JPH0240941A - 電子部品パッケージ - Google Patents

電子部品パッケージ

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JPH0240941A
JPH0240941A JP1099045A JP9904589A JPH0240941A JP H0240941 A JPH0240941 A JP H0240941A JP 1099045 A JP1099045 A JP 1099045A JP 9904589 A JP9904589 A JP 9904589A JP H0240941 A JPH0240941 A JP H0240941A
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circuit board
chip
semiconductor device
board
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ジヨセフ・フーナリイ
Mary C Green
マリイ・サーニイ・グリーン
Scott D Reynolds
スコツト・デヴイド・レイノルズ
Bahgat G Sammakia
バーガツト・ガーレブ・サマーキイア
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W40/00Arrangements for thermal protection or thermal control
    • H10W40/20Arrangements for cooling
    • H10W40/22Arrangements for cooling characterised by their shape, e.g. having conical or cylindrical projections

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  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 A、産業上の利用分野 本発明は電子パッケージ、より詳細に言えば、パッケー
ジの一部にヒート・シンクを有する電子パッケージに関
する。
B、従来の技術 半導体デバイスをパッケージの一部に含んでいる電子パ
ッケージは、例えば米国特許第3670215号、同第
4004195号、同第4066839号、同第401
2768号、同第4415025号、同第459334
2号及び第同4605058号に記載されているように
、コンピュータ産業では周知である。
最近の半導体デバイスの高い回路密度の使用は、過熱に
よるパッケージの破損を防ぐために、そのようなデバイ
スの動作パラメータを、所定の許容範囲内に維持するの
を保証するために、パッケージの動作中に発生する熱を
効果的に発散させることが必要である。そのような熱を
取り除くための1つの公知の手段は、パッケージの1部
分を形成する金属性のヒート・シンク、または同様の部
材を利用することである。ヒート・シンクの代表的な例
は、上述の米国特許に開示されている。
C1発明が解決しようとする問題点 従って、本発明の主目的は、コンピュータの分野で使用
される改良された電子パッケージを提供することにある
本発明の他の目的は、簡単で、しかも低価格で製造する
ことの出来る電子パッケージを提供することにある。
D0問題点を解決するための手段 本発明の電子パッケージは、パッケージのチップ素子の
熱の除去を容易にするばかりでなく、本発明の組立を容
易にする。ヒート・シンクを含んでいる。チップのよう
な脆弱な素子を破損することなく、ヒート・シンクを物
理的にチップに接触させるために、パッケージの組立の
間で、ヒート・シンクの押圧を可能とするような柔軟な
手段なヒート・シンクに設けることによって達成される
。以下の実施例で更に説明されるように、チップは可撓
性の回路基板に電気的に接続され、これは転じてパッケ
ージの第1の基板に電気的に接続される。
適当な接着剤をヒート・シンク、またはチップに与えた
後、押圧されたヒート・シンクとチップの上面との闇を
接触させることによって、第1の基板の上方に持ち上げ
られて離隔した位置に、チップを位置付け、且つ最終的
なアセンブリにおいてチップをヒート・シンクと直接に
接触させる。このようにして、良好な熱の除去と、改良
されたパッケージの動作が達成される。
本発明に従って、第1の回路基板と、この第1の回路基
板と半導体デバイスとの間に電気的結合を与えるために
、この第1の回路基板と半導体デバイスとに電気的に接
続された可撓性の第2の回路基板と、第1の回路基板上
に位置付けられており、且つ、ヒート・シンクと第1の
回路基板との間の位置に、半導体デバイスを装着したヒ
ート・シンクとが与えられる。ヒート・シンクは、ヒー
ト・シンクに固着されているか、または、ヒート・シン
クの一部を形成する柔軟な手段を含んでおり、この手段
によって、半導体デバイスを損傷することなく、第1の
回路基板に対して所定の距離だけヒート・シンクな押し
付けるのを可能とする。
E、実施例 第1図は、本発明の実施例の電子パッケージ10を示す
図である。電子パッケージ10は、第1の回路基板11
と、回路基板11に電気的に接続されている半導体デバ
イス13(例えばシリコン・チップ)と、第1の回路基
板に電気的に接続されている可撓性の第2の回路基板1
5と、図示したように、底面19に装着された半導体デ
バイス13を有し、且つ回路基板11上に設けられたヒ
ート・シンク17とを含んでいる。
第1の回路基板11は、基板の表面27に設けられた回
路セグメント25の金属層(例えば銅)を有する電気絶
縁体(例えばエポキシ樹脂)で構成された印刷回路基板
である。回路セグメント25は、任意の回路形成技術の
1つ(例えば金属箔の蝕刻)を使用して基板11上に形
成され、表面27上に離隔して設けられた独立した導電
性セグメント(導電性部分)を含んでいる。回路基板1
1は、約0.762ミリメートル(30ミル)乃至約5
.08ミリメートル(200ミル)の範囲の通常の厚さ
の剛直な構造を持っている。
第2の回路基板15は、公知の技術を用いてこの基板”
上に設けられた回路セグメント28の層(例えばクロー
ム−銅−クローム)を有する有機誘電体材料26(例え
ばポリイミド樹脂)の層で構成されている。図示された
ように、この回路セグメント28は、ポリイミド材N(
第2図)の表面に設けられており、そして、半導体デバ
イス13の底部に設けられている関連接続位置と、基板
11上の関連した回路セグメント25とを相互接続する
のに用いられる。ヒート・シンク17から離隔して、底
面に回路が設けられた可撓性基板15を使用することも
また、本発明の技術的範囲である。このような構造は、
絶縁性のポリイミドを介在することによって、ヒート・
シンクと、この素子の導電性回路との間の電気的接触(
及び短絡)を実質的に防止する。可撓性の第2の基板1
5に設けられた回路の各端部の隆起した端部端子(図示
せず)を利用することによって、所定の接続が達成され
る。例えば内部引出し線とも呼ばれ、チップ13に接続
されるこれらの隆起した端子は、公知の技術(例えばサ
ーマル・コンプレッション・ボンディング)によってチ
ップ13と接続される。
また、外部引出し線とも呼ばれ、基板11上の独立した
回路セグメント25に接続されるこれらの端子は、公知
の技術(例えば、はんだ付け)を用いて接続される。
明らかに、可撓性の第2の回路基板は、本発明に従った
パッケージの組立を容易にする。本発明の組立工程の間
で、第2の回路基板は、上述したように、半導体デバイ
ス、即ちチップ15と第1の基板とに電気的に接続され
る。次に、ヒート・シンク17の底面19とチップの上
面31の間に、適当な接着剤を塗布した後、上述の素子
、即ちヒート・シンクとチップの両方の面を接触させる
。この接触は、接着剤による接着を起こす接触が生じる
まで、ヒート・シンクを下方に(第1図の矢印の方向)
押し付けることによって行われ、接着後、ヒート・シン
クが第1図に示した最終的な動作位置に置かれるまで、
ヒート・シンクを持ち上げる。
ヒート・シンクに接着されたチップは、回路基板11上
の離隔した位置(従って、基板とヒート・シンクの間)
に持ち上げられた所定の位置に置かれる。チップは接着
剤が固化するまで、上述の離隔した位置に留まり、そし
て、最終的なパッケージ・アセンブリ中でもこの位置に
維持される。好ましい接着剤(第2図の参照数字33で
示されている)は、熱的良導体の添加物(例えば酸化亜
鉛)を加えられたエポキシ樹脂の混合物である。この添
加物のないこの種の別の混合物は、スリー・エム社で市
販されている商品名「スコッチキャスト」(5cotc
hcast )がある。この混合物は、重量で約47.
6%のエポキシ・ポリマと、重量で約、52%の硬化剤
及び可撓性付与剤の混合物と、重量で約0.4%の冷却
促進剤とで構成されている。チップとヒート・シンク素
子との間の上述の接触の前に、チップの底面と、対応す
る可撓性回路基板15の隆起した端部端子とを、適当な
被覆剤(例えばシリコン・ゴム)で密閉するのが望まし
い。このような密閉材は、第1図の参照数字35で示さ
れている。
上述したような態様で、チップ13に接触させるために
、下方に押し付けることの出来るヒート・シンクのこの
独特の能力は、明らかに、本発明の顕著な特徴である。
この能力を与えるために、ヒート・シンクは、ヒート・
シンクに固着されるか、またはヒート・シンクと一体的
に設けられた手段であって、第1図、第2図及び第4図
に示された態様のような、基板11の表面27に置かれ
る柔軟な手段41を含んでいる。柔軟な手段41は、ヒ
ート・シンクが基板11とチップ13とを接触させる所
定の距離だけ降下されるように、上述の組立て工程の間
で、ヒート・シンク17を押し付けるのを可能とする(
例えば、適当な治具を用いて)。本発明の特定の実施例
において、本発明の工程の間で、合計約5キログラム(
11ボンド)の力がヒート・シンク17の中心部に与え
られた。
本発明の工程において、デバイスとヒート・シンク素子
との間の接触は、約4キログラム(9ボンド)の力を与
えることによって、ヒート・シンクに合計的0.838
ミリメートル(33ミル)の反り(撓み)を生じて作ら
れた。付加的な約1キログラム(2ボンド)は、未硬化
の接着材33中にチップを、より良く着座させるために
与えられた。これらの力を使用しても、デバイスには損
傷を与えることは無かった。ヒート・シンクから圧力を
取り除くと、この素子は、動作位置に持ち上げられ、こ
れは転じて、チップ13と、可撓性基板15の対応する
部分とを持ち上げる。以下の説明で更に良く理解できる
ように、本発明のこの独特な能力は、最終的なパッケー
ジ・アセンブリに不注意な接触(例えばコンピュータの
操作者、またはコンピュータの修理者)により生じるヒ
ート・シンクの押し付けに対しても耐性がある。更にま
た、本発明に従ったヒート・シンクの可撓性の性質は、
第1の基板に曲げ力、または捩り力が与えられて発生す
る第1の基板による移動を、第1の基板からヒート・シ
ンクの移動を生じることなく補償する。
電子パッケージ10の上述の組立の間で、チップ13に
損傷を与えずに、チップと完全に接触させるために、ヒ
ート・シンク17の適正な下向きの圧力を与えるために
必要な限定された力が加えられる。然しながら、以下に
説明されるように、ヒート・シンク17がチップ13と
の接触を保証しながら、ヒート・シンク17が押し下げ
られる適正な距離を決定するために、他の手段が用いら
れる。−本発明の素子のヒート・シンクと回路基板11
との間に、相対的に壊れやすい半導体チップを位置付け
ねばならないから、チップの破損を防ぐことは、本発明
にとって重要なことである。ヒート・シンク17、また
は基板11か、またはそれらの両方を過度に押し付ける
と、チップが破損することは明らかである。
本発明の1実施例に従って、柔軟な手段41は、ヒート
・シンク17(上部セグメントを含む上方に突出して独
立したフィン47を含む)に固定されるか、または、ヒ
ート・シンクの一部を形成する複数個の脚部材43を含
んでいる。第1図乃至第3図に示したように、合計4本
の脚部材43が用いられており、各脚部材は矩形のヒー
ト・シンクの四隅に夫々設けられている(第3図)。第
1図及び第2図に示されているように、各脚部43は、
実質的に平坦な基部セグメント45に対して鋭角をなし
、下方に延びて、基板11と四箇所で接触している。各
脚部43は、ヒート・シンクと一体的に作られ、この大
きな素子の構成と同時に形成されるのが望ましい。ヒー
ト・シンク17は、上述のように同時に形成することが
できるように、一体的なアルミニウム材料で作られるの
が好ましい。他の案として、ヒート・シンクは他の材料
(例えば銅)で作ることも出来る。脚部材をヒート・シ
ンクと一体的に形成しないで(図示されたように)、各
脚部材は、決められたような離隔した位置で、ヒート・
シンクに装着され独立した素子で構成することが出来る
。決められたように柔軟性を持つこれらの素子は、2つ
の対に配列され(第3図の21及びP2)、上記の各対
の夫々の脚部材は、相互に反対方向に延びて、ヒート・
シンクの基体部から外側に延びている。勿論、これらの
脚部材の他の方向付けも容易に可能であるけれども、第
3図に示された配列が好ましく、成功裡に動作した。
第3図に示されたように、各脚部材43は、二叉に分け
られた端部51と、テーパーが付されたポデ一部分53
とを含んでいる。二叉に分けられた端部51は基板11
の表面27に接触する1対の突出した端面部57(第4
図)tl−含んでいる。
基板11に対する各脚部の装着は、接着剤59(上述し
たような接着剤)か、または、少量のはんだ(錫−鉛、
図示せず)を用いることによって達成される。脚部が以
前に位置付けられた所に置かれ、そして接着剤が未だ硬
化していない時、このような二叉の構造は、端面部57
によって画定されている内側の溝61中に、接着剤の1
部を浸入させ、脚部の表面63を固定させるので、二叉
の端部は、接着剤を使用する場合には、特に望ましい構
造である。従って、脚部と基板の装着を確実にするため
に、接着剤によって「リベット」が与えられる。他の案
として、上述の接着剤や、はんだ付けではなく、他の機
械的手段(例えばクランプ)によって脚部材を固定する
ことも本発明の技術的範囲に属する。例えば、クランプ
(図示せず)が、対応する脚部材を受は入れるように設
計された基板11の位置に固定される。脚部が位置付け
られると、そのクランプが脚部を保持するように動作さ
れる。
ヒート・シンク17の底面19と、基板11の表面27
との間の距離を増加するために(例えばアセンブリの検
査や、保守等の目的のため)、図示のものよりも、より
長い脚部材を設けることも本発明の技術的範囲に属する
。チップとの接触を効果的にするために必要な対応する
距離を作るために、台部、即ち突起部(図示せず)を、
ヒート・シンクの底部に付加して、ヒート・シンクな押
圧している間にチップと整列するよう設計するととが出
来る。上述のような間隔を増加することは、特に、回路
が基板の表面に設けられており、ヒート・シンク17に
対面している場合、可撓性基板とヒート・シンク素子と
の間の電気的短絡の可能性を少なくするのに役立つ。ま
た、このような電気的短絡について付加的に与える保証
は、ヒート・シンクの底面に絶縁被覆(例えばポリイミ
ドの吹き付け)を設けることにより、または、ヒート・
シンク素子を製造する際に、絶縁性を与えるため、ヒー
ト・シンク(または、少なくともヒート・シンクの底面
)に陽極処理を施すことによって行うことが出来る。
第5図において、本発明の他の実施例の脚部材43′が
示されている。図示されたように、脚部材43′は、ヒ
ート・シンクの上方向に突出したフィン47が占める面
と平行な面に対してほぼ垂直方向に向けられ、ヒート・
シンクの基体部45から下方に延びている。第1図乃至
第3図に示した実施例と同様に、合計4本の脚部43′
が使用される。従って、この脚部4本全体は、ヒート・
シンクのフィンに対してほぼ垂直方向に延び、相互に対
抗する方向に置かれる。これらの脚部は、相互に対向し
て突出する夫々の対の各脚部を持つ第3図に示した隣合
う2本の脚部と同じ配列である。
基板11に対して押圧されるヒート・シンク17と所定
の距離を画定する目的を持つ停止手段71が第6図に示
されており、この手段も本発明に利用される0図示され
たように、停止手段71は、平坦な底面19の下に存在
し、ヒート・シンクの側壁から下方に延びる突起部73
を含んでいる。
この停止手段の底部面は、基板11の表面に係合するよ
う設計されている。図示したように、停止手段71は、
ヒート・シンクの側壁と一体的の部分として含まれるか
、または、ヒート・シンクから下方に延び、ヒート・シ
ンクに装着された適当な独立部材でもよい。停止手段7
1は、チップ13の接着剤33及び基板15(密閉剤3
5が使用されていれば、それも含む)の厚さよりも僅か
に大きな距離だけ下方に延びている。本発明の1実施例
において、停止手段71は、合計で約0.83ミリメー
トル(33ミル)だけ下方に延びている。
第7図は、本発明の他の実施例の脚部材43′を示す図
である。図示されたように、脚部材43′は、突出した
細長い別個の2つの脚部セグメント77及び77′を含
む二叉のボデ一部分75を含んでおり、これらの脚部セ
グメントは、転じて、脚部のボデ一部分のほぼ全体の長
さに延びた細長い内側の溝を画定している。この細長く
、二叉の構成は、上述した接着剤の「止め鋲」を形成す
るので、ヒート・シンクを基板の上に確実に固定する。
第8図は、本発明に従った脚部材の他の実施例を示す図
である。二叉の端部とは異なって、脚部84は、テーパ
ーを付されたボデ一部分の中に開孔85が設けられてい
る。従って、脚部84が基板11に位置付けられると、
上述した接着剤(図示せず)が、開孔を通って押上げら
れ、ボデ一部分の上面を覆って、接着剤の「リベット」
を形成し、脚部をその最終位置に確実に固定する。
第9図は、本発明に従った脚部材43#の他の実施例を
示す図である。脚部材43′は、第1図乃至第3図に示
した本発明の脚部とは、反対の態様で、ヒート・シンク
17から外方に突出している。第5図に示した脚部43
′と同様に、脚部431は、間隔を開けて設けられたフ
ィン47と平行な面に対妙て垂直で下方に延びている。
各脚部はヒート・シンクから延びた突出したフランジか
ら形成され、この脚部の形を作るように、フランジの余
分な部分を取り除く(例えば切削)ことにより作られる
。この実施例のヒート・シンク17は、各フランジから
形成された1対の脚部材43″を持つ2つの対向するフ
ランジを含んでいる。この配列は、ヒート・シンクの外
側の縁87が、ヒート・シンクの下に位置する基板15
の対応する外側縁89とほぼ整列するように、可撓性基
板15を完全に被うことを保証する。
以上、本発明の幾つかの実施例を説明したが、当業者で
あれば、本発明の技術思想の範囲内で、これらの実施例
を容易に変更、または修正することが出来る。例えば、
本発明を適用するシステムの熱放散特性や、または、パ
ッケージの空間の要件から、第1図に示したヒート・シ
ンクよりも大きな間隔を開けたヒート・シンクや、より
低いヒート・シンク用のフィン47t−使用する変更は
、当業者であれば容易になし得ることである。
F0発明の詳細 な説明したように、本発明の電子パッケージは、パッケ
ージのチップ素子の熱放散を良くするばかりでなく、電
子パッケージの組立ても容易に行うことが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に従った電子パッケージの1実施例の断
面図、第2図は第1図の&92−2に沿って切断された
第1図の電子パッケージの断面図、第3図は第2図の3
−3から見た本発明のシート・シンクの実施例の平面図
、第4図は本発明の第1の基板に接着された脚部材であ
って、脚部材の端部分の一部を示す斜視図、第5図は本
発明の脚部材の他の実施例の一部を示す斜視図、第6図
は本発明に使用される停止手段の一部を示す斜視図、第
7図は本発明の更に他の実施例の脚部材の一部を示す斜
視図、第8図は本発明の更に他の実施例の脚部材の一部
を示す斜視図、第9図は本発明の更に他の実施例の脚部
材の一部を示す斜視図であって、本発明のヒート・シン
クの側面から外方に突出したフランジの一部を形成する
脚部材の側面図である。 10・・・・電子パッケージ、11・・・・第1の回路
基板、13・・・・半導体デバイス(チップ)、15・
・・・可撓性の第2の回路基板、17・・・・ヒート・
シンク、25.28・・・・回路セグメント、19・・
・・ヒート・シンクの底面、31・・・・チップの上面
、33.59・・・・接着剤、41・・・・柔軟な手段
、43.43’ 、43′、43’、84・・・・脚部
材、45・・・・ヒート・シンクの基体部、47・・・
・フィン、71・・・・停止手段。 ″′−丁 FIG、 3 寸 FIG、 8 FIG、9

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (a)第1の回路基板と、 (b)上記第1の回路基板に電気的に接続された半導体
    デバイスと、 (c)上記第1の回路基板と上記半導体デバイスに電気
    的に接続され、上記第1の回路基板と上記半導体デバイ
    スの間に電気的結合を与えるための可撓性の第2の回路
    基板と、 (d)上記第1の回路基板上に配置され、上記第1の回
    路基板と上記半導体デバイスの間の位置で上記半導体デ
    バイスを接続されてなるヒート・シンクとを具備し、 (e)上記ヒート・シンクは、上記半導体デバイスを損
    傷することなく上記第1の回路基板とは相対的に予定の
    距離だけ押圧され得るように、撓み可能な手段を有して
    いるかまたはその一部として形成されていることを特徴
    とする、 電子パッケージ。
JP1099045A 1988-07-13 1989-04-20 電子部品パッケージ Expired - Lifetime JPH0712069B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

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US07/218,726 US4849856A (en) 1988-07-13 1988-07-13 Electronic package with improved heat sink
US218726 1988-07-13

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JPH0240941A true JPH0240941A (ja) 1990-02-09
JPH0712069B2 JPH0712069B2 (ja) 1995-02-08

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US (1) US4849856A (ja)
EP (1) EP0350588B1 (ja)
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