JPH02263391A - 半導体メモリ装置 - Google Patents

半導体メモリ装置

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Publication number
JPH02263391A
JPH02263391A JP2017126A JP1712690A JPH02263391A JP H02263391 A JPH02263391 A JP H02263391A JP 2017126 A JP2017126 A JP 2017126A JP 1712690 A JP1712690 A JP 1712690A JP H02263391 A JPH02263391 A JP H02263391A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory cell
cell group
line
word line
memory device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2017126A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Anami
穴見 健治
Masahiko Yoshimoto
雅彦 吉本
Hiroshi Shinohara
尋史 篠原
Osamu Tomizawa
富沢 治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2017126A priority Critical patent/JPH02263391A/ja
Publication of JPH02263391A publication Critical patent/JPH02263391A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、アクセスタイムの向上および消費電力の低減
が可能な半導体メモリ装置に関するものである。
〔従来の技術〕
第2図は従来の半導体メモリ装置を示すブロック図であ
る。同図において、1はマトリクス状に配列し、その詳
細な回路を第3図に示すメモリセル、2aおよび2bは
相補的な関係にある一対のビット線、3は選択時に同一
行上にあるメモリセルlを活性化するワード線、4は行
アドレス情報を解読する行デコーダ、5は行アドレス信
号線、6aおよび6bは前記ビット線2aおよび2bに
それぞれ接続するビット線負荷、7は電源端子である。
なお、第3図に示すメモリセル1において、8aおよび
8bはMO3I−ランジスタ、抵抗などで構成する負荷
素子、9aおよび9bはインバータトランジスタ、10
aおよび10bはアクセストランジスタ、llaおよび
llbはメモリセル1のストアノードである。
次に、上記構成による半導体メモリ装置の動作について
、−例として、ストアノードllaおよびllbがそれ
ぞれ“H”レベルおよび“L″レベル書き込まれている
場合について説明する。
まず、読み出しの場合には読み出そうとするセルのアド
レス情報をアドレス信号線5に入力すると、行デコーダ
4を通し、所望のワードvA3を活性化する。そして、
このワード線3が活性化されると、1L″レベルをスト
アしているアクセストランジスタ10bが導通する。こ
のため、電源端子7からビット線負荷6b、ビット線2
b、アクセストランジスタ10b、インバータトランジ
スタ9bの経路を電流が流れ、読み出すことができる。
この構成による半導体メモリ装置は同−打上のすべての
メモリセルが活性化されるので、全列に電源からメモリ
セルに電流が流れ込み、コラム数の多い大容量スタティ
ックRAMを構成する場合、消費電流が大きくなる。そ
こで、消費電流を少なくするため、従来、第4図に示す
半導体メモリ装置が提案されている。この場合、行デコ
ーダ4をメモリセルプレーンの中央に配し、ワード線を
左側ワード線3aおよび右側ワード線3bに分割し、左
右のメモリセル群の選択された方のメモリセル群のワー
ド線のみ活性化することにより、全列の内、半数の列に
だけ電流パスを生じさせるものである。なお、12aお
よび12bはそれぞれ左側ワード線3aおよび右側ワー
ド線3bを選択するアンドゲート、13aおよび13b
はそれぞれこのアンドゲート12aおよび12bを開状
態にするゲート信号線である。
次に、第5図は第4図の思想に基づいて構成した従来の
半導体メモリ装置を示す配置図である。
この場合、行デコーダ4aおよび4bを複数列配置し、
ワード線3a〜3dをその倍数だけ分割し、直流電流路
のできる数を減少させるものである。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、従来の半導体メモリ装置は数多(の行デ
コーダを設ける必要がある。このため、チップ面積の増
大を招き、速度性能や歩留まりを損なうなどの欠点があ
った。
従って、本発明の目的は、高速で、しかも低消費電力の
大容量の半導体メモリ装置を提供するものである。
〔課題を解決するための手段〕
このような目的を達成するために本発明は、メモリセル
をマトリクス状に配置したメモリセルアレイを列方向に
複数ブロックに分割して配列した複数のメモリセル群と
、この複数のメモリセル群の各々に対応して設けられ各
メモリセル群のうちの特定のものを選択するメモリセル
群選択線と、アクセスすべきメモリセル群の行アドレス
情報を解読する行デコーダと、この行デコーダの出力端
子に接続され複数のメモリセル群に亘って配置され、メ
モリセル群選択線と交叉する前置ワード線と、複数のメ
モリセル群の各々に対応して設けられメモリセル群選択
線の選択信号と前置ワード線の出力信号とに基づいて活
性化される分割ワード線とを設けるようにしたものであ
る。
〔作用〕
本発明に係る半導体メモリ装置は高速で、しかも低消費
電力である。
〔実施例〕
第1図は、本発明に係わる半導体メモリ装置の一実施例
を示すブロック図であり、−例として、列方向に3個に
分割したメモリセル群1a、lbおよびICを配置した
場合を示す。同図において、14a、1.4.bおよび
14cはこのメモリセル群1a〜1cを選択するメモリ
セル群選択線、15は分割ワード線としてのワードに1
3a〜3Cと同一方向に並行して配置した前置ワード線
、16a16bおよび16cは入力端子がそれぞれ前置
ワード線15とメモリセル群選択線14a−14Cに接
続し、出力端子がそれぞれワード線3a〜3Cに接続す
るアンドゲートである。行デコーダ4は複数のメモリセ
ル群が配列して形成されたチップのその配列方向の端に
配置されている。
次に、上記構成による半導体メモリ装置の動作について
説明する。まず、例えばメモリセル群りa内のメモリセ
ルを選択する場合、アクセスすべきメモリセル群1aの
行アドレス情報を°行デコーダ4で解読し、前置ワード
線15の1本を活性化する。そして、メモリセル群選択
線14aに選択信号を加えると、アンドゲート16aが
開き、ワード線3aを活性化する。したがって、図示せ
ね電源から図示せぬビット線を経て、メモリセル群1a
へ流れ込むコラム電流が流れるのは選択されたメモリセ
ル群la内にあるコラムのみである。
なお、以上はメモリセル群la内のメモリセルの選択に
ついて説明したが、他のメモリセル群1bおよびICに
ついても同様にできることはもちろんである。さらに、
メモリセル群を3個に分割した場合について説明したが
N個(N≧2)に分割しても同様にできることはもちろ
んである。また、前置ワード線15のみを低抵抗材料で
構成しておけば、ワード線の抵抗は多少大きくても長さ
が短いため、容量が小さく、高速にメモリセルをアクセ
スすることができる。また、アンドゲート16a〜16
cは入力端子が2個、出力端子が1個のため、回路構成
が簡単になるので、チップ面積の増大を無視することが
できる。さらに、ゲート手段としてのアンドゲート16
a−16cを各メモリセル群の一端に設けるようにすれ
ば、半導体メモリセル装置のレイアウトが容易となる。
さらに、行デコーダ4の出力端子に接続され、複数のメ
モリセル群1a〜ICに亘って配置された前置ワード線
15をメモリセル群選択線14a〜14cと交叉するよ
うにすれば、半導体メモリ装置のレイアウトが容易にな
る。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、メモリセルの選択を前置
ワード線と分割ワード線の2段階に分けて行なうように
したことにより、直流電流路のある列数を減少すること
ができるので、高速で且つ低消費電力の大容量の半導体
メモリ装置を得ることができる効果がある。
また、行デコーダの出力端子に接続され、複数のメモリ
セル群に亘って配置された前置ワード線をメモリセル群
選択線と交叉するようにしたことにより、半導体メモリ
装置のレイアウトが容易になる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる半導体メモリ装置の一実施例を
示すブロック図、第2図は従来の半導体メモリ装置を示
すブロック図、第3図は第2図のメモリセルの詳細な回
路図、第4図は従来の他の半導体メモリ装置を示すブロ
ック図、第5図は従来の他の半導体メモリ装置を示す配
置図である。 la〜IC・・・メモリセル群、3a〜3C・・・ワー
ド線、4・・・行デコーダ、14a〜14c・・・メモ
リセル選択線、15・・・前置ワード線、16a−16
C・・・アンドゲート。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. メモリセルをマトリクス状に配置したメモリセルアレイ
    を列方向に複数ブロックに分割して配列した複数のメモ
    リセル群と、この複数のメモリセル群の各々に対応して
    設けられ各メモリセル群のうちの特定のものを選択する
    メモリセル群選択線と、アクセスすべきメモリセル群の
    行アドレス情報を解読する行デコーダと、この行デコー
    ダの出力端子に接続され前記複数のメモリセル群に亘っ
    て配置され、前記メモリセル群選択線と交叉する前置ワ
    ード線と、前記複数のメモリセル群の各々に対応して設
    けられ前記メモリセル群選択線の選択信号と前記前置ワ
    ード線の出力信号とに基づいて活性化される分割ワード
    線とを備えたことを特徴とする半導体メモリ装置。
JP2017126A 1990-01-26 1990-01-26 半導体メモリ装置 Pending JPH02263391A (ja)

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JP2017126A JPH02263391A (ja) 1990-01-26 1990-01-26 半導体メモリ装置

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JP2017126A JPH02263391A (ja) 1990-01-26 1990-01-26 半導体メモリ装置

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JP61297064A Division JPS62149096A (ja) 1986-12-12 1986-12-12 半導体メモリ装置

Publications (1)

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JPH02263391A true JPH02263391A (ja) 1990-10-26

Family

ID=11935342

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JP2017126A Pending JPH02263391A (ja) 1990-01-26 1990-01-26 半導体メモリ装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04344390A (ja) * 1991-05-21 1992-11-30 Nec Corp 半導体記憶装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3533089A (en) * 1969-05-16 1970-10-06 Shell Oil Co Single-rail mosfet memory with capacitive storage

Patent Citations (1)

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