JPH02290995A - 高磁束密度4元系合金電着薄膜の製造方法 - Google Patents
高磁束密度4元系合金電着薄膜の製造方法Info
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- JPH02290995A JPH02290995A JP1109362A JP10936289A JPH02290995A JP H02290995 A JPH02290995 A JP H02290995A JP 1109362 A JP1109362 A JP 1109362A JP 10936289 A JP10936289 A JP 10936289A JP H02290995 A JPH02290995 A JP H02290995A
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- magnetic flux
- flux density
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- G11B5/31—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
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- C25D3/02—Electroplating: Baths therefor from solutions
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、高密度磁気記録再生用磁気ヘッドに用いる高
飽和磁束密度合金薄膜の製造方法に関するものである。
飽和磁束密度合金薄膜の製造方法に関するものである。
従来の技術
高密度の磁気記録に要求される大きな抗磁力(He)の
記録媒体に対して、磁気ヘッド用材料には高い飽和磁束
密度(Bs)が必要とされているが従来の高Bs値を宵
する薄膜磁気ヘッド用軟磁性材料として、低温プロセス
でパターン精度よく作成できる電着法による製法が可能
なものは、Bs=約9000Gaus s のNl−
Fe合金(バーマロイ)に限られていた。しかし,磁気
ヘッドのより十分な磁気記録再生効率の向上をはかるた
めには、さらに大きなBs値を持ち、軟磁気特性にも優
れた薄膜を、パーマロイ膜作成と同様な利点を持った電
着法によって得ることが望まれている。
記録媒体に対して、磁気ヘッド用材料には高い飽和磁束
密度(Bs)が必要とされているが従来の高Bs値を宵
する薄膜磁気ヘッド用軟磁性材料として、低温プロセス
でパターン精度よく作成できる電着法による製法が可能
なものは、Bs=約9000Gaus s のNl−
Fe合金(バーマロイ)に限られていた。しかし,磁気
ヘッドのより十分な磁気記録再生効率の向上をはかるた
めには、さらに大きなBs値を持ち、軟磁気特性にも優
れた薄膜を、パーマロイ膜作成と同様な利点を持った電
着法によって得ることが望まれている。
発明が解決しようとする課題
ところで、Fe−Co−NI3元系合金薄膜は、Bs=
10000−21000 Gaussのきわめて高いB
s値をもち軟磁気特性にも優れているが、室温で安定に
面心立方構造を有する合金組成で最も抗磁力(Hc)が
小さく、初透磁率が高いFensCOs@NIas組成
付近(Bs=18kG)において磁歪の大きさが、+
1 x 1 0−’ >Q と絶対値が大きく第4成
分の添加による磁歪の絶対値の低減が必要であった。
10000−21000 Gaussのきわめて高いB
s値をもち軟磁気特性にも優れているが、室温で安定に
面心立方構造を有する合金組成で最も抗磁力(Hc)が
小さく、初透磁率が高いFensCOs@NIas組成
付近(Bs=18kG)において磁歪の大きさが、+
1 x 1 0−’ >Q と絶対値が大きく第4成
分の添加による磁歪の絶対値の低減が必要であった。
しかしながら、電着法によるFe. co, Nb
を中心とした4元系合金の製法については各成分イ
オンのカソードにおける電析の電位が異なることからそ
の作成条件がこれまで知られていなかった。
を中心とした4元系合金の製法については各成分イ
オンのカソードにおける電析の電位が異なることからそ
の作成条件がこれまで知られていなかった。
本発明は、このような従来技術の課題を解決することを
目的とする。
目的とする。
課題を解決するための手段
本発明による高磁束密度合金薄膜の製造方法はFeCo
NjCr,またはFeCoNiCuからなる4元合金を
、硫酸塩および塩酸塩によって、Fe2゜l C O”
IN I”+ C r34, Cu2*. g)
各イオンヲ供給サセタ電着浴を用いて、浴中のイオン濃
度の比率が0. 02 <[Co2◆]/[Nl”
]< 0. 9 且つ0. 095<[Fe”]
/[Nl”]<0. 4 且つ0. 0 7 5
<[Cr34コ/[Nl2’コ<0.4であるか又は 0. 0 O L <[Cu”]/[NI”コ
<0.03であるの浴組成のものを用いて、電着電流密
度J(mA/cm2)をJ〈60において電着すること
を特徴とする。
NjCr,またはFeCoNiCuからなる4元合金を
、硫酸塩および塩酸塩によって、Fe2゜l C O”
IN I”+ C r34, Cu2*. g)
各イオンヲ供給サセタ電着浴を用いて、浴中のイオン濃
度の比率が0. 02 <[Co2◆]/[Nl”
]< 0. 9 且つ0. 095<[Fe”]
/[Nl”]<0. 4 且つ0. 0 7 5
<[Cr34コ/[Nl2’コ<0.4であるか又は 0. 0 O L <[Cu”]/[NI”コ
<0.03であるの浴組成のものを用いて、電着電流密
度J(mA/cm2)をJ〈60において電着すること
を特徴とする。
作用
上記構成によれば、0 .02< [Co2◆]バ旧2
φコ,0.095< [Fe”]/[NI”コ,
0 .075 < [Cr”◆]/[:Nl”],
0.001<[CuQ◆]バ旧24]の範囲において、
浴中のFe2◆,C o”+ N 12”l C
r3°+ Cu”の各イオンをカソード電極に安定供
給でき、[Co”]/[NI”]<0.9, [Fe
”]/[NI”]<0.4,[Or”]/[Nl”]<
0.4,[Cu2◆]バ旧2゛コ<0.03,の範囲に
おいて、安定なFeCoNlcr, または FeC
oNiCud元合金電着膜が得られる。同じ浴組成を用
いた電着では、J〈60[mA/cm2Fの電流密度範
囲において、連続的に膜組成を変化させることができ、
表面性についても優れたものがえられる。
φコ,0.095< [Fe”]/[NI”コ,
0 .075 < [Cr”◆]/[:Nl”],
0.001<[CuQ◆]バ旧24]の範囲において、
浴中のFe2◆,C o”+ N 12”l C
r3°+ Cu”の各イオンをカソード電極に安定供
給でき、[Co”]/[NI”]<0.9, [Fe
”]/[NI”]<0.4,[Or”]/[Nl”]<
0.4,[Cu2◆]バ旧2゛コ<0.03,の範囲に
おいて、安定なFeCoNlcr, または FeC
oNiCud元合金電着膜が得られる。同じ浴組成を用
いた電着では、J〈60[mA/cm2Fの電流密度範
囲において、連続的に膜組成を変化させることができ、
表面性についても優れたものがえられる。
浴のpHについては、
1. 5<I)H<5. 0
の比較的広い範囲において、4元合金電着膜が得られた
。電着の温度条件は、少なくとも20−80Cにおいて
FeCoNi(CrまたはCu)4元合金高飽和磁束密
度の軟磁性膜が得られた。
。電着の温度条件は、少なくとも20−80Cにおいて
FeCoNi(CrまたはCu)4元合金高飽和磁束密
度の軟磁性膜が得られた。
カソード電極材料としては電着膜に近いFeCoNI3
元系膜またはパーマロイ(NIFe膜)の両方の蒸着膜
が用いられたが両者の間に大きな差はみられなかった。
元系膜またはパーマロイ(NIFe膜)の両方の蒸着膜
が用いられたが両者の間に大きな差はみられなかった。
さらに電着膜中に、サッカリン酸ナトリウム、及びラウ
リル硫酸ナトリウムを各々、最大3g/1.1g/l添
加し、且つホウ酸をlmol/1添加することで、合金
電着膜における内部応力の除去、膜の表面性の改善浴の
pH値の安定等をはかることができる。
リル硫酸ナトリウムを各々、最大3g/1.1g/l添
加し、且つホウ酸をlmol/1添加することで、合金
電着膜における内部応力の除去、膜の表面性の改善浴の
pH値の安定等をはかることができる。
実施例
以下に、本発明の実施例について図面を参照しながら説
明する。
明する。
本発明の実施例として行った電着浴組成のイオン濃度比
、及びpHs 温度、電極材料、添加剤等のFeCo
NiCrd元合金電着に関する条件、及び膜組成を表1
にまとめる。
、及びpHs 温度、電極材料、添加剤等のFeCo
NiCrd元合金電着に関する条件、及び膜組成を表1
にまとめる。
(以下余白)
いずれも4元合金化したもの全てについて、Bs>10
000Gaus sの高飽和磁束密度が確認された。
000Gaus sの高飽和磁束密度が確認された。
一方、おなじ浴組成で電着電流密度を変化させた場合の
4元合金の組成変化、及び抗磁力Hc,飽和磁束密度B
sを表2にまとめる(浴組成及び電着条件はCr4元系
では表1のNo.1のものを、Cud元系ではNo.1
1のものをもちいた)。
4元合金の組成変化、及び抗磁力Hc,飽和磁束密度B
sを表2にまとめる(浴組成及び電着条件はCr4元系
では表1のNo.1のものを、Cud元系ではNo.1
1のものをもちいた)。
(以下余白)
各イオンを硫酸塩、及び、塩酸塩として供給させた表1
の各電着浴による4元合金化の検討によれば、それぞれ
の浴において最もイオン1度の高い[NI”コイオン濃
度を基準として、[Fe”]/[:NIZ+コ<0.4 [CoZ+コ/[旧2+コ〈0.9 [Cr3◆コ/[NI2+コ<0.4 [Cu2+]/[Nl2+コ<0.03の場合について
、安定なFeCoNiCr系及びFeCON IC u
系4元合金電着膜が得られた(表1の浴中のイオン濃度
比の検討においては電着電流密度JはCrd元系では一
定値J’=:4 0 mA/ c m2とし、Cu4元
系では同様に一定値J:8mA/am2とした。他の電
着条件は同図中に示す)。
の各電着浴による4元合金化の検討によれば、それぞれ
の浴において最もイオン1度の高い[NI”コイオン濃
度を基準として、[Fe”]/[:NIZ+コ<0.4 [CoZ+コ/[旧2+コ〈0.9 [Cr3◆コ/[NI2+コ<0.4 [Cu2+]/[Nl2+コ<0.03の場合について
、安定なFeCoNiCr系及びFeCON IC u
系4元合金電着膜が得られた(表1の浴中のイオン濃度
比の検討においては電着電流密度JはCrd元系では一
定値J’=:4 0 mA/ c m2とし、Cu4元
系では同様に一定値J:8mA/am2とした。他の電
着条件は同図中に示す)。
また一方、例えば表1中のNo.I及びNo.IIの浴
を用いた表2に見られるような同一浴組成を用いた電着
において、 J <.GO (mA/ c m2)の電流密度範囲
について連続的に膜組成が変えられることがわかった。
を用いた表2に見られるような同一浴組成を用いた電着
において、 J <.GO (mA/ c m2)の電流密度範囲
について連続的に膜組成が変えられることがわかった。
第1図および第2図には、それぞれ表2のFeCoNI
cr系、FeCoNiCu系についての結果を、電着電
流密度に対する、膜中の各成分元素組成の関係として示
した。
cr系、FeCoNiCu系についての結果を、電着電
流密度に対する、膜中の各成分元素組成の関係として示
した。
第1図は、FeCoNiCr系の実施例において、表1
のNo.Lの浴組成を用いて、電着電流密度をJ <
8 0 mA/am2の範囲で変化させた場合の膜組成
のJ依存性を示す。第2図は、同様に表1のNo.11
の浴組成を用いてFeC:oNIcu系についてJ依存
性を調べた結果を示す。
のNo.Lの浴組成を用いて、電着電流密度をJ <
8 0 mA/am2の範囲で変化させた場合の膜組成
のJ依存性を示す。第2図は、同様に表1のNo.11
の浴組成を用いてFeC:oNIcu系についてJ依存
性を調べた結果を示す。
表2の実施例(電流密度依存)で示したように、4元合
金電着膜の抗磁力Hcは比較的小さいものかえられ、飽
和磁束密度の値はいずれも10000Gaussを上回
る高飽和磁束密度が確認された。
金電着膜の抗磁力Hcは比較的小さいものかえられ、飽
和磁束密度の値はいずれも10000Gaussを上回
る高飽和磁束密度が確認された。
また、特にFeCoNiCr4元系膜については、磁歪
大きさが 1xlO−’以下の正の値を示した。
大きさが 1xlO−’以下の正の値を示した。
これは同じBs値をもつ3元系合金膜に比べて小さな値
である。
である。
表1により、pH値も
1. 5<pH<5. 0
の比較的広い酸性域において4元合金電着膜が得られる
ことがわかった。
ことがわかった。
カソードへの浴中イオンの安定供給のために、前に述べ
た各イオン濃度の比率は極端に低い場合も安定した組成
での4元合金電着は望めない。前記と同様に[NIP+
コイオン濃度を基準として、表1の実施例から、 0.02 < [Co”] / [NI”コ
0.095 < [Fe2◆コ /[NIP◆]0
.075 < [Cr34コ /[NI2”コ0.
001 < [Cu”コ / cN+2”]にお
いて適当な結果が得られた。
た各イオン濃度の比率は極端に低い場合も安定した組成
での4元合金電着は望めない。前記と同様に[NIP+
コイオン濃度を基準として、表1の実施例から、 0.02 < [Co”] / [NI”コ
0.095 < [Fe2◆コ /[NIP◆]0
.075 < [Cr34コ /[NI2”コ0.
001 < [Cu”コ / cN+2”]にお
いて適当な結果が得られた。
これらの4元合金電着において、応力の除去、膜の表面
製の改善、また浴のpH値の安定等を図るため、従来か
らの電着法について用いられてきた、サッカリン酸ナト
リウム、ラウリル硫酸ナトリウム、及びほう酸等が有効
であることも、表1の実施例により確かめられた(表1
では添加料は、各々.3g/l.1g/L Lモル/
lであった)。
製の改善、また浴のpH値の安定等を図るため、従来か
らの電着法について用いられてきた、サッカリン酸ナト
リウム、ラウリル硫酸ナトリウム、及びほう酸等が有効
であることも、表1の実施例により確かめられた(表1
では添加料は、各々.3g/l.1g/L Lモル/
lであった)。
また、カソードにおける電極材料としては、電着膜に近
い F eC oN l膜,またはNIFe膜(パーマ
ロイ)の両方をもちいたが、いずれも大きな差はみられ
なかった。
い F eC oN l膜,またはNIFe膜(パーマ
ロイ)の両方をもちいたが、いずれも大きな差はみられ
なかった。
さらにまた、実施例においては電着温度が20−eoc
の範囲について検討され、この温度範囲において、適当
な電着条件下でFeCoNiCrまたはFeCoNiC
u4元合金系の高飽和磁束密度軟磁性膜が得られること
がわかった。また軟磁気特性の改善にはカソード付近に
固定させた磁界中で電着し、磁性膜に一軸異方性を誘導
する製法が効果的である。
の範囲について検討され、この温度範囲において、適当
な電着条件下でFeCoNiCrまたはFeCoNiC
u4元合金系の高飽和磁束密度軟磁性膜が得られること
がわかった。また軟磁気特性の改善にはカソード付近に
固定させた磁界中で電着し、磁性膜に一軸異方性を誘導
する製法が効果的である。
発明の効果
以上説明したように、本発明によって極めて高いBs値
を有するFe−Co−Nl−X, (X=Cr,Cu
)4元合金の電着が可能となり該電着法によって、より
十分な磁気記録再生効率を有する薄膜磁気ヘッド用軟磁
性薄膜の作成が可能となる。
を有するFe−Co−Nl−X, (X=Cr,Cu
)4元合金の電着が可能となり該電着法によって、より
十分な磁気記録再生効率を有する薄膜磁気ヘッド用軟磁
性薄膜の作成が可能となる。
第1図は、本発明の一実施例における製造方法により製
造されたFeCoNiCr系高磁束密度4元系合金電着
薄膜の膜組成のJ依存性を示すグラフ、第2図は、同様
にFeCoNiCu系高磁束密度4元系合金電着薄膜の
膜組成のJ依存性を示すグラフである。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝ほか1名2図 第1図 Ft−Ca−Ni−Cr 4−元.−[& I ノNo
l 5!gJ 1:Z 6υ 3e
ジ 50→覧脣電欧y戻〔岬ん汽l〕 /6 ω 3a u S
θ→I!!清覧代忽崖CynA/4ML〕/:6
造されたFeCoNiCr系高磁束密度4元系合金電着
薄膜の膜組成のJ依存性を示すグラフ、第2図は、同様
にFeCoNiCu系高磁束密度4元系合金電着薄膜の
膜組成のJ依存性を示すグラフである。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝ほか1名2図 第1図 Ft−Ca−Ni−Cr 4−元.−[& I ノNo
l 5!gJ 1:Z 6υ 3e
ジ 50→覧脣電欧y戻〔岬ん汽l〕 /6 ω 3a u S
θ→I!!清覧代忽崖CynA/4ML〕/:6
Claims (4)
- (1)Fe,Co,Ni,Cr,Cu,の二価または三
価のイオンを含む硫酸塩及び塩酸塩の一方または両方に
よってFe、CoおよびNiとCr又はCuの4種類の
各イオンを供給させた電着用の電解浴を用い、浴中の各
イオン濃度の比率が[Ni^2^+]濃度を基準として
、 0.02<[Co^2^+]/[Ni^2^+]<0.
9且つ0.095<[Fe^2^+]/[Ni^2^+
]<0.4且つ0.075<[Cr^3^+]/[Ni
^2^+]<0.4であるか、又は 0.001<[Cu^2^+]/[Ni^2^+]<0
.03である浴組成を用い、カソードに於ける電着電流
密度JがJ<60(mA/cm^2)の範囲でカソード
にFeCoNiCrまたはFeCoNiCu4元合金薄
膜を作成することを特徴とする高磁束密度4元系合金電
着薄膜の製造方法。 - (2)電着浴のカソード付近に固定された磁界により膜
中に一軸異方性を誘導させて電着を行うことを特徴とす
る請求項1記載の高磁束密度4元系合金電着薄膜の製造
方法。 - (3)電着用のカソード電極材料として蒸着法によるF
eCoNi3元素薄膜またはパーマロイ薄膜を用いるこ
とを特徴とする請求項1記載の高磁束密度4元系合金電
着薄膜の製造方法。 - (4)電着浴のpH値が1.5<pH<5.0であるこ
とを特徴とする請求項1記載の高磁束密度4元系合金電
着薄膜の製造方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1109362A JPH0765228B2 (ja) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | 高磁束密度4元系合金電着薄膜の製造方法 |
| US07/511,336 US4990225A (en) | 1989-04-28 | 1990-04-19 | Method of manufacturing high magnetic flux density electrodeposited quaternary alloy thin film |
| DE69017939T DE69017939T2 (de) | 1989-04-28 | 1990-04-27 | Verfahren zur Herstellung von galvanisch abgeschiedenen dünnen Filmen mit hoher magnetischer Flussdichte aus quaternären Legierungen. |
| EP90108122A EP0395111B1 (en) | 1989-04-28 | 1990-04-27 | Method of manufacturing high magnetic flux density electrodeposited quarternary alloy thin film |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1109362A JPH0765228B2 (ja) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | 高磁束密度4元系合金電着薄膜の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02290995A true JPH02290995A (ja) | 1990-11-30 |
| JPH0765228B2 JPH0765228B2 (ja) | 1995-07-12 |
Family
ID=14508306
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1109362A Expired - Lifetime JPH0765228B2 (ja) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | 高磁束密度4元系合金電着薄膜の製造方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4990225A (ja) |
| EP (1) | EP0395111B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0765228B2 (ja) |
| DE (1) | DE69017939T2 (ja) |
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| KR100394741B1 (ko) * | 2001-04-11 | 2003-08-14 | 연합철강공업 주식회사 | 철-니켈합금 박판의 제조를 위한 전해액 |
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| US5332487A (en) * | 1993-04-22 | 1994-07-26 | Digital Equipment Corporation | Method and plating apparatus |
| RU2248415C1 (ru) * | 2004-02-02 | 2005-03-20 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Тюменский государственный нефтегазовый университет | Электролит для осаждения сплава железо-хром |
| RU2285065C1 (ru) * | 2005-03-09 | 2006-10-10 | ФГОУ ВПО Курская государственная сельскохозяйственная академия им. проф. И.И. Иванова | Способ электролитического осаждения сплава железо-хром |
| US20070253103A1 (en) * | 2006-04-27 | 2007-11-01 | Heraeus, Inc. | Soft magnetic underlayer in magnetic media and soft magnetic alloy based sputter target |
| CN104047038B (zh) * | 2014-06-30 | 2016-09-14 | 句容市博远电子有限公司 | 一种镍铬铜钴合金电镀液及其配制方法 |
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| JPH0765228B2 (ja) | 1995-07-12 |
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| EP0395111B1 (en) | 1995-03-22 |
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