JPH022785A - ネットワーク試験方式 - Google Patents
ネットワーク試験方式Info
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- JPH022785A JPH022785A JP14918688A JP14918688A JPH022785A JP H022785 A JPH022785 A JP H022785A JP 14918688 A JP14918688 A JP 14918688A JP 14918688 A JP14918688 A JP 14918688A JP H022785 A JPH022785 A JP H022785A
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- Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ｌ５ＤＮ交換機のネットワーク試験方式に利
用する。特に、ｌ５ＤＮ交換機の時分割通話路装置の動
作確認と、伝送装置、■インタフェース信号装置および
時分割通話路装置の各装置間の導通確認とを行うネ７）
ワーク試験方式に関するものである。
用する。特に、ｌ５ＤＮ交換機の時分割通話路装置の動
作確認と、伝送装置、■インタフェース信号装置および
時分割通話路装置の各装置間の導通確認とを行うネ７）
ワーク試験方式に関するものである。
本発明は、試験用の信号を発生する試験回路を時分割通
話路装置に接続し、折返された信号と比較することによ
りネットワークの試験を行う方式時分割通話路装置に接
続された■インタフェース信号装置に、その装置で折返
しを行う第一モードと、さらに試験用信号を伝送装置に
送出して折返させる第二モードさを切り替えて設定でき
るようにすることにより、 伝送装置まで含めた折返し試験路を構成できるようにし
たものである。
話路装置に接続し、折返された信号と比較することによ
りネットワークの試験を行う方式時分割通話路装置に接
続された■インタフェース信号装置に、その装置で折返
しを行う第一モードと、さらに試験用信号を伝送装置に
送出して折返させる第二モードさを切り替えて設定でき
るようにすることにより、 伝送装置まで含めた折返し試験路を構成できるようにし
たものである。
従来、ネットワーク試験方式は、所定のビットパタンの
発生および照合を行う試験回路より送信された固定のビ
ットパタンのデータを時分割通話路装置の入側にもうけ
られた挿入回路によりハイウェイ上の任意のタイムスロ
ットに挿入し、出側にもうけられた抽出回路により、試
験対象のハイウェイ上のタイムスロットから抽出された
データを試験回路に着信させ、この試験回路により発信
したデータのビットパタンと着信したデータのビットパ
タンの照合を行うことにより実施していた。
発生および照合を行う試験回路より送信された固定のビ
ットパタンのデータを時分割通話路装置の入側にもうけ
られた挿入回路によりハイウェイ上の任意のタイムスロ
ットに挿入し、出側にもうけられた抽出回路により、試
験対象のハイウェイ上のタイムスロットから抽出された
データを試験回路に着信させ、この試験回路により発信
したデータのビットパタンと着信したデータのビットパ
タンの照合を行うことにより実施していた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、このような従来のネットワーク試験方式では、
時分割通話路装置の試験のみ行う構成になっているので
、同一試験回路で時分割通話路装置、Ｉインタフェース
信号装置および伝送装置の各装置間の導通試験を行うこ
とができない欠点があった。
時分割通話路装置の試験のみ行う構成になっているので
、同一試験回路で時分割通話路装置、Ｉインタフェース
信号装置および伝送装置の各装置間の導通試験を行うこ
とができない欠点があった。
本発明は上記の欠点を解決するもので、時分割通話路装
置の動作確認と、伝送装置、■インタフェースＩＪ号装
置および時分割通話路装置の各装置間の導通確認とがで
きるネットワーク試験方式を提供することを目的とする
。
置の動作確認と、伝送装置、■インタフェースＩＪ号装
置および時分割通話路装置の各装置間の導通確認とがで
きるネットワーク試験方式を提供することを目的とする
。
に問題点を解決するための手段〕
本発明は、ネットワーク試験方式において、■インタフ
ェース信号装置は、所定の試験用の信号を折返す第一手
段と、Ｂチャネル信号およびＤチャネル信号として伝送
装置に送出しその折返された信号を抽出して時分割通話
路装置に送出する第二手段とのいずれかが設定可能であ
り、上記伝送装置は、試験回路の伝送装置制御信号に基
づいてＢチャネル信号およびＤチャネル信号を折返す手
段を含むことを特徴とする。
ェース信号装置は、所定の試験用の信号を折返す第一手
段と、Ｂチャネル信号およびＤチャネル信号として伝送
装置に送出しその折返された信号を抽出して時分割通話
路装置に送出する第二手段とのいずれかが設定可能であ
り、上記伝送装置は、試験回路の伝送装置制御信号に基
づいてＢチャネル信号およびＤチャネル信号を折返す手
段を含むことを特徴とする。
試験回路で所定の試験用の信号を発生して時分割通話路
装置に送信する。時分割通話路装置ではこの信号を時分
割多重化フレームの空きタイムスロットに挿入してＩイ
ンタフェース信号装置に与える。
装置に送信する。時分割通話路装置ではこの信号を時分
割多重化フレームの空きタイムスロットに挿入してＩイ
ンタフェース信号装置に与える。
Ｉインタフェース信号装置では、この所定の試験用の信
号に対して二つの動作モードを設ける。
号に対して二つの動作モードを設ける。
すなわち第一モードではこの試験用の信号を折返して時
分割通話路装置に与える。第二モードでは、この信号を
Ｂチャネル信号およびＤチャネル信号として時分割多重
化フレームに挿入して伝送装置に送出する。伝送装置で
は折返す手段でこのＢチャネル信号およびＤチャネル信
号を試験回路の伝送装置制御信号に基づいて折返す。Ｉ
インタフェース信号装置では、第二のモードの場合にこ
の伝送装置で折返された信号を抽出して時分割通話路装
置に与える。
分割通話路装置に与える。第二モードでは、この信号を
Ｂチャネル信号およびＤチャネル信号として時分割多重
化フレームに挿入して伝送装置に送出する。伝送装置で
は折返す手段でこのＢチャネル信号およびＤチャネル信
号を試験回路の伝送装置制御信号に基づいて折返す。Ｉ
インタフェース信号装置では、第二のモードの場合にこ
の伝送装置で折返された信号を抽出して時分割通話路装
置に与える。
試験回路では、■インタフェース信号装置から折返され
た信号と送信した信号とを照合する。
た信号と送信した信号とを照合する。
以上の動作により時分割通話路装置の動作確認と、伝送
装置、■インタフェース信号装置および時分割通話路装
置の各装置間の導通確認とができる。
装置、■インタフェース信号装置および時分割通話路装
置の各装置間の導通確認とができる。
本発明の実施例について図面を参照して説明する。第１
図は１本発明−実施例ネットワーク試験装置のブロック
構成図である。第１図において、ネットワーク試験装置
は、時分割通話路装置２と、この時分割通話路装置２に
ハイウェイＨＷ、 、、トｒｗ２゜を介して接続された
複数個の■インタフェース信号装置１．．１２と、■イ
ンタフェース信号装置１１１１□にそれぞれハイウェイ
ＨＷ、□、ＨＷ２□を介して接続された伝送装置４．．
４□とを備え、所定の試験用の信号を送信し、この所定
の試験用の信号とその折返された信号とを照合する手段
を含む試験回路３が時分割通話路装置２に接続され、時
分割通話路装置２は、時分割多重化フレームの空きタイ
ムスロットを介して上記所定の試験用の信号をＩインタ
フェース信号装置１に与え、上記折返された信号を試験
回路３に与える手段を含む。
図は１本発明−実施例ネットワーク試験装置のブロック
構成図である。第１図において、ネットワーク試験装置
は、時分割通話路装置２と、この時分割通話路装置２に
ハイウェイＨＷ、 、、トｒｗ２゜を介して接続された
複数個の■インタフェース信号装置１．．１２と、■イ
ンタフェース信号装置１１１１□にそれぞれハイウェイ
ＨＷ、□、ＨＷ２□を介して接続された伝送装置４．．
４□とを備え、所定の試験用の信号を送信し、この所定
の試験用の信号とその折返された信号とを照合する手段
を含む試験回路３が時分割通話路装置２に接続され、時
分割通話路装置２は、時分割多重化フレームの空きタイ
ムスロットを介して上記所定の試験用の信号をＩインタ
フェース信号装置１に与え、上記折返された信号を試験
回路３に与える手段を含む。
ここで、本発明の特徴とするところは、■インタフェー
ス信号装置ｌに、上記所定の試験用の信号を折返す第一
手段と、Ｂチャネル信号およびＤチャネル信号として伝
送装置４に送出しその折返された信号を抽出して時分割
通話路装置２に送出する第二手段とのいずれかが設定可
能であり、伝送装置４は、試験回路３の伝送装置制御信
号に基づいてＢチャネル信号およびＤチャネル信号を折
返す手段を含むことにある。
ス信号装置ｌに、上記所定の試験用の信号を折返す第一
手段と、Ｂチャネル信号およびＤチャネル信号として伝
送装置４に送出しその折返された信号を抽出して時分割
通話路装置２に送出する第二手段とのいずれかが設定可
能であり、伝送装置４は、試験回路３の伝送装置制御信
号に基づいてＢチャネル信号およびＤチャネル信号を折
返す手段を含むことにある。
このような構成のネットワーク試験装置の動作について
説明する。第２図は本発明のネットワーク試験装置の各
ハイウェイ上のフレームフォーマットである。第３図は
本発明のネットワーク試験装置のＩインタフェース信号
装置から折返す場合のフレームフォーマットである。第
４図は本発明のネットワーク試験装置のＩインタフェー
ス信号装置および伝送装置から折返す場合のフレームフ
ォーマットである。インタフェース信号装置１は、Ｂチ
ャネル信号２個およびＤチャネル信号１個を処理するｌ
５ＤＮ端末を６０個収容し、ハイウェイＨＷ ＋ ＋
、ＨＷ ２１上の空タイムスロットの試験用の信号をハ
イウェイＨＷ、、、ＭＷ、、上のＢチャネル信号、Ｄチ
ャネル信号、伝送装置制御信号（以下、ＣＯ倍信号いう
。）、伝送装置状態表示信号（以下、ＳＴ倍信号いう。
説明する。第２図は本発明のネットワーク試験装置の各
ハイウェイ上のフレームフォーマットである。第３図は
本発明のネットワーク試験装置のＩインタフェース信号
装置から折返す場合のフレームフォーマットである。第
４図は本発明のネットワーク試験装置のＩインタフェー
ス信号装置および伝送装置から折返す場合のフレームフ
ォーマットである。インタフェース信号装置１は、Ｂチ
ャネル信号２個およびＤチャネル信号１個を処理するｌ
５ＤＮ端末を６０個収容し、ハイウェイＨＷ ＋ ＋
、ＨＷ ２１上の空タイムスロットの試験用の信号をハ
イウェイＨＷ、、、ＭＷ、、上のＢチャネル信号、Ｄチ
ャネル信号、伝送装置制御信号（以下、ＣＯ倍信号いう
。）、伝送装置状態表示信号（以下、ＳＴ倍信号いう。
）として挿入し、また抽出することが可能である。時分
割通話路装置２は、試験回路３から送出される試験用デ
ータをハイウェイＨＷ、、、ＨＷ ２１上の空タイムス
ロットに挿入し、■インタフェース信号装置１からハイ
ウェイＨ’ｖＶ 、 、、ＭＷ２．経由で送出される空
タイムスロツト上のデータを抽出し、試験回路３に送出
するとともに、Ｉインタフェース信号装置ｌから送出さ
れてくるＢチャネル信号の交換処理を行う。
割通話路装置２は、試験回路３から送出される試験用デ
ータをハイウェイＨＷ、、、ＨＷ ２１上の空タイムス
ロットに挿入し、■インタフェース信号装置１からハイ
ウェイＨ’ｖＶ 、 、、ＭＷ２．経由で送出される空
タイムスロツト上のデータを抽出し、試験回路３に送出
するとともに、Ｉインタフェース信号装置ｌから送出さ
れてくるＢチャネル信号の交換処理を行う。
試験回路３は、時分割通話路装置２に対して所定のビッ
トパタンのデータの送出を行うとともに、時分割通話路
装置２から送出されてきたデータと送出したデータのビ
ットパタンの照合を行う。
トパタンのデータの送出を行うとともに、時分割通話路
装置２から送出されてきたデータと送出したデータのビ
ットパタンの照合を行う。
ハイウェイＨＷ ＋ １、ＨＷ ２１は、■インタフェ
ース信号装置１−時分割通話路装置２の方向および時分
割通話路装置２→■インタフエース信号装置１の二つの
方向で独立し、１フレームが１２８タイムスロツトで構
成され、１２０タイムスロツトにＢチャネル信号をのせ
、８タイムスロツトを試験用の空タイムスロットとして
時分割通話路装置２→Ｉインタフエース信号装置ｌの方
向のハイウェイではこのタイムスロットに試験回路３か
ら送出される所定のピッドパクンおよびＣＯ倍信号のせ
、■インタフェース信号装置１−時分割通話路装置２の
方向のハイウェイではこの空タイムスロットにＩインタ
フェース信号装置１内で抽出されたＢチャネル信号、Ｄ
チャネル信号、ＳＴ倍信号のせる。
ース信号装置１−時分割通話路装置２の方向および時分
割通話路装置２→■インタフエース信号装置１の二つの
方向で独立し、１フレームが１２８タイムスロツトで構
成され、１２０タイムスロツトにＢチャネル信号をのせ
、８タイムスロツトを試験用の空タイムスロットとして
時分割通話路装置２→Ｉインタフエース信号装置ｌの方
向のハイウェイではこのタイムスロットに試験回路３か
ら送出される所定のピッドパクンおよびＣＯ倍信号のせ
、■インタフェース信号装置１−時分割通話路装置２の
方向のハイウェイではこの空タイムスロットにＩインタ
フェース信号装置１内で抽出されたＢチャネル信号、Ｄ
チャネル信号、ＳＴ倍信号のせる。
ハイウェイＨＷ ２ｒ、ＨＷ２□は、■インタフェース
信号装置ｌと伝送装置４を接続し、１フレームが１２８
タイムスロツトで構成され、１２０タイムスロツトにＢ
チャネル信号をのせＩインタフェース信号装置１→伝送
装置４の方向および伝送装置４−Ｉインタフェース信号
装置１の方向で独立したハイウェイで、■インタフェー
ス信号装置１−＋伝送装置４の方向で１２０タイムスロ
ツトにＤチャネル信号、ＣＯ倍信号のせ、また伝送装置
４→Ｉインタフ工−ス信号装置ｌの方向で１２０タイム
スロツトにＤチャネル信号、ＳＴ倍信号のせる。
信号装置ｌと伝送装置４を接続し、１フレームが１２８
タイムスロツトで構成され、１２０タイムスロツトにＢ
チャネル信号をのせＩインタフェース信号装置１→伝送
装置４の方向および伝送装置４−Ｉインタフェース信号
装置１の方向で独立したハイウェイで、■インタフェー
ス信号装置１−＋伝送装置４の方向で１２０タイムスロ
ツトにＤチャネル信号、ＣＯ倍信号のせ、また伝送装置
４→Ｉインタフ工−ス信号装置ｌの方向で１２０タイム
スロツトにＤチャネル信号、ＳＴ倍信号のせる。
伝送装置４は、Ｂチャネル信号２個、Ｄチャネル信号１
個を処理するｌ５ＤＮ端末を６０回線収容し、ハイウェ
イＨＷ２ Ｉ、 ＨＷ２２を介して■インタフェース信
号装置１と接続され、■インタフェース信号袋＠１に対
して収容する端末とこの装置の間の伝送路の状態および
この装置の動作状態を示すＳＴ倍信号送出し、またＩイ
ンタフェース信号装置ｌから送出されるＣＯ倍信号より
収容する端末への着呼表示を行い、この装置内でＢチャ
ネル信号、Ｄチャネル信号の折返しを行う。
個を処理するｌ５ＤＮ端末を６０回線収容し、ハイウェ
イＨＷ２ Ｉ、 ＨＷ２２を介して■インタフェース信
号装置１と接続され、■インタフェース信号袋＠１に対
して収容する端末とこの装置の間の伝送路の状態および
この装置の動作状態を示すＳＴ倍信号送出し、またＩイ
ンタフェース信号装置ｌから送出されるＣＯ倍信号より
収容する端末への着呼表示を行い、この装置内でＢチャ
ネル信号、Ｄチャネル信号の折返しを行う。
第２図において、７は第１図に示すハイウェイＨＷ２．
、 ＨＷ、２の中で伝送装置４からＴインタフェース信
号装置ｌの方向で８１チャネル信号、Ｂ２チャネル信号
をそれぞれ６０個送信するＢチャネル用上りハイウェイ
フレーム（以下、ＦＢＨＷという。）である。８は、第
１図に示すハイウェイＨＷ ２１、ＨＷ ２２の中で伝
送装置４から■インタフェース信号装置ｌの方向でＤチ
ャネル信号６０個とＳＴ信号６０個とを送信するＤチャ
ネル用上りハイウェイフレーム（以下、ＦＤＨＷという
。）である。９は、第１図に示すハイウェイＨＷ２１、
ＨＷ、□の中でｒインタフェース信号装置１から伝送装
置４の方向で、Ｂ１チャネル信号、Ｂ２チャネル信号を
それぞれ６０個送信するＢチャネル用下りハイウェイフ
レーム（以下、ＢＢＨＷという。）である。ｌＯは、第
１図に示すハイウェイＨＷ ２１、ＨＷ２□の中で■イ
ンタフェース信号装置ｌから伝送装置４の方向でＤチャ
ネル信号６０個とＣＯ信号６０個とを送信するＤチャネ
ル用下りハイウェイフレーム（以下、ＢＤＨＷという。
、 ＨＷ、２の中で伝送装置４からＴインタフェース信
号装置ｌの方向で８１チャネル信号、Ｂ２チャネル信号
をそれぞれ６０個送信するＢチャネル用上りハイウェイ
フレーム（以下、ＦＢＨＷという。）である。８は、第
１図に示すハイウェイＨＷ ２１、ＨＷ ２２の中で伝
送装置４から■インタフェース信号装置ｌの方向でＤチ
ャネル信号６０個とＳＴ信号６０個とを送信するＤチャ
ネル用上りハイウェイフレーム（以下、ＦＤＨＷという
。）である。９は、第１図に示すハイウェイＨＷ２１、
ＨＷ、□の中でｒインタフェース信号装置１から伝送装
置４の方向で、Ｂ１チャネル信号、Ｂ２チャネル信号を
それぞれ６０個送信するＢチャネル用下りハイウェイフ
レーム（以下、ＢＢＨＷという。）である。ｌＯは、第
１図に示すハイウェイＨＷ ２１、ＨＷ２□の中で■イ
ンタフェース信号装置ｌから伝送装置４の方向でＤチャ
ネル信号６０個とＣＯ信号６０個とを送信するＤチャネ
ル用下りハイウェイフレーム（以下、ＢＤＨＷという。
）である。１１は、第１図に示すハイウェイＨＷ ＋
＋ 、ＨＷ ｌ ２の中でＩインタフェース信号装置１
から時分割通話路装置２の方向でＢｌチャネル信号、Ｂ
２チャネル信号をそれぞれ６０個（タイムスロット４〜
６３．６８〜１２７）送信するとともに、タイムスロッ
トＴＯ〜Ｔ２、Ｔ６４〜Ｔ６６の６タイムスロツトを■
インタフェース信号装置１内で抽出したデータを挿入す
る試験用タイムスロットとして使用する上りハイウェイ
フレーム（以下、ＦＨＷという。）である。１２は、第
１図に示すハイウェイＨＷ’＋ ＋ 、ＨＷ、□の中で
時分割通話路装置２から■インタフェース信号装置ｌの
方向で、Ｂｌチャネル信号、Ｂ２チャネル信号をそれぞ
れ６０個（タイムスロット４〜６３．６８〜１２７）送
信するとともに、タイムスロットＴＯ〜Ｔ２、Ｔ６２〜
Ｔ６６の６タイムスロツトに設定されたデータをＩイン
タフェース信号袋＠１内でハイウェイＨＷ２．、ＨＷ、
□上の任意のタイムスロットに挿入する試験用タイムス
ロットとして使用する下りハイウェイフレーム（以下、
ＢＨＷという。）である。ｄ−ｃ・は空きタイムスロッ
トを示す。
＋ 、ＨＷ ｌ ２の中でＩインタフェース信号装置１
から時分割通話路装置２の方向でＢｌチャネル信号、Ｂ
２チャネル信号をそれぞれ６０個（タイムスロット４〜
６３．６８〜１２７）送信するとともに、タイムスロッ
トＴＯ〜Ｔ２、Ｔ６４〜Ｔ６６の６タイムスロツトを■
インタフェース信号装置１内で抽出したデータを挿入す
る試験用タイムスロットとして使用する上りハイウェイ
フレーム（以下、ＦＨＷという。）である。１２は、第
１図に示すハイウェイＨＷ’＋ ＋ 、ＨＷ、□の中で
時分割通話路装置２から■インタフェース信号装置ｌの
方向で、Ｂｌチャネル信号、Ｂ２チャネル信号をそれぞ
れ６０個（タイムスロット４〜６３．６８〜１２７）送
信するとともに、タイムスロットＴＯ〜Ｔ２、Ｔ６２〜
Ｔ６６の６タイムスロツトに設定されたデータをＩイン
タフェース信号袋＠１内でハイウェイＨＷ２．、ＨＷ、
□上の任意のタイムスロットに挿入する試験用タイムス
ロットとして使用する下りハイウェイフレーム（以下、
ＢＨＷという。）である。ｄ−ｃ・は空きタイムスロッ
トを示す。
第３図は■インタフェース信号装置ｌ内でＢＨＷ１２の
タイムスロットＴＯの試験信号ＢＡＣＯを抽出してＦＨ
ＷＩＩのタイムスロットＴＯのＢＡＣＯ信号として挿入
することによりＩインタフェース信号装置１内での折返
し試験を行う場合の■インタフェース信号装置１内での
タイムスロット抽出、挿入を行う場合を示す。
タイムスロットＴＯの試験信号ＢＡＣＯを抽出してＦＨ
ＷＩＩのタイムスロットＴＯのＢＡＣＯ信号として挿入
することによりＩインタフェース信号装置１内での折返
し試験を行う場合の■インタフェース信号装置１内での
タイムスロット抽出、挿入を行う場合を示す。
第４図はＢＨＷ１２のタイムスロットＴＯの試験信号Ｂ
ＡＣＯにＢチャネルの所定のデータバタン、タイムスロ
ッ）Ｔｌの試験信号ＢＡＣ１にＣＯ倍信号設定し、２イ
ンタフ工−ス信号装置１内で試験信号ＢＡＣＯ１ＢＡＣ
ｌをそれぞれＢＢＨＷ９のタイムスロットＴ４とＢＤＨ
ＷＩＯのタイムスロットＴ５とに抽出、挿入するととも
に、ＦＢＨＷ７のタイムスロットＴ４とＦＤＨＷ８のタ
イムスロットＴ５との信号をそれぞれＦＨＷＩＩのタイ
ムスロットＴＯとタイムスロットＴＩとに抽出、挿入す
ることにより、伝送装置４の折返し試験を行う場合のＩ
インタフェース信号装置１でのタイムスロット抽出、挿
入の実施例である。
ＡＣＯにＢチャネルの所定のデータバタン、タイムスロ
ッ）Ｔｌの試験信号ＢＡＣ１にＣＯ倍信号設定し、２イ
ンタフ工−ス信号装置１内で試験信号ＢＡＣＯ１ＢＡＣ
ｌをそれぞれＢＢＨＷ９のタイムスロットＴ４とＢＤＨ
ＷＩＯのタイムスロットＴ５とに抽出、挿入するととも
に、ＦＢＨＷ７のタイムスロットＴ４とＦＤＨＷ８のタ
イムスロットＴ５との信号をそれぞれＦＨＷＩＩのタイ
ムスロットＴＯとタイムスロットＴＩとに抽出、挿入す
ることにより、伝送装置４の折返し試験を行う場合のＩ
インタフェース信号装置１でのタイムスロット抽出、挿
入の実施例である。
第１図において、ネットワーク試験を行う場合の動作に
ついて説明する。
ついて説明する。
時分割通話路装置２により試験回路３から発信される所
定のデータバタンかハイウェイＨＷ ＋ ＋のＢＨＷ１
２のタイムスロットＴＯに入り、ハイウェイＨＷ ｌ＋
のＦＨＷＩＩのタイムスロットＴＯをハイウェイＨＷ
ａ ＋のＢＨＷ１２のタイムスロットＴＯに入れ、ハイ
ウェイＨＷ ２１のＦＨＷＩＩのタイムスロットＴＯを
試験回路３に着信するように試験回路３−Ｉインタフェ
ース信号装置１間の通話路を設定し、！インタフェース
信号装置１．．１２にて第３図に示すようにＢＨＷ１２
のタイムスロットＴＯのデータを抽出し、このデータを
ＦＨＷＩＩのタイムスロットＴＯに挿入するよう折返し
動作設定した後に、試験回路３から所定のデータバタン
を発信し、試験回路３に着信されたデータのバタンと発
信したデータのバタンとを照合し、一致することにより
時分割通話路装置２の正常性を確認する。
定のデータバタンかハイウェイＨＷ ＋ ＋のＢＨＷ１
２のタイムスロットＴＯに入り、ハイウェイＨＷ ｌ＋
のＦＨＷＩＩのタイムスロットＴＯをハイウェイＨＷ
ａ ＋のＢＨＷ１２のタイムスロットＴＯに入れ、ハイ
ウェイＨＷ ２１のＦＨＷＩＩのタイムスロットＴＯを
試験回路３に着信するように試験回路３−Ｉインタフェ
ース信号装置１間の通話路を設定し、！インタフェース
信号装置１．．１２にて第３図に示すようにＢＨＷ１２
のタイムスロットＴＯのデータを抽出し、このデータを
ＦＨＷＩＩのタイムスロットＴＯに挿入するよう折返し
動作設定した後に、試験回路３から所定のデータバタン
を発信し、試験回路３に着信されたデータのバタンと発
信したデータのバタンとを照合し、一致することにより
時分割通話路装置２の正常性を確認する。
さらに、本実施例は伝送装置４−Ｉインタフェース信号
装置１−時分割通話路装置２間の導通試験を行うことも
可能である。
装置１−時分割通話路装置２間の導通試験を行うことも
可能である。
時分割通話路装置２により試験回路３から発信される所
定のデータパタンがＢＨＷ１２のタイムスロｙ ） Ｔ
Ｏに、試験回路３から発信されるＣＯ倍信号ＢＨＷ１
２のタイムスロットＴＩに入り、ノＸイウェイＨＷＩｌ
のＦＨＷＩＩのタイムスロットＴＯが所定のデータパタ
ンのデータとして試験回路３に着信され、ハイウェイＨ
Ｗ ＋ ＋のＦＨＷＩＩのタイムスロットＴｌがＳＴ倍
信号して試験回路３に着信されるように通話路を設定す
る。
定のデータパタンがＢＨＷ１２のタイムスロｙ ） Ｔ
Ｏに、試験回路３から発信されるＣＯ倍信号ＢＨＷ１
２のタイムスロットＴＩに入り、ノＸイウェイＨＷＩｌ
のＦＨＷＩＩのタイムスロットＴＯが所定のデータパタ
ンのデータとして試験回路３に着信され、ハイウェイＨ
Ｗ ＋ ＋のＦＨＷＩＩのタイムスロットＴｌがＳＴ倍
信号して試験回路３に着信されるように通話路を設定す
る。
また、■インタフェース信号装置ｌにてノ１イウェイＨ
Ｗ、、のＢＨＷ１２のタイムスロットＴＯ１ＴＩの信号
を抽出し、それぞれＢＢＨＷ９のタイムスロットＴ４お
よびＢＤＨＷＩＱのタイムスロットＴ５に挿入するとと
もに、Ｆ Ｂ ＨＷ ７のタイムスロットＴ４の信号と
ＦＤＨＷ８のタイムスロットＴ５の信号とを抽出し、そ
れぞれノ１イウエイＨＷ、。
Ｗ、、のＢＨＷ１２のタイムスロットＴＯ１ＴＩの信号
を抽出し、それぞれＢＢＨＷ９のタイムスロットＴ４お
よびＢＤＨＷＩＱのタイムスロットＴ５に挿入するとと
もに、Ｆ Ｂ ＨＷ ７のタイムスロットＴ４の信号と
ＦＤＨＷ８のタイムスロットＴ５の信号とを抽出し、そ
れぞれノ１イウエイＨＷ、。
のＦＨＷＩＩのタイムスロットＴＯ１ＴＩに挿入するよ
うに動作設定する。
うに動作設定する。
まず、試験回路３から伝送装置４を折返し動作するため
のＣＯ倍信号送出し、伝送装置４から折返されてくるＳ
Ｔ倍信号より、伝送装置４が折返し動作になったことを
確認した後に、試験回路３から所定のデータパタンを発
信し、試験回路３に着信されるデータのバタンと発信し
た所定のデータパタンとを照合し一致することにより、
伝送装置４−１インクフ工−ス信号装置１−時分割通話
路装首２間の通話路が正常であることを確認する。
のＣＯ倍信号送出し、伝送装置４から折返されてくるＳ
Ｔ倍信号より、伝送装置４が折返し動作になったことを
確認した後に、試験回路３から所定のデータパタンを発
信し、試験回路３に着信されるデータのバタンと発信し
た所定のデータパタンとを照合し一致することにより、
伝送装置４−１インクフ工−ス信号装置１−時分割通話
路装首２間の通話路が正常であることを確認する。
以上説明したように、本発明は、時分割通話路装置の動
作確認と、時分割通話路装置、■インタフェース信号装
置および伝送装置の各装置間の導通確認とができるｆｌ
れた効果がある。したがって、通話路に障害が発生した
場合に障害箇所の判定を各装置単位で実施できる利点が
ある。
作確認と、時分割通話路装置、■インタフェース信号装
置および伝送装置の各装置間の導通確認とができるｆｌ
れた効果がある。したがって、通話路に障害が発生した
場合に障害箇所の判定を各装置単位で実施できる利点が
ある。
第１図は本発明のネットワーク試験装置のブロック構成
図。 第２図は本発明のネットワーク試験装置の各ハイウェイ
上のデータのフレームフォーマット。 第３図は本発明の不７）ワーク試験装置のＩインタフェ
ース信号装置から折返す場合のフレームフォーマット。 第４図は本発明のネットワーク試験装置のＩインタフェ
ース信号装置および伝送装置から折返す場合のフレーム
フォーマット。 １１．１２・・・■インタフェース信号装置、２・・・
時分割通話路装置、３・・・試験回路、４１．４２・・
・伝送装置、７・・・ＦＢＨＷ、８・・・ＦＤＨＷ、９
・・・ＢＢ）ｌ’ｖＶ、１０・・・ＢＤＨＷ、１１・・
・ＦＨＷ、１２・・・ＢＨＷ。 Ｂｌｃｈ・・・Ｂ１チャネル、Ｄｃｈ・・・Ｄチャネル
、ＢＡＣＯ〜ＢＡＣ５・・・試験信号、ＨＷ Ｉ ｌ、
ＨＷ２．、ＨＷ、□、ＨＷ ２２・・・ハイウェイ、Ｔ
Ｏ〜Ｔｌ２７・・・タイムスロット番号、ｄ−ｃ・・・
・空きタイムスロット。
図。 第２図は本発明のネットワーク試験装置の各ハイウェイ
上のデータのフレームフォーマット。 第３図は本発明の不７）ワーク試験装置のＩインタフェ
ース信号装置から折返す場合のフレームフォーマット。 第４図は本発明のネットワーク試験装置のＩインタフェ
ース信号装置および伝送装置から折返す場合のフレーム
フォーマット。 １１．１２・・・■インタフェース信号装置、２・・・
時分割通話路装置、３・・・試験回路、４１．４２・・
・伝送装置、７・・・ＦＢＨＷ、８・・・ＦＤＨＷ、９
・・・ＢＢ）ｌ’ｖＶ、１０・・・ＢＤＨＷ、１１・・
・ＦＨＷ、１２・・・ＢＨＷ。 Ｂｌｃｈ・・・Ｂ１チャネル、Ｄｃｈ・・・Ｄチャネル
、ＢＡＣＯ〜ＢＡＣ５・・・試験信号、ＨＷ Ｉ ｌ、
ＨＷ２．、ＨＷ、□、ＨＷ ２２・・・ハイウェイ、Ｔ
Ｏ〜Ｔｌ２７・・・タイムスロット番号、ｄ−ｃ・・・
・空きタイムスロット。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、時分割通話路装置と、この時分割通話路装置に接続
された複数個のＩインタフェース信号装置と、この複数
個のＩインタフェース信号装置にそれぞれ接続された伝
送装置とを備え、 所定の試験用の信号を送信し、この所定の試験用の信号
とその折返された信号とを照合する手段を含む試験回路
が上記時分割通話路装置に接続され、 上記時分割通話路装置は、時分割多重化フレームの空き
タイムスロットを介して上記所定の試験用の信号を上記
Ｉインタフェース信号装置に与え、上記折返された信号
を上記試験回路に与える手段を含む ネットワーク試験方式において、 上記Ｉインタフェース信号装置は、上記所定の試験用の
信号を折返す第一手段と、Ｂチャネル信号およびＤチャ
ネル信号として上記伝送装置に送出しその折返された信
号を抽出して上記時分割通話路装置に送出する第二手段
とのいずれかが設定可能であり、 上記伝送装置は、上記試験回路の伝送装置制御信号に基
づいてＢチャネル信号およびＤチャネル信号を折返す手
段を含む ことを特徴とするネットワーク試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14918688A JPH022785A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | ネットワーク試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14918688A JPH022785A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | ネットワーク試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH022785A true JPH022785A (ja) | 1990-01-08 |
Family
ID=15469679
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14918688A Pending JPH022785A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | ネットワーク試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH022785A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03209957A (ja) * | 1990-01-12 | 1991-09-12 | Oki Electric Ind Co Ltd | Ｉインタフェース加入者線試験方式 |
| JPH08307525A (ja) * | 1995-04-28 | 1996-11-22 | Nec Corp | Ｉｓｄｎ交換機及び回線の試験システム及び試験方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54153504A (en) * | 1978-05-25 | 1979-12-03 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Sectioning system for faulty location by code |
| JPS60105357A (ja) * | 1983-11-14 | 1985-06-10 | Fujitsu Ltd | 特定チヤネル折返制御方式 |
| JPS6198046A (ja) * | 1984-10-18 | 1986-05-16 | Fujitsu Ltd | デ−タ通信制御装置の試験方法 |
| JPS6339256A (ja) * | 1986-08-04 | 1988-02-19 | Fujitsu Ltd | Ｄチヤンネル折返し方式 |
-
1988
- 1988-06-15 JP JP14918688A patent/JPH022785A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54153504A (en) * | 1978-05-25 | 1979-12-03 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Sectioning system for faulty location by code |
| JPS60105357A (ja) * | 1983-11-14 | 1985-06-10 | Fujitsu Ltd | 特定チヤネル折返制御方式 |
| JPS6198046A (ja) * | 1984-10-18 | 1986-05-16 | Fujitsu Ltd | デ−タ通信制御装置の試験方法 |
| JPS6339256A (ja) * | 1986-08-04 | 1988-02-19 | Fujitsu Ltd | Ｄチヤンネル折返し方式 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03209957A (ja) * | 1990-01-12 | 1991-09-12 | Oki Electric Ind Co Ltd | Ｉインタフェース加入者線試験方式 |
| JPH08307525A (ja) * | 1995-04-28 | 1996-11-22 | Nec Corp | Ｉｓｄｎ交換機及び回線の試験システム及び試験方法 |
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