JPH0253784B2 - - Google Patents
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- JPH0253784B2 JPH0253784B2 JP54171353A JP17135379A JPH0253784B2 JP H0253784 B2 JPH0253784 B2 JP H0253784B2 JP 54171353 A JP54171353 A JP 54171353A JP 17135379 A JP17135379 A JP 17135379A JP H0253784 B2 JPH0253784 B2 JP H0253784B2
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Description
本発明は記録体に画像を形成する画像形成装置
に関する。 従来より、記録体上の潜像電位を検出して検出
信号により装置を制御する方式が種々提案されて
いる。この電位制御をデイジタルコンピユータに
より処理することは制御の安定性及び信頼性の向
上の上で非常に有効である。しかしながらシーケ
ンス制御用のマイクロコンピユータに電位制御機
能を付加した場合、マイクロコンピユータの負荷
が増大し、高速で信頼度の高い処理ができなかつ
たり、又他の機能を低下させることになつてしま
う。 本発明は上記点に鑑みてなされたもので、その
目的とするところは、デイジタルコンピユータに
より動作制御する際に、他の機能を低下させるこ
となく、高速で信頼性の高い制御を行うことが可
能な画像形成装置を提供することにある。 即ち本発明は、感光体に画像を形成する複数の
プロセス手段より成る画像形成手段、前記感光体
の表面電位を検出する検出手段、前記検出手段に
よる前記感光体の表面電位の検出工程と、前記検
出工程において検出された表面電位に基づいて前
記複数のプロセス手段の中の特定のプロセス手段
の出力を制御する制御工程とを含むプログラムを
備え、前記プログラムを実行することにより前記
感光体の表面電位を適正化する第１デイジタルコ
ンピユータ、前記画像形成手段をシーケンス制御
するものであつて、更に前記第１デイジタルコン
ピユータに対し前記感光体の表面電位の検出を指
令するためのタイミング信号を出力する第２デイ
ジタルコンピユータ、を有し、前記第１デイジタ
ルコンピユータは、前記第２デイジタルコンピユ
ータからリセツト信号が入力することによりイニ
シヤライズを行い、更に前記イニシヤライズ後前
記第２デイジタルコンピユータから前記タイミン
グ信号が入力したことを判別すると、その後前記
第２デイジタルコンピユータによるシーケンス制
御とは独立に前記検出工程と前記制御工程とを実
行することを特徴とする画像形成装置を提供する
ものである。 以下本発明の実施例を図面に従い説明する。第
１図ａは本発明を適用し得る複写装置の断面図で
ある。 ドラム４７の表面は、CdS光導電体を用いた三
層構成のシームレス感光体より成り、軸上に回動
可能に軸支され、コピーキーのオンにより作動す
るメインモータ７１により矢印の方向に回転を開
始する。 ドラム４７が所定角度回転すると、原稿台ガラ
ス５４上に置かれた原稿は、第１走査ミラー４４
と一体に構成された照明ランプ４６で照射され、
その反射光は、第１走査ミラー４４及び第２走査
ミラー５３で走査される。第１走査ミラー４４と
第２走査ミラー５３は：1/2の速比で動くことに
よりレンズ５２の前方の光路長が常に一定に保た
れたまま原稿の走査が行なわれる。 上記の反射光像はレンズ５２、第３ミラー５５
を経た後、露光部で、ドラム４７上に結像する。 ドラム４７は、前露光ランプ５０と前AC帯電
器５１′により同時除電され、その後一次帯電器
５１によりコロナ帯電（例えば＋）される。その
後ドラム４７は前記露光部で、照明ランプ４６に
より照射された像がスリツト露光される。 それと同時に、AC又は一次と逆極性（例えば
−）のコロナ除電を除電器６９で行ない、その後
更に全面露光ランプ１８による表面均一露光によ
り、ドラム４７上に高コントラストの静電潜像を
形成する。感光ドラム４７上の静電潜像は、次に
現像器６２の現像ローラ６５により、液体現像さ
れトナー像として可視化され、トナー像は前転写
帯電器６１により転写易しくされる。 上段カセツト１０、もしくは下段カセツト１１
内の転写紙は、給紙ローラ５９により機内に送ら
れ、レジスタローラ６０で正確なタイミングをと
つて、感光ドラム４７方向に送られ、潜像先端と
紙の先端とを転写部で一致させることができる。 次いで、転写帯電器４２とドラム４７の間を転
写紙が通る間に転写紙上にドラム４７上のトナー
像が転写される。 転写終了後、転写紙は分離ローラ４３によりド
ラム４７より分離され、搬送ローラ４１に送ら
れ、熱板３８と押えローラ４０，４１との間に導
かれて、加圧、加熱により定着され、その後排出
ローラ３７により紙検出用ローラ３６を介してト
レー３４へ排出される。 又、転写後のドラム４７は回転続行しクリーニ
ングローラ４８を弾性ブレード４９で構成された
クリーニング装置で、その表面を清掃し、次サイ
クルへ進む。 ここで表面電位を測定する表面電位計６７は全
面露光ランプ１８と現像器６２の間のドラム４７
の表面に近接して取付けられている。 上記コピーサイクルに先立つて実行するサイク
ルとして、電源スイツチ投入後ドラム４７を停止
したままクリーニングブレード４９に現像液を注
ぐステツプがある。以下プリウエツトと称す。こ
れはクリーニングブレード４９付近に蓄積してい
るトナーを流し出すとともに、ブレード４９とド
ラム４７の接触面に潤滑を与えるためである。又
プリウエツト時間（４秒）後ドラム４７を回転さ
せ前露光ランプ５０や前AC除電器５１′等により
ドラム４７の残留電荷やメモリを消去し、ドラム
表面をクリーニングローラ４８、クリーニングブ
レード４９によりクリーニングするステツプがあ
る。以下前回転と称す。これはドラム４７の感度
を適正にするとともにクリーンな面に像形成する
ためである。上記プリウエツトの時間、前回転の
時間（数）は種々の条件により自動的に変化する
（後述）。 又セツトされた数のコピーサイクルが終了した
後のサイクルとして、ドラム４７を数回転させ
AC帯電器６９等によりドラムの残留電荷やメモ
リを除去し、ドラム表面をクリーニングするステ
ツプがある。以下後回転LSTRと称す。これはド
ラム４７を静電的、物理的にクリーンにして放置
するためである。 以上説明した様に本発明によれば、シーケンス
制御用のデイジタルコンピユータから複数のタイ
ミング信号を出力するだけで、画像形成条件適正
化用のデイジタルコンピユータのイニシヤライズ
及び適正化制御を実行するので、高速処理が可能
となり、シーケンス制御用のデイジタルコンピユ
ータの負荷を軽減でき、他の機能を低下させるこ
とがない。又、シーケンスに合つた適正なタイミ
ングで画像形成条件適正化用のデイジタルコンピ
ユータのイニシヤライズ及び適正化制御の実行が
行えるので信頼性が向上する。 第１図ｂは第１図のブランク露光ランプ７０付
近の平面図である。ブランク露光ランプ７０−１
〜７０−５は、ドラム回転中で露光時以外のとき
点灯させ、表面電荷を消去して、余分なトナーが
ドラムに付着するのを防止している。ただし、ブ
ランク露光ランプ７０−１は表面電位計６７に対
応するドラム面を照射するので、表面電位計６７
で暗部電位を測定するとき一瞬消している。また
Ｂサイズのコピーでは、画像領域がA4やA3サイ
ズにくらべ小さくなるので非画像領域に対し、ブ
ランク露光ランプ７０−５を光学系前進中でも点
灯させる。ランプ７０−０はシヤープカツトラン
プと称するもので、分離ガイド板４３−１と接触
しているドラム部分に、光を照射し、その部分の
電荷を完全に消去して、トナーの付着を防ぎ、分
離欠け幅分を汚さぬようにしている。このシヤー
プカツトランプはドラム回転中、常時点灯してい
る。 この様な電子写真複写装置の複写プロセスの各
処理位置において、原稿の明部（光の反射が多い
部分）と暗部（光の反射が少ない部分）に対応す
る感光ドラムの表面電位がどのように変化するか
を第２図に示す。最終的な静電潜像として必要な
のは図中Ｃ点に於ける表面電位であるが、そこで
の暗部と明部の表面電位イ，ロは感光ドラム４７
の周囲温度が上昇した場合、第３図イ′，ロ′の如
く変化し、又感光ドラム４７の経年変化に対して
も第４図イ′，ロ′の如く変化し、暗部と明部のコ
ントラストが得られなくなる。 斯かる温度変化或は経年変化に伴う表面電位の
変化を補償する方法を以下に詳述する。 まず表面電位を検出する検出手段としての表面
電位計について説明する。 第５図は表面電位計の側断面図、第６図は第５
図のＸ−X′線で切断して図面の右側をみた断面
図、第７図は第５図のＸ−X′線で切断して図面
の左側をみた断面図、第８図は電位計の斜視図で
ある。 第５，６，７，８図に於いて、電位計全体は、
外部電賀界の影響を除くために金属のシールド部
材８１及び金属の基台９５でおおわれる。 シールド部材８１には、測定窓８８の開口があ
り、該測定窓８８をドラム４７の被測定部に対向
させて電位を測定する。 基台９５には、音叉８２が電気的に導通状態で
取付けられており、駆動圧電素子８４−１及び帰
還用圧電素子８４−２に第１３図の駆動回路を接
続して、電源端子に直流電圧を印加すると音叉８
２の機械的な共振周波数で自励振動を行なう。音
叉の振動片の１方の先端はチヨツパー電極８３を
構成しており、音叉の振動により測定窓８８を一
定周期で開閉するような動きを行なう。チヨツパ
ー電極の奥側には、プリント基板８６が固定さ
れ、測定窓側と対向する位置に窓と同形状の測定
電極８５が、プリント板の銅箔パターンによつて
形成されている。 感光ドラム４７の表面電荷に基く電気力線は、
測定窓８８を通つて測定電極８５に入いるが、測
定窓８８と測定電極の間に位置するチヨツパー電
極８３が音叉８２の振動によつて、この電気力線
を鎖交して切るようになり、測定電極に感光ドラ
ム４７上の表面電位とチヨツパー電極（シールド
部材電位と同電位）の差電圧に比例した振幅を持
つ交流電圧を誘起する。 該交流信号はプリント板８６に組込まれたソー
スフオロワーで構成される電流増幅回路（第１５
図）で低インピーダンス信号に変換されたのち、
電位計の出力として外部に取出される。 第８図Ａの８９は音叉駆動部８４の駆動信号が
測定電極８５へ誘導するのを防ぐための内部のシ
ールド部材である。 音叉８２の振動片の支点側に第１３図に示すよ
うに圧電素子８４−１，８４−２がそれぞれ長さ
方向の相対する位置に導電性の接着剤で接着され
る。 ８４−１，８４−２は厚み方向に電界を印加す
ると面方向の歪みを発生する圧電素子で第８図Ｂ
のように電極９９ではさまれ、そして例えばリン
青銅の如き弾性金属より成る音叉８２の振動片に
導電性の接着剤９８で固定されると、振動片と一
体でユニモルフ振動子を構成し、圧電素子の形状
が振動片の長さ方向に細長くなつているので厚み
方向に電界を印加すると、振動片の長さ方向に歪
みを生じる。音叉の駆動については後述する。 電位計の複写機本体への取付は、支持基台９５
を基板９７に固定し、このプリント基板を基板用
コネクター９４及び基板ガイド８７とで本体に支
持している。 プリント基板６７のコネクタ挿入側は、コネク
タ接触用端子部が銅箔で構成され、電位計への電
源の供給及び出力信号の取り出しを行なつてお
り、簡単に電位計を抜き出しできるようになつて
いる。 以上の如く圧電素子で音叉を駆動することによ
り、従来提案されてきたモータ駆動による電気力
線の断続に比べ、高精度の小型モータを必要とし
ない為、コストの低下を招来し、又、装置の小型
化が可能となりしかも圧電素子の共振周波数は一
定であるので高精度の検出及び検出による装置制
御が可能となる。 次に表面電位制御方式について概要を説明す
る。 本実施例に於いては明部及び暗部のドラム表面
電位を検出する為に第１図の原稿照明用ランプ４
６を用いないでブランク露光ランプ７０を用い
る。前記ブランク露光ランプ７０の光を照射した
ドラム表面の部分の表面電位を明部表面電位とし
て測定し、前記ブランク露光ランプの光を照射し
ないドラム表面の部分の表面電位を暗部表面電位
として測定する。 まず適正な画像コントラストを得ることができ
る明部電位と暗部電位の値を目標値として設定す
る。本実施例に於いては目標明部電位VL0を−
102V、目標暗部電位VD0を＋474Vに設定した。
本実施例では一次帯電器及びAC除電器に流す電
流を制御して表面電位を制御しているので、明部
電位及び暗部電位が各々前記目標電位VL0、VD0
となるようにプラス帯電器基準電流DC1、AC帯
電器基準電位AC1を仮定している。 本実施例では、 DC1＝350μA AC1＝160μAとしている。 制御手順を説明する。 まず第１回目に検出した表面電位を各々明部電
位VL1及び暗部電位VD1としてそれぞれ目標明部
電位VL0、目標暗部電位VD0との差がどれだけあ
るか判断する。差電圧をそれぞれ△VL1、△VD1
とすると、 △VL1＝VL0−VL1 (1) △VD1＝VD0−VD1 (2) 明部電位の差の補正はAC帯電器で、暗部電位
の差の補正は１次帯電器で行なわれるが、実際に
はAC帯電器を制御すると明部電位のみならず暗
部電位も影響を受ける。同様に１次帯電器を制御
すると暗部電位のみならず明部電位も影響を受け
るのでAC帯電器及び１次帯電器の両方を考慮し
た修正方式を採用した。 １次帯電器の補正電流値△DC1は、 △DC1＝α1・△VD1＋α2・△VL1 (3) となる。 ここで設定係数α1及びα2は表面電位VD、VLを
それぞれ変化させた場合の１次帯電器の電流値の
変化であり次のように表わせる。 α1＝△DC（１次帯電器電流の変化）／△VD（暗部電位
の変化(4) α2＝△DC（１次帯電器電流の変化）／△VL（明部電位
の変化(5) 一方、AC帯電器の補正電流値△IAc1は、 △AC＝β・△VD1＋β2・△VL1 (6) ここで設定係数β1及びβ2は次のように表わせ
る。 β1＝△AC（AC帯電器電流の変化）／△VD（暗部電位の
変化）(7) β2＝△AC（AC帯電器電流の変化）／△VL（明部電位の
変化）(8) 従つて第１回の補正後のプラス帯電器電流DC2
及びAC帯電器電流AC2は以下の如く表わされる。 (4)(5)(1)式より、 同様にDC2＝α1・△VD1＋α2・△VL1＋DC1 AC2＝β1・△VD1＋β2・△VL1＋AC1 (9) (10) ここで設定係数α1、α2、β1、β2は所定の帯電条
件例えば雰囲気の温度、湿度、コロナ帯電器の状
態等で決定されたものであるので雰囲気の変化、
帯電器の劣化等により表面電位が一回の制御によ
り目標値に達するかどうかわからないので装置が
所定状態の時複数回表面電位を測定してコロナ放
電装置の出力の制御も測定と同数回行なつてい
る。 又、係数α1，α2，β1，β2は感光ドラム等のバラ
ツキによつて、望ましい係数値がかわるので、各
係数についての４つの値から選択可能としてい
る。第２回目以降の修正も前述した第１回目の修
正と同様の方法を用いているので第ｎ回目の修正
後のプラス帯電器とAC帯電器の電流値DC（ｎ＋
１）、AC（ｎ＋１）は以下の様に表わせる。 DC（ｎ＋１）＝α1・△VDｎ＋α2・△VLｎ＋DCn AC（ｎ＋１）＝β1・△VDｎ＋β2・△VLｎ＋ACn 第９図ａ，ｂに１次帯電器制御電流Ipを３回修
正した場合の暗部電位の変化を示している。第９
図ａは設定の較正係数が実際の係数よりも小さか
つた場合、第９図ｂは設定の較正係数が実際の係
数よりも大きかつた場合を示している。 本実施例に於いては修正回数を下表のように設
定した。
に関する。 従来より、記録体上の潜像電位を検出して検出
信号により装置を制御する方式が種々提案されて
いる。この電位制御をデイジタルコンピユータに
より処理することは制御の安定性及び信頼性の向
上の上で非常に有効である。しかしながらシーケ
ンス制御用のマイクロコンピユータに電位制御機
能を付加した場合、マイクロコンピユータの負荷
が増大し、高速で信頼度の高い処理ができなかつ
たり、又他の機能を低下させることになつてしま
う。 本発明は上記点に鑑みてなされたもので、その
目的とするところは、デイジタルコンピユータに
より動作制御する際に、他の機能を低下させるこ
となく、高速で信頼性の高い制御を行うことが可
能な画像形成装置を提供することにある。 即ち本発明は、感光体に画像を形成する複数の
プロセス手段より成る画像形成手段、前記感光体
の表面電位を検出する検出手段、前記検出手段に
よる前記感光体の表面電位の検出工程と、前記検
出工程において検出された表面電位に基づいて前
記複数のプロセス手段の中の特定のプロセス手段
の出力を制御する制御工程とを含むプログラムを
備え、前記プログラムを実行することにより前記
感光体の表面電位を適正化する第１デイジタルコ
ンピユータ、前記画像形成手段をシーケンス制御
するものであつて、更に前記第１デイジタルコン
ピユータに対し前記感光体の表面電位の検出を指
令するためのタイミング信号を出力する第２デイ
ジタルコンピユータ、を有し、前記第１デイジタ
ルコンピユータは、前記第２デイジタルコンピユ
ータからリセツト信号が入力することによりイニ
シヤライズを行い、更に前記イニシヤライズ後前
記第２デイジタルコンピユータから前記タイミン
グ信号が入力したことを判別すると、その後前記
第２デイジタルコンピユータによるシーケンス制
御とは独立に前記検出工程と前記制御工程とを実
行することを特徴とする画像形成装置を提供する
ものである。 以下本発明の実施例を図面に従い説明する。第
１図ａは本発明を適用し得る複写装置の断面図で
ある。 ドラム４７の表面は、CdS光導電体を用いた三
層構成のシームレス感光体より成り、軸上に回動
可能に軸支され、コピーキーのオンにより作動す
るメインモータ７１により矢印の方向に回転を開
始する。 ドラム４７が所定角度回転すると、原稿台ガラ
ス５４上に置かれた原稿は、第１走査ミラー４４
と一体に構成された照明ランプ４６で照射され、
その反射光は、第１走査ミラー４４及び第２走査
ミラー５３で走査される。第１走査ミラー４４と
第２走査ミラー５３は：1/2の速比で動くことに
よりレンズ５２の前方の光路長が常に一定に保た
れたまま原稿の走査が行なわれる。 上記の反射光像はレンズ５２、第３ミラー５５
を経た後、露光部で、ドラム４７上に結像する。 ドラム４７は、前露光ランプ５０と前AC帯電
器５１′により同時除電され、その後一次帯電器
５１によりコロナ帯電（例えば＋）される。その
後ドラム４７は前記露光部で、照明ランプ４６に
より照射された像がスリツト露光される。 それと同時に、AC又は一次と逆極性（例えば
−）のコロナ除電を除電器６９で行ない、その後
更に全面露光ランプ１８による表面均一露光によ
り、ドラム４７上に高コントラストの静電潜像を
形成する。感光ドラム４７上の静電潜像は、次に
現像器６２の現像ローラ６５により、液体現像さ
れトナー像として可視化され、トナー像は前転写
帯電器６１により転写易しくされる。 上段カセツト１０、もしくは下段カセツト１１
内の転写紙は、給紙ローラ５９により機内に送ら
れ、レジスタローラ６０で正確なタイミングをと
つて、感光ドラム４７方向に送られ、潜像先端と
紙の先端とを転写部で一致させることができる。 次いで、転写帯電器４２とドラム４７の間を転
写紙が通る間に転写紙上にドラム４７上のトナー
像が転写される。 転写終了後、転写紙は分離ローラ４３によりド
ラム４７より分離され、搬送ローラ４１に送ら
れ、熱板３８と押えローラ４０，４１との間に導
かれて、加圧、加熱により定着され、その後排出
ローラ３７により紙検出用ローラ３６を介してト
レー３４へ排出される。 又、転写後のドラム４７は回転続行しクリーニ
ングローラ４８を弾性ブレード４９で構成された
クリーニング装置で、その表面を清掃し、次サイ
クルへ進む。 ここで表面電位を測定する表面電位計６７は全
面露光ランプ１８と現像器６２の間のドラム４７
の表面に近接して取付けられている。 上記コピーサイクルに先立つて実行するサイク
ルとして、電源スイツチ投入後ドラム４７を停止
したままクリーニングブレード４９に現像液を注
ぐステツプがある。以下プリウエツトと称す。こ
れはクリーニングブレード４９付近に蓄積してい
るトナーを流し出すとともに、ブレード４９とド
ラム４７の接触面に潤滑を与えるためである。又
プリウエツト時間（４秒）後ドラム４７を回転さ
せ前露光ランプ５０や前AC除電器５１′等により
ドラム４７の残留電荷やメモリを消去し、ドラム
表面をクリーニングローラ４８、クリーニングブ
レード４９によりクリーニングするステツプがあ
る。以下前回転と称す。これはドラム４７の感度
を適正にするとともにクリーンな面に像形成する
ためである。上記プリウエツトの時間、前回転の
時間（数）は種々の条件により自動的に変化する
（後述）。 又セツトされた数のコピーサイクルが終了した
後のサイクルとして、ドラム４７を数回転させ
AC帯電器６９等によりドラムの残留電荷やメモ
リを除去し、ドラム表面をクリーニングするステ
ツプがある。以下後回転LSTRと称す。これはド
ラム４７を静電的、物理的にクリーンにして放置
するためである。 以上説明した様に本発明によれば、シーケンス
制御用のデイジタルコンピユータから複数のタイ
ミング信号を出力するだけで、画像形成条件適正
化用のデイジタルコンピユータのイニシヤライズ
及び適正化制御を実行するので、高速処理が可能
となり、シーケンス制御用のデイジタルコンピユ
ータの負荷を軽減でき、他の機能を低下させるこ
とがない。又、シーケンスに合つた適正なタイミ
ングで画像形成条件適正化用のデイジタルコンピ
ユータのイニシヤライズ及び適正化制御の実行が
行えるので信頼性が向上する。 第１図ｂは第１図のブランク露光ランプ７０付
近の平面図である。ブランク露光ランプ７０−１
〜７０−５は、ドラム回転中で露光時以外のとき
点灯させ、表面電荷を消去して、余分なトナーが
ドラムに付着するのを防止している。ただし、ブ
ランク露光ランプ７０−１は表面電位計６７に対
応するドラム面を照射するので、表面電位計６７
で暗部電位を測定するとき一瞬消している。また
Ｂサイズのコピーでは、画像領域がA4やA3サイ
ズにくらべ小さくなるので非画像領域に対し、ブ
ランク露光ランプ７０−５を光学系前進中でも点
灯させる。ランプ７０−０はシヤープカツトラン
プと称するもので、分離ガイド板４３−１と接触
しているドラム部分に、光を照射し、その部分の
電荷を完全に消去して、トナーの付着を防ぎ、分
離欠け幅分を汚さぬようにしている。このシヤー
プカツトランプはドラム回転中、常時点灯してい
る。 この様な電子写真複写装置の複写プロセスの各
処理位置において、原稿の明部（光の反射が多い
部分）と暗部（光の反射が少ない部分）に対応す
る感光ドラムの表面電位がどのように変化するか
を第２図に示す。最終的な静電潜像として必要な
のは図中Ｃ点に於ける表面電位であるが、そこで
の暗部と明部の表面電位イ，ロは感光ドラム４７
の周囲温度が上昇した場合、第３図イ′，ロ′の如
く変化し、又感光ドラム４７の経年変化に対して
も第４図イ′，ロ′の如く変化し、暗部と明部のコ
ントラストが得られなくなる。 斯かる温度変化或は経年変化に伴う表面電位の
変化を補償する方法を以下に詳述する。 まず表面電位を検出する検出手段としての表面
電位計について説明する。 第５図は表面電位計の側断面図、第６図は第５
図のＸ−X′線で切断して図面の右側をみた断面
図、第７図は第５図のＸ−X′線で切断して図面
の左側をみた断面図、第８図は電位計の斜視図で
ある。 第５，６，７，８図に於いて、電位計全体は、
外部電賀界の影響を除くために金属のシールド部
材８１及び金属の基台９５でおおわれる。 シールド部材８１には、測定窓８８の開口があ
り、該測定窓８８をドラム４７の被測定部に対向
させて電位を測定する。 基台９５には、音叉８２が電気的に導通状態で
取付けられており、駆動圧電素子８４−１及び帰
還用圧電素子８４−２に第１３図の駆動回路を接
続して、電源端子に直流電圧を印加すると音叉８
２の機械的な共振周波数で自励振動を行なう。音
叉の振動片の１方の先端はチヨツパー電極８３を
構成しており、音叉の振動により測定窓８８を一
定周期で開閉するような動きを行なう。チヨツパ
ー電極の奥側には、プリント基板８６が固定さ
れ、測定窓側と対向する位置に窓と同形状の測定
電極８５が、プリント板の銅箔パターンによつて
形成されている。 感光ドラム４７の表面電荷に基く電気力線は、
測定窓８８を通つて測定電極８５に入いるが、測
定窓８８と測定電極の間に位置するチヨツパー電
極８３が音叉８２の振動によつて、この電気力線
を鎖交して切るようになり、測定電極に感光ドラ
ム４７上の表面電位とチヨツパー電極（シールド
部材電位と同電位）の差電圧に比例した振幅を持
つ交流電圧を誘起する。 該交流信号はプリント板８６に組込まれたソー
スフオロワーで構成される電流増幅回路（第１５
図）で低インピーダンス信号に変換されたのち、
電位計の出力として外部に取出される。 第８図Ａの８９は音叉駆動部８４の駆動信号が
測定電極８５へ誘導するのを防ぐための内部のシ
ールド部材である。 音叉８２の振動片の支点側に第１３図に示すよ
うに圧電素子８４−１，８４−２がそれぞれ長さ
方向の相対する位置に導電性の接着剤で接着され
る。 ８４−１，８４−２は厚み方向に電界を印加す
ると面方向の歪みを発生する圧電素子で第８図Ｂ
のように電極９９ではさまれ、そして例えばリン
青銅の如き弾性金属より成る音叉８２の振動片に
導電性の接着剤９８で固定されると、振動片と一
体でユニモルフ振動子を構成し、圧電素子の形状
が振動片の長さ方向に細長くなつているので厚み
方向に電界を印加すると、振動片の長さ方向に歪
みを生じる。音叉の駆動については後述する。 電位計の複写機本体への取付は、支持基台９５
を基板９７に固定し、このプリント基板を基板用
コネクター９４及び基板ガイド８７とで本体に支
持している。 プリント基板６７のコネクタ挿入側は、コネク
タ接触用端子部が銅箔で構成され、電位計への電
源の供給及び出力信号の取り出しを行なつてお
り、簡単に電位計を抜き出しできるようになつて
いる。 以上の如く圧電素子で音叉を駆動することによ
り、従来提案されてきたモータ駆動による電気力
線の断続に比べ、高精度の小型モータを必要とし
ない為、コストの低下を招来し、又、装置の小型
化が可能となりしかも圧電素子の共振周波数は一
定であるので高精度の検出及び検出による装置制
御が可能となる。 次に表面電位制御方式について概要を説明す
る。 本実施例に於いては明部及び暗部のドラム表面
電位を検出する為に第１図の原稿照明用ランプ４
６を用いないでブランク露光ランプ７０を用い
る。前記ブランク露光ランプ７０の光を照射した
ドラム表面の部分の表面電位を明部表面電位とし
て測定し、前記ブランク露光ランプの光を照射し
ないドラム表面の部分の表面電位を暗部表面電位
として測定する。 まず適正な画像コントラストを得ることができ
る明部電位と暗部電位の値を目標値として設定す
る。本実施例に於いては目標明部電位VL0を−
102V、目標暗部電位VD0を＋474Vに設定した。
本実施例では一次帯電器及びAC除電器に流す電
流を制御して表面電位を制御しているので、明部
電位及び暗部電位が各々前記目標電位VL0、VD0
となるようにプラス帯電器基準電流DC1、AC帯
電器基準電位AC1を仮定している。 本実施例では、 DC1＝350μA AC1＝160μAとしている。 制御手順を説明する。 まず第１回目に検出した表面電位を各々明部電
位VL1及び暗部電位VD1としてそれぞれ目標明部
電位VL0、目標暗部電位VD0との差がどれだけあ
るか判断する。差電圧をそれぞれ△VL1、△VD1
とすると、 △VL1＝VL0−VL1 (1) △VD1＝VD0−VD1 (2) 明部電位の差の補正はAC帯電器で、暗部電位
の差の補正は１次帯電器で行なわれるが、実際に
はAC帯電器を制御すると明部電位のみならず暗
部電位も影響を受ける。同様に１次帯電器を制御
すると暗部電位のみならず明部電位も影響を受け
るのでAC帯電器及び１次帯電器の両方を考慮し
た修正方式を採用した。 １次帯電器の補正電流値△DC1は、 △DC1＝α1・△VD1＋α2・△VL1 (3) となる。 ここで設定係数α1及びα2は表面電位VD、VLを
それぞれ変化させた場合の１次帯電器の電流値の
変化であり次のように表わせる。 α1＝△DC（１次帯電器電流の変化）／△VD（暗部電位
の変化(4) α2＝△DC（１次帯電器電流の変化）／△VL（明部電位
の変化(5) 一方、AC帯電器の補正電流値△IAc1は、 △AC＝β・△VD1＋β2・△VL1 (6) ここで設定係数β1及びβ2は次のように表わせ
る。 β1＝△AC（AC帯電器電流の変化）／△VD（暗部電位の
変化）(7) β2＝△AC（AC帯電器電流の変化）／△VL（明部電位の
変化）(8) 従つて第１回の補正後のプラス帯電器電流DC2
及びAC帯電器電流AC2は以下の如く表わされる。 (4)(5)(1)式より、 同様にDC2＝α1・△VD1＋α2・△VL1＋DC1 AC2＝β1・△VD1＋β2・△VL1＋AC1 (9) (10) ここで設定係数α1、α2、β1、β2は所定の帯電条
件例えば雰囲気の温度、湿度、コロナ帯電器の状
態等で決定されたものであるので雰囲気の変化、
帯電器の劣化等により表面電位が一回の制御によ
り目標値に達するかどうかわからないので装置が
所定状態の時複数回表面電位を測定してコロナ放
電装置の出力の制御も測定と同数回行なつてい
る。 又、係数α1，α2，β1，β2は感光ドラム等のバラ
ツキによつて、望ましい係数値がかわるので、各
係数についての４つの値から選択可能としてい
る。第２回目以降の修正も前述した第１回目の修
正と同様の方法を用いているので第ｎ回目の修正
後のプラス帯電器とAC帯電器の電流値DC（ｎ＋
１）、AC（ｎ＋１）は以下の様に表わせる。 DC（ｎ＋１）＝α1・△VDｎ＋α2・△VLｎ＋DCn AC（ｎ＋１）＝β1・△VDｎ＋β2・△VLｎ＋ACn 第９図ａ，ｂに１次帯電器制御電流Ipを３回修
正した場合の暗部電位の変化を示している。第９
図ａは設定の較正係数が実際の係数よりも小さか
つた場合、第９図ｂは設定の較正係数が実際の係
数よりも大きかつた場合を示している。 本実施例に於いては修正回数を下表のように設
定した。
【表】
この様に設定することにより感光体上の表面電
位をより安定化させると同時にコピースピードの
低下を最小限におさえることが可能となる。 又状態１では一次帯電器区AC帯電器の前回の
制御出力電流値を記憶しておいてその値により一
次帯電器とAC帯電器を制御しており、状態２で
は前回の制御出力電流を感光体に流して表面電位
を検出し制御している。 しかし、状態３及び状態４では第１回目の修正
の測定の際には感光体には前記基準電流DC1、
AC1を流す。つまり状態３及び状態４では前回の
コピーの時の制御電流をリセツトし基準電流を戻
して表面電位を測定し出力電流の制御を行なう。
又、30秒以上の放置時間が１度もはいらずに連続
して30分コピー動作が行なわれた場合30分経過し
た際１回の修正を行なう。 本実施例に於いては更に現像バイアス電圧の制
御を行なつている。第１０図ａに説明の為の略断
面図を示す。 これは以下の方法で行なう。原稿露光の直前に
原稿台ガラス５４のわきに取り付けた標準白色板
８０を原稿露光用のハロゲンランプ４６で照射
し、その散乱反射光をミラー４４，５３，５５及
びレンズ５２等を介してドラム４７に照射する。
この照射光量は標準光量とし、その後ランプ８１
が移動して実際に原稿を露光する際の露光量はオ
ペレータが任意に設定した露光量に変更される。
表面電位計６７は、ドラム４７の前記散乱反射光
が照射された部分の表面電位vLを測定し、前記測
定値vLにプラス102V加えた電圧を現像バイアス
電圧VHとする。 現像バイアス電圧VHによりトナーの電位は前
記バイアス電圧とほぼ同じになり例えば標準明部
電位すなわち前記測定値vLが−150Vのときトナ
ーの電位は−48Vとなりトナーとドラムは反発し
トナーはドラムに付着しない為原稿バツクグラウ
ンド部分のカブリを防ぎ常に安定した現像を行な
うことができ、その結果安定した画像を得ること
ができる。 又、本実施例では一般の原稿の白色部に相当す
る標準白色板８０に標準光量を照射し、実際に原
稿を露光する際にはオペレータが任意に設定した
露光量に変更される為原稿バツクグラウンドが白
でなく色つきのもの等においても露光量によりド
ラムの明部表面電位を変化させ安定な画像を得る
ことができる。 原稿露光ランプ４６の光量を調節する点灯調光
回路を第１０図ｂに示す。図中ｋ３０１は通常の
図の如き状態のリレーで異常時ランプLA1への通
電をオフするものである。不図示のDCコントロ
ーラによるタイミング出力IEXPの１信号により
スイツチSW１１がオンするとトライアツクTrを
作動してランプを点灯する。そのタイミングは第
１１図のタイムチヤートを参照されたい。本装置
はランプLAの発光量を変えてコピー濃度を調節
するものである。そのためにトライアツクにより
濃度調節手段VR１０６の変位量に応じて通電量
を位相制御して光量を変える調光回路を有する。 リレーＫ１０３は図の状態で抵抗VR１０６に
よる調光動作をさせ、逆の状態でレバー５にした
ときと同じ量（標準光量）の調光を行なうもので
ある。標準光量信号SEXPによりスイツチSW１
２がオンすると標準白色板にこの５の量の光を照
射してその明部電位（感光体上）を測定してその
値に応じた、現像ローラのバイアス電圧を決める
ものである。 以上の様に実際に露光を用いる原稿露光ランプ
で標準白色板８０を光に当てることにより現像バ
イアス電圧VHを決めている為に現像バイアス電
圧の制御の精度が上がり、かつ原稿露光直前に行
なつている為にコピースピードの低下をきたすこ
ともない。更に原稿露光の際にはオペレータが任
意に設定した露光量に変更される為に原稿バツク
グラウンドが白でなく色つきのもの等においても
カブリを生ずることなく安定な画像を得ることが
できる。 以上説明した画像形成及び表面電位制御を行な
う為のタイムチヤートを第１１図に示す。 第１１図に於いてINTRはドラム上の残留電荷
を消去しドラムの棋度を適正にする為の前回転
で、コピー動作前には必らず実行される。
CONTR−Ｎはドラムを放置時間に応じて定常状
態に保つていく為のドラム回転であつて同時に、
表面電位計でドラム１回転ごとに明部電位VLと
暗部電位VDを交互に測定し後述の表面電位制御
回路の働らきで、ドラム表面の電位を目標値に近
づけでいる。表面電位VD、VLの検出は１回転に
１回づつ行なつているが複数回行なうことも勿論
可能である。 CR１はドラム0.6回転で明部電位VLと暗部電位
VDを検出しコロナ帯電器の制御を行なうドラム
回転である。 CR２はコピー開始直前のドラム回転であつて
原稿照明ランプからの標準光量で明部電位を測定
し現像ローラへのバイアス値を決定する為のもの
である。コピー開始の際は必らず実行される。
SCFWは光学系前進中を示す。つまり実際のコピ
ー動作回転を示す。SCRVは光学系後進中を示
す。LSTRは後回転中を示す。STBY１〜STBY
４は機械のスタンバイ状態を示す。 以上説明した表面電位制御を行う為の回路を以
下に説明する。まず第１２図に表面電位測定回路
のブロツク図を示す。 ドラム４７上の表面電位と測定電極８５との間
の電位差を振動子８２によつてチヨツプすること
により、プリアンプ回路１０１で電流増巾し、バ
ンドパスフイルタ１０２でノイズを除去し、増巾
する。増巾された信号は振動子のチヨツプ信号と
同期した信号をフオトカプラ１０４で絶縁し、ク
ランプ回路１１１に供給する。同期回路１０８か
らの同期信号により測定信号は、ドラム４７と電
極８５の間の電位差の正負を判別しクランプす
る。その信号を積分回路１１３によりDC成分を
取出し、DC−DCインバータ１１６により高圧を
発生させ、センサ６７のシールド８１及びチヨツ
パ８２に電位を与える。 ここで、プリアンプ１０１より、DC−DCイン
バータ１１６までの回路を一つのアンプとして考
えれば反転増巾器として働く。ドラムの表面電位
がセンサのシールド電位より小さい時、センサの
シールド電位を上げるように増巾し、ドラムに対
しセンサ６７のシールド電位が逆に大きい時はセ
ンサのシールド８１に印加される電位を下げるよ
うに減少し、最終的にはドラム４７の表面電位と
センサのシールド電位が同じになるように動作す
る。 即ち、センサの電位を分圧回路１１７で分圧し
て得られる出力はドラムの表面電位を測定するこ
とになる。破線で囲まれた１００内の回路はすべ
てDC−DCインバータ１１６の出力電圧を基準電
圧（アース側電位）とする回路で、外部回路とは
すべてフオトカプラにより絶縁されており、ノイ
ズの発生を防いでいる。 以下に第１２図の各回路について詳細に説明す
る。第１３図に振動子駆動回路１０５、振動子駆
動用スイツチ１０６、フオトカプラ１０７，１１
０、同期回路１０８の詳細回路図を示す。 後述の電位制御ユニツト回路より与えられるセ
ンサ駆動信号が端子１２０に入力されると、発光
ダイオードとフオトトランジスタからなるフオト
カプラ１０７によりトランジスタTr５０がオン
し、トランジスタTr５１，Tr５２にVcc電源が
供給される。振動子８２が振動すると圧電素子８
４−２から信号が出力され、コンデンサＣ５０を
介してトランジスタTr５１のベースに供給され
る。その信号をTr５１で電流増巾し、更に抵抗
Ｒ５２、コンデンサＣ５２を介してトランジスタ
Tr５２で電流増巾する。トランジスタTr５２の
信号はコンデンサＣ５４を介して圧電素子８４−
１を駆動する。以上のように回路全体で発振ルー
プを形成している。前記トランジスタTr５１の
出力はコンデンサＣ５５を介してオペアンプＱ５
０を母体とした移相回路に入力される。移相回路
で移相を変えられ、コンデンサＣ５７を通つてオ
ペアンプＱ５１によつてコンパレートされる。コ
ンパレートされた信号は抵抗Ｒ６０、ツエナーダ
イオードZD５０を通つてフオトカプラ１１０の
発光ダイオードをオンオフし、端子１２１に同期
信号を出力する。 第１４図は、第１２図のプリアンプ回路１０
１、バンドパスフイルタ１０２、アンプ１０３、
フオトカプラ１０４の詳細回路図である。 測定電極８５に誘起された高インピーダンスの
測定信号はFETQ１０１で低インピーダンス信号
に変換され、コンデンサＣ１０１を介してオペア
ンプＱ１０２を母体とする多重帰還型帯域通過回
路により増幅されると共にノイズが除去される。
可変抵抗VR１０１はフイルタの中心周波数を調
整する。オペアンプＱ１０２の出力はコンデンサ
Ｃ１０４を介してオペアンプＱ１０３によつて増
幅されたのち、フオトカプラ１０４の発光ダイオ
ードLED１０１を測定信号に応じて輝度で発光
させる。可変抵抗VR１０２は増幅利得を調整す
る。フオトカプラのフオトトランジスタＱ１０４
を流れる電流に応じた出力はクランプ回路へ入力
される。 第１５図に第１２図のクランプ回路１１１、積
分回路１１３の詳細回路図を示す。 フオトカプラ１０４の出力は、端子Ｐ１１９に
加えられ、エミツタ・フオロワTr１０４で電流
増幅したのちコンデンサＣ２０７に接続される。 コンデンサＣ２０７の反対側の端子は、FET
Tr１０５のソースフオロワのゲートと、Tr１０
６のFETスイツチのドレインに接続されており、
Tr１０６のFETスイツチが遮断の場合、Tr１０
５のゲート及びTr１０６のドレインは、高イン
ピーダンスになるのでＣ２０７に充電された電荷
の逃げ場が無いため、Ｃ２０７のTrゲート側の
端子電位は、反対側の端子電位と同じ変化をす
る。 一方フオトカプラ１１０の出力パルスPLS３
は、入力端子Ｐ１２０に接続され負パルスのタイ
ミングでトランジスタTr１０７を導通させる。 演算増幅器Ｑ１０５は、クランプ用のツエナー
ダイオードZD１，ZD２により出力が、０〜±
5Vに制限されているため、Tr１０７が導通する
とダイオードＤ１０１のカソードが＋12Vにバイ
アスされＤ１０１が遮断となつてFETスイツチ
Tr１０６のソース・ゲート間は零バイアスとな
り、Tr１０６のドレインソース間は導通状態と
なる。Tr１０６が導通になると、演算増幅器Ｑ
１０５の帰還ループが、FETスイツチTr１０６、
ソースフオロワーTr１０５、抵抗Ｒ２２１のル
ートで形成されるため、Ｑ１０５の２つの入力端
子間の電位差は零になりＱ１０５の入力抵抗が高
いことを考慮するとTr１０５のソース電位はOV
（接地電位）になり、Ｃ２０７のTr１０５のゲー
ト側の端子電圧は、OVからTr１０５のゲート・
ソース間電圧だけシフトした電位にバイアスされ
るようになる。 端子Ｐ１２０の出力パルスPLS３が負パルスの
タイミングが終了して高レベルに戻るとトランジ
スタTr１０７は遮断となり、ダイオードＤ１０
１が導通となつて、抵抗Ｒ２２６，Ｒ２３０に電
流が流れ、Tr１０６のゲートに逆バイアスが深
くかかりTr１０６が遮断となる。 Tr１０６が遮断となると前述した如く、コン
デンサＣ２０７のTr１０５のゲート側の端子電
圧は、反対側の端子電位と同じ変化を示す。 第１７図にクランプ回路の動作を示すタイミン
グチヤートを示す。は端子Ｐ１１９に印加され
る測定信号で実線は測定電位がチヨツパ電位に対
して正の場合を示し破線は測定電位がチヨツパ電
位に対して負の場合を示す。は端子Ｐ１２０に
印加される同期回路からの同期信号である。クラ
ンプ回路の出力はに示すように測定電位がチヨ
ツパー電位に対して正の場合負のピークがOV
（接地電位）にクランプされたアイソレータの出
力と同一形状の波形が得られる。 又、の破線で示すように測定電位が、チヨツ
パー電位に対して負の場合正のピークがOVにク
ランプされた、アイソレーターの出力と同一形状
の波形が得られる。該出力は演算増幅器Ｑ１０
６で増幅された後積分回路１１３において、抵抗
Ｒ２３１、コンデンサＣ２０８で積分され、演算
増幅器Ｑ１０７で電流増幅されてから、インバー
タ駆動回路１１５に接続される。 インバータ駆動回路およびDC−DCインバータ
を第１６図に示すが、１ケのDC−DCインバータ
と、１ケの演算増幅器から構成されている。 インバータートランスＴ１０１、トランジスタ
Tr１１０，Tr１１１で構成されるインバータ１
１６は可変式のインバータとなつていて、０〜
1.5KVの出力をコンデンサＣ２２１、抵抗Ｒ２４
６の両端に取出すようにしてあり、トランスＴ１
０１の低圧側の端子は、後述の電位制御ユニツト
から得られる−600Vの出力端子に接続されてい
るのでＤ１０２のカソードには−600V〜＋900V
の可変出力が得られる。積分回路１１３の出力
は、端子Ｐ１２２を介して演算増幅器Ｑ１０７に
接続され、後述のボリウムVR１０１で選ばれた
直流電位との差電圧を増幅したのち、バツフアー
トランジスタTr１０８，Tr１０９を介して、イ
ンバータトランスＴ１０１の１次側の共通端子に
加えられ、インバータ１１６によつて、Ｑ１０７
の出力を100倍程度に昇圧する。VR１０１は、
オフセツト電圧の補正用のボリウムでＱ１０７の
負入力端子に加えられる直流電位は、殆んどOV
（接地電位）となる。トランスＴ１０１で昇圧さ
れた出力即ち帰還電圧VFは、端子Ｐ１２３を介
して、チヨツパー部８３、シールド部材８１に帰
還されるので被測定部と電位計は、ネガテイブ・
フイードバツク制御系を構成することになり、演
算増幅器Ｑ１０７の入力の電位差が零になるよう
に、即ちチヨツパー８３、シールド部材８１の電
位が、被測定電圧と等しくなつて、Ｐ１２２の入
力電圧をＱ１０７の負入力端子の入力電圧と同様
に零にするようになる。 被測定電位Vpが、−600〜＋900Vの範囲内で
は、インバータ１１６の出力電圧即ち帰還電圧
VFは、被測定電位Vpと常に等しくなる。 DC−DCインバータ１１６の出力は、分圧回路
１１７で1/301に減衰され、出力端子Ｐ１２４に
取り出される。端子Ｐ１２４から取り出された検
出出力は第１８図に示す端子TP１に送られる。 帰還電圧VFは、チヨツパー８３、シールド部
材８１に印加されて被測定電位Vpとの電位差を
常に零にするような変化をするので、端子Ｐ１２
３に取出された出力は、プリアンプ回路１０１か
らインバータ１１６迄の各回路のオフセツト、誤
差に影響されない安定した出力となる。 次に第１８図の電位制御ユニツト回路図につい
て説明する。CPU１は複写装置の各部を駆動制
御する信号を出力する為のプログラムを格納した
マイクロコンピユータでドラム４７の回転に同期
したドラムクロツクパルスDCK、ジヤム検出信
号JAM、キーマトリツクスKMからの信号等の
入力信号に基づいてドラム回転信号DRMD、原
稿台前進信号SCFW、後進信号SCRV、原稿照明
ランプ駆動信号IEXD、一次帯電駆動信号
HVDC、AC除電器駆動信号HVAC及び表示器
DPYへの出力信号等を出力する。 それと共に電位制御用マイクロコンピユータ
CPU２を制御する信号を出力するものである。 シーケンス制御用マイクロコンピユータCPU
１からの一次帯電器駆動信号HVDC、AC除電器
駆動信号HVAC、明部電位検出タイミングパル
スVLCTP、暗部電位検出タイミングパルスVD
CTP、標準明部電位検出タイミングパルスVL
CTP、現像器駆動信号DBTPはインバータバツ
フアＱ２０，Ｑ２１を介して電位制御用マイクロ
コンピユータCPU２の入力端子Ｔ０，Ｔ１及び
データバスDB０〜DB３へ接続される。又初期
リセツトパルスはインバータＱ２０−７を介し
て、CPU２の端子へ入力される。 これらのタイミング信号によりCPU２は後述
の表面電位Ａ／Ｄ変換データを取り込み、内部で
所定の演算処理を行ないその結果を、一次電流制
御値、二次電流制御値、現像バイアス制御値とし
てＤ／Ａ変換器へ出力する。又モード切換えスイ
ツチSW１の切り換えで前記制御値の如何にかか
わらず１次、２次帯電器に基準電流を流すような
値を、又現像バイアスについてはOV相当をCPU
より出力する事も可能である。 表面電位計と第１２図に電位測定回路で測定さ
れた表面電位は端子TP１に入力される。更に表
面電位は抵抗Ｒ４０−４を介してオペ・アンプＱ
２３−３の反転入力端子に入力され、抵抗Ｒ４０
−４とＲ４０−５の比で定まる利得で反転増幅さ
れる。Ｑ２３−３の非反転入力端子には抵抗Ｒ４
５−１，Ｒ４５−２で分割して得る＋6Vのバイ
アスが与えられてレベルシフトを行う。Ｑ２３−
３の出力はオペ・アンプＱ２３−４によるゲイン
１の反転バツフアへ入力される。Ｑ２３−４の非
反転入力へ与える電圧を可変抵抗VR７で可変す
ることで測定電位のレベル調整を行う。Ｑ２３−
４の出力は表面電位の変化に比例して12Vから
17Vまで変化する低インピーダンス信号としてオ
ペアンプＱ２３−１，Ｑ２３−２等で構成される
Ａ／Ｄ変換部へ入力される。CPU２からのＡ／
Ｄコマンド信号ADCは通常は“Ｈ”であり、イ
ンバータＱ１６−４の出力は“Ｌ”となり、
FETスイツチＱ２４のソース・ゲート間は零バ
イアスとなり、Ｑ２４のソースドレイン間は導通
し、オペアンプＱ２３−２の出力は＋12Vに保た
れる。 CPU２はCPU１から与えられるタイミングパ
ルスVLCTP、VDCTP、υLCTPの立ち下がりを検
出してＡ／Ｄコマンド信号を“Ｈ”から“Ｌ”へ
変え、インバータＱ１６−４へ出力する。この時
Ｑ１６−４の出力は“Ｈ”となりFETQ２４のゲ
ートに逆バイアスがかかりＱ２４は遮断する。Ｑ
２３−２の非反転入力端子には抵抗Ｒ４５−６を
介して＋12Vが与えられているので、Ｑ２４が遮
断するとＱ２３−２の出力とコンデンサＣ４０、
抵抗Ｒ４６の積分回路ループが構成されてＱ−２
３−２の出力は12Vを初期電圧としてＡ／Ｄコマ
ンド信号が“Ｈ”となつてFETQ２４が導通する
までＲ４６に流れる電流が直線的にコンデンサＣ
４０を充電する。FETQ２４が導通するとＣ４０
に蓄えられた電荷がＲ４１−４を介して放電さ
れ、Ｑ２３−２の出力は急速に12Vまで下がる
Ａ／Ｄコマンドにより上述の如く積分が開始され
た後、一定時間後にCPU２の内部では計数を開
始する。この計数開始時点をＱ２３−４の出力の
最小値12Vと一致させる為、Ｑ２３−２出力は抵
抗Ｒ４１−２，Ｒ４１−３によりレベルシフトさ
れて比較器を構成するオペアンプＱ２３−１の非
反自転入力端子へ抵抗４５−７を介して入力され
る。一方Ｑ２３−１の反転入力には前記測定電位
が抵抗Ｒ２７−６を介して入力される。前記測定
電位よりも積分回路の出力電圧が低い間はＱ２３
−１の出力は“Ｌ”であり、この間にCPU２の
内部で計数を行う。両電圧が一致するとＱ２３−
１の出力は“Ｈ”となりこのレベル変化がシエナ
ーダイオードZD３、オペアンプＱ２１−２を介
して計数終了パルスとしてCPU２の割込端子
INTに入力される。CPU２では計数終了までの
内部カウント値を前記測定電位Ａ／Ｄ変換値とし
て処理する。このようにしてタイミングパルス
VLCTP、VDCTP、υLCTPの各々のパルス同期し
て明部電位、暗部電位、標準明部電位の各電位を
Ａ／Ｄ変換することができる。 CPU２は本実施例ではNMOS1チツプ８ビツト
マイクロコンピユータ（μPD8048C）を用いてで
る。CPUの各端子には下表の様な信号が入力又
は出力されている。
位をより安定化させると同時にコピースピードの
低下を最小限におさえることが可能となる。 又状態１では一次帯電器区AC帯電器の前回の
制御出力電流値を記憶しておいてその値により一
次帯電器とAC帯電器を制御しており、状態２で
は前回の制御出力電流を感光体に流して表面電位
を検出し制御している。 しかし、状態３及び状態４では第１回目の修正
の測定の際には感光体には前記基準電流DC1、
AC1を流す。つまり状態３及び状態４では前回の
コピーの時の制御電流をリセツトし基準電流を戻
して表面電位を測定し出力電流の制御を行なう。
又、30秒以上の放置時間が１度もはいらずに連続
して30分コピー動作が行なわれた場合30分経過し
た際１回の修正を行なう。 本実施例に於いては更に現像バイアス電圧の制
御を行なつている。第１０図ａに説明の為の略断
面図を示す。 これは以下の方法で行なう。原稿露光の直前に
原稿台ガラス５４のわきに取り付けた標準白色板
８０を原稿露光用のハロゲンランプ４６で照射
し、その散乱反射光をミラー４４，５３，５５及
びレンズ５２等を介してドラム４７に照射する。
この照射光量は標準光量とし、その後ランプ８１
が移動して実際に原稿を露光する際の露光量はオ
ペレータが任意に設定した露光量に変更される。
表面電位計６７は、ドラム４７の前記散乱反射光
が照射された部分の表面電位vLを測定し、前記測
定値vLにプラス102V加えた電圧を現像バイアス
電圧VHとする。 現像バイアス電圧VHによりトナーの電位は前
記バイアス電圧とほぼ同じになり例えば標準明部
電位すなわち前記測定値vLが−150Vのときトナ
ーの電位は−48Vとなりトナーとドラムは反発し
トナーはドラムに付着しない為原稿バツクグラウ
ンド部分のカブリを防ぎ常に安定した現像を行な
うことができ、その結果安定した画像を得ること
ができる。 又、本実施例では一般の原稿の白色部に相当す
る標準白色板８０に標準光量を照射し、実際に原
稿を露光する際にはオペレータが任意に設定した
露光量に変更される為原稿バツクグラウンドが白
でなく色つきのもの等においても露光量によりド
ラムの明部表面電位を変化させ安定な画像を得る
ことができる。 原稿露光ランプ４６の光量を調節する点灯調光
回路を第１０図ｂに示す。図中ｋ３０１は通常の
図の如き状態のリレーで異常時ランプLA1への通
電をオフするものである。不図示のDCコントロ
ーラによるタイミング出力IEXPの１信号により
スイツチSW１１がオンするとトライアツクTrを
作動してランプを点灯する。そのタイミングは第
１１図のタイムチヤートを参照されたい。本装置
はランプLAの発光量を変えてコピー濃度を調節
するものである。そのためにトライアツクにより
濃度調節手段VR１０６の変位量に応じて通電量
を位相制御して光量を変える調光回路を有する。 リレーＫ１０３は図の状態で抵抗VR１０６に
よる調光動作をさせ、逆の状態でレバー５にした
ときと同じ量（標準光量）の調光を行なうもので
ある。標準光量信号SEXPによりスイツチSW１
２がオンすると標準白色板にこの５の量の光を照
射してその明部電位（感光体上）を測定してその
値に応じた、現像ローラのバイアス電圧を決める
ものである。 以上の様に実際に露光を用いる原稿露光ランプ
で標準白色板８０を光に当てることにより現像バ
イアス電圧VHを決めている為に現像バイアス電
圧の制御の精度が上がり、かつ原稿露光直前に行
なつている為にコピースピードの低下をきたすこ
ともない。更に原稿露光の際にはオペレータが任
意に設定した露光量に変更される為に原稿バツク
グラウンドが白でなく色つきのもの等においても
カブリを生ずることなく安定な画像を得ることが
できる。 以上説明した画像形成及び表面電位制御を行な
う為のタイムチヤートを第１１図に示す。 第１１図に於いてINTRはドラム上の残留電荷
を消去しドラムの棋度を適正にする為の前回転
で、コピー動作前には必らず実行される。
CONTR−Ｎはドラムを放置時間に応じて定常状
態に保つていく為のドラム回転であつて同時に、
表面電位計でドラム１回転ごとに明部電位VLと
暗部電位VDを交互に測定し後述の表面電位制御
回路の働らきで、ドラム表面の電位を目標値に近
づけでいる。表面電位VD、VLの検出は１回転に
１回づつ行なつているが複数回行なうことも勿論
可能である。 CR１はドラム0.6回転で明部電位VLと暗部電位
VDを検出しコロナ帯電器の制御を行なうドラム
回転である。 CR２はコピー開始直前のドラム回転であつて
原稿照明ランプからの標準光量で明部電位を測定
し現像ローラへのバイアス値を決定する為のもの
である。コピー開始の際は必らず実行される。
SCFWは光学系前進中を示す。つまり実際のコピ
ー動作回転を示す。SCRVは光学系後進中を示
す。LSTRは後回転中を示す。STBY１〜STBY
４は機械のスタンバイ状態を示す。 以上説明した表面電位制御を行う為の回路を以
下に説明する。まず第１２図に表面電位測定回路
のブロツク図を示す。 ドラム４７上の表面電位と測定電極８５との間
の電位差を振動子８２によつてチヨツプすること
により、プリアンプ回路１０１で電流増巾し、バ
ンドパスフイルタ１０２でノイズを除去し、増巾
する。増巾された信号は振動子のチヨツプ信号と
同期した信号をフオトカプラ１０４で絶縁し、ク
ランプ回路１１１に供給する。同期回路１０８か
らの同期信号により測定信号は、ドラム４７と電
極８５の間の電位差の正負を判別しクランプす
る。その信号を積分回路１１３によりDC成分を
取出し、DC−DCインバータ１１６により高圧を
発生させ、センサ６７のシールド８１及びチヨツ
パ８２に電位を与える。 ここで、プリアンプ１０１より、DC−DCイン
バータ１１６までの回路を一つのアンプとして考
えれば反転増巾器として働く。ドラムの表面電位
がセンサのシールド電位より小さい時、センサの
シールド電位を上げるように増巾し、ドラムに対
しセンサ６７のシールド電位が逆に大きい時はセ
ンサのシールド８１に印加される電位を下げるよ
うに減少し、最終的にはドラム４７の表面電位と
センサのシールド電位が同じになるように動作す
る。 即ち、センサの電位を分圧回路１１７で分圧し
て得られる出力はドラムの表面電位を測定するこ
とになる。破線で囲まれた１００内の回路はすべ
てDC−DCインバータ１１６の出力電圧を基準電
圧（アース側電位）とする回路で、外部回路とは
すべてフオトカプラにより絶縁されており、ノイ
ズの発生を防いでいる。 以下に第１２図の各回路について詳細に説明す
る。第１３図に振動子駆動回路１０５、振動子駆
動用スイツチ１０６、フオトカプラ１０７，１１
０、同期回路１０８の詳細回路図を示す。 後述の電位制御ユニツト回路より与えられるセ
ンサ駆動信号が端子１２０に入力されると、発光
ダイオードとフオトトランジスタからなるフオト
カプラ１０７によりトランジスタTr５０がオン
し、トランジスタTr５１，Tr５２にVcc電源が
供給される。振動子８２が振動すると圧電素子８
４−２から信号が出力され、コンデンサＣ５０を
介してトランジスタTr５１のベースに供給され
る。その信号をTr５１で電流増巾し、更に抵抗
Ｒ５２、コンデンサＣ５２を介してトランジスタ
Tr５２で電流増巾する。トランジスタTr５２の
信号はコンデンサＣ５４を介して圧電素子８４−
１を駆動する。以上のように回路全体で発振ルー
プを形成している。前記トランジスタTr５１の
出力はコンデンサＣ５５を介してオペアンプＱ５
０を母体とした移相回路に入力される。移相回路
で移相を変えられ、コンデンサＣ５７を通つてオ
ペアンプＱ５１によつてコンパレートされる。コ
ンパレートされた信号は抵抗Ｒ６０、ツエナーダ
イオードZD５０を通つてフオトカプラ１１０の
発光ダイオードをオンオフし、端子１２１に同期
信号を出力する。 第１４図は、第１２図のプリアンプ回路１０
１、バンドパスフイルタ１０２、アンプ１０３、
フオトカプラ１０４の詳細回路図である。 測定電極８５に誘起された高インピーダンスの
測定信号はFETQ１０１で低インピーダンス信号
に変換され、コンデンサＣ１０１を介してオペア
ンプＱ１０２を母体とする多重帰還型帯域通過回
路により増幅されると共にノイズが除去される。
可変抵抗VR１０１はフイルタの中心周波数を調
整する。オペアンプＱ１０２の出力はコンデンサ
Ｃ１０４を介してオペアンプＱ１０３によつて増
幅されたのち、フオトカプラ１０４の発光ダイオ
ードLED１０１を測定信号に応じて輝度で発光
させる。可変抵抗VR１０２は増幅利得を調整す
る。フオトカプラのフオトトランジスタＱ１０４
を流れる電流に応じた出力はクランプ回路へ入力
される。 第１５図に第１２図のクランプ回路１１１、積
分回路１１３の詳細回路図を示す。 フオトカプラ１０４の出力は、端子Ｐ１１９に
加えられ、エミツタ・フオロワTr１０４で電流
増幅したのちコンデンサＣ２０７に接続される。 コンデンサＣ２０７の反対側の端子は、FET
Tr１０５のソースフオロワのゲートと、Tr１０
６のFETスイツチのドレインに接続されており、
Tr１０６のFETスイツチが遮断の場合、Tr１０
５のゲート及びTr１０６のドレインは、高イン
ピーダンスになるのでＣ２０７に充電された電荷
の逃げ場が無いため、Ｃ２０７のTrゲート側の
端子電位は、反対側の端子電位と同じ変化をす
る。 一方フオトカプラ１１０の出力パルスPLS３
は、入力端子Ｐ１２０に接続され負パルスのタイ
ミングでトランジスタTr１０７を導通させる。 演算増幅器Ｑ１０５は、クランプ用のツエナー
ダイオードZD１，ZD２により出力が、０〜±
5Vに制限されているため、Tr１０７が導通する
とダイオードＤ１０１のカソードが＋12Vにバイ
アスされＤ１０１が遮断となつてFETスイツチ
Tr１０６のソース・ゲート間は零バイアスとな
り、Tr１０６のドレインソース間は導通状態と
なる。Tr１０６が導通になると、演算増幅器Ｑ
１０５の帰還ループが、FETスイツチTr１０６、
ソースフオロワーTr１０５、抵抗Ｒ２２１のル
ートで形成されるため、Ｑ１０５の２つの入力端
子間の電位差は零になりＱ１０５の入力抵抗が高
いことを考慮するとTr１０５のソース電位はOV
（接地電位）になり、Ｃ２０７のTr１０５のゲー
ト側の端子電圧は、OVからTr１０５のゲート・
ソース間電圧だけシフトした電位にバイアスされ
るようになる。 端子Ｐ１２０の出力パルスPLS３が負パルスの
タイミングが終了して高レベルに戻るとトランジ
スタTr１０７は遮断となり、ダイオードＤ１０
１が導通となつて、抵抗Ｒ２２６，Ｒ２３０に電
流が流れ、Tr１０６のゲートに逆バイアスが深
くかかりTr１０６が遮断となる。 Tr１０６が遮断となると前述した如く、コン
デンサＣ２０７のTr１０５のゲート側の端子電
圧は、反対側の端子電位と同じ変化を示す。 第１７図にクランプ回路の動作を示すタイミン
グチヤートを示す。は端子Ｐ１１９に印加され
る測定信号で実線は測定電位がチヨツパ電位に対
して正の場合を示し破線は測定電位がチヨツパ電
位に対して負の場合を示す。は端子Ｐ１２０に
印加される同期回路からの同期信号である。クラ
ンプ回路の出力はに示すように測定電位がチヨ
ツパー電位に対して正の場合負のピークがOV
（接地電位）にクランプされたアイソレータの出
力と同一形状の波形が得られる。 又、の破線で示すように測定電位が、チヨツ
パー電位に対して負の場合正のピークがOVにク
ランプされた、アイソレーターの出力と同一形状
の波形が得られる。該出力は演算増幅器Ｑ１０
６で増幅された後積分回路１１３において、抵抗
Ｒ２３１、コンデンサＣ２０８で積分され、演算
増幅器Ｑ１０７で電流増幅されてから、インバー
タ駆動回路１１５に接続される。 インバータ駆動回路およびDC−DCインバータ
を第１６図に示すが、１ケのDC−DCインバータ
と、１ケの演算増幅器から構成されている。 インバータートランスＴ１０１、トランジスタ
Tr１１０，Tr１１１で構成されるインバータ１
１６は可変式のインバータとなつていて、０〜
1.5KVの出力をコンデンサＣ２２１、抵抗Ｒ２４
６の両端に取出すようにしてあり、トランスＴ１
０１の低圧側の端子は、後述の電位制御ユニツト
から得られる−600Vの出力端子に接続されてい
るのでＤ１０２のカソードには−600V〜＋900V
の可変出力が得られる。積分回路１１３の出力
は、端子Ｐ１２２を介して演算増幅器Ｑ１０７に
接続され、後述のボリウムVR１０１で選ばれた
直流電位との差電圧を増幅したのち、バツフアー
トランジスタTr１０８，Tr１０９を介して、イ
ンバータトランスＴ１０１の１次側の共通端子に
加えられ、インバータ１１６によつて、Ｑ１０７
の出力を100倍程度に昇圧する。VR１０１は、
オフセツト電圧の補正用のボリウムでＱ１０７の
負入力端子に加えられる直流電位は、殆んどOV
（接地電位）となる。トランスＴ１０１で昇圧さ
れた出力即ち帰還電圧VFは、端子Ｐ１２３を介
して、チヨツパー部８３、シールド部材８１に帰
還されるので被測定部と電位計は、ネガテイブ・
フイードバツク制御系を構成することになり、演
算増幅器Ｑ１０７の入力の電位差が零になるよう
に、即ちチヨツパー８３、シールド部材８１の電
位が、被測定電圧と等しくなつて、Ｐ１２２の入
力電圧をＱ１０７の負入力端子の入力電圧と同様
に零にするようになる。 被測定電位Vpが、−600〜＋900Vの範囲内で
は、インバータ１１６の出力電圧即ち帰還電圧
VFは、被測定電位Vpと常に等しくなる。 DC−DCインバータ１１６の出力は、分圧回路
１１７で1/301に減衰され、出力端子Ｐ１２４に
取り出される。端子Ｐ１２４から取り出された検
出出力は第１８図に示す端子TP１に送られる。 帰還電圧VFは、チヨツパー８３、シールド部
材８１に印加されて被測定電位Vpとの電位差を
常に零にするような変化をするので、端子Ｐ１２
３に取出された出力は、プリアンプ回路１０１か
らインバータ１１６迄の各回路のオフセツト、誤
差に影響されない安定した出力となる。 次に第１８図の電位制御ユニツト回路図につい
て説明する。CPU１は複写装置の各部を駆動制
御する信号を出力する為のプログラムを格納した
マイクロコンピユータでドラム４７の回転に同期
したドラムクロツクパルスDCK、ジヤム検出信
号JAM、キーマトリツクスKMからの信号等の
入力信号に基づいてドラム回転信号DRMD、原
稿台前進信号SCFW、後進信号SCRV、原稿照明
ランプ駆動信号IEXD、一次帯電駆動信号
HVDC、AC除電器駆動信号HVAC及び表示器
DPYへの出力信号等を出力する。 それと共に電位制御用マイクロコンピユータ
CPU２を制御する信号を出力するものである。 シーケンス制御用マイクロコンピユータCPU
１からの一次帯電器駆動信号HVDC、AC除電器
駆動信号HVAC、明部電位検出タイミングパル
スVLCTP、暗部電位検出タイミングパルスVD
CTP、標準明部電位検出タイミングパルスVL
CTP、現像器駆動信号DBTPはインバータバツ
フアＱ２０，Ｑ２１を介して電位制御用マイクロ
コンピユータCPU２の入力端子Ｔ０，Ｔ１及び
データバスDB０〜DB３へ接続される。又初期
リセツトパルスはインバータＱ２０−７を介し
て、CPU２の端子へ入力される。 これらのタイミング信号によりCPU２は後述
の表面電位Ａ／Ｄ変換データを取り込み、内部で
所定の演算処理を行ないその結果を、一次電流制
御値、二次電流制御値、現像バイアス制御値とし
てＤ／Ａ変換器へ出力する。又モード切換えスイ
ツチSW１の切り換えで前記制御値の如何にかか
わらず１次、２次帯電器に基準電流を流すような
値を、又現像バイアスについてはOV相当をCPU
より出力する事も可能である。 表面電位計と第１２図に電位測定回路で測定さ
れた表面電位は端子TP１に入力される。更に表
面電位は抵抗Ｒ４０−４を介してオペ・アンプＱ
２３−３の反転入力端子に入力され、抵抗Ｒ４０
−４とＲ４０−５の比で定まる利得で反転増幅さ
れる。Ｑ２３−３の非反転入力端子には抵抗Ｒ４
５−１，Ｒ４５−２で分割して得る＋6Vのバイ
アスが与えられてレベルシフトを行う。Ｑ２３−
３の出力はオペ・アンプＱ２３−４によるゲイン
１の反転バツフアへ入力される。Ｑ２３−４の非
反転入力へ与える電圧を可変抵抗VR７で可変す
ることで測定電位のレベル調整を行う。Ｑ２３−
４の出力は表面電位の変化に比例して12Vから
17Vまで変化する低インピーダンス信号としてオ
ペアンプＱ２３−１，Ｑ２３−２等で構成される
Ａ／Ｄ変換部へ入力される。CPU２からのＡ／
Ｄコマンド信号ADCは通常は“Ｈ”であり、イ
ンバータＱ１６−４の出力は“Ｌ”となり、
FETスイツチＱ２４のソース・ゲート間は零バ
イアスとなり、Ｑ２４のソースドレイン間は導通
し、オペアンプＱ２３−２の出力は＋12Vに保た
れる。 CPU２はCPU１から与えられるタイミングパ
ルスVLCTP、VDCTP、υLCTPの立ち下がりを検
出してＡ／Ｄコマンド信号を“Ｈ”から“Ｌ”へ
変え、インバータＱ１６−４へ出力する。この時
Ｑ１６−４の出力は“Ｈ”となりFETQ２４のゲ
ートに逆バイアスがかかりＱ２４は遮断する。Ｑ
２３−２の非反転入力端子には抵抗Ｒ４５−６を
介して＋12Vが与えられているので、Ｑ２４が遮
断するとＱ２３−２の出力とコンデンサＣ４０、
抵抗Ｒ４６の積分回路ループが構成されてＱ−２
３−２の出力は12Vを初期電圧としてＡ／Ｄコマ
ンド信号が“Ｈ”となつてFETQ２４が導通する
までＲ４６に流れる電流が直線的にコンデンサＣ
４０を充電する。FETQ２４が導通するとＣ４０
に蓄えられた電荷がＲ４１−４を介して放電さ
れ、Ｑ２３−２の出力は急速に12Vまで下がる
Ａ／Ｄコマンドにより上述の如く積分が開始され
た後、一定時間後にCPU２の内部では計数を開
始する。この計数開始時点をＱ２３−４の出力の
最小値12Vと一致させる為、Ｑ２３−２出力は抵
抗Ｒ４１−２，Ｒ４１−３によりレベルシフトさ
れて比較器を構成するオペアンプＱ２３−１の非
反自転入力端子へ抵抗４５−７を介して入力され
る。一方Ｑ２３−１の反転入力には前記測定電位
が抵抗Ｒ２７−６を介して入力される。前記測定
電位よりも積分回路の出力電圧が低い間はＱ２３
−１の出力は“Ｌ”であり、この間にCPU２の
内部で計数を行う。両電圧が一致するとＱ２３−
１の出力は“Ｈ”となりこのレベル変化がシエナ
ーダイオードZD３、オペアンプＱ２１−２を介
して計数終了パルスとしてCPU２の割込端子
INTに入力される。CPU２では計数終了までの
内部カウント値を前記測定電位Ａ／Ｄ変換値とし
て処理する。このようにしてタイミングパルス
VLCTP、VDCTP、υLCTPの各々のパルス同期し
て明部電位、暗部電位、標準明部電位の各電位を
Ａ／Ｄ変換することができる。 CPU２は本実施例ではNMOS1チツプ８ビツト
マイクロコンピユータ（μPD8048C）を用いてで
る。CPUの各端子には下表の様な信号が入力又
は出力されている。
【表】
【表】
端子DB４〜DB７には切換スイツチSW１から
の信号DMS１，２，EPC，DBCが入力されてい
る。各信号状態におけるCPU２の制御モードを
下表に示す。
の信号DMS１，２，EPC，DBCが入力されてい
る。各信号状態におけるCPU２の制御モードを
下表に示す。
【表】
次にＤ／Ａ変換部について説明する。
CPU２とＤ／Ａ変換器Ｑ１８は４本のデータ
ラインLA０〜LA３、１本の制御ラインLDIによ
り接続される。CPU２はLDIの立ち上がりに於い
てＤ／Ａ変換すべきデータが１次電流制御データ
か、２次電流制御データか現像バイアス制御デー
タのいずれであるかをLA０〜LA３で指定する。
LDIの立ち下がりで、CPU２から送出されるLA
０〜LA３上のデータをＤ／Ａ変換器Ｑ１８内部
へラツチする。Ｄ／Ａ変換器Ｑ１８は、内部にラ
ツチされたデータとコンデンサＣ３７，Ｃ３８，
Ｃ３９、抵抗Ｒ４１−１、コイルＬ５によつて発
振する内部クロツクにより計数される４ビツト、
６ビツト、12ビツトのバイナリーカウンタとの一
致検出によつて行う。すなわち、データに応じて
得られるデユーテイーの変化するパルスを積分す
ることでアナログ値を得ている。 Ｄ／Ａ出力、DAC３，４には各々４ビツト分
解能のパルスが、DAC１には12ビツトの、DAC
２には６ビツト分解能のパルスが各々得られる様
に構成されている。これらのパルスは抵抗Ｒ３
９、コンデンサＣ３４による積分回路によりアナ
ログ電圧に変換される。又、Ｒ３６は該出力がオ
ーブンドレインである為に付加されているプルア
ツプ抵抗である。 Ｄ／Ａ変換された１次電流制御値はDAC４に
上位４ビツト、DAC３に下位４ビツト相当の電
圧値となるこれらはオペアンプＱ２２−３，Ｑ２
２−４による非反転バツフアーを介したのちＲ５
７−１，Ｒ３５−２，Ｒ３５−１によつて抵抗加
算され８ビツト相当の電圧値となり、切換スイツ
チSW２の１番端子へ与えられる。 ２次電流制御値は12ビツト相当の電圧値に変換
されDAC１より出力されオペアンプＱ２２−２
による非反転バツフアーを介したのち切換スイツ
チSW３の１番端子へ与えられる。 現像バイアス制御値は積分されたのち切換スイ
ツチSW４の一番端子へ与えられる。 切換スイツチSW２，SW３，SW４はCPU２
による電位制御と、CPU２を介さずに帯電器に
基準電流を流し、又現像バイアスを所定値にする
回路とを切りかえる為に設けてある。この切り換
えによつてCPU２が何らかの事故により動作不
能にある事態に於いても、帯電器に基準電流を流
し、現像バイアスを所定値にすることが可能とな
つている。 １次側についてはＲ５７−４とＲ５７−８にて
抵抗分割により基準電流を与える様な電圧を切換
スイツチSW−２の２番端子に与える。一方２次
については、ACと弱ACを切り換える為信号
HVDCによりインバータＱ１６−３をオン・オ
フしている。HVDCが“Ｈ”のときはＱ１６−
３出力は“Ｌ”となりＲ５７−５，Ｒ５７−６，
Ｒ５７−７によつて定まる電圧が切換スイツチ
SW−３の２番端子へ与えられる。この電圧は
AC基準電流を与える様に設定されている。次に
HVDCが“Ｌ”となり弱ACを流す場合にはＱ１
６−３はオフし、Ｒ５７−４，Ｒ５７−７によつ
て定まる電圧に切りかわることで弱AC電流を与
える。 現像バイアスについては、１次の場合と同様Ｒ
５７−２，Ｒ３０−１で抵抗分割して得た電圧を
現像バイアス基準電圧として切換スイツチSW−
４の２番端子へ与えている。 以上の如く、Ｄ／Ａ変換器以前の回路が動作異
常になつたとき、切り換え手段SW２〜SW４に
より後段の高圧帯電器、現像バイアス回路に異常
が及ばないようにし、更に高圧帯電器、現像バイ
アス回路が基準電流もしくは基準電圧を出力する
様所定値に設定している。従つてＤ／Ａ変換器以
前が故障しても画像形成が遂行できると共に、画
質の極端な悪化を防ぐことができる。 一次帯電器制御電圧VPはSW−２の端子１−
３間を通りオペアンプＱ１４−１の反転入力端子
に抵抗Ｒ１９−１を介して入力される。Ｑ１４−
１の非反転入力端子にかかる電圧VFｐと前記Vp
との差電圧が−R23／R19−１倍されてＱ１４−１よ り出力される。１次帯電器駆動信号HVDcが
“Ｌ”の時はＱ２０−２出力は“Ｈ”、Ｑ１６−５
出力は“Ｌ”となりダイオードＤ１２−１が順方
向にバイアスされて導通し、Ｑ１４−１出力は約
0.6Vにクランプされ１次帯電器はオフとなる。
前記HVDCが“Ｈ”になるとＱ１４−１出力が
１次高圧トランスTDCに出力される。１次トラ
ンスTDCに与えられた電圧は２次側にトランス
の巻線比に応じて昇圧され、ダイオード、コンデ
ンサで整流平滑され１次帯電器５１に印加され
る。１次帯電器５１に流れる１次コロナ電流Ipは
抵抗Ｒ１１で検出されＲ２０−４，VR４，Ｒ２
０−３の組み合わせでレベルシフトされ、Ｑ１４
−１の非反転入力端子へ抵抗Ｒ１９−２を介して
入力され、前記電圧VFｐと前記１次帯電器制御
電圧Vpが一致するように一次コロナ電流Ipが制
御される。 同様AC除電器制御電圧VAｃはオペアンプＱ１
４−２の反転入力端子に抵抗Ｒ１９−４を介して
入力される。Ｑ１４−２の非反転入力端子にかか
る電圧VFAｃと前記補正電圧VAｃとの差電圧が−
R24／R19−４倍されてＱ１４−２より出力される。 AC除電器駆動信号HVACが“Ｌ”のときはＱ２
０−７出力は“Ｈ”、Ｑ１６−６出力は“Ｌ”と
なりダイオードＤ１２−３が導通しＱ１４−２の
出力は約0.6Vにクランプされ、AC除電器はオフ
である。 前記HVACが“Ｈ”になるとＱ１４−２出力
電圧がAC高圧トランスTACに印加される。トラ
ンスの巻線比に応じて２次側に昇圧された出力は
ダイオード、コンデンサで整流平滑され、直流分
出力となる。又AC高圧トランスTACは交流高電
圧をも出力し、信号直流分出力を重畳して２次
AC帯電器６９に出力する。２次AC帯電器６９を
流れるACコロナ電流IAｃは抵抗Ｒ１２で検出さ
れる。該検出出力は増幅器Ｑ９−１で増幅された
のちＲ１４−６，Ｃ３８で積分され、その後Ｑ９
−２でバツフアリングされたのち、Ｒ２０−５，
Ｒ２０−７，VR３によりレベルシフトされＱ１
４−２の非反転入力端子に入力され前記VFAｃと
前記２次AC補正電圧VAｃが一致するようにAC
コロナ電流IAｃを制御する。 以上の様に、ダイオードD12-1，D12-2で高圧帯
電器５１，６９の出力を阻止している。これは第
１１図のタイムチヤートに示される様にPRE−
WET期間中には、CPU２はリセツトされていな
いので、デジタルコンピユータの出力は不確定で
あるので信号HVDC，HVACを用いて、デジタ
ルコンピユータの出力にかかわらず高圧帯電器即
ち１次帯電器５１、AC除電器の出力を阻止して
おり、これによりPRE−WET期間中に不確定な
制御電圧により高圧コロナ放電がおこり像形成サ
イクル上極めて好ましくない状態になるのを防止
している。 Ｑ１５−１はバツフアー回路で、24Vを可変抵
抗VR１で分割した値をＱ１５−１出力に得る。
オペアンプＱ１４−１はインバータであり１次帯
電器制御信号Vpが下がれば高圧出力電流が増加
する。１次帯電器制御信号Vpが最小値よりも下
がろうとするとＱ１４−１出力は最大まで増加し
従つて１次高圧トランスTDCへの入力が最大ま
で増加していく。この最大値を定める様なＱ１４
−１出力よりも約1.2V低い値に前記Ｑ１５−１
出力をVR１で調整しておくと、Ｑ１４−２出力
が前記、最大値以上になろうとするとダイオード
Ｄ１２−２，Ｄ１３−４が導通しＱ１４−２出力
は最大値以上には増加しなくなる。AC除電器側
のリミツタについても同様である。 SW−４の１番端子に与えられた現像バイアス
制御信号は３番端子よりオペアンプＱ２２−１へ
抵抗Ｒ３０−３を介して入力され、Ｒ３０−４，
VR６とＲ３０−３の比で定まるゲインで増幅さ
れ、Ｑ２２−１出力よりトランジスタＱ１０，Ｑ
１１で構成される電流ブースタを経てインバータ
トランスＴ２の中点に加えられる。Ｑ２２−１の
非反転入力端子には24Vを可変抵抗VR５で分割
した電圧が加わりVR５を調整することで現像バ
イアスのレベルを可変できる。又前記VR６を調
整することで現像バイアスのゲイン調整が行なえ
る。 ドラム回転中で現像を行なつていない場合に
は、前記バイアス電圧が−75Vになる様に設定さ
れ、ドラムに現像剤がつくのを防止している。ス
タンバイ中には、前記バイアス電圧がOVになる
ように設定され、ドラムが回転していない時に、
電荷を有する液体現像剤が淀むのを防止してい
る。 現像中には前記Ｄ／Ａ変換器からの現像バイア
ス制御信号により、標準明部電位に対して、現像
バイアス値が＋102Vになる様に制御される。 前記電流ブースタ出力によつて発振出力の変化
する可変出力インバータトランスＴ２と、固定出
力インバータトランスＴ１の組み合わせによつて
上記現像バイアス値を得ている。 可変出力インバータはトランジスタＱ５，Ｑ６
による自励発振インバータでＱ５，Ｑ６が交互に
オン、オフをくりかえすことによりＴ２の中点に
加わる現像バイアス制御電圧に応じてＴ２の１次
側に誘起される電圧はＴ２の巻線比で決まる２次
側電圧まで昇圧されＤ１１により半波整流された
のちＣ２７で平滑され、直流高圧出力がＲ１７を
介して現像ローラへ供給される。一方固定出力イ
ンバータはＴ１の１次側の中点に24Vが加えら
れ、トランス巻線比に応じた２次高圧出力をＤ
２，Ｃ１０で整流平滑することで負の固定直流高
圧電圧を得る。抵抗Ｒ３−１，Ｒ３−２の中央か
らの分割電圧を前記可変出力インバータ出力に重
畳し、現像バイアス電圧は、入力制御電圧に対応
して正から負まで直線的に変化する。 固定出力インバータＴ１では、前記現像バイア
ス用の固定出力の他に−12V電源及び表面電位測
定回路への24Vと40Vのフローテイング用電源電
圧及び表面電位測定回路への−600Vの電源電圧
を得ている。 これらを通常のレギユレータ等で構成する場
合、スペースを取り部品点数を多くなり、又特に
フローテイング用電源については煩雑になつてし
まう。本構成によれば極めて効率良く前記の各種
電源電圧を得ることができる。 マイクロコンピユータCPU２は前述した表面
電位制御方式を実施する為のプログラムを内蔵し
ており、そのプログラムフローチヤートを第１９
図Ａ〜Ｅに示す。フローチヤートにおいてDCは
一次帯電器を制御するためのデイジタル値、同様
にAC，DBは各々AC除電器、現像バイアスの制
御デジタル値である。又、DCSA，ACSA，
DBSAは信号デジタル値DC，AC，DBをセーブ
するCPU２内のPAMエリアを示す。 ＜ステツプSP1＞ CPU１からのリセツト信号RESETが入力され
ると、RAMのすべての記憶エリアをクリアし、
CPU２のボートを入力ポートは入力可能状態に、
出力ポートは出力可能状態にセツトを行う。又
ACSA，DCSA，DBSAを初期セツトする。又、
一次帯電器及びAC除電器に流れる電流をOμAと
し、現像バイアス電圧もOVとする。 ＜ステツプSP2＞ コピーが開始されたことを示すAC除電器駆動
信号HVACが“０”か“１”か判断し“０”な
らばSP23に進み、“１”ならばSP3に進む。 ＜SP3＞ CPU２のポートを再びセツトして、センサ駆
動信号を出力する。又、HVAC、及びHVDCが
“１”であることを示すLED２４，LED２５を点
灯する。 ＜SP4＞ 切換スイツチSW１の信号EPCを判定し、１次
帯電器及びAC除電器に標準値を出力するか、そ
れとも電位計の検出出力による制御値を出力する
か判断する。 ＜SP5＞ ステツプSP4の判断に基づき、１次帯電器、
AC除電器の基準電流又はエリアACSA，DCSA
内の記憶値を出力する。又、現像バイアスを−
72Vとする様出力する。 ＜SP6＞ 各信号HVAC，HVDC，VLCTP，VDCTP，
υLCTP，DBTPを判断し、各処理ステツプに進
む。表示用サブルーチンにおいては電位表示モー
ド、電位表示モードの指定があつた時にLED１
０〜１７に電位を８ビツトで表示する。電位測定
モード電位表示モードでは切換スイツチSW１で
指定される電位をCPU２内のアキユームレータ
内に転送してLED１０〜LED１７に表示する。 ＜SP7＞ 明部電位VL検出信号VLCTPが出力されるとそ
れを示す発光ダイオードLED２０が点灯する。
それと共にVLを測定し、測定結果をセーブする。
その後（VL−VL0）の演算し演算値をセーブす
る。次にCPU２の端子Ｐ２６，Ｐ２７に入力さ
れる信号CS１，CS２を判断し係数α2の選択を行
う。α2の値はCS１，CS２により２種類選ぶこと
が可能である。次いでα2（VL−VL0）を計算、セ
ーブし、α2と同様にして係数β2の選択を行いβ2
（VL−VL0）を計算、セーブする。以上がおわる
と発光ダイオードLED２０を消灯してSP４に戻
る。 ＜SP8＞ 暗部電位VD検出信号VDCTPが出力されるとそ
れを示す発光ダイオードLED２１が点灯する。
VDを測定し、測定結果をセーブする。 ＜SP9＞ スイツチSW１をみて電位制御の有無を判断
し、ない場合SP17に進む。有る場合にはSP10に
進む。 ＜SP10＞ （VD−VD0）、α1（VD−VD0）、β1（VD−VD0）の
計算を行いα1（VD−VD0）β1（VD−VD0）の計算結
果をセーブする。係数α1、β1についてはα2β2と同
様に信号CS１，CS２により選ばれる。 ＜SP11＞ α1（VD−VD0）＋α2（VL−VL0）＝△DC′を計算し、
前回の１次帯電器制御電流値DCに加える。この
ときDCは８ビツトで△DC′が16ビツトなので
（DC×８＋△DC′）の演算を行いDC′（16ビツト）
とする。 ＜SP12＞ DC′が制御範囲内にあるか否かを判断し、オー
バーフロの場合、それを示すLED１２を点灯さ
せ、DC′を所定値に設定する。アンダーフローの
場合、それを示すLED１３を点灯させDC′を所定
値に設定する。 ＜SP13＞ DC′（16ビツト）をDC（８ビツト）に変換し、
DCSAにセーブする。 ＜SP14＞ AC除電器制御電流値AC′（16ビツト）を求める
為にβ1（VD−VD0）＋β2（VL−VD0）を計算し△
AC′（16ビツト）を求め前回の制御電流値ACに８
をかけて加える。 ＜SP15＞ AC′が制御範囲内にあるか否かを判断する。オ
ーバーフローの場合それを示すLED１０を点灯
させ、AC′を所定値に設定する。アンダーフロー
の場合LED１１を点灯させ、AC′を所定値に設定
する。 ＜SP16＞ AC′（16ビツト）をAC（８ビツト）に変換し、
ACSAにセーブする。 ＜SP17＞ 暗部電位VDと明部電位VLの差即ちコントラス
トCNTを求める。CNTがOV以下の場合或は
396V以下の場合LED１４，LED１５を共に点灯
させる。CNTが396V以上498V以下の場合LED
１４のみを点灯させる。CNTが498V以上の場合
はLEDは点灯させない。 以上が終了したのちLED２１を消灯する。 ＜SP18＞ 標準明部電位υL検出信号υLCPTが出力される
と、発光ダイオードLED２２が点灯すると共に
υLを測定、セーブする。υLが制御可能な範囲にあ
るか否か判断し、υLが−474V以下の場合及びυL
が288V以上の場合現像バイアス電圧DBを各々所
定値に設定しエリアDBSAにセーブする。υLが制
御可能範囲内のときは（υL＋102V）を計算して
計算結果をDBSAにセーブする。以上が終了する
と発光ダイオードを消灯する。 ＜SP19＞ 現像が開始されるとCPU１より現像バイアス
信号DBTPが出力され、発光ダイオードLED２
３が点灯する。切換スイツチSW１の信号DBCを
みて現像バイアス制御の有無を判断し、制御なし
の場合は現像バイアス電圧をOVとする。制御あ
りの場合はSP18で求めた現像バイアス電圧DBを
出力する。以下信号DBTPが“０”になるまで
表示用サブルーチンを実行し、“０”になると発
光ダイオードLED２３が消灯する。 ＜SP20＞ HVACが“１”でHVDCが“０”のときは後
回転LSTR中なのでHVDCが“１”を示すLED
２５は消灯し、一次帯電器には電流を流さずAC
除電器に弱AC電流（60μA）を流す。 ＜SP21＞ 電位測定モードであるか否かの判断を行い、電
位測定モードでないときは電位センサをオフす
る。後回転LSTRが終了するまで表示用サブルー
チンをくり返す。後回転中にHVDCが“１”に
なつた場合はSP3に戻る。 ＜SP22＞ HVACが“０”になるとコピー中ではないの
で、LED２４を消灯すると共に、一次帯電器及
びAC除電器の回転をオフし、現像バイアス電圧
をOVとする。 ＜SP23＞ 電位測定モードであるか否かの判断を行い、電
位測定モードの時は電位センサを駆動し、測定値
をLED１０〜LED１７に表示する。 以上詳細に説明した如く、本実施例において
は、感光ドラム等の記録体に静電潜像を形成する
潜像形成手段と、該潜像を現像する現像手段と、
記録体上の表面電位を測定する測定手段と、前記
潜像形成手段をシーケンスコントロールする為の
プログラムを格納した第１の制御手段と、前記測
定手段の出力により前記潜像形成手段の潜像形成
条件または前記測定手段の現像条件を制御するた
めのプログラムを格納した第２の制御手段を有し
ており、第２の制御手段は第１の制御手段からの
タイミング信号により制御されているものであ
る。斯かる構成によりシーケンス制御プログラム
の開発とは独立して帯電器制御、現像バイアス制
御等の自動制御系のプログラム開発が可能とな
り、プログラム変更も容易となる。又、シーケン
ス制御を行う制御プログラムはごく少数のタイミ
ング信号を用意するだけでよく、自動制御系と分
離してシーケンス制御のプログラムミングが可能
となる。 更にマイクロコンピユータ等の各制御手段の故
障の診断が容易となると共に本実施例で示した如
く種々の電位制御を行うことができ、大幅に機能
を拡大できる。 又、切換スイツチSW１によりＡ／Ｄ変換器の
出力にかかわらずマイクロコンピユータCPU２
のデジタル出力値を標準値に設定できる為に、電
位計、測定回路、Ａ／Ｄ変換器が故障した場合に
も安定した画質の画像を得ることができる。
ラインLA０〜LA３、１本の制御ラインLDIによ
り接続される。CPU２はLDIの立ち上がりに於い
てＤ／Ａ変換すべきデータが１次電流制御データ
か、２次電流制御データか現像バイアス制御デー
タのいずれであるかをLA０〜LA３で指定する。
LDIの立ち下がりで、CPU２から送出されるLA
０〜LA３上のデータをＤ／Ａ変換器Ｑ１８内部
へラツチする。Ｄ／Ａ変換器Ｑ１８は、内部にラ
ツチされたデータとコンデンサＣ３７，Ｃ３８，
Ｃ３９、抵抗Ｒ４１−１、コイルＬ５によつて発
振する内部クロツクにより計数される４ビツト、
６ビツト、12ビツトのバイナリーカウンタとの一
致検出によつて行う。すなわち、データに応じて
得られるデユーテイーの変化するパルスを積分す
ることでアナログ値を得ている。 Ｄ／Ａ出力、DAC３，４には各々４ビツト分
解能のパルスが、DAC１には12ビツトの、DAC
２には６ビツト分解能のパルスが各々得られる様
に構成されている。これらのパルスは抵抗Ｒ３
９、コンデンサＣ３４による積分回路によりアナ
ログ電圧に変換される。又、Ｒ３６は該出力がオ
ーブンドレインである為に付加されているプルア
ツプ抵抗である。 Ｄ／Ａ変換された１次電流制御値はDAC４に
上位４ビツト、DAC３に下位４ビツト相当の電
圧値となるこれらはオペアンプＱ２２−３，Ｑ２
２−４による非反転バツフアーを介したのちＲ５
７−１，Ｒ３５−２，Ｒ３５−１によつて抵抗加
算され８ビツト相当の電圧値となり、切換スイツ
チSW２の１番端子へ与えられる。 ２次電流制御値は12ビツト相当の電圧値に変換
されDAC１より出力されオペアンプＱ２２−２
による非反転バツフアーを介したのち切換スイツ
チSW３の１番端子へ与えられる。 現像バイアス制御値は積分されたのち切換スイ
ツチSW４の一番端子へ与えられる。 切換スイツチSW２，SW３，SW４はCPU２
による電位制御と、CPU２を介さずに帯電器に
基準電流を流し、又現像バイアスを所定値にする
回路とを切りかえる為に設けてある。この切り換
えによつてCPU２が何らかの事故により動作不
能にある事態に於いても、帯電器に基準電流を流
し、現像バイアスを所定値にすることが可能とな
つている。 １次側についてはＲ５７−４とＲ５７−８にて
抵抗分割により基準電流を与える様な電圧を切換
スイツチSW−２の２番端子に与える。一方２次
については、ACと弱ACを切り換える為信号
HVDCによりインバータＱ１６−３をオン・オ
フしている。HVDCが“Ｈ”のときはＱ１６−
３出力は“Ｌ”となりＲ５７−５，Ｒ５７−６，
Ｒ５７−７によつて定まる電圧が切換スイツチ
SW−３の２番端子へ与えられる。この電圧は
AC基準電流を与える様に設定されている。次に
HVDCが“Ｌ”となり弱ACを流す場合にはＱ１
６−３はオフし、Ｒ５７−４，Ｒ５７−７によつ
て定まる電圧に切りかわることで弱AC電流を与
える。 現像バイアスについては、１次の場合と同様Ｒ
５７−２，Ｒ３０−１で抵抗分割して得た電圧を
現像バイアス基準電圧として切換スイツチSW−
４の２番端子へ与えている。 以上の如く、Ｄ／Ａ変換器以前の回路が動作異
常になつたとき、切り換え手段SW２〜SW４に
より後段の高圧帯電器、現像バイアス回路に異常
が及ばないようにし、更に高圧帯電器、現像バイ
アス回路が基準電流もしくは基準電圧を出力する
様所定値に設定している。従つてＤ／Ａ変換器以
前が故障しても画像形成が遂行できると共に、画
質の極端な悪化を防ぐことができる。 一次帯電器制御電圧VPはSW−２の端子１−
３間を通りオペアンプＱ１４−１の反転入力端子
に抵抗Ｒ１９−１を介して入力される。Ｑ１４−
１の非反転入力端子にかかる電圧VFｐと前記Vp
との差電圧が−R23／R19−１倍されてＱ１４−１よ り出力される。１次帯電器駆動信号HVDcが
“Ｌ”の時はＱ２０−２出力は“Ｈ”、Ｑ１６−５
出力は“Ｌ”となりダイオードＤ１２−１が順方
向にバイアスされて導通し、Ｑ１４−１出力は約
0.6Vにクランプされ１次帯電器はオフとなる。
前記HVDCが“Ｈ”になるとＱ１４−１出力が
１次高圧トランスTDCに出力される。１次トラ
ンスTDCに与えられた電圧は２次側にトランス
の巻線比に応じて昇圧され、ダイオード、コンデ
ンサで整流平滑され１次帯電器５１に印加され
る。１次帯電器５１に流れる１次コロナ電流Ipは
抵抗Ｒ１１で検出されＲ２０−４，VR４，Ｒ２
０−３の組み合わせでレベルシフトされ、Ｑ１４
−１の非反転入力端子へ抵抗Ｒ１９−２を介して
入力され、前記電圧VFｐと前記１次帯電器制御
電圧Vpが一致するように一次コロナ電流Ipが制
御される。 同様AC除電器制御電圧VAｃはオペアンプＱ１
４−２の反転入力端子に抵抗Ｒ１９−４を介して
入力される。Ｑ１４−２の非反転入力端子にかか
る電圧VFAｃと前記補正電圧VAｃとの差電圧が−
R24／R19−４倍されてＱ１４−２より出力される。 AC除電器駆動信号HVACが“Ｌ”のときはＱ２
０−７出力は“Ｈ”、Ｑ１６−６出力は“Ｌ”と
なりダイオードＤ１２−３が導通しＱ１４−２の
出力は約0.6Vにクランプされ、AC除電器はオフ
である。 前記HVACが“Ｈ”になるとＱ１４−２出力
電圧がAC高圧トランスTACに印加される。トラ
ンスの巻線比に応じて２次側に昇圧された出力は
ダイオード、コンデンサで整流平滑され、直流分
出力となる。又AC高圧トランスTACは交流高電
圧をも出力し、信号直流分出力を重畳して２次
AC帯電器６９に出力する。２次AC帯電器６９を
流れるACコロナ電流IAｃは抵抗Ｒ１２で検出さ
れる。該検出出力は増幅器Ｑ９−１で増幅された
のちＲ１４−６，Ｃ３８で積分され、その後Ｑ９
−２でバツフアリングされたのち、Ｒ２０−５，
Ｒ２０−７，VR３によりレベルシフトされＱ１
４−２の非反転入力端子に入力され前記VFAｃと
前記２次AC補正電圧VAｃが一致するようにAC
コロナ電流IAｃを制御する。 以上の様に、ダイオードD12-1，D12-2で高圧帯
電器５１，６９の出力を阻止している。これは第
１１図のタイムチヤートに示される様にPRE−
WET期間中には、CPU２はリセツトされていな
いので、デジタルコンピユータの出力は不確定で
あるので信号HVDC，HVACを用いて、デジタ
ルコンピユータの出力にかかわらず高圧帯電器即
ち１次帯電器５１、AC除電器の出力を阻止して
おり、これによりPRE−WET期間中に不確定な
制御電圧により高圧コロナ放電がおこり像形成サ
イクル上極めて好ましくない状態になるのを防止
している。 Ｑ１５−１はバツフアー回路で、24Vを可変抵
抗VR１で分割した値をＱ１５−１出力に得る。
オペアンプＱ１４−１はインバータであり１次帯
電器制御信号Vpが下がれば高圧出力電流が増加
する。１次帯電器制御信号Vpが最小値よりも下
がろうとするとＱ１４−１出力は最大まで増加し
従つて１次高圧トランスTDCへの入力が最大ま
で増加していく。この最大値を定める様なＱ１４
−１出力よりも約1.2V低い値に前記Ｑ１５−１
出力をVR１で調整しておくと、Ｑ１４−２出力
が前記、最大値以上になろうとするとダイオード
Ｄ１２−２，Ｄ１３−４が導通しＱ１４−２出力
は最大値以上には増加しなくなる。AC除電器側
のリミツタについても同様である。 SW−４の１番端子に与えられた現像バイアス
制御信号は３番端子よりオペアンプＱ２２−１へ
抵抗Ｒ３０−３を介して入力され、Ｒ３０−４，
VR６とＲ３０−３の比で定まるゲインで増幅さ
れ、Ｑ２２−１出力よりトランジスタＱ１０，Ｑ
１１で構成される電流ブースタを経てインバータ
トランスＴ２の中点に加えられる。Ｑ２２−１の
非反転入力端子には24Vを可変抵抗VR５で分割
した電圧が加わりVR５を調整することで現像バ
イアスのレベルを可変できる。又前記VR６を調
整することで現像バイアスのゲイン調整が行なえ
る。 ドラム回転中で現像を行なつていない場合に
は、前記バイアス電圧が−75Vになる様に設定さ
れ、ドラムに現像剤がつくのを防止している。ス
タンバイ中には、前記バイアス電圧がOVになる
ように設定され、ドラムが回転していない時に、
電荷を有する液体現像剤が淀むのを防止してい
る。 現像中には前記Ｄ／Ａ変換器からの現像バイア
ス制御信号により、標準明部電位に対して、現像
バイアス値が＋102Vになる様に制御される。 前記電流ブースタ出力によつて発振出力の変化
する可変出力インバータトランスＴ２と、固定出
力インバータトランスＴ１の組み合わせによつて
上記現像バイアス値を得ている。 可変出力インバータはトランジスタＱ５，Ｑ６
による自励発振インバータでＱ５，Ｑ６が交互に
オン、オフをくりかえすことによりＴ２の中点に
加わる現像バイアス制御電圧に応じてＴ２の１次
側に誘起される電圧はＴ２の巻線比で決まる２次
側電圧まで昇圧されＤ１１により半波整流された
のちＣ２７で平滑され、直流高圧出力がＲ１７を
介して現像ローラへ供給される。一方固定出力イ
ンバータはＴ１の１次側の中点に24Vが加えら
れ、トランス巻線比に応じた２次高圧出力をＤ
２，Ｃ１０で整流平滑することで負の固定直流高
圧電圧を得る。抵抗Ｒ３−１，Ｒ３−２の中央か
らの分割電圧を前記可変出力インバータ出力に重
畳し、現像バイアス電圧は、入力制御電圧に対応
して正から負まで直線的に変化する。 固定出力インバータＴ１では、前記現像バイア
ス用の固定出力の他に−12V電源及び表面電位測
定回路への24Vと40Vのフローテイング用電源電
圧及び表面電位測定回路への−600Vの電源電圧
を得ている。 これらを通常のレギユレータ等で構成する場
合、スペースを取り部品点数を多くなり、又特に
フローテイング用電源については煩雑になつてし
まう。本構成によれば極めて効率良く前記の各種
電源電圧を得ることができる。 マイクロコンピユータCPU２は前述した表面
電位制御方式を実施する為のプログラムを内蔵し
ており、そのプログラムフローチヤートを第１９
図Ａ〜Ｅに示す。フローチヤートにおいてDCは
一次帯電器を制御するためのデイジタル値、同様
にAC，DBは各々AC除電器、現像バイアスの制
御デジタル値である。又、DCSA，ACSA，
DBSAは信号デジタル値DC，AC，DBをセーブ
するCPU２内のPAMエリアを示す。 ＜ステツプSP1＞ CPU１からのリセツト信号RESETが入力され
ると、RAMのすべての記憶エリアをクリアし、
CPU２のボートを入力ポートは入力可能状態に、
出力ポートは出力可能状態にセツトを行う。又
ACSA，DCSA，DBSAを初期セツトする。又、
一次帯電器及びAC除電器に流れる電流をOμAと
し、現像バイアス電圧もOVとする。 ＜ステツプSP2＞ コピーが開始されたことを示すAC除電器駆動
信号HVACが“０”か“１”か判断し“０”な
らばSP23に進み、“１”ならばSP3に進む。 ＜SP3＞ CPU２のポートを再びセツトして、センサ駆
動信号を出力する。又、HVAC、及びHVDCが
“１”であることを示すLED２４，LED２５を点
灯する。 ＜SP4＞ 切換スイツチSW１の信号EPCを判定し、１次
帯電器及びAC除電器に標準値を出力するか、そ
れとも電位計の検出出力による制御値を出力する
か判断する。 ＜SP5＞ ステツプSP4の判断に基づき、１次帯電器、
AC除電器の基準電流又はエリアACSA，DCSA
内の記憶値を出力する。又、現像バイアスを−
72Vとする様出力する。 ＜SP6＞ 各信号HVAC，HVDC，VLCTP，VDCTP，
υLCTP，DBTPを判断し、各処理ステツプに進
む。表示用サブルーチンにおいては電位表示モー
ド、電位表示モードの指定があつた時にLED１
０〜１７に電位を８ビツトで表示する。電位測定
モード電位表示モードでは切換スイツチSW１で
指定される電位をCPU２内のアキユームレータ
内に転送してLED１０〜LED１７に表示する。 ＜SP7＞ 明部電位VL検出信号VLCTPが出力されるとそ
れを示す発光ダイオードLED２０が点灯する。
それと共にVLを測定し、測定結果をセーブする。
その後（VL−VL0）の演算し演算値をセーブす
る。次にCPU２の端子Ｐ２６，Ｐ２７に入力さ
れる信号CS１，CS２を判断し係数α2の選択を行
う。α2の値はCS１，CS２により２種類選ぶこと
が可能である。次いでα2（VL−VL0）を計算、セ
ーブし、α2と同様にして係数β2の選択を行いβ2
（VL−VL0）を計算、セーブする。以上がおわる
と発光ダイオードLED２０を消灯してSP４に戻
る。 ＜SP8＞ 暗部電位VD検出信号VDCTPが出力されるとそ
れを示す発光ダイオードLED２１が点灯する。
VDを測定し、測定結果をセーブする。 ＜SP9＞ スイツチSW１をみて電位制御の有無を判断
し、ない場合SP17に進む。有る場合にはSP10に
進む。 ＜SP10＞ （VD−VD0）、α1（VD−VD0）、β1（VD−VD0）の
計算を行いα1（VD−VD0）β1（VD−VD0）の計算結
果をセーブする。係数α1、β1についてはα2β2と同
様に信号CS１，CS２により選ばれる。 ＜SP11＞ α1（VD−VD0）＋α2（VL−VL0）＝△DC′を計算し、
前回の１次帯電器制御電流値DCに加える。この
ときDCは８ビツトで△DC′が16ビツトなので
（DC×８＋△DC′）の演算を行いDC′（16ビツト）
とする。 ＜SP12＞ DC′が制御範囲内にあるか否かを判断し、オー
バーフロの場合、それを示すLED１２を点灯さ
せ、DC′を所定値に設定する。アンダーフローの
場合、それを示すLED１３を点灯させDC′を所定
値に設定する。 ＜SP13＞ DC′（16ビツト）をDC（８ビツト）に変換し、
DCSAにセーブする。 ＜SP14＞ AC除電器制御電流値AC′（16ビツト）を求める
為にβ1（VD−VD0）＋β2（VL−VD0）を計算し△
AC′（16ビツト）を求め前回の制御電流値ACに８
をかけて加える。 ＜SP15＞ AC′が制御範囲内にあるか否かを判断する。オ
ーバーフローの場合それを示すLED１０を点灯
させ、AC′を所定値に設定する。アンダーフロー
の場合LED１１を点灯させ、AC′を所定値に設定
する。 ＜SP16＞ AC′（16ビツト）をAC（８ビツト）に変換し、
ACSAにセーブする。 ＜SP17＞ 暗部電位VDと明部電位VLの差即ちコントラス
トCNTを求める。CNTがOV以下の場合或は
396V以下の場合LED１４，LED１５を共に点灯
させる。CNTが396V以上498V以下の場合LED
１４のみを点灯させる。CNTが498V以上の場合
はLEDは点灯させない。 以上が終了したのちLED２１を消灯する。 ＜SP18＞ 標準明部電位υL検出信号υLCPTが出力される
と、発光ダイオードLED２２が点灯すると共に
υLを測定、セーブする。υLが制御可能な範囲にあ
るか否か判断し、υLが−474V以下の場合及びυL
が288V以上の場合現像バイアス電圧DBを各々所
定値に設定しエリアDBSAにセーブする。υLが制
御可能範囲内のときは（υL＋102V）を計算して
計算結果をDBSAにセーブする。以上が終了する
と発光ダイオードを消灯する。 ＜SP19＞ 現像が開始されるとCPU１より現像バイアス
信号DBTPが出力され、発光ダイオードLED２
３が点灯する。切換スイツチSW１の信号DBCを
みて現像バイアス制御の有無を判断し、制御なし
の場合は現像バイアス電圧をOVとする。制御あ
りの場合はSP18で求めた現像バイアス電圧DBを
出力する。以下信号DBTPが“０”になるまで
表示用サブルーチンを実行し、“０”になると発
光ダイオードLED２３が消灯する。 ＜SP20＞ HVACが“１”でHVDCが“０”のときは後
回転LSTR中なのでHVDCが“１”を示すLED
２５は消灯し、一次帯電器には電流を流さずAC
除電器に弱AC電流（60μA）を流す。 ＜SP21＞ 電位測定モードであるか否かの判断を行い、電
位測定モードでないときは電位センサをオフす
る。後回転LSTRが終了するまで表示用サブルー
チンをくり返す。後回転中にHVDCが“１”に
なつた場合はSP3に戻る。 ＜SP22＞ HVACが“０”になるとコピー中ではないの
で、LED２４を消灯すると共に、一次帯電器及
びAC除電器の回転をオフし、現像バイアス電圧
をOVとする。 ＜SP23＞ 電位測定モードであるか否かの判断を行い、電
位測定モードの時は電位センサを駆動し、測定値
をLED１０〜LED１７に表示する。 以上詳細に説明した如く、本実施例において
は、感光ドラム等の記録体に静電潜像を形成する
潜像形成手段と、該潜像を現像する現像手段と、
記録体上の表面電位を測定する測定手段と、前記
潜像形成手段をシーケンスコントロールする為の
プログラムを格納した第１の制御手段と、前記測
定手段の出力により前記潜像形成手段の潜像形成
条件または前記測定手段の現像条件を制御するた
めのプログラムを格納した第２の制御手段を有し
ており、第２の制御手段は第１の制御手段からの
タイミング信号により制御されているものであ
る。斯かる構成によりシーケンス制御プログラム
の開発とは独立して帯電器制御、現像バイアス制
御等の自動制御系のプログラム開発が可能とな
り、プログラム変更も容易となる。又、シーケン
ス制御を行う制御プログラムはごく少数のタイミ
ング信号を用意するだけでよく、自動制御系と分
離してシーケンス制御のプログラムミングが可能
となる。 更にマイクロコンピユータ等の各制御手段の故
障の診断が容易となると共に本実施例で示した如
く種々の電位制御を行うことができ、大幅に機能
を拡大できる。 又、切換スイツチSW１によりＡ／Ｄ変換器の
出力にかかわらずマイクロコンピユータCPU２
のデジタル出力値を標準値に設定できる為に、電
位計、測定回路、Ａ／Ｄ変換器が故障した場合に
も安定した画質の画像を得ることができる。
第１図ａは本発明を適用しうる複写装置の断面
図、第１図ｂはブランク露光ランプ付近の平面
図、第２図は感光ドラムの各部における表面電位
を示す特性図、第３図、第４図は表面電位の変化
を示す特性図、第５図は表面電位計の測面図、第
６図は第５図のＸ−X′線から右側をみた断面図、
第７図は第５図のＸ−X′線から左側をみた断面
図、第８図は電位計の斜視図、第９図ａ，ｂは暗
部表面電位の変化を示す図、第１０図ａは現像バ
イアス制御に関する複写装置の略断面図、第１０
図ｂは原稿露光ランプの点灯調光回路図、第１１
図は画像形成及び表面電位制御のタイムチヤート
を示す図、第１２図は電位測定回路のブロツク
図、第１３図〜第１６図は第１２図の各部の詳細
回路図、第１７図はクランプ回路の動作タイムチ
ヤートを示す図、第１８図は電位制御ユニツト回
路図、第１９図Ａ〜ＥはCPU２に格納されたプ
ログラムフローチヤートを示す図である。 図において、４７は感光ドラム、５１は１次帯
電器、６９はAC帯電器、７０はブランク露光ラ
ンプ、６５は現像ローラ、６７は表面電位計、
CPU１はシーケンス制御用マイクロコンピユー
タ、CPU２は電位制御用マイクロコンピユータ、
Ｑ１８はＤ／Ａ変換器を各々示す。
図、第１図ｂはブランク露光ランプ付近の平面
図、第２図は感光ドラムの各部における表面電位
を示す特性図、第３図、第４図は表面電位の変化
を示す特性図、第５図は表面電位計の測面図、第
６図は第５図のＸ−X′線から右側をみた断面図、
第７図は第５図のＸ−X′線から左側をみた断面
図、第８図は電位計の斜視図、第９図ａ，ｂは暗
部表面電位の変化を示す図、第１０図ａは現像バ
イアス制御に関する複写装置の略断面図、第１０
図ｂは原稿露光ランプの点灯調光回路図、第１１
図は画像形成及び表面電位制御のタイムチヤート
を示す図、第１２図は電位測定回路のブロツク
図、第１３図〜第１６図は第１２図の各部の詳細
回路図、第１７図はクランプ回路の動作タイムチ
ヤートを示す図、第１８図は電位制御ユニツト回
路図、第１９図Ａ〜ＥはCPU２に格納されたプ
ログラムフローチヤートを示す図である。 図において、４７は感光ドラム、５１は１次帯
電器、６９はAC帯電器、７０はブランク露光ラ
ンプ、６５は現像ローラ、６７は表面電位計、
CPU１はシーケンス制御用マイクロコンピユー
タ、CPU２は電位制御用マイクロコンピユータ、
Ｑ１８はＤ／Ａ変換器を各々示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 感光体に画像を形成する複数のプロセス手段
より成る画像形成手段、 前記感光体の表面電位を検出する検出手段、 前記検出手段による前記感光体の表面電位の検
出工程と、前記検出工程において検出された表面
電位に基づいて前記複数のプロセス手段の中の特
定のプロセス手段の出力を制御する制御工程とを
含むプログラムを備え、前記プログラムを実行す
ることにより前記感光体の表面電位を適正化する
第１デイジタルコンピユータ、 前記画像形成手段をシーケンス制御するもので
あつて、更に前記第１デイジタルコンピユータに
対し前記感光体の表面電位の検出を指令するため
のタイミング信号を出力する第２デイジタルコン
ピユータ、 を有し、 前記第１デイジタルコンピユータは、前記第２
デイジタルコンピユータからリセツト信号が入力
することによりイニシヤライズを行い、更に前記
イニシヤライズ後前記第２デイジタルコンピユー
タから前記タイミング信号が入力したことを判別
すると、その後前記第２デイジタルコンピユータ
によるシーケンス制御とは独立に前記検出工程と
前記制御工程とを実行することを特徴とする画像
形成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17135379A JPS5695251A (en) | 1979-12-28 | 1979-12-28 | Electrostatic recorder |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17135379A JPS5695251A (en) | 1979-12-28 | 1979-12-28 | Electrostatic recorder |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5695251A JPS5695251A (en) | 1981-08-01 |
| JPH0253784B2 true JPH0253784B2 (ja) | 1990-11-19 |
Family
ID=15921617
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17135379A Granted JPS5695251A (en) | 1979-12-28 | 1979-12-28 | Electrostatic recorder |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5695251A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57129453A (en) * | 1981-02-05 | 1982-08-11 | Ricoh Co Ltd | Multi-mode copying machine |
| JPS58209755A (ja) * | 1982-05-31 | 1983-12-06 | Canon Inc | 画像形成方法 |
| JPS6291967A (ja) * | 1985-10-18 | 1987-04-27 | Fuji Xerox Co Ltd | 複写機の制御装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52142518A (en) * | 1976-05-22 | 1977-11-28 | Ricoh Co Ltd | Data indicator for copying machine |
| JPS5450329A (en) * | 1977-09-28 | 1979-04-20 | Ricoh Co Ltd | Copier control device using plural micro-computers |
-
1979
- 1979-12-28 JP JP17135379A patent/JPS5695251A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5695251A (en) | 1981-08-01 |
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