JPH02287172A - 試験方法 - Google Patents
試験方法Info
- Publication number
- JPH02287172A JPH02287172A JP1108242A JP10824289A JPH02287172A JP H02287172 A JPH02287172 A JP H02287172A JP 1108242 A JP1108242 A JP 1108242A JP 10824289 A JP10824289 A JP 10824289A JP H02287172 A JPH02287172 A JP H02287172A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- defective
- test items
- items
- order
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
五粟上度村且分立
本発明は試験方法に関し、特に試験時間を短縮した試験
方法に関するものである。
方法に関するものである。
従速Ｊ口幻１
電子部品などは一つの素子に多数の試験項目が設定され
、多数の試験項目に従って測定され良否が連続的に判定
される。
、多数の試験項目に従って測定され良否が連続的に判定
される。
この試験方法の一例を第２図フローチャートから説明す
る。
る。
この図においてＴｅ５ｔｌ、 Ｔｅ５ｔ２． ａ旧ｅ４
ｅｓｔｎはそれぞれの試験項目を表しており、ｎ個の試
験項目が全てＧｏ判定の時、その試験において「良」と
判定され、ｎ個の試験項目中、一つでもＮＧ判定であれ
ばそれ以降の試験項目は実施されず、その試験において
「不良」と判定される。
ｅｓｔｎはそれぞれの試験項目を表しており、ｎ個の試
験項目が全てＧｏ判定の時、その試験において「良」と
判定され、ｎ個の試験項目中、一つでもＮＧ判定であれ
ばそれ以降の試験項目は実施されず、その試験において
「不良」と判定される。
ロ （Ｌ ″ ；上記
の試験方法の場合、良否の判定に費やす試験時間は試験
項目の試験時間をそれぞれＴｌ、Ｔ２、・・・・・・Ｔ
ｎとすると、ΣＴｉで表される。但しｉ−凰 ｎはその時試験される試験項目数である。しかしたまた
まＮＧ判定される試験項目が遅い順位に位置している時
は、それまでにＧｏ判定された試験項目に費やされた試
験時間は全て無駄となる。
の試験方法の場合、良否の判定に費やす試験時間は試験
項目の試験時間をそれぞれＴｌ、Ｔ２、・・・・・・Ｔ
ｎとすると、ΣＴｉで表される。但しｉ−凰 ｎはその時試験される試験項目数である。しかしたまた
まＮＧ判定される試験項目が遅い順位に位置している時
は、それまでにＧｏ判定された試験項目に費やされた試
験時間は全て無駄となる。
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本発明は上記課題のかいけつを目的として提案されたも
ので、予め定められた複数の試験項目に従って被験装置
を測定し良否判別する作業を順次実施するに当たって、
上記測定を所定の不良率毎に区分された試験項目順に実
施し、不良判定された測定項目以降の測定を省略し次の
被験装置を測定することを特徴とする試験方法を提供す
る。
ので、予め定められた複数の試験項目に従って被験装置
を測定し良否判別する作業を順次実施するに当たって、
上記測定を所定の不良率毎に区分された試験項目順に実
施し、不良判定された測定項目以降の測定を省略し次の
被験装置を測定することを特徴とする試験方法を提供す
る。
尖胤阻
以下に本発明の実施例を第１図から説明する。
Ｔｅ５ｔｌ ’ 、 Ｔｅ５ｔ２ ’ 、 ・・・・・
４ｅｓｔｎ ’は被験装置を連続測定した結果不良発生
率の高い順序に並び換えられた試験・項目であり、被験
装置の性能のばらつきによりその順序は変更される。第
２図の例と同様、ｎ個の試験項目が全てＧＯ判定のとき
、その試験において「良」き判定され、ｎ個の試験項目
中、一つでもＮＧ判定であればそれ以降の試験項目は実
施されず、その試験において「不良」と判定される。よ
って本発明の場合、「不良」判定は試験項目の早い順位
で成される確率が高くなり、その分良否の判定に費やさ
れる試験時間ΣＴｉは短縮される。
４ｅｓｔｎ ’は被験装置を連続測定した結果不良発生
率の高い順序に並び換えられた試験・項目であり、被験
装置の性能のばらつきによりその順序は変更される。第
２図の例と同様、ｎ個の試験項目が全てＧＯ判定のとき
、その試験において「良」き判定され、ｎ個の試験項目
中、一つでもＮＧ判定であればそれ以降の試験項目は実
施されず、その試験において「不良」と判定される。よ
って本発明の場合、「不良」判定は試験項目の早い順位
で成される確率が高くなり、その分良否の判定に費やさ
れる試験時間ΣＴｉは短縮される。
１＝１
尚、上記実施例では測定項目順序を不良率の大きい順に
設定した場合につき説明したが、本発明は上記実施例に
のみ限定されることなく、不良率を例えば１０％きざみ
に区分し、各不良率範囲内で不良率に変動が生じても、
全体の測定項目順序を変更せず、不良率範囲を越える変
動があったときのみ測定項目順序を変えるようにしても
よい。
設定した場合につき説明したが、本発明は上記実施例に
のみ限定されることなく、不良率を例えば１０％きざみ
に区分し、各不良率範囲内で不良率に変動が生じても、
全体の測定項目順序を変更せず、不良率範囲を越える変
動があったときのみ測定項目順序を変えるようにしても
よい。
髪叫Δ飲果
以上のように本発明によれば試験時間の短縮が可能とな
る。
る。
Ｔｅ５ｔ ｌ ’ 、 Ｔｅ５ｔ２ ’・旧・・Ｔｅ５
ｔｙ’ ・・・・・・試験項目。 手続補正書（方式） ％式％ ２、発明の名称 試験方法 ３、 補正をする者 事件の関係 特許出願人 〒５２０滋賀県大津市晴嵐２丁目９番１号関西日本電気
株式会社 ５、補正の対象 出願時提出の明細書の「図面の簡単な説明」の欄６、補
正の内容 第４頁第１３行乃至第１４行の「図面の簡単な説明」と
ｒＴｅｓｔＪの間に、「第１図は本発明による試験方法
を説明するフロー第１図 第２図
ｔｙ’ ・・・・・・試験項目。 手続補正書（方式） ％式％ ２、発明の名称 試験方法 ３、 補正をする者 事件の関係 特許出願人 〒５２０滋賀県大津市晴嵐２丁目９番１号関西日本電気
株式会社 ５、補正の対象 出願時提出の明細書の「図面の簡単な説明」の欄６、補
正の内容 第４頁第１３行乃至第１４行の「図面の簡単な説明」と
ｒＴｅｓｔＪの間に、「第１図は本発明による試験方法
を説明するフロー第１図 第２図
Claims (2)
- （１）予め定められた複数の試験項目に従って被験装置
を測定し良否判別する作業を順次実施するに当たって、
上記測定を所定の不良率毎に区分された試験項目順に実
施し、不良判定された測定項目以降の測定を省略し次の
被験装置を測定することを特徴とする試験方法。 - （２）所定の不良毎に区分された試験項目を不良率が大
きい順に並べ変えて測定を実施することを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1108242A JPH02287172A (ja) | 1989-04-27 | 1989-04-27 | 試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1108242A JPH02287172A (ja) | 1989-04-27 | 1989-04-27 | 試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02287172A true JPH02287172A (ja) | 1990-11-27 |
Family
ID=14479682
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1108242A Pending JPH02287172A (ja) | 1989-04-27 | 1989-04-27 | 試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02287172A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102295531B1 (ko) * | 2021-03-17 | 2021-09-01 | 주식회사 유일로보틱스 | 로드셀 및 온도센서를 가진 사출 성형기용 취출로봇 |
-
1989
- 1989-04-27 JP JP1108242A patent/JPH02287172A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102295531B1 (ko) * | 2021-03-17 | 2021-09-01 | 주식회사 유일로보틱스 | 로드셀 및 온도센서를 가진 사출 성형기용 취출로봇 |
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