの直径の部分からなる2段
用柱状体で、中心部を貫通して圧力導入孔13hがあけ
られ、大直径部分の外周面に環状絶縁体15Aがその内
周面で接合され、この環状絶縁体15Aの外周面に環状
導体1511がその内周面で接合される。中心電極体1
3の小直径部分の外周面に導体板13aが設ジノられる
。中心電極体13.環状絶縁体15Aおよび環状導体1
5Bの各左側の端面ば同一平面」−にある。固定電極1
1は、ダイヤフラム19の右側表面にガラス接合部17
を介して接合される。 したがって、ダイヤフラム19の右側表面と中心電極体
13の左側表面との間隙は、ガラス接合部17の厚さと
同じである。 ダイヤフラム19の右側空間には圧力P1が作用する。 ダイヤフラム19の外周面と環状導体15B。 16Bとをつなく形で導体板19aが設けられる。導体
板13aにはリードピンA1が、導体板19aにはリー
ドピンA3がそれぞれ接触し、リードピンAI、A3に
よって後述する固定電極11.ダイヤフラム19間に形
成される静電容量が取り出される。 なお、他方の固定電極12に係るガラス接合部、導体板
、リードピンの各符号は、18.14a、 A2である
。 第5図は第2実施例において固定電極11の側で形成さ
れる静電容量の模式図である。固定電極11とダイヤフ
ラム19との間に形成される静電容量、言いかえれば、
リートピンΔ1.A3によって取り出される静電容量は
、■中心電極体13の左側端面とダイヤフラム19との
対向間隙を介して形成される静電容量、Co/(1−Δ
/d)、■中心電極体13.環状絶縁体15Δ、環状導
体15Bを介して形成される静電容量C15−が並列接
続されたものである。なお、C15は環状絶縁体15A
の直径方向の厚さについての静電容量である。その他の
符号は、いずれも第1実施例におけるのと同じである。 第6図は第2実施例における静電容量の等価回路図で、
第5図に示した内容と同一である。ここで、C16はC
15に対応する静電容量で、その値は同じである。いま
、C15,C16をCoに比べて非常に小さく選択する
ことにより、リードピンAlA3間、A2.A3間の各
静電容量をC1l、 C12とすると、 C11=Co / (1−Δ/d) C11=Co / (1+Δ/d) が近似的に成立する。なお、CI2の方の分母にある十
符号は、ダイヤフラム19が中心電極体14の右側表面
から離れる方向に変位することを示す。したがって、既
に説明したように、ダイヤフラム19の変位Δ、つまり
差圧(P2−PL)に比例する検出信号を得ることがで
きる。 また次に、本発明に係る静電容量式圧力検出器の第3の
実施例について、以下に図面を参照しながら説明する。 第7図は第3実施例の要部の断面図で、同図において要
部である検出部は、検出部本体と、これに付設される補
正用コンデンサとからなる。検出部本体は、ダイヤフラ
ム29と、その各側にそれぞれガラス接合部27 、2
8を介して接合される固定電極2L22からなる。補正
用コンデンサ30は、環状のガラス接合部33を挟んで
その各側に接合されるドーナツ状の電極3L 32から
なる。 補正用コンデンサ30は、固定電極22と電極31との
、環状絶縁体23を介しての接合によって付設される。 検出部本体の固定電極2L22には、その中心部を貫通
して圧力導入孔21h、22hがあけられ、また外周面
にはそれぞれ導体板21a、 22aが設けられる。 また、補正用コンデンサ30の電極3L 32それぞれ
の外周面には、導体板31a、 32aが設けられる。 ダイヤフラム29の右側表面と固定電極21の左側表面
との間隙は、ガラス接合部27の厚さと同じである。同
様に、ダイヤフラム29の左側表面と固定電極22の右
側表面との間隙は、ガラス接合部28の厚さと同じで、
この場合にはガラス接合部27.28の厚さは等しい。 ダイヤフラム29の右側空間には圧力P1が、また左側
空間には圧力P2がそれぞれ作用する。ダイヤフラム2
9の外周面に導体板29aが設けられる。 検出部本体側の導体板21aにはリードピンA1が、導
体板22aにはリードピンA2が、導体板29aにはリ
ードピンA3がそれぞれ接触し、リードピンA1.A3
によって固定電極21.ダイヤフラム29間に形成され
る静電容量C21が、リードピンA2゜A3によって固
定電極22.ダイヤフラム29間に形成される静電容量
C22がそれぞれ取り出される。 また、補正用コンデンサ30側の導体板31aにはリー
ドピンA4が、導体板32aにはリードピンA5がそれ
ぞれ接触し、リードピンA4.A5によって電極3L3
2間に形成される静電容量C30が取り出される。 第8図は第3実施例における静電容量の等価回路図であ
る。ここで、C27,C2Bは、ガラス接合部27 、
28を誘電体として形成される静電容量で、その値は同
じであるとする。また、補正用コンデンサ30の静電容
量をC30とすると、C30=2・C27=2・02B
になるように選択され、かつ環状絶縁体23の静電容量
は非常に小さく選択される。 しかも、C30,C27,C28は、いずれもガラス接
合部であるから、その温度特性を同じにすることができ
る。また、その他の符号は、いずれも第1実施例、第2
実施例におけるのと同じである。 さて、従来例で説明したように、C27,C28は、い
ずれもCoに比べて無視できない程度の値であるから、
この検出部本体だけでは、ダイヤフラム29の変位Δ、
つまり差圧(P2−PL)に比例する検出信号を得るこ
とはできない。そこで、補正用コンデンサ30が、次に
詳しく説明するように、比例する検出信号を得るために
機能する。 第9図は第3実施例における、差圧に比例する検出信号
を得るための検出回路図である。第9図において、40
は定電流回路、4L42,43はいずれも整流器、44
は差動増幅器、TI、T2.T3はいずれもトランス、
RLR2はいずれも直流電圧取出し用の抵抗である。ト
ランスTI、T2はともに同位相で、この位相に対して
トランスT3のそれは逆になっている。 さて、それぞれ直列接続された抵抗R1,静電容量C2
1,整流器41.トランスTlと、抵抗R2,静電容量
C22,整流器42.トランスT2と、静電容量C30
,整流器43.トランスT3とが並列接続され、この並
列回路に定電流回路40から一定電流が供給され、その
ときの抵抗R1,R2の各両端電圧Vl、V2が差動増
幅器44に入力される。この差動増幅器44の出力Vo
が求めるべき検出信号になる。 C21,C22,C30を流れる電流を、N、J2.J
3、各トランスから供給される交流電圧、その周波数を
E、f、R1=R2=R1とすると、Jl冨f −C2
1・E J2=f−C22・ E J3=f−C30・ E したがって、kを定数とすると、 Vo =k (Vl −V2 ) =k f R−E (C21−C22) ・・・(1
)定電流回路40からの一定電流をJoとすると、Jo
=J1 +J2−J3 −f E (C2H−C22−C30) ・・・(2
)Joは定数であるから、(1)、 (2)式からfを
消去すると、 Vo =c(C21C22) /(C21+ C22−
C30) −(3)但し、c=kRJ。 ここで、 C21=C27+Co / (1−Δ/d)C22=C
2B十C,o / (1+Δ/d)C30=2・C27
=2・C28 であるから、 Vo=cΔ/d ・・・・・・(4
)となり、Voは C27,C28の影響は全く受けな
いことになる。しかも、C30,C27,C2Bはいず
れも近接して設置され、同一温度にあると見なせるから
、周囲温度が変化しても C30=2・C27=2・C28 の関係が成り立ち、したがって、(4)式も成り立つこ
とになる。言いかえれば、検出信号は、周囲温度が変化
しても、ダイヤフラム29の変位量Δ、つまり差圧(P
2−PI )と直線特性をもつ。 次に、本発明に係る双ダイヤフラム形の静電容量式圧力
検出器の実施例について説明する。第10図はこの実施
例の要部の断面図で、同図において要部である検出部は
、中央電極103、その各側にこれと対称的に配設され
るダイヤフラム107.固定電極101、およびダイヤ
フラム108.固定電極102からなる。なお、名称の
同じ各部材は部材としては同一である。 中央電極103は、電極基板104と、その各側に接合
された絶縁板105,106と、導通部109とからな
る。この導通部109は、中央の導通管109Cとその
各側の導通板109a、 109bとが一体化された部
材で、電極基板104と絶縁板105.106との中心
を貫通ずる形で設LJられ、導通板109a、 109
bが絶縁板105.106の表面に出る。電極基板10
4の外周に導体板103aが設けられる。絶縁板105
,106の各側にダイヤフラム107.108が周縁部
でガラス接合部111112を介して接合される。この
ガラス接合部111112には、それぞれ1箇所に中空
部111h、112hがあけられている。 ダイヤフラム107.108のそれぞれ他方の側には片
側に凹部をもつ固定電極101,102が導通的に接合
され、ダイヤフラム107と固定電極101との間、ダ
イヤフラム108と固定電極102との間にはそれぞれ
先程の凹部に相当する空間5LS4が設げられる。また
、固定電極101,102は、その中心部を貫通する圧
力導入孔101h、102hを、また外周面に導体板1
01a、 122aを設ける。導体板101a、 10
2a103aには、それぞれリードピンAt、A2.A
3が接触し、これらのリードピンAI、A2.A3によ
って後述するように静電容量が取り出される。 ダイヤフラム107の右側空間S1には、固定電極10
1の圧力導入孔101hを通して圧力P1が作用し、ダ
イヤフラム107.中央電極103間の空間S2、中央
電極103.ダイヤフラム108間の空間S3、および
ダイヤフラム108.固定電極102間の空間S4には
、固定電極102の圧力導入孔102h、ガラス接合部
111,112の中空部111h、112hを通して圧
力P2が作用する。したがって、ダイヤフラム107は
変位するが、ダイヤフラム108は変位しない。 第11図はこの実施例において固定電極101の側で形
成される静電容量の模式図である。固定電極101 と
中央電極103との間に形成される静電容量、言いかえ
れば、リードピンAI、A3によって取り出される静電
容量は、■ダイヤフラム7の左側表面の中央部と導通部
109aの表面との対向間隙を介して形成される静電容
量、Co/(1−Δ/d)、■ダイヤフラム107の中
間部の左側表面と絶縁板105との対向間隙を介して形
成される静電容量、つまり直列接続されたCp、ClO
3’、■ガラス接合部111.絶縁板105を介して形
成される静電容量、つまり直列接続されたCIIL C
lO3、が並列接続されたものである。なお、dはダイ
ヤフラム107に作用する差圧(PI−P2)が零のと
きの、ダイヤフラム7と導通部109aとの対向間隙、
Coは同じくその間の静電容量である。Cp、ClO3
’は、それぞれダイヤフラム107の中間部の左側表面
と絶縁板105の表面との間に形成される静電容量、絶
縁板105の厚さ方向の静電容量である。また、C11
1はガラス接合部111の厚さ方向の静電容量、ClO
3はガラス接合部111に対向した絶縁板105の厚さ
方向の静電容量である。なお、P2はダイヤフラム10
9の左側に作用する圧力で、PlがP2より大きいとす
る。 第12図はこの実施例における静電容量の等価回路図で
、第2図に示した内容と同一である。ここで、Coはダ
イヤフラム108と導通部109bとの間の一定の静電
容量、CQ+ C106’は、それぞれダイヤフラム1
08の中間部の左側表面と絶縁板106の表面との間に
形成される静電容量、絶縁板106の厚さ方向の静電容
量、C112はガラス接合部112の厚さ方向の静電容
量、C106はガラス接合部112に対向した絶縁板1
06の厚さ方向の静電容量であいま、ClO3,ClO
3’、 C106,C106”をC111゜C112
,Cp、 cqに比べて非常に小さく選択することによ
って、リードピンAI、A3間、A2.A3間の各静電
容量C1,C2は、近似的に CI =Co / (1−Δ/d) C2=C。 となる。例えば、ガラス接合部11L112の内径を6
.7mm、厚さを12μm 、絶縁板105.106比
誘電率5.8のセラミックスで形成し、その厚さを2
mm。 導通板109a、 109bの外径を5.8mmとする
と、c111=C112=195.7pF XClO3
=C106=1.18ρF1C105’=C106’−
0,2268pF、 cp =cq =17.268p
FSCo =51.6pFとなる。従ッテ、clllと
C105の合成値CGIはCc+=1.173pF 、
ClO3’とcpの合成値CG2はCcz=0.22
4pF 、よって、Goに対する浮遊容量の合成値は、
Cc+ + Ccz8=i1.4pFとなって、Co
=51.6pPに比べて無視できる程度まで小さくなる
。したがって、周知の方法、F=(CI −c2)/C
1で与えられる信号Fを回路的に得る方法によって、ダ
イヤフラム107の変位Δ、つまり差圧(PI−P2)
に比例する検出信号を得ることができる。 以上に説明したように、第1.第2の各固定電極と電極
基板との間にそれぞれ形成される静電容量の内で、電極
基板、各絶縁板および各ダイヤフラムの周縁部をそれぞ
れ経由して形成される静電容量と、電極基板、各絶縁板
および各ダイヤフラムの中間部をそれぞれ経由して形成
される静電容量とがそれぞれ、電極基板、各導通板およ
び各ダイヤフラムの中央部をそれぞれ経由して形成され
差圧に関して直線特性をもつ主静電容量に比べて無視で
きる程度に小さくなし得る。
この発明によれば、従来の技術に比べ次のようなすぐれ
た効果がある。 (1)単ダイヤフラム形の検出器においては、ダイヤフ
ラムと各固定電極との周縁接合部における静電容量の影
響を除去するようにして検出信号の直線化を図ることが
できる。 (2) とくに第3の単ダイヤフラム形の検出器によ
れば、従来の検出器に補正用コンデンサを付設する構成
をとるから、既設の検出器を簡単に改善できる。 (3)双ダイヤフラム形の検出器においては、双ダイヤ
フラムのそれぞれと各固定電極との周縁接合部等におけ
る静電容量の影響を除去して検出信号の直線化を図るこ
とができる。 (4)単ダイヤフラム形、双ダイヤフラム形いずれの静
電容量式圧力検出器においても、構造が簡単で製作しや
すく、信頼性向上と低コスト化とが図れる。
た効果がある。 (1)単ダイヤフラム形の検出器においては、ダイヤフ
ラムと各固定電極との周縁接合部における静電容量の影
響を除去するようにして検出信号の直線化を図ることが
できる。 (2) とくに第3の単ダイヤフラム形の検出器によ
れば、従来の検出器に補正用コンデンサを付設する構成
をとるから、既設の検出器を簡単に改善できる。 (3)双ダイヤフラム形の検出器においては、双ダイヤ
フラムのそれぞれと各固定電極との周縁接合部等におけ
る静電容量の影響を除去して検出信号の直線化を図るこ
とができる。 (4)単ダイヤフラム形、双ダイヤフラム形いずれの静
電容量式圧力検出器においても、構造が簡単で製作しや
すく、信頼性向上と低コスト化とが図れる。
第1図は本発明の単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検
出器の第1実施例の要部の断面図、第2図は第1実施例
において形成される静電容量の模式図、 第3図は第1実施例での静電容量の等価回路図、第4図
は単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器の第2実施
例の要部の断面図、 第5図は第2実施例において形成される静電容量の模式
図、 第6図は第2実施例での静電容量の等価回路図、第7図
は単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器の第3実施
例の要部の断面図、 第8図は第3実施例での静電容量の等価回路図、第9図
は第3実施例に適当される検出回路図、第10図は本発
明に係る双ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器の実
施例の要部の断面図、第11図はこの実施例において形
成される静電容量の模式図、 第12図はこの実施例での静電容量の等価回路図、第1
3図は単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器の従来
例における要部の断面図、 第14図はこの従来例における静電容量の等価回路図、 第15図は双ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器の
従来例の要部の断面図、 第16図はこの従来例での静電容量の等価回路図である
。 符号説明 1.2、lL12.21.22 :固定電極、3.4
:電極本体、5,6:支持体、 7.8.17.18.27,28 ニガラス接合部、9
、19.29:ダイヤフラム、 13.14 :中心電極体、 15A、16A :環状絶縁体、15B、16B
:環状導体、23:環状絶縁体、30:補正用コンデン
サ、31.32:電極、33ニガラス接合部、101.
102 :固定電極、103:中央電極、104:電
極基板、105,106 :絶縁板、107.108
:ダイヤフラム、109:導通部、109a、10
9b : ’J−通板、109c : ”1通管、L
LL112 ニガラス接合部。 A2 A3 Al 矛13目 第14図 第15目 Go/(1−跪) 第161
出器の第1実施例の要部の断面図、第2図は第1実施例
において形成される静電容量の模式図、 第3図は第1実施例での静電容量の等価回路図、第4図
は単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器の第2実施
例の要部の断面図、 第5図は第2実施例において形成される静電容量の模式
図、 第6図は第2実施例での静電容量の等価回路図、第7図
は単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器の第3実施
例の要部の断面図、 第8図は第3実施例での静電容量の等価回路図、第9図
は第3実施例に適当される検出回路図、第10図は本発
明に係る双ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器の実
施例の要部の断面図、第11図はこの実施例において形
成される静電容量の模式図、 第12図はこの実施例での静電容量の等価回路図、第1
3図は単ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器の従来
例における要部の断面図、 第14図はこの従来例における静電容量の等価回路図、 第15図は双ダイヤフラム形の静電容量式圧力検出器の
従来例の要部の断面図、 第16図はこの従来例での静電容量の等価回路図である
。 符号説明 1.2、lL12.21.22 :固定電極、3.4
:電極本体、5,6:支持体、 7.8.17.18.27,28 ニガラス接合部、9
、19.29:ダイヤフラム、 13.14 :中心電極体、 15A、16A :環状絶縁体、15B、16B
:環状導体、23:環状絶縁体、30:補正用コンデン
サ、31.32:電極、33ニガラス接合部、101.
102 :固定電極、103:中央電極、104:電
極基板、105,106 :絶縁板、107.108
:ダイヤフラム、109:導通部、109a、10
9b : ’J−通板、109c : ”1通管、L
LL112 ニガラス接合部。 A2 A3 Al 矛13目 第14図 第15目 Go/(1−跪) 第161
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)圧力に応じて変位するダイヤフラムとこのダイヤフ
ラムの各側に配設された固定電極との間にそれぞれ形成
される静電容量に基づいて前記圧力が測定される検出器
において、前記各固定電極は、前記ダイヤフラムの中央
部表面に近接対向する突出部を中央部にもちかつ圧力用
導入孔を設ける電極本体と;この電極本体の前記突出部
の側の周縁部に前記突出部を囲む形で接合され、かつこ
の接合部と逆側の端面で前記ダイヤフラムの周縁部と接
合され絶縁材料からなる支持体と;を備えることを特徴
とする静電容量式圧力検出器。 2)圧力に応じて変位するダイヤフラムとこのダイヤフ
ラムの各側に配設された固定電極との間にそれぞれ形成
される静電容量に基づいて前記圧力が測定される検出器
において、前記各固定電極は、一方の端面が前記ダイヤ
フラムの中央部表面に近接対向しかつ前記圧力用導入孔
を設ける中心電極体と;この中心電極体の外周面に接合
される環状絶縁体と;この環状絶縁体の外周面に接合さ
れ、一方の端面で前記ダイヤフラムの周縁部と絶縁的に
接合される環状導体と;を備え、前記ダイヤフラムと前
記各環状導体とが電気的に接続されることを特徴とする
静電容量式圧力検出器。 3)圧力に応じて変位するダイヤフラムとこのダイヤフ
ラムの各側で周縁部同士が絶縁的に接合された固定電極
との間にそれぞれ形成される静電容量に基づいて前記圧
力が測定される検出器において、前記ダイヤフラムと前
記各固定電極との前記周縁接合部におけるのと同じ温度
特性の静電容量をもつ補正用コンデンサを備え、この補
正用コンデンサの静電容量によって、前記ダイヤフラム
と前記各固定電極との前記周縁接合部における静電容量
の影響分が除去されるようにしたことを特徴とする静電
容量式圧力検出器。 4)中央電極と、この中央電極の各側に絶縁的に接合さ
れる第1、第2の各ダイヤフラムと、この第1、第2各
ダイヤフラムと前記接合の反対側でそれぞれ導通的に接
合されこの第1、第2各ダイヤフラムとの間にそれぞれ
空間を形成する第1、第2の各固定電極とを具備し、前
記中央電極と前記第1、第2各固定電極との間にそれぞ
れ形成される静電容量に基づいて、前記第2ダイヤフラ
ムの両側の空間と前記第1ダイヤフラムの前記中央電極
の側の空間とに導入される一方の圧力と、前記第1固定
電極と前記第1ダイヤフラムとの間の空間に導入される
他方の圧力との差圧が測定される検出器において、 前記中央電極は、電極基板と;この電極基板の各側に接
合される絶縁板と;この各絶縁板の外側の中央部に接合
されかつ前記電極基板と電気的に接続される導通板と;
を備えることを特徴とする静電容量式圧力検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1091092A JP2570420B2 (ja) | 1988-06-23 | 1989-04-11 | 静電容量式圧力検出器 |
Applications Claiming Priority (9)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15557988 | 1988-06-23 | ||
| JP15557888 | 1988-06-23 | ||
| JP63-301979 | 1988-11-29 | ||
| JP30197988 | 1988-11-29 | ||
| JP63-155578 | 1988-11-29 | ||
| JP63-301978 | 1988-11-29 | ||
| JP30197888 | 1988-11-29 | ||
| JP63-155579 | 1988-11-29 | ||
| JP1091092A JP2570420B2 (ja) | 1988-06-23 | 1989-04-11 | 静電容量式圧力検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02263133A true JPH02263133A (ja) | 1990-10-25 |
| JP2570420B2 JP2570420B2 (ja) | 1997-01-08 |
Family
ID=27473359
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1091092A Expired - Lifetime JP2570420B2 (ja) | 1988-06-23 | 1989-04-11 | 静電容量式圧力検出器 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5042308A (ja) |
| JP (1) | JP2570420B2 (ja) |
| BR (1) | BR8903075A (ja) |
| DE (1) | DE3920674C2 (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4004275A1 (de) * | 1990-02-13 | 1991-08-14 | Schoppe & Faeser Gmbh | Kapazitiver druck- oder differenzdrucksensor |
| US5902933A (en) * | 1993-02-22 | 1999-05-11 | Omron Corporation | Pressure sensor and its application |
| JP3106805B2 (ja) * | 1993-10-14 | 2000-11-06 | 富士電機株式会社 | 圧力差測定方法及び変位変換装置 |
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| JP6748000B2 (ja) * | 2017-02-08 | 2020-08-26 | アズビル株式会社 | 圧力センサ |
| US10255787B1 (en) | 2017-03-10 | 2019-04-09 | Alarm.Com Incorporated | Magnetic sensor batteries |
| DE102018119943A1 (de) * | 2018-08-16 | 2020-02-20 | Endress+Hauser SE+Co. KG | Drucksensor |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| FR1010328A (fr) * | 1950-02-03 | 1952-06-10 | Manomètre différentiel électrique | |
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-
1989
- 1989-04-11 JP JP1091092A patent/JP2570420B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1989-06-22 US US07/369,847 patent/US5042308A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-06-23 BR BR898903075A patent/BR8903075A/pt not_active IP Right Cessation
- 1989-06-23 DE DE3920674A patent/DE3920674C2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5042308A (en) | 1991-08-27 |
| DE3920674A1 (de) | 1990-01-11 |
| BR8903075A (pt) | 1990-02-06 |
| DE3920674C2 (de) | 1994-06-30 |
| JP2570420B2 (ja) | 1997-01-08 |
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