JPH0242435U - - Google Patents

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JPH0242435U
JPH0242435U JP12237488U JP12237488U JPH0242435U JP H0242435 U JPH0242435 U JP H0242435U JP 12237488 U JP12237488 U JP 12237488U JP 12237488 U JP12237488 U JP 12237488U JP H0242435 U JPH0242435 U JP H0242435U
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probe card
semiconductor device
substrate
wiring pattern
bump electrodes
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Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の実施例を示すプローブカード
の断面図、第2図は従来のプローブカードの断面
図、第3図は第2図のプローブカードを用いた検
査方法を示す図、第4図a,bは第2図のプロー
ブカードの問題点を示す図、第5図a,bは第1
図のプローブカードを用いた検査方法を示す図、
第6図は本考案の他の実施例を示すプローブカー
ドの断面図、及び第7図は第6図のプローブカー
ドの検査対象となるウエハを示す図である。 11……ガラス基板(基板)、12……配線パ
ターン、16……半導体装置、18……バンプ電
極、19……絶縁層。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 1 半導体装置上に形成された複数個のバンプ電
    極と接触させて該半導体装置の電気特性を検査す
    るためのプローブカードにおいて、 光透過性の基板の一主面上に、前記バンプ電極
    と接触可能な配線パターンを形成したことを特徴
    とするプローブカード。 2 請求項1記載のプローブカードにおいて、 前記基板をガラス基板で形成し、かつ前記配線
    パターンにおけるバンプ電極との非接触箇所を、
    絶縁層で被覆したプローブカード。
JP12237488U 1988-09-19 1988-09-19 Pending JPH0242435U (ja)

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JP12237488U JPH0242435U (ja) 1988-09-19 1988-09-19

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JPH0242435U true JPH0242435U (ja) 1990-03-23

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