JPH02308407A - 薄膜磁気ヘッドの製造方法 - Google Patents
薄膜磁気ヘッドの製造方法Info
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- JPH02308407A JPH02308407A JP12794389A JP12794389A JPH02308407A JP H02308407 A JPH02308407 A JP H02308407A JP 12794389 A JP12794389 A JP 12794389A JP 12794389 A JP12794389 A JP 12794389A JP H02308407 A JPH02308407 A JP H02308407A
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- magnetic
- insulating layer
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野J
本発明は薄膜磁気ヘッドの製造方法、特に基板上に磁気
回路を構成する下部磁性層および上部磁性層を有し、こ
れら磁性層の中間部に絶縁層を介してコイル状の導電層
を有する薄膜磁気ヘッドの製造方法に関するものである
。
回路を構成する下部磁性層および上部磁性層を有し、こ
れら磁性層の中間部に絶縁層を介してコイル状の導電層
を有する薄膜磁気ヘッドの製造方法に関するものである
。
[従来の技術]
従来より、磁気記録再生装置において、薄膜磁気ヘッド
が使用されている。薄膜磁気ヘッドは、半導体製造プロ
セスと同様の薄膜形成技術により製造できるので、大量
生産に向き、また、小型、軽量な素子を得られるという
利点を有する。
が使用されている。薄膜磁気ヘッドは、半導体製造プロ
セスと同様の薄膜形成技術により製造できるので、大量
生産に向き、また、小型、軽量な素子を得られるという
利点を有する。
第4図を参照して従来の薄膜磁気ヘッドの製造方法を説
明する。第4図は、従来の一般的な薄膜磁気ヘッドの断
面を示している。
明する。第4図は、従来の一般的な薄膜磁気ヘッドの断
面を示している。
第4図において符号lはガラスなどからなる基板で、基
鈑1の上に下部磁性層2が形成される。
鈑1の上に下部磁性層2が形成される。
下部磁性層2は蒸着やスパッタリングによって堆積され
、フォトリソエツチング法などによって整形される。下
部磁性層2はパーマロイ、センダストなどの軟磁性体か
ら成る。
、フォトリソエツチング法などによって整形される。下
部磁性層2はパーマロイ、センダストなどの軟磁性体か
ら成る。
次に、5iO−などから成る絶縁層3をCVD法、スパ
ッタリングなどによって堆積する。この絶縁層3は、下
部磁性層2と導電層4を電気的に絶縁する。導電層4は
Cuや/1などの金属から成り、蒸着やスパッタリング
などで堆積された後フォトリソエツチング法などによっ
てコイル状に形成したものである。
ッタリングなどによって堆積する。この絶縁層3は、下
部磁性層2と導電層4を電気的に絶縁する。導電層4は
Cuや/1などの金属から成り、蒸着やスパッタリング
などで堆積された後フォトリソエツチング法などによっ
てコイル状に形成したものである。
次に、導電層4の上層に5iO−などから成る絶縁層3
′をCVD法、スパッタリングなどで堆積する。この絶
縁層3′は上部磁性層6と導電層4を電気的に絶縁し、
コイル状となった導電層4によって生じた凹凸段差を吸
収して平坦な下地とすることによって、この絶縁層3′
の上層に堆積される上部磁性層6の薄膜組織を均一かつ
平坦に保つためのものである。
′をCVD法、スパッタリングなどで堆積する。この絶
縁層3′は上部磁性層6と導電層4を電気的に絶縁し、
コイル状となった導電層4によって生じた凹凸段差を吸
収して平坦な下地とすることによって、この絶縁層3′
の上層に堆積される上部磁性層6の薄膜組織を均一かつ
平坦に保つためのものである。
この絶縁層3′を平坦な形状に加工するエッチバック法
としては、レジストなどの有機膜をスピンコードなどに
よって塗布し、その後イオンミーリング法、RIE法な
どのエツチング法によって前記有機膜と絶縁層3′のエ
ツチング速度が等しくなるような条件で全面エツチング
を行なう“方法などがある。
としては、レジストなどの有機膜をスピンコードなどに
よって塗布し、その後イオンミーリング法、RIE法な
どのエツチング法によって前記有機膜と絶縁層3′のエ
ツチング速度が等しくなるような条件で全面エツチング
を行なう“方法などがある。
次に下部磁性層2と上部磁性層6の間に磁気ギャップ8
を設けるため、以下の方法によって磁気ギャップ8を絶
縁層3および3′に形成する。
を設けるため、以下の方法によって磁気ギャップ8を絶
縁層3および3′に形成する。
形成に際しては、絶縁層3.3′をフォトリソエツチン
グ法によって所定の厚さまでエツチングする方法と、絶
縁層3.3′をフォトリソエツチング法によって下部磁
性層2が完全に露出するまで除去した後、新たにSiO
□などから成る磁気ギャップ8をCVD法、スパッタリ
ングなどで所定の膜厚に堆積する方法などがある。
グ法によって所定の厚さまでエツチングする方法と、絶
縁層3.3′をフォトリソエツチング法によって下部磁
性層2が完全に露出するまで除去した後、新たにSiO
□などから成る磁気ギャップ8をCVD法、スパッタリ
ングなどで所定の膜厚に堆積する方法などがある。
さらに、下部磁性層2、上部磁性層6を磁気的に接続す
るための磁気コンタクトホール7を絶縁層3.3′を貫
通して下部磁性層2表面が完全に露出するまで除去し、
穿設する。磁気コンタクトホール7の穿設には、フォト
リソエツチング法の一方法であるイオンミーリング法、
RIE法などが用いられる。
るための磁気コンタクトホール7を絶縁層3.3′を貫
通して下部磁性層2表面が完全に露出するまで除去し、
穿設する。磁気コンタクトホール7の穿設には、フォト
リソエツチング法の一方法であるイオンミーリング法、
RIE法などが用いられる。
磁気ギャップ8、磁気コンタクトホール7を設けた絶縁
層3.3′上に上部磁性層6を蒸着やスパッタリングな
どによって堆積し、フォトリソエツチング法などによっ
て形成する。この上部磁性層6は、パーマロイ、センダ
ストなどの軟磁性体から成る。
層3.3′上に上部磁性層6を蒸着やスパッタリングな
どによって堆積し、フォトリソエツチング法などによっ
て形成する。この上部磁性層6は、パーマロイ、センダ
ストなどの軟磁性体から成る。
最後に保護層および保護板(いずれも不図示)を形成し
、媒体摺動面11を研磨加工することにより、薄膜磁気
ヘッドが完成する。
、媒体摺動面11を研磨加工することにより、薄膜磁気
ヘッドが完成する。
[発明が解決しようとする課題]
しかし、第4図の従来例による絶縁層3′の平坦加工だ
けでは次のような欠点があった。すなわち、 (1)平坦に加工された絶縁層3′から磁気コンタクト
ホール7内に上部磁性層が入り込む部分Aが上部磁性層
6の堆積時の軟磁性体の膜構造に乱れを生じさせる。
けでは次のような欠点があった。すなわち、 (1)平坦に加工された絶縁層3′から磁気コンタクト
ホール7内に上部磁性層が入り込む部分Aが上部磁性層
6の堆積時の軟磁性体の膜構造に乱れを生じさせる。
(2)絶縁層3.3′から磁気ギャップ8へ層の厚さが
変化する部分Bが上部磁性層6の堆積時の軟磁性体の膜
構造に乱れを生じさせる。
変化する部分Bが上部磁性層6の堆積時の軟磁性体の膜
構造に乱れを生じさせる。
上記(1)、(2)の上部磁性層6の膜構造の乱れは透
磁率の低下を招き、薄膜磁気ヘッドの記録再生効率を低
下させる。
磁率の低下を招き、薄膜磁気ヘッドの記録再生効率を低
下させる。
なお、(2)の対策については、矢印りの方向から堆積
を行なえば軟磁性体の膜構造を乱れさせずに上部磁性層
を堆積できるが、(1)について□は一方向のみからの
堆積ではシャドー効果などによってその他の面の膜構造
を乱れさせる可能性があり、さらに上記の方法では(1
)、(2)の課題を同時に解決するのは困難であった。
を行なえば軟磁性体の膜構造を乱れさせずに上部磁性層
を堆積できるが、(1)について□は一方向のみからの
堆積ではシャドー効果などによってその他の面の膜構造
を乱れさせる可能性があり、さらに上記の方法では(1
)、(2)の課題を同時に解決するのは困難であった。
本発明の課題は1以上の問題を解決し、磁気回路を形成
する基板上の軟磁性体の膜構造を乱れさせることな(膜
形成を行ない、磁電/電磁変換特性の良好な薄膜磁気ヘ
ッドを製造することにある。
する基板上の軟磁性体の膜構造を乱れさせることな(膜
形成を行ない、磁電/電磁変換特性の良好な薄膜磁気ヘ
ッドを製造することにある。
[課題を解決するための手段]
以上の課題を解決するために、本発明においては、基板
上に磁気回路を構成する下部磁性層および上部磁性層を
有し、これら磁性層の中間部に絶縁層を介してコイル状
の導電層を有する薄膜磁気ヘッドの製造方法において、
基板上に下部磁性層を成膜、整形する工程と、下部磁性
層上に絶縁層を介して導電層を成膜、整形する工程と、
前記絶縁層の一部にスルーホールを穿設し下部磁性層を
露出させる工程と、前記スルーホール内を含む前記絶縁
層上に上部磁性層の一部を構成する接続用磁性材料を堆
積し、スルーホール内に埋設する加工と、前記導電層上
の絶縁層の凹凸の平坦加工を所定の薄膜堆積およびエッ
チバック法により同時に行なう工程と、前記平坦加工さ
れた絶縁層上に前記接続用磁性材料と接続して上部磁性
層を成膜、整形する工程を有する構成を採用した。
上に磁気回路を構成する下部磁性層および上部磁性層を
有し、これら磁性層の中間部に絶縁層を介してコイル状
の導電層を有する薄膜磁気ヘッドの製造方法において、
基板上に下部磁性層を成膜、整形する工程と、下部磁性
層上に絶縁層を介して導電層を成膜、整形する工程と、
前記絶縁層の一部にスルーホールを穿設し下部磁性層を
露出させる工程と、前記スルーホール内を含む前記絶縁
層上に上部磁性層の一部を構成する接続用磁性材料を堆
積し、スルーホール内に埋設する加工と、前記導電層上
の絶縁層の凹凸の平坦加工を所定の薄膜堆積およびエッ
チバック法により同時に行なう工程と、前記平坦加工さ
れた絶縁層上に前記接続用磁性材料と接続して上部磁性
層を成膜、整形する工程を有する構成を採用した。
[作 用]
以上の構成によれば、平坦加工された絶縁層上に上部磁
性層を形成するため、上部磁性層の堆積時の軟磁性体の
膜構造に乱れを生じることがない。
性層を形成するため、上部磁性層の堆積時の軟磁性体の
膜構造に乱れを生じることがない。
[実施例]
以下、図面に示す実施例に基づき、本発明の詳細な説明
する。
する。
第1図(A)、(B)に本発明の薄膜磁気ヘッドの製造
方法を示す、第1図(A)から、製造工程にしたがって
説明する。
方法を示す、第1図(A)から、製造工程にしたがって
説明する。
第1図(A)において符号lは、ガラスなどから成る非
磁性の基板である。ただし、フェライトなどの磁性体も
基体の材質として考えられる。
磁性の基板である。ただし、フェライトなどの磁性体も
基体の材質として考えられる。
基板1上には、従来同様に下部磁性層2が形成される。
下部磁性層2は蒸着やスパッタリングなどによって堆積
され、フォトリソエツチング法などによって形成された
下部磁性層である。この下部磁性層2はパーマロイ、セ
ンタストなどの軟磁性体から成る。
され、フォトリソエツチング法などによって形成された
下部磁性層である。この下部磁性層2はパーマロイ、セ
ンタストなどの軟磁性体から成る。
次に、5i02などから成る絶縁層3をCVD法、スパ
ッタリングなどによって厚さt3に堆積する。この絶縁
層3は、下部磁性層2と導電層4を電気的に絶縁する。
ッタリングなどによって厚さt3に堆積する。この絶縁
層3は、下部磁性層2と導電層4を電気的に絶縁する。
導電層4はCuやA、Cなどの金属から成り、蒸着やス
パッタリングなどで堆積された後フォトリソエツチング
法などによってコイル状に形成される。導電層4の厚さ
をt4とする。
パッタリングなどで堆積された後フォトリソエツチング
法などによってコイル状に形成される。導電層4の厚さ
をt4とする。
次に、導電層4の上層にSin、などから成る絶縁層3
′をCVD法、スパッタリングなどで堆積する。この時
絶縁層3′の厚さt3’は、導電層4の厚さt4に対し
て少な(ともt3>t4になるように堆積する。
′をCVD法、スパッタリングなどで堆積する。この時
絶縁層3′の厚さt3’は、導電層4の厚さt4に対し
て少な(ともt3>t4になるように堆積する。
この絶縁層3′は上部磁性層6と導電層4との電気的絶
縁と、導電層4によって生じた凹凸段差を吸収してこの
絶縁層3′の上層に堆積される上部磁性層6の軟磁性組
織を均一かつ平坦に保つためのものである。
縁と、導電層4によって生じた凹凸段差を吸収してこの
絶縁層3′の上層に堆積される上部磁性層6の軟磁性組
織を均一かつ平坦に保つためのものである。
次にスルーホール5を絶縁層3.3′を貫通し、下部磁
性層2表面が完全に露出するまで除去、穿設する。穿設
には、)オドリソエツチング法の一方法であるイオンミ
ーリング法、RIE法などが用いられる。
性層2表面が完全に露出するまで除去、穿設する。穿設
には、)オドリソエツチング法の一方法であるイオンミ
ーリング法、RIE法などが用いられる。
次に、第1図(A)のように、磁気ギャップ8を従来と
同様の方法で下部磁性層2の上層に形成する。なお、上
記スルーホール5および磁気ギャップ8の形成工程は同
時、もしくは順序不同に行なえる。
同様の方法で下部磁性層2の上層に形成する。なお、上
記スルーホール5および磁気ギャップ8の形成工程は同
時、もしくは順序不同に行なえる。
さらに、前記スルーホール5、磁気ギャップ8を設けた
絶縁層3′上に接続用磁気コア層9を蒸着やスパッタリ
ングなどで厚さt9に堆積する。この時接続用磁気コア
層9はスルーホール5に堆積されており、厚さt9は絶
縁層3の厚さt3と絶縁層3′の厚さt3°に対して少
な(ともt9>t3+t3°になるよう堆積する。この
接続用磁気コア層9はパーマロイ、センダストなどの軟
磁性体から成る。
絶縁層3′上に接続用磁気コア層9を蒸着やスパッタリ
ングなどで厚さt9に堆積する。この時接続用磁気コア
層9はスルーホール5に堆積されており、厚さt9は絶
縁層3の厚さt3と絶縁層3′の厚さt3°に対して少
な(ともt9>t3+t3°になるよう堆積する。この
接続用磁気コア層9はパーマロイ、センダストなどの軟
磁性体から成る。
さらに、第1図(B)に示すように、先に堆積した接続
用磁気コア層9をスルーホール5内と磁気ギャップ8の
上層部9′のみを残して除去し、接続用磁気コア層9を
スルーホール5内に埋設すると同時に、導電層4の上層
のコイル形状によって発生した絶縁層3′の凹凸を平坦
に加工する。
用磁気コア層9をスルーホール5内と磁気ギャップ8の
上層部9′のみを残して除去し、接続用磁気コア層9を
スルーホール5内に埋設すると同時に、導電層4の上層
のコイル形状によって発生した絶縁層3′の凹凸を平坦
に加工する。
以下、上記接続用磁気コア層9の埋設と絶縁層3′の加
工を同時に行なうためのエッチバック法について説明す
る。
工を同時に行なうためのエッチバック法について説明す
る。
まず、堆積された接続用磁気コア層9の上部にレジスト
などの有機膜をスピンコードなどによって塗布し、その
後イオンミーリング法などのエッチバック法によって上
記有機膜と接続用磁気コア層9、絶縁層3′のエツチン
グ速度が等しくなるような条件で全面エツチングを行な
う、この時、エツチング後の絶縁層3および3′の厚さ
tが、接続用磁気コア層9の厚さをt9.絶縁層3の厚
さをt3、エツチングされた絶縁層3″の厚さをt3″
、導電層4の厚さをt4とすると、t≦t9 t=t3+t4+t3″ (0<t3″<t3°−t4) となるようにエツチングを行なう。このようなエッチバ
ックによって、接続用磁気コア層9をスルーホール5内
に埋設しながら絶縁層3′を平坦に加工できる。
などの有機膜をスピンコードなどによって塗布し、その
後イオンミーリング法などのエッチバック法によって上
記有機膜と接続用磁気コア層9、絶縁層3′のエツチン
グ速度が等しくなるような条件で全面エツチングを行な
う、この時、エツチング後の絶縁層3および3′の厚さ
tが、接続用磁気コア層9の厚さをt9.絶縁層3の厚
さをt3、エツチングされた絶縁層3″の厚さをt3″
、導電層4の厚さをt4とすると、t≦t9 t=t3+t4+t3″ (0<t3″<t3°−t4) となるようにエツチングを行なう。このようなエッチバ
ックによって、接続用磁気コア層9をスルーホール5内
に埋設しながら絶縁層3′を平坦に加工できる。
次に、上記のようにして接続用磁気コア層9の埋設と同
時に平坦に加工された絶縁層3″の上層に上部磁性層6
を蒸着やスパッタリングなどで堆積し、フォトリソエツ
チング法などによって形成する。この上部磁性層6はパ
ーマロイ、センダストなどの軟磁性体から成る。
時に平坦に加工された絶縁層3″の上層に上部磁性層6
を蒸着やスパッタリングなどで堆積し、フォトリソエツ
チング法などによって形成する。この上部磁性層6はパ
ーマロイ、センダストなどの軟磁性体から成る。
最後に保護層および保護板(いずれも不図示)を形成し
、媒体摺動面1を研磨加工して薄膜磁気ヘッドが完成す
る。
、媒体摺動面1を研磨加工して薄膜磁気ヘッドが完成す
る。
以上のような製造工程によれば、スルーホール5内に埋
設された接続用磁気コア層9および磁気ギャップ8の上
層部9′と同時に平坦に加工された絶縁層3″が上部磁
性層6の下地層として平滑性を保つため、上部磁性層6
が均一な軟磁性組織として堆積され、堆積時の膜構造が
良好で、膜構造の乱れによる透磁率の低下およびこれに
よる磁電/電磁特性の劣化のない優れた薄膜磁気ヘッド
を製造できる。
設された接続用磁気コア層9および磁気ギャップ8の上
層部9′と同時に平坦に加工された絶縁層3″が上部磁
性層6の下地層として平滑性を保つため、上部磁性層6
が均一な軟磁性組織として堆積され、堆積時の膜構造が
良好で、膜構造の乱れによる透磁率の低下およびこれに
よる磁電/電磁特性の劣化のない優れた薄膜磁気ヘッド
を製造できる。
また、従来の成膜工程を大幅に変更することなく、絶縁
層の平坦加工と上部磁気コアの一部のスルーホール内へ
の埋設を同時に行なうことができる。
層の平坦加工と上部磁気コアの一部のスルーホール内へ
の埋設を同時に行なうことができる。
第2図(A)〜(C)に本発明による異なる製造方法を
示す。第2図(A)において下部磁性層2、絶縁層3、
導電層4、絶縁層3′の各層は、第1図の実施例と同様
に形成する。
示す。第2図(A)において下部磁性層2、絶縁層3、
導電層4、絶縁層3′の各層は、第1図の実施例と同様
に形成する。
次に、スルーホール5は絶縁層3.3′を貫通し、下部
磁性層2表面が完全に露出するまで除去、穿設する。ス
ルーホール5の穿設には、フォトリソエツチング法の一
つであるイオンミーリング法、RIE法などが用いられ
る。 。
磁性層2表面が完全に露出するまで除去、穿設する。ス
ルーホール5の穿設には、フォトリソエツチング法の一
つであるイオンミーリング法、RIE法などが用いられ
る。 。
次に、媒体摺動面11側の絶縁層3.3′をRIE法な
どのフォトリソエツチング法により下部磁性層2表面が
完全に露出するまで除去し、スルーホール5′とする。
どのフォトリソエツチング法により下部磁性層2表面が
完全に露出するまで除去し、スルーホール5′とする。
この時、絶縁層3,3′の層厚からスルーホール5′に
変化する斜面は、できるだけ緩やかになるよう形成する
のが望ましい。上記スルーホール5および5′の形成は
、前記同様に同工程もしくは順序不動であってよい。
変化する斜面は、できるだけ緩やかになるよう形成する
のが望ましい。上記スルーホール5および5′の形成は
、前記同様に同工程もしくは順序不動であってよい。
そして、前記スルーホール5.5′を設けた絶縁層3′
上に接続用磁気コア層9を蒸着やスパッタリングなどで
厚さt9に堆積する。この時接続用磁気コア層9はスル
ーホール5内に堆積されており、その厚さt9は絶縁層
3の厚さt3と絶縁層3′の厚さt3°に対して少なく
ともt9>t3+t3°になるよう堆積する。この接続
用磁気コア層9はパーマロイ、センダストなどの軟磁性
体から成る。
上に接続用磁気コア層9を蒸着やスパッタリングなどで
厚さt9に堆積する。この時接続用磁気コア層9はスル
ーホール5内に堆積されており、その厚さt9は絶縁層
3の厚さt3と絶縁層3′の厚さt3°に対して少なく
ともt9>t3+t3°になるよう堆積する。この接続
用磁気コア層9はパーマロイ、センダストなどの軟磁性
体から成る。
次に第2図(B)のように、まず堆積した接続用磁気コ
ア層9をスルーホール5内のみを残してその他の部分を
除去し、スルーホール5内に埋設するとともに、コイル
状の導電層4の上層のコイル形状によって発生した絶縁
層3′の凹凸を平坦に加工する。
ア層9をスルーホール5内のみを残してその他の部分を
除去し、スルーホール5内に埋設するとともに、コイル
状の導電層4の上層のコイル形状によって発生した絶縁
層3′の凹凸を平坦に加工する。
この接続用磁気コア層9の埋設、絶縁層3′の平坦加工
は、第1実施例と同様にエッチバック法で行なう。この
ときの絶縁層3および3′の厚さtの制御は前記実施例
と同じである。
は、第1実施例と同様にエッチバック法で行なう。この
ときの絶縁層3および3′の厚さtの制御は前記実施例
と同じである。
次に、第2図(C)に示すように接続用磁気コア層9の
埋設と同時に平坦に加工された絶縁層3″、スルーホー
ル5′に形成された磁気ギヤッブ8の上層に上部磁性層
6を蒸着やスパッタリングなどで矢印Cの方向から堆積
し、軟磁性体を結晶成長させ、フォトリソエツチングな
どによる整形を行なう。この上部磁性層6はパーマロイ
、センタストなどの軟磁性体から構成する。
埋設と同時に平坦に加工された絶縁層3″、スルーホー
ル5′に形成された磁気ギヤッブ8の上層に上部磁性層
6を蒸着やスパッタリングなどで矢印Cの方向から堆積
し、軟磁性体を結晶成長させ、フォトリソエツチングな
どによる整形を行なう。この上部磁性層6はパーマロイ
、センタストなどの軟磁性体から構成する。
最後に保護層、保護板(いずれも不図示)を形成し、媒
体摺動面11を研磨加工して薄膜磁気ヘッドが完成する
。
体摺動面11を研磨加工して薄膜磁気ヘッドが完成する
。
以上のような製造工程によって、上記実施例と同様に、
スルーホール5内に埋設された接続用磁気コア層9と、
埋設と同時に平坦に加工された絶縁層3″が上部磁性層
6の下地層として平滑性を保つことにより、また、上部
磁性層6が矢印C方向からの均一な軟磁性組織として堆
積されるため、堆積時の膜構造が良好で膜構造の乱れに
よる透磁率の低下がなく、媒体摺動面11の上部磁性層
6の適正な層厚によって記録磁界の拡がりによる分解能
の低下が少ない優れた薄膜磁気ヘッドを製造できる。
スルーホール5内に埋設された接続用磁気コア層9と、
埋設と同時に平坦に加工された絶縁層3″が上部磁性層
6の下地層として平滑性を保つことにより、また、上部
磁性層6が矢印C方向からの均一な軟磁性組織として堆
積されるため、堆積時の膜構造が良好で膜構造の乱れに
よる透磁率の低下がなく、媒体摺動面11の上部磁性層
6の適正な層厚によって記録磁界の拡がりによる分解能
の低下が少ない優れた薄膜磁気ヘッドを製造できる。
第3図(A)およびCB)に、本発明によるさらに異な
る製造方法を示す。
る製造方法を示す。
本実施例では、基板l上に下部磁性層2、絶縁層3、導
電層4、絶縁層3′を第1、第2の実施例と同様の方法
で順次形成する。
電層4、絶縁層3′を第1、第2の実施例と同様の方法
で順次形成する。
絶縁層3′の堆積を終了した後絶縁層3.3′を貫通し
、下部磁性層2表面が完全に露出するまで除去、スルー
ホール5を穿設する。穿設には、フォトリソエツチング
法の一つであるイオンミーリング法、RIE法などを用
いる。
、下部磁性層2表面が完全に露出するまで除去、スルー
ホール5を穿設する。穿設には、フォトリソエツチング
法の一つであるイオンミーリング法、RIE法などを用
いる。
次に、スルーホール5を設けた絶縁層3′上に接続用磁
気コア層9を形成する。材質、形成方法、堆積厚などは
、第1および第2の実施例と同様である。
気コア層9を形成する。材質、形成方法、堆積厚などは
、第1および第2の実施例と同様である。
次に、第3図(B)のように堆積済みの接続用磁気コア
層9をスルーホール5内のみを残して除去し、接続用磁
気コア層9をスルーホール5内に埋設すると共に、コイ
ル状の導電層4上層のコイル形状によって発生した絶縁
層3′の凹凸を平坦に加工する。加工の方法は、第2実
施例の同工程と同様である。
層9をスルーホール5内のみを残して除去し、接続用磁
気コア層9をスルーホール5内に埋設すると共に、コイ
ル状の導電層4上層のコイル形状によって発生した絶縁
層3′の凹凸を平坦に加工する。加工の方法は、第2実
施例の同工程と同様である。
次に、媒体摺動面11側の絶縁層3.3′をフォトリソ
エツチング法の一つであるイオンミーリング法、RIE
法などによって下部磁性層2表面が完全に露出するまで
除去し、スルーホール5′とする。この時、絶縁層3.
3′の層厚からスルーホール5′に変化する斜面は、で
きるだけ緩やかに形成するのが望ましい。
エツチング法の一つであるイオンミーリング法、RIE
法などによって下部磁性層2表面が完全に露出するまで
除去し、スルーホール5′とする。この時、絶縁層3.
3′の層厚からスルーホール5′に変化する斜面は、で
きるだけ緩やかに形成するのが望ましい。
その後、下部磁性層2表面が露出したスルーホール5′
部に磁気ギャップ8を5i02などでCVD法、スパッ
タリングなどで所定の磁気ギャップ間隔になる層厚に堆
積する。
部に磁気ギャップ8を5i02などでCVD法、スパッ
タリングなどで所定の磁気ギャップ間隔になる層厚に堆
積する。
次に、接続用磁気コア層9の埋設と同時に平坦加工され
た絶縁層3″、スルーホール5′に形成された磁気ギャ
ップ8の上層に上部磁性層6を形成する。材質、形成方
法などは第2の実施例と同様である。最後に不図示の保
護層および保護板を形成し、媒体摺動面11を研磨加工
して薄膜磁気ヘッドが完成する。
た絶縁層3″、スルーホール5′に形成された磁気ギャ
ップ8の上層に上部磁性層6を形成する。材質、形成方
法などは第2の実施例と同様である。最後に不図示の保
護層および保護板を形成し、媒体摺動面11を研磨加工
して薄膜磁気ヘッドが完成する。
以上のような製造工程によれば、磁気ギャップ8の下地
となる下部磁性層2表面の表面粗さを低下させずに磁気
ギャップ8を形成することが可能で、スルーホール5内
に埋設された絶縁層3″が上部磁性層6の下地層として
平滑性を保持し、上部磁性層6が矢印C方向からの均一
な軟磁性組織として堆積されるため、堆積時の膜構造が
良好で膜構造の乱れによる透磁率の低下がなく、媒体摺
動面11の上部磁性層6の適正な膜厚によって記録磁界
の拡がりによる分解能の低下が抑えられた薄膜磁気ヘッ
ドの製造が可能である。
となる下部磁性層2表面の表面粗さを低下させずに磁気
ギャップ8を形成することが可能で、スルーホール5内
に埋設された絶縁層3″が上部磁性層6の下地層として
平滑性を保持し、上部磁性層6が矢印C方向からの均一
な軟磁性組織として堆積されるため、堆積時の膜構造が
良好で膜構造の乱れによる透磁率の低下がなく、媒体摺
動面11の上部磁性層6の適正な膜厚によって記録磁界
の拡がりによる分解能の低下が抑えられた薄膜磁気ヘッ
ドの製造が可能である。
[発明の効果]
以上から明らかなように、本発明によれば、基板上に磁
気回路を構成する下部磁性層および上部磁性層を有し、
これら磁性層の中間部に絶縁層を介してコイル状の導電
層を有する薄膜磁気ヘッドの製造方法において、基板上
に下部磁性層を成膜、整形する工程と、下部磁性層上に
絶縁層を介して導電層を成膜、整形する工程と、前記絶
縁層の一部にスルーホールを穿設し下部磁性層を露出さ
せる工程と、前記スルーホール内を含む前記絶縁層上に
上部磁性層の一部を構成する接続用磁性材料を堆積し、
スルーホール内に埋設する加工と、前記導電層上の絶縁
層の凹凸の平坦加工を所定の薄膜堆積およびエッチバッ
ク法により同時に行なう工程と、前記平坦加工された絶
縁層上に前記接続用磁性材料と接続して上部磁性層を成
膜。
気回路を構成する下部磁性層および上部磁性層を有し、
これら磁性層の中間部に絶縁層を介してコイル状の導電
層を有する薄膜磁気ヘッドの製造方法において、基板上
に下部磁性層を成膜、整形する工程と、下部磁性層上に
絶縁層を介して導電層を成膜、整形する工程と、前記絶
縁層の一部にスルーホールを穿設し下部磁性層を露出さ
せる工程と、前記スルーホール内を含む前記絶縁層上に
上部磁性層の一部を構成する接続用磁性材料を堆積し、
スルーホール内に埋設する加工と、前記導電層上の絶縁
層の凹凸の平坦加工を所定の薄膜堆積およびエッチバッ
ク法により同時に行なう工程と、前記平坦加工された絶
縁層上に前記接続用磁性材料と接続して上部磁性層を成
膜。
整形する工程を有する構成を採用しているので、薄膜磁
気ヘッドの製造工程を大幅に改めることなく、上部磁性
層の堆積時の軟磁性体の膜構造に乱れを生じさせず、透
磁率の低下のない記録再生効率の優れた薄膜磁気ヘッド
を製造できるという優れた効果がある。
気ヘッドの製造工程を大幅に改めることなく、上部磁性
層の堆積時の軟磁性体の膜構造に乱れを生じさせず、透
磁率の低下のない記録再生効率の優れた薄膜磁気ヘッド
を製造できるという優れた効果がある。
第1図(A)、(B)は本発明の第1の実施例による薄
膜磁気ヘッドの製造方法を示した断面図、第2図(A)
〜(C)は本発明の第2の実施例による薄膜磁気ヘッド
の製造方法を示した断面図、第3図(A)、(B)は本
発明の第3の実施例による薄膜磁気ヘッドの製造方法を
示した断1面図、第4図は従来の薄膜磁気ヘッドの断面
図である。 l・・・基板 2・・・下部磁性層3.3′
・・・絶縁層 4・・・導電層5−・・スルーホール
6−軸上部磁性層8・・・磁気ギャップ 9・軸
接続用磁気コア層11−・媒体摺動面 茗1欠象避佇1のmayユ名副1尾田0第1図(B) * 2 l2fl(A) 第2図(印 第2気袷例n収量乃仏を示1絣顔2 第2図(C) 侵東の傾δ刀丈充、弘す区ケ面l 蓄3実)セ01のt!a方法r斤、■1面り第3図(A
)
膜磁気ヘッドの製造方法を示した断面図、第2図(A)
〜(C)は本発明の第2の実施例による薄膜磁気ヘッド
の製造方法を示した断面図、第3図(A)、(B)は本
発明の第3の実施例による薄膜磁気ヘッドの製造方法を
示した断1面図、第4図は従来の薄膜磁気ヘッドの断面
図である。 l・・・基板 2・・・下部磁性層3.3′
・・・絶縁層 4・・・導電層5−・・スルーホール
6−軸上部磁性層8・・・磁気ギャップ 9・軸
接続用磁気コア層11−・媒体摺動面 茗1欠象避佇1のmayユ名副1尾田0第1図(B) * 2 l2fl(A) 第2図(印 第2気袷例n収量乃仏を示1絣顔2 第2図(C) 侵東の傾δ刀丈充、弘す区ケ面l 蓄3実)セ01のt!a方法r斤、■1面り第3図(A
)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)基板上に磁気回路を構成する下部磁性層および上部
磁性層を有し、これら磁性層の中間部に絶縁層を介して
コイル状の導電層を有する薄膜磁気ヘッドの製造方法に
おいて、 基板上に下部磁性層を成膜、整形する工程と、下部磁性
層上に絶縁層を介して導電層を成膜、整形する工程と、 前記絶縁層の一部にスルーホールを穿設し下部磁性層を
露出させる工程と、 前記スルーホール内を含む前記絶縁層上に上部磁性層の
一部を構成する接続用磁性材料を堆積し、スルーホール
内に埋設する加工と、前記導電層上の絶縁層の凹凸の平
坦加工を所定の薄膜堆積およびエッチバック法により同
時に行なう工程と、 前記平坦加工された絶縁層上に前記接続用磁性材料と接
続して上部磁性層を成膜、整形する工程を有することを
特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12794389A JPH02308407A (ja) | 1989-05-23 | 1989-05-23 | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12794389A JPH02308407A (ja) | 1989-05-23 | 1989-05-23 | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02308407A true JPH02308407A (ja) | 1990-12-21 |
Family
ID=14972473
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12794389A Pending JPH02308407A (ja) | 1989-05-23 | 1989-05-23 | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02308407A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0628626A (ja) * | 1992-02-28 | 1994-02-04 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法 |
-
1989
- 1989-05-23 JP JP12794389A patent/JPH02308407A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0628626A (ja) * | 1992-02-28 | 1994-02-04 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法 |
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