JPH0249572Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 (1) 考案の技術分野 本考案は、プリント板の特性試験を行うための
アダプタに関し、特に大小二種類のプロービング
ピンをマトリクス状に配置したプリント板試験用
アダプタに関する。

(2) 従来技術と問題点 従来のこの種アダプタ１は、第１図に示すよう
に、フレーム２に取付けられたベース基板３上に
略2.54mmの一定間隔Ｐで形成された基本格子４の
各交点にプロービングピン５，５，……がマトリ
クス状に植設されている。このアダプタ１は、そ
のスルーホールが例えば2.54mm間隔で設けられた
プリント板を試験するためのものである。上記プ
ロービングピン５，５，……は、リードタイプの
IC端子を挿入してハンダ付するためのプリント
板側スルーホール（ドリル径で0.9mm程度）をチ
エツクするために、稍大径の先端円錐状に形成さ
れている。また、これらのプロービングピン５，
５，……の下部からは夫々信号線６，６，……が
引き出されてスキヤナー７に接続されている。こ
のアダプタ１でプリント板（図示せず）を試験す
るには、フレーム２の内周に設けられたフランジ
８にプリント板を載置し、スキヤナー７を操作し
てプリント板のスルーホールにプロービングピン
５，５，……を接触せしめ、各スルーホール間の
導通試験や絶縁試験を行う。

また、他の従来例としてのアダプタ９は、第２
図のように、ベース基板１０上に略1.27mmの一定
間隔Paで形成された基本格子１１の各交点にプ
ロービングピン１２，１２，……がマトリクス状
に植設されている。このアダプタ９は、そのスル
ーホールが例えば1.27mm間隔で設けられたプリン
ト板を試験するためのものである。上記プロービ
ングピン１２，１２，……は、フラツトリードタ
イプのIC端子の取付けや中継端子として使用さ
れるスルーホール（ドリル径で0.35mm程度）をチ
エツクするために、前記第一の例の場合に比し稍
小径の先端円錐状に形成されている。

しかしながら上記従来例によるときは、前述し
たように、そのスルーホールが例えば2.54mm間隔
で設けられたプリント板の試験にはアダプタ１を
使用し、そのスルーホールが例えば1.27mm間隔で
設けられたプリント板の試験にはアダプタ９を使
用しなければならなかつた。即ち、格子間隔の異
なるプリント板毎にアダプタ１若しくは９を選択
使用しなければならなかつた。そして、上記不具
合を解消しようとしてアダプタ１の格子間隔４
を、アダプタ９の格子間隔と同様に二分の一の間
隔にし、その交点上に大径のプロービングピン
５，５，……を植設するならば、プロービングピ
ン５，５，……同士が接触したり、或いはこれら
相互の間隔が極めて小さくなつてプロービングピ
ン５，５，……間の絶縁抵抗が低下する等の弊害
が生じてくる。更に、この場合において、上記格
子交点上に小径のプロービングピン１２，１２，
……（アダプタ９に使用のもの）を植設すると、
例えば2.54mm間隔のスルーホールを試験しようと
しても、上記プロービングピン１２，１２，……
が大径のスルーホール内に入つてしまつて首尾よ
く接触することができないこととなる。

(3) 考案の目的 本考案は上記の問題点を解消するためになされ
たもので、大小二種類のプロービングピンをマト
リクス状に配置したプリント板試験用アダプタを
提供することを目的とする。

(4) 考案の構成 そして上記の目的は本考案によれば、プリント
板の特性試験を行うためのプロービングピンをマ
トリクス状に植設したアダプタにおいて、一定間
隔で第一の基本格子を形成すると共に、その格子
交点上に大径のプロービングピンを植設し、更に
前記第一の基本格子と同一平面上でこれと部分的
に重複し上記第一の基本格子と異なる格子間隔を
有する第二の基本格子を混在形成せしめ、前記第
一の格子交点を除く第二の基本格子交点上に小径
のプロービングピンを植設したことを特徴とする
アダプタを提供することによつて達成される。

(5) 考案の実施例 以下、本考案の実施例を添付図面に基いて詳細
に説明する。

第３図は本考案に係るアダプタ１３の概略斜視
図である。ベース基板１４上には例えば2.54mmの
一定間隔で第一の基本格子１５が形成されてい
る。この格子１５の交点上に大径のプロービング
ピン１６，１６，……が植設されている。該プロ
ービングピン１６，１６，……は、第４図の如く
リードタイプのIC端子が挿入される大径のスル
ーホール（ドリル径で0.9mm程度）２０をチエツ
クすることができるように、ケース２１内に装着
されたスプリング（圧縮）２２によつて、図面に
対し上方に弾性付勢されていると共に、先端円錐
状に形成されている。また、再び第３図のよう
に、前記第一の基本格子１５と同一平面上でこれ
と部分的に重複し、かつ該第一の基本格子１５の
格子間隔（例えば2.54mm）の二分の一の間隔
（1.27mm）で第二の基本格子１７が混在形成され
ている。そして前記第一の格子１５の交点を除く
第二の基本格子１７交点上に小径のプロービング
ピン１８，１８，……が植設されている。このプ
ロービングピン１８，１８，……は、前述した第
４図の如く、フラツトリードタイプのIC端子の
取付けや中継端子として使用される小径のスルー
ホール（ドリル径で0.35mm程度）２３をチエツク
することができるように、ケース２１ａ内に装着
されたスプリング（圧縮）２２ａによつて図面に
対し上方に弾性付勢されていると共に、先端円錐
状に形成されている。

次に、上述したアダプタ１３によつて試験され
るプリント板１９は、第５図のように例えば2.54
mm間隔で設けられた大径のスルーホール（IC端
子挿入用）２０，２０，……と、その二分の一の
1.27mm間隔で設けられた小径のスルーホール（フ
ラツトリードIC端子取付用又は中継用）２３，
２３，……とが混在して設けられている。このよ
うに、プリント板１９に用途に応じた二種類のス
ルーホール２０，２３を一定の規則に従つて設け
ておき、これを規格化することでアダプタ１３は
一種類でプリント板１９の試験を行うことができ
る。即ち、アダプタ１３に植設された大小二種類
のプロービングピン１６，１６，……１８，……
のうち大径のプロービングピン１６，１６，……
同士は、隣接することがないため相互の絶縁抵抗
は低下せず、一方、小径のプロービングピン１
８，１８，……が大径のスルーホール２０をチエ
ツクするということもなく何らの不都合も生じな
い。更に、上記のように規格化したプリント板１
９によれば部品実装に際しても何らの不便も生じ
ないし、むしろ設計上のメリツトが期待できる。

尚、このアダプタ１３は、従来の例えば2.54mm
ピツチのプリント板または1.27mmピツチのプリン
ト板にも適用できることは勿論である。即ち、上
記2.54mmピツチのプリント板のチエツク時には、
プロービングピン１６，１６，……のみがプリン
ト板側の大径のスルーホールに接触する。この場
合、他方のプロービングピン１８，１８，……の
存在する位置には、プリント板側のスルーホール
は存在しない。また、1.27mmピツチのプリント板
のチエツク時には、プロービングピン１６，……
１８，……の全てがプリント板側の小径のスルー
ホールに接触する。

(6) 考案の効果 本考案は以上のように構成されたので、大小二
種類のプロービングピン１６，……１８，……を
ベース基板１４上にマトリクス状に配置したこと
により、アダプタ１３は一種類だけでこれに適合
するプリント板１９の特性試験を容易かつ正確に
行うことができる。延いては、スルーホール間隔
が二種類存在したプリント板を一種類に統一する
こともできる。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図は従来のアダプタを示す概
略斜視図、第３図は本考案に係るアダプタの概略
斜視図、第４図はそのＡ−Ａ断面拡大図、第５図
は本考案のアダプタに適合するプリント板の外観
図である。 １３……アダプタ、１４……ベース基板、１５
……第一の基本格子、１６，１８……プロービン
グピン、１７……第二の基本格子、１９……プリ
ント板、２０，２３……スルーホール、２１，２
１ａ……ケース、２２，２２ａ……スプリング
（圧縮）。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. プリント板の特性試験を行うためのプロービン
   グピンをマトリクス状に植設したアダプタにおい
   て、一定間隔で第一の基本格子を形成すると共
   に、その格子交点上に大径のプロービングピンを
   植設し、更に前記第一の基本格子と同一平面上で
   これと部分的に重複し上記第一の基本格子と異な
   る格子間隔を有する第二の基本格子を混在形成せ
   しめ、前記第一の格子交点を除く第二の基本格子
   交点上に小径のプロービングピンを植設したこと
   を特徴とするアダプタ。