JPH02295222A - 近接スイッチの判別装置 - Google Patents
近接スイッチの判別装置Info
- Publication number
- JPH02295222A JPH02295222A JP11681589A JP11681589A JPH02295222A JP H02295222 A JPH02295222 A JP H02295222A JP 11681589 A JP11681589 A JP 11681589A JP 11681589 A JP11681589 A JP 11681589A JP H02295222 A JPH02295222 A JP H02295222A
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- proximity switch
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明はコイルとコンデンサとで減衰共振回路を構成す
る前記コイルの発生磁束内で被検出金属がコイルに近づ
いたか否かを前記共振の減衰の速さで判別する近接スイ
ッチにおける判別装置、特にスイッチ構成部品のバラッ
キに関わらず、スイッチの検出精度を高め得るようにし
た近接スイッチの判別装置に関する。 なお以下各図において同一の符号は同一もしくは相当部
分を示す。
る前記コイルの発生磁束内で被検出金属がコイルに近づ
いたか否かを前記共振の減衰の速さで判別する近接スイ
ッチにおける判別装置、特にスイッチ構成部品のバラッ
キに関わらず、スイッチの検出精度を高め得るようにし
た近接スイッチの判別装置に関する。 なお以下各図において同一の符号は同一もしくは相当部
分を示す。
第２図はこの種の近接スイッチ（装置）の構成例を示す
回路図、第３図は第２図の動作説明用の波形図である。 第２図においてＬはその発生磁束内で被検出金属が自身
へ接近したか否かを判別するコイル、Ｃはこのコイルし
に並列に接続されて共振回路を構成するコンデンサ、Ｒ
１はコイルＬの通電電流制限用の抵抗、Ｓ１はパルス計
数制御回路２を介して駆動されコイルＬの電流を開閉す
るトランジスタである。またＲ２，Ｒ３は直流定電圧電
源■ＣＣから基準電圧ＶＦを得るための分圧抵抗、３は
前記共振回路の電圧（この例では抵抗Ｒｌとトランジス
タＳ１との接続点Ｐの電圧）と基準電圧ＶＦとを比較す
る比較回路である。 ２はトランジスタＳ１の開閉やパルス計数等を行うパル
ス計数制御回路、１１はこの回路２に属するカウンタで
比較回路３の出力３ａを計数する。 いまトランジスタＳ工を所定時間ＯＮＬてコイルＬにほ
ぼ直流電圧ＶＣＣと抵抗Ｒ１とで定まる所定の電流を確
立させた状態でトランジスタＳ１をＯＦＦすると、Ｐ点
の電位は第３図（１）のように電位ｖＣＣを中心として
その上下に振動する減衰振動波形となる。 そしてこのＰ点電位と基準電圧ＶＦとを比較回路３を介
して比較した得た比較回路出力３ａは第３図（２）のよ
うになる。 なお第３図（１）， （２）において左側の波形は金属
無、即ちコイルＬへの被検出金属の接近が無い場合を示
し、同じく右側の波形は金属有、即ちコイルＬへの被検
出金属の接近が有る場合を示す。このように被検出金属
の接近によって共振波形の減衰が速く （強く）なる。 これはコイルＬの発生する磁束の変化によってコイルし
に接近した被検出金属内に過電流が流れるためである。 このようにして比較回路出力３ａとしてのパルス出力を
カウンタ１１を介して計数するとこの計数値は被検出金
属の非接近時より接近時の方が小になる。 そこで従来は、第１図の計数Ｎ判別手段１２を介しカウ
ンタ１１の計数出力（パルス数）Ａを１つのしきい値（
Ｎ）と比較し、パルス数ＡがＮ以上なら金属無、Ｎ未満
なら金属有と判定していた。
回路図、第３図は第２図の動作説明用の波形図である。 第２図においてＬはその発生磁束内で被検出金属が自身
へ接近したか否かを判別するコイル、Ｃはこのコイルし
に並列に接続されて共振回路を構成するコンデンサ、Ｒ
１はコイルＬの通電電流制限用の抵抗、Ｓ１はパルス計
数制御回路２を介して駆動されコイルＬの電流を開閉す
るトランジスタである。またＲ２，Ｒ３は直流定電圧電
源■ＣＣから基準電圧ＶＦを得るための分圧抵抗、３は
前記共振回路の電圧（この例では抵抗Ｒｌとトランジス
タＳ１との接続点Ｐの電圧）と基準電圧ＶＦとを比較す
る比較回路である。 ２はトランジスタＳ１の開閉やパルス計数等を行うパル
ス計数制御回路、１１はこの回路２に属するカウンタで
比較回路３の出力３ａを計数する。 いまトランジスタＳ工を所定時間ＯＮＬてコイルＬにほ
ぼ直流電圧ＶＣＣと抵抗Ｒ１とで定まる所定の電流を確
立させた状態でトランジスタＳ１をＯＦＦすると、Ｐ点
の電位は第３図（１）のように電位ｖＣＣを中心として
その上下に振動する減衰振動波形となる。 そしてこのＰ点電位と基準電圧ＶＦとを比較回路３を介
して比較した得た比較回路出力３ａは第３図（２）のよ
うになる。 なお第３図（１）， （２）において左側の波形は金属
無、即ちコイルＬへの被検出金属の接近が無い場合を示
し、同じく右側の波形は金属有、即ちコイルＬへの被検
出金属の接近が有る場合を示す。このように被検出金属
の接近によって共振波形の減衰が速く （強く）なる。 これはコイルＬの発生する磁束の変化によってコイルし
に接近した被検出金属内に過電流が流れるためである。 このようにして比較回路出力３ａとしてのパルス出力を
カウンタ１１を介して計数するとこの計数値は被検出金
属の非接近時より接近時の方が小になる。 そこで従来は、第１図の計数Ｎ判別手段１２を介しカウ
ンタ１１の計数出力（パルス数）Ａを１つのしきい値（
Ｎ）と比較し、パルス数ＡがＮ以上なら金属無、Ｎ未満
なら金属有と判定していた。
しかしながら、従来の近接スイッチにおいては、カウン
タ１１の計数値が固定の数値Ｎと比較されるため、共振
回路Ｌ，ＣのＱなどのバラッキにより減衰波形がバラッ
キ、このため金属の有無が切換わる動作点が近接スイッ
チによりバラッキ、高精度の近接スイッチを実現するこ
とができなかった。 そこで本発明は、予め近接スイッチの調整時に、検出コ
イルの発生磁束内に被検出金属が無い時、または検出が
行われるべき所望の位置に被検出金属を置いた時のカウ
ンタの計数値をメモリに記憶させて置き、実際の近接ス
イッチとしての使用時に検出出力されたカウンタの計数
値をこのメモリに記憶された値から所定値を引いた値と
してのしきい値、または前記メモリの記憶値としてのし
きい値と比較して金属の有無を判別する近接スイッチの
判別装置を提供することにより前記の問題を解消するこ
とを課題とする。
タ１１の計数値が固定の数値Ｎと比較されるため、共振
回路Ｌ，ＣのＱなどのバラッキにより減衰波形がバラッ
キ、このため金属の有無が切換わる動作点が近接スイッ
チによりバラッキ、高精度の近接スイッチを実現するこ
とができなかった。 そこで本発明は、予め近接スイッチの調整時に、検出コ
イルの発生磁束内に被検出金属が無い時、または検出が
行われるべき所望の位置に被検出金属を置いた時のカウ
ンタの計数値をメモリに記憶させて置き、実際の近接ス
イッチとしての使用時に検出出力されたカウンタの計数
値をこのメモリに記憶された値から所定値を引いた値と
してのしきい値、または前記メモリの記憶値としてのし
きい値と比較して金属の有無を判別する近接スイッチの
判別装置を提供することにより前記の問題を解消するこ
とを課題とする。
前記の課題を解決するために本発明の装置は、『自身が
作る磁束内に被検出金属が入り得るように配設されたコ
イル（Ｌなど）と、コンデンサ（Ｃなど）とを並列に接
続して共振回路を構成し、直流電源（ＶＣＣなど）を介
し（トランジスタＳｌ，抵抗Ｒ１などを用いて）この共
振回路に所定の付勢を行ったのち前記直流電源をこの共
振回路から切離し、 二の切離しののち、前記コイルまたはコンデンサの電流
または電圧が所定のレベルまで減衰するまでの間に発生
する減衰共振波の波数を（比較回路３，カウンタ１１な
どを介して求めたうえ、この波数を）所定の計数しきい
値と比較して、前記被検出金属の前記コイルへの近接の
有無を（パルス計数制御回路２などを介し）判別する近
接スイッチにおいて、 予め所定の状態（被検出金属がコイルＬの発生磁束内に
無い状態、または該金属が検出されるべき所望の位置に
置かれた状態など）で、前記のように発生した減衰共振
波の波数を（書込手段１３などを介し）格納され記憶す
る手段（メモリ１５など）と、 この記憶値（Ｍなど）を用いて前記計数しきい値を（記
憶値Ｍから所定値αを差引いた値Ｍ一α、または記憶値
Ｍなどとして）設定する手段（書込手段１４，計数値判
別手段１２Ａなど）と、を備えたもとする。
作る磁束内に被検出金属が入り得るように配設されたコ
イル（Ｌなど）と、コンデンサ（Ｃなど）とを並列に接
続して共振回路を構成し、直流電源（ＶＣＣなど）を介
し（トランジスタＳｌ，抵抗Ｒ１などを用いて）この共
振回路に所定の付勢を行ったのち前記直流電源をこの共
振回路から切離し、 二の切離しののち、前記コイルまたはコンデンサの電流
または電圧が所定のレベルまで減衰するまでの間に発生
する減衰共振波の波数を（比較回路３，カウンタ１１な
どを介して求めたうえ、この波数を）所定の計数しきい
値と比較して、前記被検出金属の前記コイルへの近接の
有無を（パルス計数制御回路２などを介し）判別する近
接スイッチにおいて、 予め所定の状態（被検出金属がコイルＬの発生磁束内に
無い状態、または該金属が検出されるべき所望の位置に
置かれた状態など）で、前記のように発生した減衰共振
波の波数を（書込手段１３などを介し）格納され記憶す
る手段（メモリ１５など）と、 この記憶値（Ｍなど）を用いて前記計数しきい値を（記
憶値Ｍから所定値αを差引いた値Ｍ一α、または記憶値
Ｍなどとして）設定する手段（書込手段１４，計数値判
別手段１２Ａなど）と、を備えたもとする。
実際に周囲に被検出金属が無い状態から計数値が所定値
以上小さく変化したときに金属有と判断するようにした
り、あるいは近接スイッチとして使用するときの計数値
を実際に被検出金属を検出されるべき位置に置いたとき
の計数値と比較して金属の近接の有無を判断するように
して、金属の高精度の近接検出を行わせる。
以上小さく変化したときに金属有と判断するようにした
り、あるいは近接スイッチとして使用するときの計数値
を実際に被検出金属を検出されるべき位置に置いたとき
の計数値と比較して金属の近接の有無を判断するように
して、金属の高精度の近接検出を行わせる。
次に第１図を用いて本発明の実施例を説明する。
同図は本発明の一実施例としての構成を示す回路図で第
２図に対応するものである。第１図においては第２図に
対しパルス計数制御回路が新たな回ている。そしてさら
に回路２Ａ外にメモリ１５が付加されている。 次に第１図の動作を２つの実施例によって説明する。ま
ず第１の実施例としては、予めこの近接スイッチの調整
時に、検出コイルＬの発生磁束内に被検出金属が無い状
態で比較回路３の出力パルス数３８をカウンタ１１で計
数し、その計数値Ｍを書込手段１３を介してメモ１月５
に書込んで置くものである。 この場合、実際の近接スイッチとしての使用時において
は、読込手段１４によりメモ１月５に書込まれた値Ｍが
計数値判別手段１２Ａにロードされ、この判別手段１２
Ａによって比較回路３の出力パルス数３８を計数したカ
ウンタ１１の値Ａが、上記Ｍがら所定値αを差引いた値
として定・められたしきい値Ｍ−αと比較され、Ａ≧Ｍ
−αのとき金属無、ＡＲＭ一αのとき金属有と判定され
る。 また第２の実施例としては、同じくこの近接スイッチの
調整時に、被検出金属の近接が検出されるべき所望の位
置に被検出金属を置き、このときの比較回路３の出力パ
ルス数３ａをカウンタｌ１で計数し、その計数値Ｍを書
込手段１３を介してメモリ１５に書き込んで置くもので
ある。この場合実際の近接スイッチとしての使用時にお
いては、読込手段１４によりメモ１月５に書込まれた値
Ｍがしきい値として計数値判別手段１２Ａにロードされ
、この判別手段１２Ａによってこのしきい値Ｍと比較回
路３の出力パルス数３ａを計数したカウンタ１１の計数
値Ａとが比較され、Ａ≧Ｍのとき金属無、Ａ〈Ｍのとき
金属有と判定される。
２図に対応するものである。第１図においては第２図に
対しパルス計数制御回路が新たな回ている。そしてさら
に回路２Ａ外にメモリ１５が付加されている。 次に第１図の動作を２つの実施例によって説明する。ま
ず第１の実施例としては、予めこの近接スイッチの調整
時に、検出コイルＬの発生磁束内に被検出金属が無い状
態で比較回路３の出力パルス数３８をカウンタ１１で計
数し、その計数値Ｍを書込手段１３を介してメモ１月５
に書込んで置くものである。 この場合、実際の近接スイッチとしての使用時において
は、読込手段１４によりメモ１月５に書込まれた値Ｍが
計数値判別手段１２Ａにロードされ、この判別手段１２
Ａによって比較回路３の出力パルス数３８を計数したカ
ウンタ１１の値Ａが、上記Ｍがら所定値αを差引いた値
として定・められたしきい値Ｍ−αと比較され、Ａ≧Ｍ
−αのとき金属無、ＡＲＭ一αのとき金属有と判定され
る。 また第２の実施例としては、同じくこの近接スイッチの
調整時に、被検出金属の近接が検出されるべき所望の位
置に被検出金属を置き、このときの比較回路３の出力パ
ルス数３ａをカウンタｌ１で計数し、その計数値Ｍを書
込手段１３を介してメモリ１５に書き込んで置くもので
ある。この場合実際の近接スイッチとしての使用時にお
いては、読込手段１４によりメモ１月５に書込まれた値
Ｍがしきい値として計数値判別手段１２Ａにロードされ
、この判別手段１２Ａによってこのしきい値Ｍと比較回
路３の出力パルス数３ａを計数したカウンタ１１の計数
値Ａとが比較され、Ａ≧Ｍのとき金属無、Ａ〈Ｍのとき
金属有と判定される。
本発明によれば、予め近接スイッチの調整時、実際に検
出コイルの周囲に金属が無いときに出力されたカウンタ
計数値を記憶して置き、近接スイッチとして使用する際
は、検出された計数値が前記の記憶された計数値より所
定値以上小さくなったとき金属が有ると判定し、あるい
は 同じく近接スイッチの調整時、実際に金属の近接が検出
されるべき位置に被検出金属を置いた時に出力された計
数値を記憶して置き、近接スイッチとして使用する際は
検出された計数値と前記の記憶された計数値としてのし
きい値とを比較するようにしたため、共振回路Ｌ，Ｃの
バラツキばかりでなく、Ｒｌ，Ｒ２，Ｒ３のバラツキに
対しても有効な補正ができ、高精度の近接スイッチを得
ることができる。
出コイルの周囲に金属が無いときに出力されたカウンタ
計数値を記憶して置き、近接スイッチとして使用する際
は、検出された計数値が前記の記憶された計数値より所
定値以上小さくなったとき金属が有ると判定し、あるい
は 同じく近接スイッチの調整時、実際に金属の近接が検出
されるべき位置に被検出金属を置いた時に出力された計
数値を記憶して置き、近接スイッチとして使用する際は
検出された計数値と前記の記憶された計数値としてのし
きい値とを比較するようにしたため、共振回路Ｌ，Ｃの
バラツキばかりでなく、Ｒｌ，Ｒ２，Ｒ３のバラツキに
対しても有効な補正ができ、高精度の近接スイッチを得
ることができる。
第１図は本発明の一実施例としての構成を示す回路図、
第２図は第１図は対応する従来の回路図、第３図は第２
図の動作説明用の波形図である。
図の動作説明用の波形図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）自身が作る磁束内に被検出金属が入り得るように配
設されたコイルと、コンデンサとを並列に接続して共振
回路を構成し、 直流電源を介しこの共振回路に所定の付勢を行ったのち
前記直流電源をこの共振回路から切離し、この切離しの
のち、前記コイルまたはコンデンサの電流または電圧が
所定のレベルまで減衰するまでの間に発生する減衰共振
波の波数を所定の計数しきい値と比較して、前記被検出
金属の前記コイルへの近接の有無を判別する近接スイッ
チにおいて、 予め所定の状態で前記のように発生した減衰共振波の波
数を格納され記憶する手段と、 この記憶値を用いて前記計数しきい値を設定する手段と
、 を備えたことを特徴とする近接スイッチの判別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1116815A JP2536148B2 (ja) | 1989-05-10 | 1989-05-10 | 近接スイッチの判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1116815A JP2536148B2 (ja) | 1989-05-10 | 1989-05-10 | 近接スイッチの判別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02295222A true JPH02295222A (ja) | 1990-12-06 |
| JP2536148B2 JP2536148B2 (ja) | 1996-09-18 |
Family
ID=14696329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1116815A Expired - Lifetime JP2536148B2 (ja) | 1989-05-10 | 1989-05-10 | 近接スイッチの判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2536148B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007026799A1 (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-08 | Azuma Systems Co., Ltd. | 近接センサ及び近接検出方法 |
-
1989
- 1989-05-10 JP JP1116815A patent/JP2536148B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007026799A1 (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-08 | Azuma Systems Co., Ltd. | 近接センサ及び近接検出方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2536148B2 (ja) | 1996-09-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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