JPH0250444A - 半導体装置の樹脂封止金型 - Google Patents

半導体装置の樹脂封止金型

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JPH0250444A
JPH0250444A JP63201257A JP20125788A JPH0250444A JP H0250444 A JPH0250444 A JP H0250444A JP 63201257 A JP63201257 A JP 63201257A JP 20125788 A JP20125788 A JP 20125788A JP H0250444 A JPH0250444 A JP H0250444A
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JP
Japan
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resin
gate
mold
runner
leads
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JP63201257A
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Motoaki Matsuda
元秋 松田
Yoshinari Fukumoto
福本 好成
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NEC Kyushu Ltd
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NEC Kyushu Ltd
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  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置の樹脂封止金型に関する。
〔従来の技術〕
従来、半導体装置の組立工程には、安価であり、量産性
に優れた樹脂封止金型による樹脂材正方法が広く適用さ
れている。
この種の金型は、上部金型と下部金型とが対で組立てら
れている。上部金型には窪みが製作されており、下部金
型にも上部金型の窪みと同一の窪み2が形成され、上部
金型の窪みと下部金型の窪みとでキャビティを形成して
いる。このキャビティに溶融樹脂を注入する注入口であ
るゲートと溶融樹脂を送る湯道であるランナが下部金型
に形成されている。この上部金型と下部金型との間に半
導体チップが搭載されたリードフレームを挟み、溶融樹
脂をメインランナからランナを経てゲートからキャビテ
ィに注入して半導体装置の樹脂封止を完了する。
第2図は従来の第1の例を示すリードフレームを含めた
下部金型の部分平面図、第3図は従来の第2の例を示す
リードフレームを含めた下部金型の部分平面図である。
これらの金型のゲート及びランナの位置及び大きさは半
導体装置の形状及び大きさでそれぞれ異なる0例えば、
第2図に示す金型は、下部金型1の窪み2の角部にゲー
ト7を設け、リードフレーム3のリード5及びタイバー
4にかからないようにランナ6が形成された金型である
。また、第3図に示す金型は、ゲート7を窪みの一辺の
角に接した位置にゲート7の幅を大きく設けて、このゲ
ート7に連なるランナ6がタイバー4及びリードを含む
ように形成された金型である。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した金型では、以下に述べる問題点がある。
まず、前者の金型ではゲート口が大きく出来ないので、
溶融樹脂の注入が円滑に行かなくなり樹脂体に気泡が発
生し易くなるという問題がある。後者の金型では、ゲー
ト口は広くとれるので、溶融樹脂の注入は円滑に出来る
が、リードフレームのリードの表面とか隣接するリード
間に樹脂ばりが付着し、この樹脂ばりを取り除くのに多
大の工数がかかるという問題がある。
本発明の目的は樹脂ばりの少ない、気泡発生のない半導
体装置の樹脂封止金型を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の半導体装置の樹脂封止金型は、一主面上に窪み
を有する上部金型と、一主面上に前記上部金型の窪みと
同形状で前記上部金型の窪みとでなるキャビティ・及び
前記キャビティに溶融樹脂を送るランナ並びにゲートが
設けられている下部金型とからなり、前記上部金型と下
部金型との間にリードフレームを挟んで樹脂封止する半
導体装置の樹脂封止金型において、前記下部金型の四角
形状の前記窪みのいずれかの一角を含み前記一角に連な
るいずれかの辺に跨がって形成された前記ゲートと、前
記ゲートに連なる溝が前記リードフレームのタイバーよ
り内側部分の隣接するリードを含むが、前記タイバーよ
り外側部分の前記リードが延長するリード部分を含むこ
となく形成されてなる前記ランナとを備え構成される。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すリードフレームを含め
た下部金型の部分平面図である。この金型のゲート7は
窪み2の角と窪み2の辺上に跨がって形成されている。
また、ゲート7の幅は溶融樹脂が円滑に注入されるよう
に所定の幅をもっている。このゲート7に連なるランナ
は、ゲート7の幅をもつ溝から始まる。この溝であるラ
ンナ6はタイバー4上で曲ってタイバー4が伸びる方向
にタイバー4上を伸び、再び、タイバー4と連結する最
側端のリード5がはずれた位置で前述の曲り方向と逆方
向に曲る。更に、この溝でなるランナ6はタイバー4の
外側にある最側端のり−ド5を溝内に含まないようにし
てその溝の一方の側壁を最側端のリード5の側面に沿っ
て外方に伸び、他方の溝の側壁は徐々にその溝幅を拡げ
るように伸びてメインランナ(図示せず)に連なる。こ
こで、ランナ6の溝底については、図示されていないが
、従来と同じように、ゲート7とメインランナとの間を
緩やかな傾斜をもたせて円滑な壁面で連なっている。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、下部金型の面にゲートと
ランナをリードフレームのタイバーの外側にあるリード
が位置する面を避けて製作したので、タイバーの外側の
リードに樹脂が付着しない、樹脂体に気泡が生じない半
導体装置の樹脂封止金型が得られるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すリードフレームを含め
た下部金型の部分平面図、第2図は従来の第1の例を示
すリードフレームを含めた下部金型の部分平面図、第3
図は従来の第2の例を示すリードフレームを含めた下部
金型の部分平面図である。 1・・・下部金型、2・・・窪み、3・・・リードフレ
ーム、4・・・タイバー 5・・・リード、6・・・ラ
ンナ、7・・・ゲート。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  一主面上に窪みを有する上部金型と、一主面上に前記
    上部金型の窪みと同形状で前記上部金型の窪みとでなる
    キャビティ及び前記キャビティに溶融樹脂を送るランナ
    並びにゲートが設けられている下部金型とからなり、前
    記上部金型と下部金型との間にリードフレームを挟んで
    樹脂封止する半導体装置の樹脂封止金型において、前記
    下部金型の四角形状の前記窪みのいずれかの一角を含み
    前記一角に連なるいずれかの辺に跨がって形成された前
    記ゲートと、前記ゲートに連なる溝が前記リードフレー
    ムのタイバーより内側部分の隣接するリードを含むが、
    前記タイバーより外側部分の前記リードが延長するリー
    ド部分を含むことなく形成されてなる前記ランナとを備
    えることを特徴とする半導体装置の樹脂封止金型。
JP63201257A 1988-08-12 1988-08-12 半導体装置の樹脂封止金型 Expired - Fee Related JP2664945B2 (ja)

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JP2664945B2 JP2664945B2 (ja) 1997-10-22

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5436835A (en) * 1977-08-25 1979-03-17 Susumu Hirai Quiet jump shoes by installation of coil spring

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5436835A (en) * 1977-08-25 1979-03-17 Susumu Hirai Quiet jump shoes by installation of coil spring

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