JPH02306655A - 回路パツケージの製造方法 - Google Patents
回路パツケージの製造方法Info
- Publication number
- JPH02306655A JPH02306655A JP2115377A JP11537790A JPH02306655A JP H02306655 A JPH02306655 A JP H02306655A JP 2115377 A JP2115377 A JP 2115377A JP 11537790 A JP11537790 A JP 11537790A JP H02306655 A JPH02306655 A JP H02306655A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- array
- solder
- carrier
- conductive pads
- pin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
- H05K3/3436—Leadless components having an array of bottom contacts, e.g. pad grid array or ball grid array components
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3465—Application of solder
- H05K3/3478—Application of solder preforms; Transferring prefabricated solder patterns
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/03—Conductive materials
- H05K2201/0332—Structure of the conductor
- H05K2201/0364—Conductor shape
- H05K2201/0379—Stacked conductors
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10613—Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
- H05K2201/10621—Components characterised by their electrical contacts
- H05K2201/10734—Ball grid array [BGA]; Bump grid array
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10613—Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
- H05K2201/10954—Other details of electrical connections
- H05K2201/10992—Using different connection materials, e.g. different solders, for the same connection
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/04—Soldering or other types of metallurgic bonding
- H05K2203/041—Solder preforms in the shape of solder balls
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/04—Soldering or other types of metallurgic bonding
- H05K2203/0415—Small preforms other than balls, e.g. discs, cylinders or pillars
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/04—Soldering or other types of metallurgic bonding
- H05K2203/043—Reflowing of solder coated conductors, not during connection of components, e.g. reflowing solder paste
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/05—Patterning and lithography; Masks; Details of resist
- H05K2203/0548—Masks
- H05K2203/0557—Non-printed masks
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/721—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors
- H10W90/724—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/49147—Assembling terminal to base
- Y10T29/49149—Assembling terminal to base by metal fusion bonding
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Multi-Conductor Connections (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
本発明は、一般に電子パッケージング及びその製法に関
し、具体的には、セラミック基板キャリアと支持回路板
の電気的相互接続、及び上記の電気的相互接続を行なう
方法に関するものである。
し、具体的には、セラミック基板キャリアと支持回路板
の電気的相互接続、及び上記の電気的相互接続を行なう
方法に関するものである。
B、従来の技術
最近の電子パッケージングは、一般に多数のパッケージ
及び相互接続の段を含んでいる。第1段のパッケージは
、セラミック基板キャリア上の1個または複数のシリコ
ン・チップを接続する。第2段のパッケージは、有機回
路板上の1個または複数のこのようなセラミック基板キ
ャリアを相互接続する。電力分配のために導電性を高め
、高速・低ノイズを得るために4ンダクタンスを低くし
、機械的支持のための機械特性を最適化し、疲労特性を
改善するとともに、加工性を向上させるために、従来か
らセラミック基板キャリアに剛性の金属ピンを設け、金
とスズの合金等の適当なろう付は材料でそれをセラミッ
クにろう付けしている。
及び相互接続の段を含んでいる。第1段のパッケージは
、セラミック基板キャリア上の1個または複数のシリコ
ン・チップを接続する。第2段のパッケージは、有機回
路板上の1個または複数のこのようなセラミック基板キ
ャリアを相互接続する。電力分配のために導電性を高め
、高速・低ノイズを得るために4ンダクタンスを低くし
、機械的支持のための機械特性を最適化し、疲労特性を
改善するとともに、加工性を向上させるために、従来か
らセラミック基板キャリアに剛性の金属ピンを設け、金
とスズの合金等の適当なろう付は材料でそれをセラミッ
クにろう付けしている。
このあと、この種の剛性のピンを有するセラミック基板
をコネクタに差し込み、または有機回路板に設けたメッ
キした1列のスルー・ホールにウェーブはんだ付けを行
なう。上記の接続方式は、ろう付は材料、剛性の金属ピ
ン、ピン・コネクタまたはメッキしたスルー・ホールに
伴うコストが高く、かつスルー・ホールにより回路板上
の配線チャネルの数が限定されるという欠点がある。
をコネクタに差し込み、または有機回路板に設けたメッ
キした1列のスルー・ホールにウェーブはんだ付けを行
なう。上記の接続方式は、ろう付は材料、剛性の金属ピ
ン、ピン・コネクタまたはメッキしたスルー・ホールに
伴うコストが高く、かつスルー・ホールにより回路板上
の配線チャネルの数が限定されるという欠点がある。
米国特許第3401128号及び第3429040号明
細書は、半導体チップのキャリアへのフェースダウン・
ボンディング、すなわち第1段のパッケージの相互接続
の形成のための制御コラプス接続について詳細に記載し
ている。上記明細書には、一般に、チップ・キャリア上
の導体上の半導体チップ接触サイト及びはんだ接合可能
サイト上に金属はんだの可能性パッドを形成することが
記載されている。チップ・キャリアのはんだ接合可能サ
イトは、不溶性バリアで取り囲まれており、キャリア・
サイト及び半導体デバイス接触サイト上のはんだが共融
して混合した場合に、表面張力によって半導体チップが
キャリア上に浮遊する。
細書は、半導体チップのキャリアへのフェースダウン・
ボンディング、すなわち第1段のパッケージの相互接続
の形成のための制御コラプス接続について詳細に記載し
ている。上記明細書には、一般に、チップ・キャリア上
の導体上の半導体チップ接触サイト及びはんだ接合可能
サイト上に金属はんだの可能性パッドを形成することが
記載されている。チップ・キャリアのはんだ接合可能サ
イトは、不溶性バリアで取り囲まれており、キャリア・
サイト及び半導体デバイス接触サイト上のはんだが共融
して混合した場合に、表面張力によって半導体チップが
キャリア上に浮遊する。
米国特許第4545810号明細書は、半導体デバイス
上の複数のパッドを、支持基板上の対応する複数のパッ
ドに接続するために、細長いはんだ端子を形成する、上
記特許第3401126号及び第3429040号の方
法の改良を教示している。この方法は、半導体とパッド
の領域外の支持基板との間に所定の垂直方向の間隔を維
持する手段を形成し、はんだエクステンダを形成して、
基板または接合すべきデバイス上の各はんだ垂直パッド
に固定し、はんだマウンドを基板上のパッドと整合させ
、はんだエクステンダをその間に介在させ、垂直方向の
間隔を維持する手段をデバイスと基板の間にそれらと接
するように配置して、はんだマウンドを備えた半導体デ
バイスを支持基板上のはんだマウント可能パッド上で位
置決めし、スペーサを使用して所定の間隔を維持しなが
ら、得られたアセンブリを加熱して、はんだマウンドと
はんだエクステンダの両方を完全に溶融させ、このよう
にして第1段パッケージ用の複数の砂時計型の細長い接
続を形成することにより実施する。
上の複数のパッドを、支持基板上の対応する複数のパッ
ドに接続するために、細長いはんだ端子を形成する、上
記特許第3401126号及び第3429040号の方
法の改良を教示している。この方法は、半導体とパッド
の領域外の支持基板との間に所定の垂直方向の間隔を維
持する手段を形成し、はんだエクステンダを形成して、
基板または接合すべきデバイス上の各はんだ垂直パッド
に固定し、はんだマウンドを基板上のパッドと整合させ
、はんだエクステンダをその間に介在させ、垂直方向の
間隔を維持する手段をデバイスと基板の間にそれらと接
するように配置して、はんだマウンドを備えた半導体デ
バイスを支持基板上のはんだマウント可能パッド上で位
置決めし、スペーサを使用して所定の間隔を維持しなが
ら、得られたアセンブリを加熱して、はんだマウンドと
はんだエクステンダの両方を完全に溶融させ、このよう
にして第1段パッケージ用の複数の砂時計型の細長い接
続を形成することにより実施する。
最近、チップ及びキャリア用の第1段はんだ相互接続技
術をキャリアの第2段の相互接続に拡張して、回路板等
の高次パッケージを支持できるようにするため、かなり
の努力が払われてきた。たとえば、米国特許第4664
309号明細書は、はんだ等の接合形成材料のプリフォ
ームを入れる所定のパターンの穴を備えた保持部材を有
する相互接続プリフォーム配置装置を教示している。こ
の装置を電子部品上の平行な導電性素子のパターンと回
路板との間に置き、導電性素子とプリフォームをボンデ
ィングする。プリフォームは、ボンディング中その所定
の形状を保ち、接続工程後も元の形状を保持する。また
、関連の米国特許第4705205号明細書によれば、
接合形成材料は、充填はんだ組成物あるいは”ウール”
、針金、または金網人の支持はんだでよく、接合形成材
料のはんだ成分が溶融してもその物理的形状が実質的に
保持される。
術をキャリアの第2段の相互接続に拡張して、回路板等
の高次パッケージを支持できるようにするため、かなり
の努力が払われてきた。たとえば、米国特許第4664
309号明細書は、はんだ等の接合形成材料のプリフォ
ームを入れる所定のパターンの穴を備えた保持部材を有
する相互接続プリフォーム配置装置を教示している。こ
の装置を電子部品上の平行な導電性素子のパターンと回
路板との間に置き、導電性素子とプリフォームをボンデ
ィングする。プリフォームは、ボンディング中その所定
の形状を保ち、接続工程後も元の形状を保持する。また
、関連の米国特許第4705205号明細書によれば、
接合形成材料は、充填はんだ組成物あるいは”ウール”
、針金、または金網人の支持はんだでよく、接合形成材
料のはんだ成分が溶融してもその物理的形状が実質的に
保持される。
米国特許第4352449号明細書は、支持基板上にチ
ップ・キャリアを取り付ける方法を教示している。この
方法は、チップ・キャリアまたは基板のいずれか上の接
触パッドにはんだプリフォームを付着させるもので、キ
ャリアと基板の接触パッドをはんだプリフォームと接触
させた後、この最終アセンブリを加熱してはんだプリフ
ォームを完全に溶融させることにより、接続を形成する
。
ップ・キャリアを取り付ける方法を教示している。この
方法は、チップ・キャリアまたは基板のいずれか上の接
触パッドにはんだプリフォームを付着させるもので、キ
ャリアと基板の接触パッドをはんだプリフォームと接触
させた後、この最終アセンブリを加熱してはんだプリフ
ォームを完全に溶融させることにより、接続を形成する
。
米国特許第4332341号明細書は、チップ・キャリ
アを支持基板にボンディングすることを含む回路パッケ
ージの形成方法を教示している。この方法では、固形は
んだプリフォームを、部品または基板、あるいはその両
方の接触部材に付着し、プリフォームに力を加えながら
はんだの融点より低い温度に加熱してプリフォームを接
着部材にボンディングし、これによってプリフォームを
溶融せずに接続を形成する。
アを支持基板にボンディングすることを含む回路パッケ
ージの形成方法を教示している。この方法では、固形は
んだプリフォームを、部品または基板、あるいはその両
方の接触部材に付着し、プリフォームに力を加えながら
はんだの融点より低い温度に加熱してプリフォームを接
着部材にボンディングし、これによってプリフォームを
溶融せずに接続を形成する。
C1発明が解決しようとする課題
本発明の主目的は、セラミック・キャリアと支持回路板
との間に、高密度の電気的相互接続のアレイを形成する
方法を提供することにある。
との間に、高密度の電気的相互接続のアレイを形成する
方法を提供することにある。
本発明の他の目的は、セラミック・キャリアと支持基板
との間に電気的相互接続を形成する、低コストの方法を
提供することにある。
との間に電気的相互接続を形成する、低コストの方法を
提供することにある。
本発明の全般的目的は、電子パッケージング用の改良さ
れた電気的相互接続を提供することにある。
れた電気的相互接続を提供することにある。
本発明の他の目的は、セラミック・キャリアと支持回路
板との間の熱膨張率の不一致に伴って生じる応力に耐え
る、改良された電気的相互接続を提供することにある。
板との間の熱膨張率の不一致に伴って生じる応力に耐え
る、改良された電気的相互接続を提供することにある。
00課題を解決するための手段
本発明の上記及びその他の目的は、片面に第1の導電性
パッドのアレイを宵するキャリアを設けるステップ、上
記キャリアと整列し、上記第1の導電性パッドのアレイ
と実質的に整合する、対応するピン穴のアレイを有する
ピン・モールドを配置するステップ、上記ピン・モール
ド中の上記ピン穴のアレイを所与の融点の第1のはんだ
で充填し、上記ピン・モールド中の上記第1のはんだを
加熱して、上記第1のはんだを溶融させて、上記第1の
導電性パッドのアレイと融合するようにし、それによっ
て上記キャリアの上記第1の導電性パッドのアレイにボ
ンディングされた小型ピンのアレイを形成するステップ
、上記キャリアの他の面に、回路構成要素を接合するス
テップ、上記第1のはんだの融点よりかなり低い融点の
第2のはんだをスクリーン印刷した、対応する第2の導
電性パッドのアレイを片面に有する支持基板を、上記第
2の導電性パッドのアレイが上記キャリアの小型ピンの
アレイの自由端と実質的に整合するように、上記キャリ
アを整列させて配置するステップ、及び上記第2のはん
だをリフローして、上記小型ピンのアレイの自由端を上
記第2の導電性パッドのアレイにボンディングさせ、そ
れによって上記キャリアと上記支持基板との間にはんだ
柱接続を形成するステップを含む、回路パッケージ製造
方法によって達成される。
パッドのアレイを宵するキャリアを設けるステップ、上
記キャリアと整列し、上記第1の導電性パッドのアレイ
と実質的に整合する、対応するピン穴のアレイを有する
ピン・モールドを配置するステップ、上記ピン・モール
ド中の上記ピン穴のアレイを所与の融点の第1のはんだ
で充填し、上記ピン・モールド中の上記第1のはんだを
加熱して、上記第1のはんだを溶融させて、上記第1の
導電性パッドのアレイと融合するようにし、それによっ
て上記キャリアの上記第1の導電性パッドのアレイにボ
ンディングされた小型ピンのアレイを形成するステップ
、上記キャリアの他の面に、回路構成要素を接合するス
テップ、上記第1のはんだの融点よりかなり低い融点の
第2のはんだをスクリーン印刷した、対応する第2の導
電性パッドのアレイを片面に有する支持基板を、上記第
2の導電性パッドのアレイが上記キャリアの小型ピンの
アレイの自由端と実質的に整合するように、上記キャリ
アを整列させて配置するステップ、及び上記第2のはん
だをリフローして、上記小型ピンのアレイの自由端を上
記第2の導電性パッドのアレイにボンディングさせ、そ
れによって上記キャリアと上記支持基板との間にはんだ
柱接続を形成するステップを含む、回路パッケージ製造
方法によって達成される。
E、実施例
第1図を参照して、本発明の教示による、有機回路板6
に可鍛性はんだ柱接続部5のアレイを形成する小型ピン
4の大きなアレイを備えたセラミック基板キャリア2か
らなる、電子回路パッケージについて説明する。一般に
、有機材料回路板6は、1つまたは複数の大きなアレイ
の小型ピン4を介して、1つまたは複数のセラミック基
板キャリア2に接続される。このキャリア2は、その上
に1つまたは複数の半導体チップ10を有する。本明細
書では、「アレイ」の用語は、エレメントの対称的な行
及び列を意味するが、低密度の非対称的な配列、及び一
般に複数のエレメントをも含むものとする。
に可鍛性はんだ柱接続部5のアレイを形成する小型ピン
4の大きなアレイを備えたセラミック基板キャリア2か
らなる、電子回路パッケージについて説明する。一般に
、有機材料回路板6は、1つまたは複数の大きなアレイ
の小型ピン4を介して、1つまたは複数のセラミック基
板キャリア2に接続される。このキャリア2は、その上
に1つまたは複数の半導体チップ10を有する。本明細
書では、「アレイ」の用語は、エレメントの対称的な行
及び列を意味するが、低密度の非対称的な配列、及び一
般に複数のエレメントをも含むものとする。
セラミック基板キャリア2の片面には、好ましくはモリ
ブデンまたはタングステンと、ニッケル及び金との合金
製の、メタライズされたパッド12の第1のアレイが設
けである。第2図に示すように、基板キャリア2は、こ
の面を上にして置かれ、基板キャリア2のその面の上に
ピン・モールド14が置かれる。ピン・モールド14は
、熱膨張係数の緒特性がセラミック基板の熱膨張係数と
一致し、はんだに濡れず、使用温度に耐える、グラフデ
ィトまたは類似の材料製のものが好ましく、対応するピ
ン穴16のアレイを備えている。ピン・モールド14は
、対応するピン穴16のアレイが、第1のアレイのメタ
ライズされたパッド12と整列するように、基板キャリ
ア2と位置合せして置く。ピン・モールド14中のピン
穴16のアレイに、鉛90%、スズ10%の組成の、所
定量の鉛/スズはんだ20を充填する。このはんだは、
球形が好ましいが、針金状など許容される他の形状でも
よい。
ブデンまたはタングステンと、ニッケル及び金との合金
製の、メタライズされたパッド12の第1のアレイが設
けである。第2図に示すように、基板キャリア2は、こ
の面を上にして置かれ、基板キャリア2のその面の上に
ピン・モールド14が置かれる。ピン・モールド14は
、熱膨張係数の緒特性がセラミック基板の熱膨張係数と
一致し、はんだに濡れず、使用温度に耐える、グラフデ
ィトまたは類似の材料製のものが好ましく、対応するピ
ン穴16のアレイを備えている。ピン・モールド14は
、対応するピン穴16のアレイが、第1のアレイのメタ
ライズされたパッド12と整列するように、基板キャリ
ア2と位置合せして置く。ピン・モールド14中のピン
穴16のアレイに、鉛90%、スズ10%の組成の、所
定量の鉛/スズはんだ20を充填する。このはんだは、
球形が好ましいが、針金状など許容される他の形状でも
よい。
基板キャリア2アセンブリ上のピン・モールド14全体
を、炉中を通過させて、約320℃の好ましい温度に1
.5〜3分間加熱し、ピーク温度を330〜355℃に
する。ピン・モールド14中のはんだ20が溶融し、メ
タライズされたパッド12と融着して、金属結合を形成
し、これにより基板キャリア2のメタライズされたパッ
ド12の第1のアレイに接着された、小型ピン4のアレ
イを形成する。小型ピン4のアレイの形成後、ピン穴1
6中のはんだ20をリフローさせると、第3図に示すよ
うに、各小型ピン4の自由端にドーム形状18ができる
。アレイ中の小型ピン4の全体の高さは、はんだ球20
の寸法、また使用するはんだ線の長さまたは直径あるい
はその両方、並びにピン・モールド14のピン穴18の
直径によって制御できる。これらのパラメータは、許容
範囲内に保つことができる。別法として、均一な高さと
するために、小型ピン4のアレイを、周知の方法を用い
た切断工具で削ってもよい。たとえば、小型ピン4のア
レイを、適当な型に入れ、均一な高さに削ってもよい。
を、炉中を通過させて、約320℃の好ましい温度に1
.5〜3分間加熱し、ピーク温度を330〜355℃に
する。ピン・モールド14中のはんだ20が溶融し、メ
タライズされたパッド12と融着して、金属結合を形成
し、これにより基板キャリア2のメタライズされたパッ
ド12の第1のアレイに接着された、小型ピン4のアレ
イを形成する。小型ピン4のアレイの形成後、ピン穴1
6中のはんだ20をリフローさせると、第3図に示すよ
うに、各小型ピン4の自由端にドーム形状18ができる
。アレイ中の小型ピン4の全体の高さは、はんだ球20
の寸法、また使用するはんだ線の長さまたは直径あるい
はその両方、並びにピン・モールド14のピン穴18の
直径によって制御できる。これらのパラメータは、許容
範囲内に保つことができる。別法として、均一な高さと
するために、小型ピン4のアレイを、周知の方法を用い
た切断工具で削ってもよい。たとえば、小型ピン4のア
レイを、適当な型に入れ、均一な高さに削ってもよい。
本発明の教示による小型ピン4のアレイは、高さと直径
の比が約2:1で、ピンの直径は、通常約1mmの入出
力パッド12の直径から0.4mmの直径にまでテーパ
をつけてもよい。たとえば、通常中心間距離が1 、、
3 mmのピン・アレイ4では、高さ約1.5mmのピ
ンを使用し、中心間距離が2.5mmのピン・アレイ4
では、高さ約2.5ないし3mmのピンを使用する。こ
のように、ピンの高さと直径の比が比較的大きい可鍛性
ピン・アレイ4は、基板キャリア2と有機回路板6の熱
膨張係数の不一致によって生じる応力をよりよく吸収す
ることができる。
の比が約2:1で、ピンの直径は、通常約1mmの入出
力パッド12の直径から0.4mmの直径にまでテーパ
をつけてもよい。たとえば、通常中心間距離が1 、、
3 mmのピン・アレイ4では、高さ約1.5mmのピ
ンを使用し、中心間距離が2.5mmのピン・アレイ4
では、高さ約2.5ないし3mmのピンを使用する。こ
のように、ピンの高さと直径の比が比較的大きい可鍛性
ピン・アレイ4は、基板キャリア2と有機回路板6の熱
膨張係数の不一致によって生じる応力をよりよく吸収す
ることができる。
チップ10を、ピン・モールド14中のピン4のアレイ
と接合し、または手直しし、あるいはその両方を行なう
。チップ10は、好ましくは鉛97%、スズ3%の組成
の低スズはんだにより、好ましくは330ないし355
°Cの温度範囲の熱サイクルで接合する。その間に、ピ
ン・モールド14のピン穴16内でピン4のアレイが溶
融し、変形する。
と接合し、または手直しし、あるいはその両方を行なう
。チップ10は、好ましくは鉛97%、スズ3%の組成
の低スズはんだにより、好ましくは330ないし355
°Cの温度範囲の熱サイクルで接合する。その間に、ピ
ン・モールド14のピン穴16内でピン4のアレイが溶
融し、変形する。
次に、片面に小型ピン4のアレイを、反対側にチップ1
0を取り付けた基板キャリア2を、有機回路板6上に置
く。回路板6には、好ましくは鉛37%、スズ83%の
組成の共融鉛/スズはんだペースト24をスクリーン印
刷した、第2の対応するメタライズしたパッドのアレイ
22(第1図)が設けである。基板キャリア2を、ピン
4のアレイが、回路板θ上の第2の対応するメタライズ
したパッドのアレイ22と実質的に整合するように、回
路板6と位置合せして置く。この接合工程の間に、ある
程度の自己整合が行なわれるが、これについては次に説
明する。回路板6への接合は、基板キャリア2、ピン4
のアレイ、及び回路板6のアセンブリを、温度約220
’Cの気相炉等の炉中を約1.5ないし2分間通過さ
せることによって行なう。この低熱サイクルの間に、共
融はんだ24が溶融し、メタライズされたパッド22と
、ピン4のアレイの自由端との間に金属結合を形成する
。ピン4が溶融しないのでピン4のアレイはその形状を
保ち、その結果、機械的、電気的特性が良好な可鍛性は
んだ柱接続部5のアレイが形成される。本発明による製
造方法は、大量生産に適している。はんだ柱接続部の形
成に低コストの合金しか必要でないため、得られる相互
接続は、従来のピン・アレイ相互接続に比べて低コスト
である。
0を取り付けた基板キャリア2を、有機回路板6上に置
く。回路板6には、好ましくは鉛37%、スズ83%の
組成の共融鉛/スズはんだペースト24をスクリーン印
刷した、第2の対応するメタライズしたパッドのアレイ
22(第1図)が設けである。基板キャリア2を、ピン
4のアレイが、回路板θ上の第2の対応するメタライズ
したパッドのアレイ22と実質的に整合するように、回
路板6と位置合せして置く。この接合工程の間に、ある
程度の自己整合が行なわれるが、これについては次に説
明する。回路板6への接合は、基板キャリア2、ピン4
のアレイ、及び回路板6のアセンブリを、温度約220
’Cの気相炉等の炉中を約1.5ないし2分間通過さ
せることによって行なう。この低熱サイクルの間に、共
融はんだ24が溶融し、メタライズされたパッド22と
、ピン4のアレイの自由端との間に金属結合を形成する
。ピン4が溶融しないのでピン4のアレイはその形状を
保ち、その結果、機械的、電気的特性が良好な可鍛性は
んだ柱接続部5のアレイが形成される。本発明による製
造方法は、大量生産に適している。はんだ柱接続部の形
成に低コストの合金しか必要でないため、得られる相互
接続は、従来のピン・アレイ相互接続に比べて低コスト
である。
本発明の好ましい実施例を、鉛/スズ合金を使用するも
のとして説明したが、他の材料、たとえば、スズ/ビス
マス、スズ/アンチモン等の合金を含めて、他の第1V
a族と第Va族の合金も可能である。
のとして説明したが、他の材料、たとえば、スズ/ビス
マス、スズ/アンチモン等の合金を含めて、他の第1V
a族と第Va族の合金も可能である。
好ましい実施例では、鉛90重量%、スズ10重量%の
鉛/スズはんだ20、及び鉛37%、スズ63%の共融
鉛/スズペースト24を使用しているが、本発明は特定
の組成だけに限定されないことを理解されたい。はんだ
20については、97〜85%の鉛と3〜15%のスズ
からなる組成、はんだペースト24については、30〜
45%の鉛と70〜55%のスズからなる組成も、はん
だペースト24の融点がはんだ20の融点よりかなり低
い限り、使用できる。
鉛/スズはんだ20、及び鉛37%、スズ63%の共融
鉛/スズペースト24を使用しているが、本発明は特定
の組成だけに限定されないことを理解されたい。はんだ
20については、97〜85%の鉛と3〜15%のスズ
からなる組成、はんだペースト24については、30〜
45%の鉛と70〜55%のスズからなる組成も、はん
だペースト24の融点がはんだ20の融点よりかなり低
い限り、使用できる。
F0発明の効果
以上述べたように、本発明の教示によれば、従来達成不
可能であった高密度の電気的相互接続体を有する電子パ
ッケージングが提供される。
可能であった高密度の電気的相互接続体を有する電子パ
ッケージングが提供される。
第1図は、本発明によるセラミック・チップ・キャリア
のメタライズされたパッドと有機回路板の単一ピンによ
る相互接続を示す断面図である。 第2図及び第3図は、本発明によるはんだ柱接続部のア
レイを製作する方法の各段階における、ピン・モールド
を有するセラミック・キャリアの断面図である。 2・・・・セラミック基板キャリア、4・・・・小型ピ
ン、5・・・・可鍛性はんだ柱接続部、6・・・・有機
材料回路板、10・・・・半導体チップ、14・・・・
ピン・モールド、16・・・・ピン穴、20・・・・は
んだ。 出願人 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・コーポレーション 代理人 弁理士 頓 宮 孝 −(外1名)
のメタライズされたパッドと有機回路板の単一ピンによ
る相互接続を示す断面図である。 第2図及び第3図は、本発明によるはんだ柱接続部のア
レイを製作する方法の各段階における、ピン・モールド
を有するセラミック・キャリアの断面図である。 2・・・・セラミック基板キャリア、4・・・・小型ピ
ン、5・・・・可鍛性はんだ柱接続部、6・・・・有機
材料回路板、10・・・・半導体チップ、14・・・・
ピン・モールド、16・・・・ピン穴、20・・・・は
んだ。 出願人 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・コーポレーション 代理人 弁理士 頓 宮 孝 −(外1名)
Claims (2)
- (1)片面に導電性パッドの第1のアレイを有するキャ
リアを設けるステップ、 上記キャリアに整列する、対応するピン穴のアレイを有
するピン・モールドを、導電性パッドの上記第1のアレ
イと実質的に整合するように配置するステップ、 上記ピン・モールド中の上記ピン穴のアレイに、所与の
融点の第1のはんだを充填するステップ、上記ピン・モ
ールド中の上記第1のはんだを加熱して、上記第1のは
んだを溶融させ、導電性パッドの上記、第1のアレイと
融着させて、上記キャリアの導電性パッドの上記アレイ
に接着した小型ピンのアレイを形成するステップ、 上記キャリアの他の面に、回路構成要素を接合するステ
ップ、 片面に導電性パッドの第2の対応するアレイを有し、上
記第1のはんだの融点よりかなり低い融点の第2のはん
だをスクリーン印刷し、導電性パッドの上記第2の対応
するアレイが、上記キャリアの小型ピンの上記アレイの
自由端と実質的に整合するように上記キャリアと整列し
た、支持基板を配置するステップ、及び 上記第2のはんだをリフローして、小型ピンの上記アレ
イの自由端を導電性パッドの上記第2の対応するアレイ
と接着させ、上記キャリアと上記支持基板の間にはんだ
柱接続部を形成するステップを含む、回路パッケージの
製造方法。 - (2)片面に導電性パッドの第1のアレイを有するキャ
リアを設けるステップ、 上記キャリアに整列するピン・モールドを、導電性パッ
ドの上記第1のアレイと実質的に整合するように、対応
するピン穴のアレイを有する配置するステップ、 上記ピン・モールド中の上記ピン穴のアレイに、所与の
融点の第1のはんだを充填するステップ、上記ピン・モ
ールド中の上記第1のはんだを加熱して、上記第1のは
んだを溶融させ、導電性パッドの上記第1のアレイと融
着させて、上記キャリアの導電性パッドの上記アレイに
接着した小型ピンのアレイを形成するステップ、 片面に導電性パッドの第2の対応するアレイを有し、上
記第1のはんだの融点よりかなり低い融点の第2のはん
だをスクリーン印刷し、導電性パッドの上記第2の対応
するアレイが、上記キャリアの小型ピンの上記アレイの
自由端と実質的に整合するように上記キャリアと整列し
た、支持基板を配置するステップ、及び 上記第2のはんだをリフローして、小型ピンの上記アレ
イの自由端を導電性パッドの上記第2の対応するアレイ
に接着させ、上記キャリアと上記支持基板の間にはんだ
柱接続部を形成するステップ を含む、回路パッケージの製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/347,305 US4914814A (en) | 1989-05-04 | 1989-05-04 | Process of fabricating a circuit package |
| US347305 | 1989-05-04 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8139979A Division JPH09129807A (ja) | 1989-05-04 | 1996-06-03 | 回路パッケージの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02306655A true JPH02306655A (ja) | 1990-12-20 |
| JPH0738432B2 JPH0738432B2 (ja) | 1995-04-26 |
Family
ID=23363171
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2115377A Expired - Fee Related JPH0738432B2 (ja) | 1989-05-04 | 1990-05-02 | 回路パツケージの製造方法 |
| JP8139979A Pending JPH09129807A (ja) | 1989-05-04 | 1996-06-03 | 回路パッケージの製造方法 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8139979A Pending JPH09129807A (ja) | 1989-05-04 | 1996-06-03 | 回路パッケージの製造方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4914814A (ja) |
| EP (1) | EP0396484B1 (ja) |
| JP (2) | JPH0738432B2 (ja) |
| DE (1) | DE69022104T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06188355A (ja) * | 1992-08-07 | 1994-07-08 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 電子相互接続の製作方法 |
Families Citing this family (88)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5476211A (en) | 1993-11-16 | 1995-12-19 | Form Factor, Inc. | Method of manufacturing electrical contacts, using a sacrificial member |
| US5917707A (en) * | 1993-11-16 | 1999-06-29 | Formfactor, Inc. | Flexible contact structure with an electrically conductive shell |
| AU637874B2 (en) * | 1990-01-23 | 1993-06-10 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Substrate for packaging a semiconductor device |
| US5056216A (en) * | 1990-01-26 | 1991-10-15 | Sri International | Method of forming a plurality of solder connections |
| US5154341A (en) * | 1990-12-06 | 1992-10-13 | Motorola Inc. | Noncollapsing multisolder interconnection |
| US5233504A (en) * | 1990-12-06 | 1993-08-03 | Motorola, Inc. | Noncollapsing multisolder interconnection |
| US5203075A (en) * | 1991-08-12 | 1993-04-20 | Inernational Business Machines | Method of bonding flexible circuit to cicuitized substrate to provide electrical connection therebetween using different solders |
| US5133495A (en) * | 1991-08-12 | 1992-07-28 | International Business Machines Corporation | Method of bonding flexible circuit to circuitized substrate to provide electrical connection therebetween |
| US5186383A (en) * | 1991-10-02 | 1993-02-16 | Motorola, Inc. | Method for forming solder bump interconnections to a solder-plated circuit trace |
| US5372295A (en) * | 1991-10-04 | 1994-12-13 | Ryoden Semiconductor System Engineering Corporation | Solder material, junctioning method, junction material, and semiconductor device |
| US5177863A (en) * | 1992-03-27 | 1993-01-12 | Atmel Corporation | Method of forming integrated leadouts for a chip carrier |
| US5269453A (en) * | 1992-04-02 | 1993-12-14 | Motorola, Inc. | Low temperature method for forming solder bump interconnections to a plated circuit trace |
| US5282565A (en) * | 1992-12-29 | 1994-02-01 | Motorola, Inc. | Solder bump interconnection formed using spaced solder deposit and consumable path |
| US5324569A (en) * | 1993-02-26 | 1994-06-28 | Hewlett-Packard Company | Composite transversely plastic interconnect for microchip carrier |
| JPH06296080A (ja) * | 1993-04-08 | 1994-10-21 | Sony Corp | 電子部品実装基板及び電子部品実装方法 |
| US5570032A (en) * | 1993-08-17 | 1996-10-29 | Micron Technology, Inc. | Wafer scale burn-in apparatus and process |
| US5442852A (en) * | 1993-10-26 | 1995-08-22 | Pacific Microelectronics Corporation | Method of fabricating solder ball array |
| US5591941A (en) * | 1993-10-28 | 1997-01-07 | International Business Machines Corporation | Solder ball interconnected assembly |
| US7200930B2 (en) * | 1994-11-15 | 2007-04-10 | Formfactor, Inc. | Probe for semiconductor devices |
| US5820014A (en) | 1993-11-16 | 1998-10-13 | Form Factor, Inc. | Solder preforms |
| US7073254B2 (en) | 1993-11-16 | 2006-07-11 | Formfactor, Inc. | Method for mounting a plurality of spring contact elements |
| US7084656B1 (en) | 1993-11-16 | 2006-08-01 | Formfactor, Inc. | Probe for semiconductor devices |
| US20020053734A1 (en) | 1993-11-16 | 2002-05-09 | Formfactor, Inc. | Probe card assembly and kit, and methods of making same |
| US5385291A (en) * | 1994-01-10 | 1995-01-31 | Micron Custom Manufacturing Services, Inc. | Method employing an elevating of atmospheric pressure during the heating and/or cooling phases of ball grid array (BGA) soldering of an IC device to a PCB |
| US5813115A (en) * | 1994-08-03 | 1998-09-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of mounting a semiconductor chip on a wiring substrate |
| US6960636B2 (en) | 1994-09-02 | 2005-11-01 | Henkel Corporation | Thermosetting resin compositions containing maleimide and/or vinyl compounds |
| US7645899B1 (en) | 1994-09-02 | 2010-01-12 | Henkel Corporation | Vinyl compounds |
| US5789757A (en) | 1996-09-10 | 1998-08-04 | The Dexter Corporation | Malemide containing formulations and uses therefor |
| US6852814B2 (en) * | 1994-09-02 | 2005-02-08 | Henkel Corporation | Thermosetting resin compositions containing maleimide and/or vinyl compounds |
| CA2135508C (en) * | 1994-11-09 | 1998-11-03 | Robert J. Lyn | Method for forming solder balls on a semiconductor substrate |
| US5514838A (en) * | 1994-09-27 | 1996-05-07 | Hughes Aircraft Company | Circuit structure with non-migrating silver contacts |
| JP2892505B2 (ja) * | 1994-11-15 | 1999-05-17 | フォームファクター,インコーポレイテッド | 回路基板への電子コンポーネントの実装 |
| US5623127A (en) * | 1994-12-02 | 1997-04-22 | Motorola, Inc. | Single alloy solder clad substrate |
| GB9425986D0 (en) * | 1994-12-22 | 1995-02-22 | Pilkington Glass Ltd | Electrically heated window |
| US5861663A (en) * | 1994-12-27 | 1999-01-19 | International Business Machines Corporation | Column grid array or ball grid array pad on via |
| JPH0997791A (ja) * | 1995-09-27 | 1997-04-08 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | バンプ構造、バンプの形成方法、実装接続体 |
| US5872051A (en) * | 1995-08-02 | 1999-02-16 | International Business Machines Corporation | Process for transferring material to semiconductor chip conductive pads using a transfer substrate |
| US5718361A (en) * | 1995-11-21 | 1998-02-17 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for forming mold for metallic material |
| US8033838B2 (en) | 1996-02-21 | 2011-10-11 | Formfactor, Inc. | Microelectronic contact structure |
| US5994152A (en) | 1996-02-21 | 1999-11-30 | Formfactor, Inc. | Fabricating interconnects and tips using sacrificial substrates |
| JP3145331B2 (ja) * | 1996-04-26 | 2001-03-12 | 日本特殊陶業株式会社 | 中継基板、その製造方法、基板と中継基板と取付基板とからなる構造体、基板と中継基板の接続体および中継基板と取付基板の接続体の製造方法 |
| JP3116273B2 (ja) * | 1996-04-26 | 2000-12-11 | 日本特殊陶業株式会社 | 中継基板、その製造方法、基板と中継基板と取付基板とからなる構造体、基板と中継基板の接続体 |
| US6395991B1 (en) | 1996-07-29 | 2002-05-28 | International Business Machines Corporation | Column grid array substrate attachment with heat sink stress relief |
| US20030055121A1 (en) * | 1996-09-10 | 2003-03-20 | Dershem Stephen M. | Thermosetting resin compositions containing maleimide and/or vinyl compounds |
| US5918516A (en) * | 1997-02-07 | 1999-07-06 | Unisys Corporation | Method of forming I/O columns with open ends that are free of crater-like voids |
| JP3173410B2 (ja) * | 1997-03-14 | 2001-06-04 | 松下電器産業株式会社 | パッケージ基板およびその製造方法 |
| US7819301B2 (en) * | 1997-05-27 | 2010-10-26 | Wstp, Llc | Bumping electronic components using transfer substrates |
| US6609652B2 (en) | 1997-05-27 | 2003-08-26 | Spheretek, Llc | Ball bumping substrates, particuarly wafers |
| US7842599B2 (en) * | 1997-05-27 | 2010-11-30 | Wstp, Llc | Bumping electronic components using transfer substrates |
| US7288471B2 (en) * | 1997-05-27 | 2007-10-30 | Mackay John | Bumping electronic components using transfer substrates |
| US6293456B1 (en) | 1997-05-27 | 2001-09-25 | Spheretek, Llc | Methods for forming solder balls on substrates |
| US7654432B2 (en) | 1997-05-27 | 2010-02-02 | Wstp, Llc | Forming solder balls on substrates |
| US7007833B2 (en) | 1997-05-27 | 2006-03-07 | Mackay John | Forming solder balls on substrates |
| US6162661A (en) * | 1997-05-30 | 2000-12-19 | Tessera, Inc. | Spacer plate solder ball placement fixture and methods therefor |
| CA2210063A1 (en) * | 1997-07-08 | 1999-01-08 | Ibm Canada Limited-Ibm Canada Limitee | Method of manufacturing wire segments of homogeneous composition |
| US6121358A (en) * | 1997-09-22 | 2000-09-19 | The Dexter Corporation | Hydrophobic vinyl monomers, formulations containing same, and uses therefor |
| US6016947A (en) * | 1997-10-21 | 2000-01-25 | International Business Machines Corporation | Non-destructive low melt test for off-composition solder |
| US6053394A (en) * | 1998-01-13 | 2000-04-25 | International Business Machines Corporation | Column grid array substrate attachment with heat sink stress relief |
| US6105852A (en) * | 1998-02-05 | 2000-08-22 | International Business Machines Corporation | Etched glass solder bump transfer for flip chip integrated circuit devices |
| US6105851A (en) * | 1998-08-07 | 2000-08-22 | Unisys Corp | Method of casting I/O columns on an electronic component with a high yield |
| US6595408B1 (en) * | 1998-10-07 | 2003-07-22 | Micron Technology, Inc. | Method of attaching solder balls to BGA package utilizing a tool to pick and dip the solder ball in flux prior to placement |
| US6268275B1 (en) * | 1998-10-08 | 2001-07-31 | Micron Technology, Inc. | Method of locating conductive spheres utilizing screen and hopper of solder balls |
| US6281452B1 (en) | 1998-12-03 | 2001-08-28 | International Business Machines Corporation | Multi-level thin-film electronic packaging structure and related method |
| US6657313B1 (en) * | 1999-01-19 | 2003-12-02 | International Business Machines Corporation | Dielectric interposer for chip to substrate soldering |
| US6531664B1 (en) * | 1999-04-05 | 2003-03-11 | Delphi Technologies, Inc. | Surface mount devices with solder |
| US6583354B2 (en) | 1999-04-27 | 2003-06-24 | International Business Machines Corporation | Method of reforming reformable members of an electronic package and the resultant electronic package |
| US6303991B1 (en) * | 1999-05-27 | 2001-10-16 | Fci Americas Technology, Inc. | Electronic package and contact therefor |
| JP3288654B2 (ja) | 1999-07-23 | 2002-06-04 | ヒロセ電機株式会社 | 電気コネクタの製造方法 |
| US6450397B1 (en) * | 1999-09-01 | 2002-09-17 | Texas Instruments Incorporated | Method of making ball grid array columns |
| JP3403677B2 (ja) * | 1999-09-06 | 2003-05-06 | マイクロ・テック株式会社 | 半田ボール形成方法 |
| US20010018800A1 (en) * | 1999-09-17 | 2001-09-06 | George Tzanavaras | Method for forming interconnects |
| US6090633A (en) * | 1999-09-22 | 2000-07-18 | International Business Machines Corporation | Multiple-plane pair thin-film structure and process of manufacture |
| US6429388B1 (en) * | 2000-05-03 | 2002-08-06 | International Business Machines Corporation | High density column grid array connections and method thereof |
| US6651322B1 (en) * | 2000-12-28 | 2003-11-25 | Unisys Corporation | Method of reworking a multilayer printed circuit board assembly |
| US6770184B1 (en) | 2001-02-13 | 2004-08-03 | Advanced Micro Devices, Inc. | Integrated de-ionized water pressure monitoring system for solder plating machines |
| US6425518B1 (en) | 2001-07-25 | 2002-07-30 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for applying solder to an element on a substrate |
| US6550666B2 (en) * | 2001-08-21 | 2003-04-22 | Advanpack Solutions Pte Ltd | Method for forming a flip chip on leadframe semiconductor package |
| TW526571B (en) * | 2002-02-27 | 2003-04-01 | Advanced Semiconductor Eng | Metal pillar bonding structure in between substrates |
| US7523852B2 (en) * | 2004-12-05 | 2009-04-28 | International Business Machines Corporation | Solder interconnect structure and method using injection molded solder |
| US8033016B2 (en) * | 2005-04-15 | 2011-10-11 | Panasonic Corporation | Method for manufacturing an electrode and electrode component mounted body |
| US7700884B2 (en) * | 2005-12-02 | 2010-04-20 | Honeywell International Inc. | Column grid array using compliant core |
| US20070152023A1 (en) * | 2005-12-30 | 2007-07-05 | Semx Corporation | Solder deposit method on electronic packages for post-connection process |
| US7946470B2 (en) * | 2005-12-30 | 2011-05-24 | Semx Corporation | Method for depositing solder material on an electronic component part using separators |
| EP2078578A1 (de) * | 2008-01-10 | 2009-07-15 | Siemens Aktiengesellschaft | Belotung von Löchern, Verfahren zum Beschichten und Lotgutstäbchen |
| US20090279275A1 (en) * | 2008-05-09 | 2009-11-12 | Stephen Peter Ayotte | Method of attaching an integrated circuit chip to a module |
| US20100031501A1 (en) * | 2008-08-08 | 2010-02-11 | Napra Co., Ltd. | Method for filling through hole or non-through hole formed on board with filler |
| JP6623508B2 (ja) * | 2014-09-30 | 2019-12-25 | 日亜化学工業株式会社 | 光源及びその製造方法、実装方法 |
| US10157821B1 (en) * | 2017-05-30 | 2018-12-18 | Advanced Semiconductor Engineering, Inc. | Semiconductor packages |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4412642A (en) * | 1982-03-15 | 1983-11-01 | Western Electric Co., Inc. | Cast solder leads for leadless semiconductor circuits |
| JPS6146365A (ja) * | 1984-08-08 | 1986-03-06 | Mazda Motor Corp | 射出成形機のガス抜き装置 |
| JPS61296729A (ja) * | 1985-06-26 | 1986-12-27 | Fujitsu Ltd | 集積回路接続部の形成方法 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4332341A (en) * | 1979-12-26 | 1982-06-01 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Fabrication of circuit packages using solid phase solder bonding |
| US4371912A (en) * | 1980-10-01 | 1983-02-01 | Motorola, Inc. | Method of mounting interrelated components |
| US4581680A (en) * | 1984-12-31 | 1986-04-08 | Gte Communication Systems Corporation | Chip carrier mounting arrangement |
| EP0229850B1 (en) * | 1985-07-16 | 1992-06-10 | Nippon Telegraph and Telephone Corporation | Connection terminals between substrates and method of producing the same |
| JPS62296495A (ja) * | 1986-05-12 | 1987-12-23 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 部品を制御回路上の表面のはんだパツドに取付ける方法 |
| US4763829A (en) * | 1986-06-04 | 1988-08-16 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | Soldering of electronic components |
-
1989
- 1989-05-04 US US07/347,305 patent/US4914814A/en not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-03-27 DE DE69022104T patent/DE69022104T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-27 EP EP90480051A patent/EP0396484B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-05-02 JP JP2115377A patent/JPH0738432B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-06-03 JP JP8139979A patent/JPH09129807A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4412642A (en) * | 1982-03-15 | 1983-11-01 | Western Electric Co., Inc. | Cast solder leads for leadless semiconductor circuits |
| JPS6146365A (ja) * | 1984-08-08 | 1986-03-06 | Mazda Motor Corp | 射出成形機のガス抜き装置 |
| JPS61296729A (ja) * | 1985-06-26 | 1986-12-27 | Fujitsu Ltd | 集積回路接続部の形成方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06188355A (ja) * | 1992-08-07 | 1994-07-08 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 電子相互接続の製作方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69022104T2 (de) | 1996-05-02 |
| US4914814A (en) | 1990-04-10 |
| EP0396484A3 (en) | 1992-01-08 |
| JPH09129807A (ja) | 1997-05-16 |
| DE69022104D1 (de) | 1995-10-12 |
| EP0396484A2 (en) | 1990-11-07 |
| JPH0738432B2 (ja) | 1995-04-26 |
| EP0396484B1 (en) | 1995-09-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0396484B1 (en) | Solder column connection | |
| EP0624053B1 (en) | Mounting device and method of connecting miniaturized electronic components by bump connections | |
| EP0615283B1 (en) | Interconnection structure of electronic parts comprising solder bumps with metal core members | |
| EP0863548B1 (en) | Mounting assembly of integrated circuit device and method for production thereof | |
| US6963033B2 (en) | Ball grid array attaching means having improved reliability and method of manufacturing same | |
| US5859407A (en) | Connecting board for connection between base plate and mounting board | |
| US6657134B2 (en) | Stacked ball grid array | |
| JP2500996B2 (ja) | 電子相互接続の製作方法 | |
| KR100482940B1 (ko) | 고밀도 칼럼 그리드 어레이 접속체 및 접속 방법 | |
| EP1207727B1 (en) | Compliant laminate connector | |
| JPH08213519A (ja) | 電子素子パッケージ | |
| JPH0368151A (ja) | 第1の電子部品と第2の電子部品とをボンディングする方法 | |
| US7304376B2 (en) | Microelectronic assemblies with springs | |
| US6541305B2 (en) | Single-melt enhanced reliability solder element interconnect | |
| US6657313B1 (en) | Dielectric interposer for chip to substrate soldering | |
| CN107078118A (zh) | 插入器到封装基板的耦合 | |
| JP3180041B2 (ja) | 接続端子及びその形成方法 | |
| US20070085220A1 (en) | Re-enforced ball-grid array packages for semiconductor products | |
| JP2001044319A (ja) | 配線基板およびその実装構造 | |
| JP3178401B2 (ja) | パッケージのbga型電極の形成および接続方法 | |
| JP2856197B2 (ja) | Bga接続構造 | |
| JP2000307238A (ja) | ピン振込み治具およびプリント基板へのピンの取付方法 | |
| JP2623952B2 (ja) | 集積回路パッケージ | |
| US6989591B1 (en) | Method for making an integrated circuit of the surface-mount type and resulting circuit | |
| JPH10144850A (ja) | 接続ピンと基板実装方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |