JPH0249524Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0249524Y2 JPH0249524Y2 JP15529983U JP15529983U JPH0249524Y2 JP H0249524 Y2 JPH0249524 Y2 JP H0249524Y2 JP 15529983 U JP15529983 U JP 15529983U JP 15529983 U JP15529983 U JP 15529983U JP H0249524 Y2 JPH0249524 Y2 JP H0249524Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- oscillation
- voltage
- type displacement
- displacement detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 35
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 18
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
この考案は、発振器を構成する共振回路のコイ
ルを検出コイルとし、その発振出力の変化から前
記検出コイルと被側定金属物体との変位を検出す
る高周破発振型変位検出器に関する。
ルを検出コイルとし、その発振出力の変化から前
記検出コイルと被側定金属物体との変位を検出す
る高周破発振型変位検出器に関する。
(ロ) 従来技術
第1図は、従来の高周破発振型変位検出器の構
成を略示した回路図である。
成を略示した回路図である。
発振トランジスタQ1、抵抗R1〜R4、温度
補償用ダイオードD1,D2、コンデンサC3及
びコイルL1、コンデンサC1,C2よりなる共
振回路はベース接地コルピツツ発振回路を構成し
ている。この発振回路の発振出力は、抵抗R5、
コンデンサC4よりなる平均値回路で平均値化さ
れる。このようにして平均値化された出力から、
検出コイルと金属物体との変位が検出される。
補償用ダイオードD1,D2、コンデンサC3及
びコイルL1、コンデンサC1,C2よりなる共
振回路はベース接地コルピツツ発振回路を構成し
ている。この発振回路の発振出力は、抵抗R5、
コンデンサC4よりなる平均値回路で平均値化さ
れる。このようにして平均値化された出力から、
検出コイルと金属物体との変位が検出される。
しかしながら、従来の高周破発振型変位検出器
は、電源電圧の変動によつて前記平均値化された
出力が変動する結果、金属物体の検出精度が悪く
なるという欠点がある。
は、電源電圧の変動によつて前記平均値化された
出力が変動する結果、金属物体の検出精度が悪く
なるという欠点がある。
(ハ) 目的
この考案は、電源電圧が変動しても、検出精度
が低下しない高周破発振型変位検出器を提供する
ことを目的としている。
が低下しない高周破発振型変位検出器を提供する
ことを目的としている。
(ニ) 構成
この考案に係る高周破発振型変位検出器は、ベ
ース接地コルピツツ発振回路を用いた高周破発振
型変位検出器であつて、発振トランジスタと同一
温度特性の補償トランジスタをダイオード接続
し、この補償トランジスタでもつて発振トランジ
スタのベースバイアス電圧を補償し、かつ、発振
トランジスタのエミツタ出力の平均値電圧と、補
償トランジスタのアノード側電圧とを差動増幅す
ることに基づき被側定物の変位を検出することを
特徴としている。
ース接地コルピツツ発振回路を用いた高周破発振
型変位検出器であつて、発振トランジスタと同一
温度特性の補償トランジスタをダイオード接続
し、この補償トランジスタでもつて発振トランジ
スタのベースバイアス電圧を補償し、かつ、発振
トランジスタのエミツタ出力の平均値電圧と、補
償トランジスタのアノード側電圧とを差動増幅す
ることに基づき被側定物の変位を検出することを
特徴としている。
(ホ) 実施例
第2図はこの考案に係る高周破発振型変位検出
器の一実施例の構成を略示した回路図である。
器の一実施例の構成を略示した回路図である。
この検出器の発振回路はベース接地コルピツツ
発振回路である。発振トランジスタQ1のエミツ
タは抵抗R2を介して正電源に接続される。ま
た、コイルL1、コンデンサC1,C2で構成さ
れる共振回路の出力の一部は抵抗R1を介して前
記エミツタに帰還される。発振トランジスタQ1
のベースは抵抗R3を介して接地されるととも
に、ダイオード接続された補償トランジスタQ2
のカソード側に接続される。
発振回路である。発振トランジスタQ1のエミツ
タは抵抗R2を介して正電源に接続される。ま
た、コイルL1、コンデンサC1,C2で構成さ
れる共振回路の出力の一部は抵抗R1を介して前
記エミツタに帰還される。発振トランジスタQ1
のベースは抵抗R3を介して接地されるととも
に、ダイオード接続された補償トランジスタQ2
のカソード側に接続される。
補償トランジスタQ2は、発振トランジスタQ
1と略同一温度特性のトランジスタが用いられ
る。補償トランジスタQ2のアノード側はツエナ
ーダイオードD3を介して正電源に接続される一
方、抵抗R4を介して接地される。
1と略同一温度特性のトランジスタが用いられ
る。補償トランジスタQ2のアノード側はツエナ
ーダイオードD3を介して正電源に接続される一
方、抵抗R4を介して接地される。
抵抗R5およびコンデンサC3は、発振トラン
ジスタQ1のエミツタに接続される平均値回路を
形成する。
ジスタQ1のエミツタに接続される平均値回路を
形成する。
Aは抵抗R9を帰還抵抗とした差動増幅器であ
る。差動増幅器Aの一方の入力端子は抵抗R6を
介して前記平均値回路に接続される。他方の端子
は、抵抗R7を介して補償トランジスタQ2のア
ノード側に接続されるとともに、抵抗R8を介し
て接地される。
る。差動増幅器Aの一方の入力端子は抵抗R6を
介して前記平均値回路に接続される。他方の端子
は、抵抗R7を介して補償トランジスタQ2のア
ノード側に接続されるとともに、抵抗R8を介し
て接地される。
次に、上述した実施例の動作について説明す
る。
る。
第3図は第2図に示した実施例の各部の動作波
形図である。
形図である。
発振トランジスタQ1のベースは、ツエナーダ
イオードD3と補償トランジスタQ2を介して交
流的に接地されている。そのため、前記ベース電
位は、電源電圧V+より、前記D1の逆方向電圧
VZと補償トランジスタQ2のVBE2とを引いた
電圧V+−(VZ+VBE2)で安定している。
イオードD3と補償トランジスタQ2を介して交
流的に接地されている。そのため、前記ベース電
位は、電源電圧V+より、前記D1の逆方向電圧
VZと補償トランジスタQ2のVBE2とを引いた
電圧V+−(VZ+VBE2)で安定している。
発振トランジスタQ1のエミツタには、共振回
路より第3図aに示すような信号が帰還される。
この信号が正のとき、エミツタ電位はベース電位
V+−(VZ+VBE2)に発振トランジスタQ1の
ベース・エミツタ間電圧VBE1を加えた値に維持
される。また、前記信号が負のときは、発振トラ
ンジスタQ1はカツトオフされる。従つて、発振
トランジスタQ1のエミツタ電位は同図bに示す
ように、正側がクランプされた電圧波形となる。
このエミツタ出力は次段の平均値回路で平均値化
されて、差動増幅器Aの一方入力として与えられ
る。
路より第3図aに示すような信号が帰還される。
この信号が正のとき、エミツタ電位はベース電位
V+−(VZ+VBE2)に発振トランジスタQ1の
ベース・エミツタ間電圧VBE1を加えた値に維持
される。また、前記信号が負のときは、発振トラ
ンジスタQ1はカツトオフされる。従つて、発振
トランジスタQ1のエミツタ電位は同図bに示す
ように、正側がクランプされた電圧波形となる。
このエミツタ出力は次段の平均値回路で平均値化
されて、差動増幅器Aの一方入力として与えられ
る。
一方、差動増幅器Aの基準電圧は、発振トラン
ジスタQ1のベース電位に補償トランジスタQ2
のVBE2を加えた電圧、即ち、V+−(VZ+
VBE2)+VBE2=V+−VZとなる。
ジスタQ1のベース電位に補償トランジスタQ2
のVBE2を加えた電圧、即ち、V+−(VZ+
VBE2)+VBE2=V+−VZとなる。
しかして、差動増幅器Aにおいて、前記基準電
圧と前記平均値化された発振トランジスタQ1の
エミツタ出力との差動出力が得られる。
圧と前記平均値化された発振トランジスタQ1の
エミツタ出力との差動出力が得られる。
この差動出力に基づき、コイルL1が組み込ま
れる検出ヘツドから金属物体までの変位が検出さ
れる。
れる検出ヘツドから金属物体までの変位が検出さ
れる。
ここで、発振トランジスタQ1と補償トランジ
スタQ2の温度持特性は略同一であるから、両ト
ランジスタ温度ドリフトは相殺される。また、第
3図cおよびdに示すように、電源電圧V+の変
動により、エミツタ出力S1及びその平均値S2
が変動しても、これに伴い前記基準電圧S3も同
じ量だけ変動する。したがつて、両者の差動出力
ΔVは電源変動によつて増減しない。同様に、前
記差動出力がツエナーダイオードD3の温度ドリ
フトに影響されることもない。
スタQ2の温度持特性は略同一であるから、両ト
ランジスタ温度ドリフトは相殺される。また、第
3図cおよびdに示すように、電源電圧V+の変
動により、エミツタ出力S1及びその平均値S2
が変動しても、これに伴い前記基準電圧S3も同
じ量だけ変動する。したがつて、両者の差動出力
ΔVは電源変動によつて増減しない。同様に、前
記差動出力がツエナーダイオードD3の温度ドリ
フトに影響されることもない。
(ヘ) 効果
この考案に係る高周破発振型変位検出器は、上
述のように構成されから、電源電圧が変動して
も、被測定物の変位を精度よく検出することがで
きる。
述のように構成されから、電源電圧が変動して
も、被測定物の変位を精度よく検出することがで
きる。
第1図は、従来の高周破発振型変位検出器の構
成を略示した回路図、第2図はこの考案に係る高
周破発振型変位検出器の一実施例の構成を略示し
た回路図、第3図は第2図に示した実施例の各部
の動作波形図である。 Q1……発振トランジスタ、Q2……補償トラ
ンジスタ、A……差動増幅器。
成を略示した回路図、第2図はこの考案に係る高
周破発振型変位検出器の一実施例の構成を略示し
た回路図、第3図は第2図に示した実施例の各部
の動作波形図である。 Q1……発振トランジスタ、Q2……補償トラ
ンジスタ、A……差動増幅器。
Claims (1)
- ベース接地コルピツツ発振回路を用いた高周波
発振型変位検出器であつて、発振トランジスタと
同一温度特性の補償トランジスタをダイオード接
続し、この補償トランジスタでもつて発振トラン
ジスタのベースバイアス電圧を補償し、かつ、発
振トランジスタのエミツタ出力の平均値電圧と、
補償トランジスタのアノード側電圧とを差動増幅
することに基づき被測定物の変位を検出すること
を特徴とする高周波発振型変位検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15529983U JPS6070006U (ja) | 1983-10-06 | 1983-10-06 | 高周波発振型変位検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15529983U JPS6070006U (ja) | 1983-10-06 | 1983-10-06 | 高周波発振型変位検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6070006U JPS6070006U (ja) | 1985-05-17 |
| JPH0249524Y2 true JPH0249524Y2 (ja) | 1990-12-27 |
Family
ID=30343034
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15529983U Granted JPS6070006U (ja) | 1983-10-06 | 1983-10-06 | 高周波発振型変位検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6070006U (ja) |
-
1983
- 1983-10-06 JP JP15529983U patent/JPS6070006U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6070006U (ja) | 1985-05-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN111913006A (zh) | 一种石英振梁加速度计驱动电路 | |
| US4000459A (en) | Linear ECL distance measuring gauge | |
| JPH0249524Y2 (ja) | ||
| US4091339A (en) | Oscillator | |
| JPH0232585B2 (ja) | ||
| JPS6029123B2 (ja) | 電子回路 | |
| JPS6090426A (ja) | 高周波発振型近接スイツチ | |
| JPS5921228B2 (ja) | 発振回路 | |
| JPS5910617B2 (ja) | 発振回路 | |
| JP2500261B2 (ja) | 差動増幅回路 | |
| JPS6374205A (ja) | 周波数制御回路 | |
| JPH084748Y2 (ja) | 基準電圧回路及び発振回路 | |
| JPH10293146A (ja) | インダクタンス変化検出装置 | |
| JPH09264796A (ja) | 温度検出回路 | |
| JPS58127134A (ja) | 温度検出回路 | |
| JP3666465B2 (ja) | 近接スイッチ | |
| JPS6025146Y2 (ja) | トランジスタ発振回路 | |
| JPH0522862Y2 (ja) | ||
| JPS61283219A (ja) | 近接センサ発振回路 | |
| JPH0346573Y2 (ja) | ||
| JPH0346574Y2 (ja) | ||
| JPS6256685B2 (ja) | ||
| JPH0644690B2 (ja) | 発振回路 | |
| JPH0712141B2 (ja) | 近接センサ発振回路 | |
| JPH0212758Y2 (ja) |