JPH0245157B2 - Jikideisukubaitainoketsukankensahoho - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、磁気デイスク媒体の欠陥検査方法
に関し、詳しくは、磁気デイスク媒体の陥検査
を、時間を空費することなく効率よく、全トラツ
ク全周にわたつて連続的に行えるような磁気デイ
スク媒体の欠陥検査方法に関する。

［従来の技術］ 一般に、磁気デイスク媒体の欠陥検査装置は、
磁気デイスク駆動装置と、磁気ヘツドと、書込み
回路、読出回路、欠陥検出回路、そしてマイクロ
プロセツサやメモリ等で構成されるこれら全体を
制御する制御回路等で構成されている。この種の
装置での欠陥検査方法は、従来、制御回路の制御
下においてトラツクを１周してデイクス媒体の欠
陥検査用のデータパターン（以下テストパター
ン）を書込み、この後、すぐに次の１周でテスト
パターンを読出し、書込み内容と読出し結果から
ドロツプアウト、ドロツプイン、アンプリチユー
ド、モジユレーシヨン、リゾリユーシヨン等の項
目に対する欠陥部位を検出することで行われ、こ
れを磁気デイスク媒体の全トラツクについて順次
繰返し、かつ連続的に行つている。

そして、連続的にトラツクに従つて欠陥部位の
検出動作を行う際には、磁気ヘツドを書込み状態
から読出し状態への切替え、あるいはその逆の切
替えが行われ、従来は、それを磁気デイスクの１
回転の基準位置を示す物理的なインデツクスマー
クを検出して得られる１周の回転基準位置信号で
あるインデツクス信号を基準にして行つている。

第４図は、この種の従来のデイスク媒体欠陥検
査装置の要部ブロツク図である。検査に必要な書
込みパターンを書込みパターン発生回路
（WRPG）７で発生させ、書込みアンプ（WRA）
５と書込み読出しの切替回路等を有するヘツド
IC（HDIC）３とを経由して磁気ヘツド（HD）２
から磁気デイスク媒体（DISK）１にテストパタ
ーンを書込み、つぎに書込んだテストパターン
を、再び、磁気ヘツド２、ヘツドIC３、読出し
アンプ（RDA）６を通して読出してその読出し
データを欠陥検出回路（RDDET）８でチエツク
し、得た欠陥検出データをマイクロプロセツサ２
１とメモリ２２等とを有する制御回路
（TCNTRL）２０が受けて所定のデータ処理を
している。

ここで、磁気ヘツド２の書込み状態、読出状態
の切替え等の制御は、ヘツド切替制御回路
（HCNTRL）４で行われる。ヘツド切替制御回
路４は、図示するように、制御回路２０からの制
御信号に応じて制御され、その他のテスト制御に
必要な制御信号も発生して各種の内部回路を制御
する。

制御回路２０は、欠陥検査データ処理回路であ
つて、通常、マイクロプロセツサ２１とメモリ２
２等とで構成され、ヘツド切替制御回路４を制御
するとともに、後述するインデツクス信号９に応
じて書込みパターン発生回路７に起動信号等を送
出してテストパターンの書込み制御をし、欠陥検
出回路８から欠陥データを受けて所定のデータ処
理をするもので、そのための検査処理プログラム
２２ａがメモリ２２に搭載されている。マイクロ
プロセツサ２１は、この検査処理プログラム２２
ａを実行することで前記の動作をはじめとして磁
気デイスク媒体１から得られた欠陥等の測定デー
タについて各種の処理を行う。

第２図ａは、上記順次連続して行われる欠陥部
位検出動作の従来のタイミングチヤートである。
９はインデツクス信号、１０はヘツドの書込み／
読出状態切替所要時間（GAP）、１１は書込み状
態（WR）、１２は読出状態（RD）、１３はトラ
ツク１周時間である。この図から分かるように、
ヘツド切替えには短いが有限のある一定時間が必
要である。しかも、それは、インデツクス信号の
発生期間より長い。

ここで、インデツクス信号９は、磁気ヘツド２
によりあらかじめトラツク等に書込まれたインデ
ツクスパターンから検出してもよいし、別に設け
られたサーボヘツドを介してインデツクスパター
ンを読出して得てもよい。さらに、フロツピーデ
イスク等のように特別に設けられたインデツクス
ホール等を特別な検出手段を介して検出すること
で得てもよい。これらのインデツクス信号を得る
ための各種の手段は、磁気デイスク１の回転基準
位置を示す、言い換えれば、トラツク１周を示す
インデツクスマークを検出するものであればどの
ようなものでもよく、これらはすでに周知である
のでその説明は割愛する。

［解決しようとする課題］ さて、第２図ａのタイミングチヤートから理解
できるように、テストパターンの書込みや読出し
の起点や終点は、同じ１つのインデツクス信号９
で行われている。すなわち、起点とされたインデ
ツクス信号９に対して１周分後に現れる同じイン
デツクス信号９が終点となり、かつ、処理を連続
させるために終点となつたインデツクス信号９が
次の動作の始点として取り扱われている。

さて、第２図ａに示すようなタイミングで連続
的にテストパターンの読出しや書込みを行うと、
これらの間にヘツド状態切替所要時間１０が必要
になる。そこで、テストパターンの書込みや読出
が行われない期間がヘツド状態切替期間として存
在してしまう。したがつて、この期間に対応する
媒体部分に欠陥が存在してもそれは検出されな
い。

この切替所要時間１０（これは第２図ａでは実
際より比率を誇張して示してある。第２図ｂおよ
び第３図でも同じ）は、１周時間１３と比較すれ
ば実際にはわずかであるけれども高密度記録の場
合、数十ビツト分以上に相当する。そこで、高密
度記録の磁気デイスク媒体ではこの部分を無視し
てしまうことができなくなつてきている。

すなわち、高密度記録の磁気デイスク媒体の欠
陥検査においては、テストパターンのうち、この
切替に要する短時間内に書込みむべき、あるいは
読出すべきテストパターンについては、その検査
としての取扱いが不能となり、インデツクス信号
９が発生する位置の近傍に欠陥があつてもその欠
陥が検出されずに見逃されてしまうという問題が
生じる。

これは、１周後に来る終点のインデツクス信号
を次の動作の始点と同様に扱つているからであ
る。そこで、前記のような問題を回避するため
に、終点のインデツクス信号と次の始点のインデ
ツクス信号とを切離すようにしているのが第２図
ｂである。

これは、インデツクス信号９を始点とし、その
１周分後のインデツクス信号９を終点として１周
分パターンデータの書込みを行い、次の読出は、
終点としたインデツクス信号９を続けて使用せず
に、その後に来るインデツクス信号９を持ち、こ
れを始点として１周分くまなく行うようにする。
そして、先の例と同様にヘツド状態切替え（読出
しから書込みへの切替え、あるいはその逆の切替
え）は終点のインデツクス信号９の所で行う。そ
の結果、テストパターンの読出や書込みを１周分
行うために、ヘツド状態切替え期間で一部が潰さ
れる１周分を使用しないことになる。すなわち、
インデツクス信号９を始点として１周分パターン
データの書込み（あるいは読出し）を行い、１周
後のインデツクス信号の後に磁気ヘツドの切替え
を行い、磁気ヘツドの切替えを行つた１周分（１
回転）は書込み（あるいは読出し）を休んで、次
に来るインデツクス信号９が来るのを待ち、次に
来るインデツクス信号９を始点としてその次の１
回転で全周にわたりくまなく読出し（あるいは書
込み）を行う。しかし、このようにすれば、図示
するように待ち期間Ｔ分が無駄になり、欠陥検査
の時間が倍増するという別の問題を生じる。

この発明は、このような従来技術の問題点を解
決するものであつて、磁気デイスク媒体の欠陥検
査を、時間を空費することなく効率よく、全トラ
ツク全周にわたつて連続的に行える磁気デイスク
媒体の欠陥検査方法を提供することを目的とす
る。

［課題を解決するための手段］ この発明の特徴は、トラツク１周分にテストパ
ターンが書込まれていれば、それをどの位置から
読出しても読出し開始点と読出し終了点とが一致
していば１周分だけのテストパターンが読出せる
こと。同様に、１周分のテストパターンの書込み
は、トラツクのどの位置から開始しようとも同じ
位置まで戻つてくれば１周分テストパターンを書
込むことができるという点に着目している。具体
的には、テストパターンの１周分の読出しや書込
みにおいて、トラツク上の始点と終点が同じ位置
にあることを保証するインデツクス信号とその１
周分後に来る同じインデツクス信号を用いてテス
トパターンの１周分の読出しや書込みを行う。そ
して、このようなインデツクス信号を１トラツク
に複数個設け、複数の個のインデツクス信号をヘ
ツド切替時間以上の間隔をおいて配置する。この
ようにすれば、終点となるインデツクス信号の後
に時間Ｔ（第２図ｂ参照）の待ち時間を待つこと
なく、ヘツド切替後に次のインデツクス信号を始
点として順次テストパターンの書込み及び読出し
の処理を１周分くまなく、かつ、連続的に行え
る。

しかして、前記のような目的を達成するための
この発明の欠陥検査方法の構成は、磁気デイスク
媒体のインデツクスマークを検出して得られる各
トラツクの正規のインデツクス信号を受けてこの
インデツクス信号に応じて擬似インデツクス信号
を生成し、かつ、正規のインデツクス信号と擬似
インデツクス信号との時間間隔あるいは複数の擬
似インデツクス信号を生成する場合にはこれら擬
似インデツクス信号相互の時間間隔が読出書込み
のヘツド状態切替所要時間以上離れた状態で擬似
インデツクス信号が生成されるものであつて、正
規のインデツクスおよび擬似インデツクス信号の
うち１つを起点及び終点のインデツクス信号とし
て選択してテストパターンの書込みおよびテスト
パターンの読出のいずれか一方を行い、磁気デイ
スク媒体が回転して１周後に発生する前記選択し
たインデツクス信号に応じてヘツド状態を切替
え、選択したインデツクス信号の次の正規のイン
デツクスおよび擬似インデツクス信号のいずれか
のインデツクス信号に応じてテストパターンの書
込みおよびテストパターンの読出のいずれか他方
を行うものである。

［作用］ このように、インデツクスマークから得られる
正規のインデツクス信号のほかにこの正規のイン
デツクス信号に応じて擬似インデツクス信号を生
成して１周ごとに現れるインデツクス信号を複数
に増加させて、ある擬似インデツクス信号あるい
は前記の正規のインデツクス信号を起点及び終点
としてテストパターンを書込み、あるいは書込み
まれたテストパターンを読出し、次のテストパタ
ーンの読出しまたは書込みに対しては１周分後に
現れるインデツクス信号を持つことなく、ヘツド
切替時間後に現れる擬似インデツクス信号あるい
は正規のインデツクス信号を次の起点及び終点の
インデツクス信号として採用して処理をするの
で、順次テストパターンの書込み／読出しを１周
分くまなく連続的に行うことができる。

しかも、擬似インデツクス信号間と擬似インデ
ツクスと正規のインデツクス信号との間の間隔が
ヘツド切替え所要時間以上となつているのでこれ
らインデツクス信号のいずれかに応じてヘツド切
替えを行つてもその切替えが確実に行える。その
結果、１周分の時間的な空きを作ることなく、効
率のよい磁気デイスク媒体の欠陥検査を行うこと
ができる。

［実施例］ 以下、この発明の一実施例について詳細に説明
する。

第１図は、この発明を適用した一実施例の磁気
デイスク媒体の欠陥検査方法を実行する処理プロ
グラムが搭載された欠陥検査装置のブロツク図で
あつて、そのハードウエア構成は、第４図に示す
従来のものと同じである。その相違点は、メモリ
２２に搭載された検査処理プログラム２２ａが検
査処理プログラム２２ｂに変わつているだけであ
る。この検査処理プログラム２２ｂは、インデツ
クス信号９を受けて擬似インデツクス信号１５を
内部で発生してこれに応じて内部でヘツド切替制
御回路４に対するヘツド切替えの制御信号や書込
みパターン発生回路７に対する起動信号等を送出
するものであつて、選択すべき擬似インデツクス
信号に応じる点以外は外部回路に対する制御は従
来のものと変わらない。

この実施例では、擬似インデツクス信号１５
は、後述するようにヘツド切替所要時間１４ずつ
間隔をおいて、複数個、例えば30個以上設定され
る。そのために検査処理プログラム２ｂは、本来
のインデツクス信号９を受けてこれに応じてヘツ
ド状態切替所要時間１４単位で時間カウントをし
て目的とする擬似インデツクス信号１５を生成す
る処理をする。生成された複数の擬似インデツク
ス信号１５の１つは、正規のインデツクス信号９
を受けてから何番目というように指示することに
より容易に特定できる。

第１図中に示したヘツド切替制御回路４の制御
動作は、従来よりは多少複雑になるが、前記のよ
うな動作を行うための制御プログラム自体は極め
て容易に作ることができる。また、ヘツド切替所
要時間１４についての時間カウントは、例えば、
ハードタイマあるいはソフトタイマを起動してタ
イマ処理をし、このタイマ処理で得られる信号の
うちから必要なタイミングのものを擬似インデツ
クス信号１５として選択すればよい。

第３図は、検査処理プログラム２２ｂによる磁
気デイスク媒体の欠陥検査方法に従つた処理のタ
イミングチヤートである。図中、１４は、ヘツド
状態切替所要時間１０よりも長いヘツド状態切替
のための所要時間、１５は、この発明に係る擬似
インデツクス信号である。その他の符号は第２図
の場合と同様である。

さて、第２図ｂに示す従来技術で説明した通
り、磁気デイスク媒体１の欠陥検査では、通常、
インデツクス信号９を起点及び終点とする。磁気
ヘツド２を書込み状態あるいは読出状態にして、
インデツクス信号９を始点とし、１周分後のイン
デツクス信号９までの間の１周分についてテスト
パターンの書込みあるいは読出しを全周に互つて
くまなく行う。そして、１周分後のインデツクス
信号９においてそれを終了する。この点は、第３
図にあつても同様であり、インデツクス信号９あ
るいは擬似インデツクス信号１５を起点及び１周
後の同じ信号を終点にしてテストパターンの書込
みあるいは読出しを行う（第３図の書込み状態
（WR）１１、読出し状態１２（RD）参照）。従
来のものとこの発明との相違点は、ヘツド切替え
を行つた後に次の正規のインデツクス信号９の到
来まで待つことなく、次の動作に移れることであ
る。

まず、第３図のインデツクス信号９を基準とし
て、例えば、１周分のテストパターンデータの書
込みをくまなく行う（書込み状態１１）。この書
込みは、従来と同様に１周分書込みを行つた後の
インデツクス信号９が発生した位置で終わる。先
に説明した通り、従来ならば、ヘツドの切替えは
終了しているが、擬似インデツクス信号１５が発
生しないので正規のインデツクス信号９が来てか
ら書込みの後の読出動作に移らなければならな
い。そのようにすると、ヘツド切替えを行つた１
回転分は休むことになる。

しかし、この発明では、この擬似インデツクス
信号１５は、最初のインデツクス信号９と１周後
に現れるインデツクス信号９の間に設けられてい
る。そこで、第３図に示すように擬似インデツク
ス信号１５が正規のインデツクス信号９が来るま
えに来る。しかも、インデツクス信号９と次の擬
似インデツクス信号１５とは所要時間14分の間が
空いている。所要時間１４は、ヘツド状態を切替
えるための時間分以上確保されている。これは、
従来の所要時間１０よりも長い時間となつてい
る。そこで、これらインデツクスの間にヘツド切
替を確実に行うことができる。したがつて、１回
転休むことなく、この所要時間１４で磁気ヘツド
２の状態を書込みから読出しへ（あるいはその逆
に）切替えて次に来る擬似インデツクス信号１５
を次の始点および終点のインデツクス信号として
採用して処理を継続することができる。これによ
り次の読出し動作（あるいは書込み動作）に移る
ことができる。そして、この始点として採用した
擬似インデツクス信号１５に対して１周後に来る
同じ擬似インデツクス信号１５が終点となるの
で、このときの読出し動作（あるいは書込み動
作）は１周分くまなく行える。

なお、この場合、インデツクス信号９と擬似イ
ンデツクス信号１５との間隔が従来のヘツド切替
え所要時間１０より短くなると、従来と同様に切
替えの間に擬似インデツクス信号１５の後のトラ
ツク部分に未読出し領域（あるいは未書込み領
域）が発生してしまう。また、図示されてはいな
いが、欠陥検査におけるヘツド状態の切替は、前
記のように書込みから読出しへ移行する場合と、
読出しから書込みへ移行する場合とがある。

以上は、インデツクス信号９と１つの擬似イン
デツクス信号１５との関係のみを説明している
が、先に説明したように、擬似インデツクス信号
１５は複数個設けられてもよいので、インデツク
ス信号９と擬似インデツクス信号１５との関係
は、複数の擬似インデツクス信号１５相互間でも
同じものとなる。これらは、ヘツド状態切替所要
時間１４だけ離れてそれぞれ設定される。このよ
うな擬似インデツクス信号１５は、ヘツド切替所
要時間１４の間隔をおいて複数個設けるほど効率
がよく、一般的には１トラツクに対し、前記所定
時間１４ずつ間隔をおいて、例えば、30個以上設
定するのがよい。

このように複数個の擬似インデツクス信号１５
がヘツド状態切替所要時間よりも長い所要時間１
４の間隔ごとおかれていれば、１周分のデータの
読出しあるいは書込み後に複数の擬似インデツク
ス信号１５間、あるいは擬似インデツクス信号１
５とインデツクス信号９との間で連続的にヘツド
の状態が読出しから書込みへ、あるいは書込みか
ら読出しへと切替えることができる。これらの間
では、第３図に示す前記のインデツクス信号９と
インデツクス信号１５との関係がそのまま繰り返
されるので、それぞれの始点及び終点として選択
されたインデツクス信号においてくまなくトラツ
ク１周分の走査がなされ、従来のような未読出し
領域とか未書込み領域を発生させないでかつ連続
的な検査処理ができる。

［発明の効果］ 以上説明したようにこの発明によれば、通常の
インデツクス信号のほかにヘツド切替期間を確保
して擬似インデツクス信号を設けているので、こ
の擬似インデツクス信号を用いることで磁気デイ
スク媒体の欠陥検査を、全トラツク全周にわたつ
て、ほとんど連続的に行える効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明を適用した一実施例の磁気
デイスク媒体の欠陥検査方法を実行する処理プロ
グラムが搭載された欠陥検査装置のブロツク図、
第２図は、従来の欠陥検出におけるテストパター
ン書込み／読出し処理のタイミングチヤート、第
３図は、第１図における欠陥検査装置の磁気デイ
スク媒体の欠陥検査方法に従つた処理のタイミン
グチヤート、第４図は、従来の欠陥検査方法のブ
ロツク図である。 １……磁気デイスク、２……磁気ヘツド、３…
…ヘツドIC、４……ヘツド切替え制御回路
（HCNTRL）、５……書込みアンプ（WRA）、６
……読出し回路（RDA）、７……書込みパターン
発生回路（WRPG）、８……欠陥検出回路
（RDDET）、９……インデツクス信号、１０，１
４……ヘツド切替え所要時間、１５……擬似イン
デツクス信号、２０……制御回路、２１……マイ
クロプロセツサ、２２……メモリ、２２ａ，２２
ｂ……検査処理プログラム。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 磁気デイスク媒体のインデツクスマークを検
   出して得られる各トラツクの正規のインデツクス
   信号を受けてこのインデツクス信号に応じて擬似
   インデツクス信号を生成し、かつ、前記正規のイ
   ンデツクス信号と前記擬似インデツクス信号との
   時間間隔あるいは複数の前記擬似インデツクス信
   号を生成する場合にはこれら擬似インデツクス信
   号相互の時間間隔が読出書込みのヘツド状態切替
   所要時間以上離れた状態で前記擬似インデツクス
   信号が生成されるものであつて、前記正規のイン
   デツクスおよび前記擬似インデツクス信号のうち
   １つを起点及び終点のインデツクス信号として選
   択してテストパターンの書込みおよびテストパタ
   ーンの読出のいずれか一方を行い、前記磁気デイ
   スク媒体が回転して１周後に発生する前記選択し
   たインデツクス信号に応じてヘツド状態を切替
   え、前記選択したインデツクス信号の次の前記正
   規のインデツクスおよび前記擬似インデツクス信
   号のいずれかのインデツクス信号に応じて前記テ
   ストパターンの書込みおよび前記テストパターン
   の読出のいずれか他方を行う工程とを備えること
   を特徴とする磁気デイスク媒体の欠陥検査方法。