JPH0253748B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0253748B2 JPH0253748B2 JP59195289A JP19528984A JPH0253748B2 JP H0253748 B2 JPH0253748 B2 JP H0253748B2 JP 59195289 A JP59195289 A JP 59195289A JP 19528984 A JP19528984 A JP 19528984A JP H0253748 B2 JPH0253748 B2 JP H0253748B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- glass bottle
- defects
- defect
- peaks
- glass
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/045—Analysing solids by imparting shocks to the workpiece and detecting the vibrations or the acoustic waves caused by the shocks
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明はガラス壜に発生するクラツク等の欠陥
を高速度で確実に検査することができるガラス壜
の欠陥検査方法に関するものである。
を高速度で確実に検査することができるガラス壜
の欠陥検査方法に関するものである。
（従来の技術）
ガラス壜にはその製造工程において微細なクラ
ツク等の各種の欠陥が発生することがあり、この
ような欠陥はガラス壜の強度を著しく損うもので
あるために製壜業者は出荷前にガラス壜の全数に
ついて欠陥の有無を検査するのが普通である。一
般的なクラツク等の欠陥検査方法はガラス壜の欠
陥が発生し易い部分に投光器により可視光線、レ
ーザー光線、赤外線等の光線を照射し、クラツク
等の欠陥により反射される反射光を受光器により
検出して欠陥の有無を判別する方法である。（例
えば、特公昭53−25510号公報） （発明が解決しようとする問題点） ところが上記のような光学的な欠陥検査方法
は、ガラス壜の口部や底部ような投受光が行い易
い部分に欠陥がある場合には確実に欠陥を検出す
ることができるが、例えば把手付ウイスキー壜の
ような把手付ガラス壜の把手の内側部分に欠陥が
存在する場合には把手が投光及び受光の障害とな
るためほとんど欠陥を検出することができぬ問題
があつた。従つてかかる部位の欠陥の有無は専ら
作業員の肉眼による検査に頼らざるを得ず、その
検査速度及び検査精度に多くの問題が残されてい
た。
ツク等の各種の欠陥が発生することがあり、この
ような欠陥はガラス壜の強度を著しく損うもので
あるために製壜業者は出荷前にガラス壜の全数に
ついて欠陥の有無を検査するのが普通である。一
般的なクラツク等の欠陥検査方法はガラス壜の欠
陥が発生し易い部分に投光器により可視光線、レ
ーザー光線、赤外線等の光線を照射し、クラツク
等の欠陥により反射される反射光を受光器により
検出して欠陥の有無を判別する方法である。（例
えば、特公昭53−25510号公報） （発明が解決しようとする問題点） ところが上記のような光学的な欠陥検査方法
は、ガラス壜の口部や底部ような投受光が行い易
い部分に欠陥がある場合には確実に欠陥を検出す
ることができるが、例えば把手付ウイスキー壜の
ような把手付ガラス壜の把手の内側部分に欠陥が
存在する場合には把手が投光及び受光の障害とな
るためほとんど欠陥を検出することができぬ問題
があつた。従つてかかる部位の欠陥の有無は専ら
作業員の肉眼による検査に頼らざるを得ず、その
検査速度及び検査精度に多くの問題が残されてい
た。
（問題点を解決するための手段）
本発明はこのような従来の問題点を解消するた
めに完成されたものであり、ガラス壜の所定部分
をハンマー等により軽く打撃し、ガラス壜から生
ずる打音をマイクロフオンで受けてフーリエ変換
によりスペクトル解析を行い、打音に対応する瞬
間的なスペクトル波形を生じさせるとともに、該
スペクトル波形の所定の周波数領域におけるスペ
クトル強度のピークの数を判別してピークの数が
複数である場合に発する不良信号により欠陥の有
無を検査することを特徴とするものである。
めに完成されたものであり、ガラス壜の所定部分
をハンマー等により軽く打撃し、ガラス壜から生
ずる打音をマイクロフオンで受けてフーリエ変換
によりスペクトル解析を行い、打音に対応する瞬
間的なスペクトル波形を生じさせるとともに、該
スペクトル波形の所定の周波数領域におけるスペ
クトル強度のピークの数を判別してピークの数が
複数である場合に発する不良信号により欠陥の有
無を検査することを特徴とするものである。
次に本発明を図示の実施例により詳細に説明す
ると、検査されるガラス壜５０はメツシユベルト
コンベアのような比較的硬質のコンベア１により
トンネル状の防音壁２中を搬送され、この防音壁
２中に設けられたハンマー３によつて欠陥が存在
する確率の高い所定部分、例えば把手付ガラス壜
にあつては把手５１の頂部付近を軽く打撃する。
ハンマー３の近傍の防音壁２の内部にはガラス壜
５０から生ずる打音を受けるマイクロフオン４が
設置されており、打音を増幅器５により増幅した
うえその波形をリアルタイムでフーリエ変換する
ことができる高速フーリエ変換器６で周波数別に
スペクトル解析を行う。スペクトル解析された打
音のスペクトル強度は第２図〜第７図に示すよう
に種々の態様を示すが、所定の周波数領域、例え
ば6KHz〜7KHzに着目すると欠陥の存在しないガ
ラス壜５０の打音は第２図あるいは第３図に示す
ように高いピークが１つしかなく、これに対して
把手の上部にクラツク等の欠陥を持つガラス壜５
０の打音は第４図、第５図に示すように３つの高
いピークを示し、把手の下部にクラツク等の欠陥
を持つガラス壜５０の打音は第６図、第７図に示
すように２〜３の高いピークを持つことが判明し
た。従つてスレツシホールド電圧発生器７により
適当なスレツシホールド電圧を送り、これを越え
るピークの数を演算器８により判別し、ピークの
数が単数の場合には欠陥のないガラス壜とし、欠
陥部における反射によりピークの数が複数となつ
た場合には欠陥を持つガラス壜として不良信号を
生ずるようにすれば確実に欠陥の有無を検査でき
ることとなる。
ると、検査されるガラス壜５０はメツシユベルト
コンベアのような比較的硬質のコンベア１により
トンネル状の防音壁２中を搬送され、この防音壁
２中に設けられたハンマー３によつて欠陥が存在
する確率の高い所定部分、例えば把手付ガラス壜
にあつては把手５１の頂部付近を軽く打撃する。
ハンマー３の近傍の防音壁２の内部にはガラス壜
５０から生ずる打音を受けるマイクロフオン４が
設置されており、打音を増幅器５により増幅した
うえその波形をリアルタイムでフーリエ変換する
ことができる高速フーリエ変換器６で周波数別に
スペクトル解析を行う。スペクトル解析された打
音のスペクトル強度は第２図〜第７図に示すよう
に種々の態様を示すが、所定の周波数領域、例え
ば6KHz〜7KHzに着目すると欠陥の存在しないガ
ラス壜５０の打音は第２図あるいは第３図に示す
ように高いピークが１つしかなく、これに対して
把手の上部にクラツク等の欠陥を持つガラス壜５
０の打音は第４図、第５図に示すように３つの高
いピークを示し、把手の下部にクラツク等の欠陥
を持つガラス壜５０の打音は第６図、第７図に示
すように２〜３の高いピークを持つことが判明し
た。従つてスレツシホールド電圧発生器７により
適当なスレツシホールド電圧を送り、これを越え
るピークの数を演算器８により判別し、ピークの
数が単数の場合には欠陥のないガラス壜とし、欠
陥部における反射によりピークの数が複数となつ
た場合には欠陥を持つガラス壜として不良信号を
生ずるようにすれば確実に欠陥の有無を検査でき
ることとなる。
なお、把手付ウイスキー壜の場合には6KHz〜
7KHzの周波数領域に特徴あるスペクトル波形を
生じたが、この周波数領域はガラス壜の種類によ
つて変動するものであるから、検査すべきガラス
壜の種類が変つた場合には設定しなおす必要があ
る。また、所定の周波数領域におけるピークの数
を判別する方法は必ずしも上述の方法に限られる
ものではなく、高速フーリエ変換器６の出力をデ
イジタル処理してピークの数を判別する等の適宜
の方法を採ることができる。以上の説明は把手付
ガラス壜の欠陥検査について行つたが、本発明は
これに限定されるものではなくその他のガラス壜
に対しても、また把手以外の部分に存在する欠陥
の検査にも適用できることは謂うまでもない。
7KHzの周波数領域に特徴あるスペクトル波形を
生じたが、この周波数領域はガラス壜の種類によ
つて変動するものであるから、検査すべきガラス
壜の種類が変つた場合には設定しなおす必要があ
る。また、所定の周波数領域におけるピークの数
を判別する方法は必ずしも上述の方法に限られる
ものではなく、高速フーリエ変換器６の出力をデ
イジタル処理してピークの数を判別する等の適宜
の方法を採ることができる。以上の説明は把手付
ガラス壜の欠陥検査について行つたが、本発明は
これに限定されるものではなくその他のガラス壜
に対しても、また把手以外の部分に存在する欠陥
の検査にも適用できることは謂うまでもない。
（発明の効果）
本発明は以上の説明からも明らかなように、ガ
ラス壜の所定部分をハンマー等により軽く打撃し
て生ずる打音のスペクトル強度がクラツク等の欠
陥の有無により所定の周波数領域におけるピーク
の数の変化となつて現れることに着目し、ピーク
の数が複数である場合に不良信号を発するように
したものであるから、把手付ガラス壜の把手の内
側部分に存在する欠陥のような従来の光学的な検
査方法によつては検出することができなかつた欠
陥も確実に検出することができる。また、ハンマ
ー等による打撃及び打音のスペクトル解析は極め
て高速度で行うことができ、毎分60〜100本のガ
ラス壜をオンラインで検査することができるので
従来の肉眼による欠陥検査方法に比較して検査速
度を著しく向上させることができる利点もある。
よつて本発明は従来の問題点を一掃したガラス壜
の欠陥検査方法として業界に寄与するところは極
めて大きいものである。
ラス壜の所定部分をハンマー等により軽く打撃し
て生ずる打音のスペクトル強度がクラツク等の欠
陥の有無により所定の周波数領域におけるピーク
の数の変化となつて現れることに着目し、ピーク
の数が複数である場合に不良信号を発するように
したものであるから、把手付ガラス壜の把手の内
側部分に存在する欠陥のような従来の光学的な検
査方法によつては検出することができなかつた欠
陥も確実に検出することができる。また、ハンマ
ー等による打撃及び打音のスペクトル解析は極め
て高速度で行うことができ、毎分60〜100本のガ
ラス壜をオンラインで検査することができるので
従来の肉眼による欠陥検査方法に比較して検査速
度を著しく向上させることができる利点もある。
よつて本発明は従来の問題点を一掃したガラス壜
の欠陥検査方法として業界に寄与するところは極
めて大きいものである。
第１図は本発明の検査方法を示す説明図、第２
図〜第７図は打音の周波数別のスペクトル強度図
であり、第２図及び第３図は欠陥のない場合、第
４図及び第５図は把手の上部に欠陥がある場合、
第６図及び第７図は把手の下部に欠陥がある場合
を示す。 ３……ハンマー、４……マイクロフオン、……
高速フーリエ変換器、５０……ガラス壜。
図〜第７図は打音の周波数別のスペクトル強度図
であり、第２図及び第３図は欠陥のない場合、第
４図及び第５図は把手の上部に欠陥がある場合、
第６図及び第７図は把手の下部に欠陥がある場合
を示す。 ３……ハンマー、４……マイクロフオン、……
高速フーリエ変換器、５０……ガラス壜。
Claims (1)
- １ ガラス壜の所定部分をハンマー等により軽く
打撃し、ガラス壜から生ずる打音をマイクロフオ
ンで受けてフーリエ変換によりスペクトル解析を
行い、打音に対応する瞬間的なスペクトル波形を
生じさせるとともに、該スペクトル波形の所定の
周波数領域におけるスペクトル強度のピークの数
を判別してピークの数が複数である場合に発する
不良信号により欠陥の有無を検査することを特徴
とするガラス壜の欠陥検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59195289A JPS6173063A (ja) | 1984-09-18 | 1984-09-18 | ガラス壜の欠陥検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59195289A JPS6173063A (ja) | 1984-09-18 | 1984-09-18 | ガラス壜の欠陥検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6173063A JPS6173063A (ja) | 1986-04-15 |
| JPH0253748B2 true JPH0253748B2 (ja) | 1990-11-19 |
Family
ID=16338672
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59195289A Granted JPS6173063A (ja) | 1984-09-18 | 1984-09-18 | ガラス壜の欠陥検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6173063A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2683910A1 (fr) * | 1991-11-15 | 1993-05-21 | Commissariat Energie Atomique | Appareil de mesure des caracteristiques elastiques de materiaux. |
| JPH06117467A (ja) * | 1992-09-30 | 1994-04-26 | Nissin Kogyo Kk | ブレーキパッドの異常判定方法とその装置 |
| ES2547360B1 (es) * | 2014-04-02 | 2016-05-26 | Saint-Gobain Vicasa S A | Sistema de control automático vibro-acústico para identificación de envases de vidrio defectuosos |
| EP3177914B1 (en) | 2014-08-08 | 2024-10-30 | Sanofi-Aventis Deutschland GmbH | Method and system for acoustically testing the mechanical integrity of a cartridge |
| FR3026187A1 (fr) * | 2014-09-19 | 2016-03-25 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de caracterisation d'un objet en deplacement |
| CN106198747A (zh) * | 2016-06-21 | 2016-12-07 | 长安大学 | 一种测定墙体上的瓷砖是否有掉落危险的方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5273084A (en) * | 1975-12-13 | 1977-06-18 | Shibuya Kogyo Co Ltd | Damaged bottle detector |
| JPS58223744A (ja) * | 1982-06-23 | 1983-12-26 | Hitachi Ltd | 異物検出装置 |
-
1984
- 1984-09-18 JP JP59195289A patent/JPS6173063A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6173063A (ja) | 1986-04-15 |
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