JPH0254666B2 - - Google Patents

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JPH0254666B2
JPH0254666B2 JP59114018A JP11401884A JPH0254666B2 JP H0254666 B2 JPH0254666 B2 JP H0254666B2 JP 59114018 A JP59114018 A JP 59114018A JP 11401884 A JP11401884 A JP 11401884A JP H0254666 B2 JPH0254666 B2 JP H0254666B2
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、電力用トランジスタ、ダイオード等
の樹脂封止型半導体装置の製造方法に関する。
従来の技術 従来の一般的な樹脂封止型パワートランジスタ
においては、トランジスタチツプが固着されてい
る放熱支持板の裏面には樹脂層が形成されていな
い。このため、このパワートランジスタを外部放
熱体に取付けるに際しては、これらの間の電気的
絶縁のために、上記放熱支持板の裏面と外部放熱
体との間に比較的熱伝導性の良い絶縁物であるマ
イカ薄板等を介在させなければならず、パワート
ランジスタの取付け作業が煩雑になつた。
上述の如き欠点を解決するために、例えば、特
開昭57−147260号公報に開示されているように、
放熱支持板の裏面にも薄い封止樹脂層(厚さ数百
μm)を形成し、マイカ薄板等を不要にする構造
が提案されている。第11図及び第12図は上述
の如き従来のトランジスタ及びその製造方法を示
すものである。この第11図及び第12図におい
て、1は放熱支持板、2はリード、3はパワート
ランジスタチツプ、4はチツプ保護用樹脂、5は
封止樹脂体、6は上部金型、7は下部金型、8は
上部金型6と下部金型7が型締めされることによ
つて形成される空所9に封止樹脂を圧入するため
の注入孔、10は取付孔、11,12はリードフ
レームを構成するための連結部である。なお、第
12図において、連結部11,12は最終的には
切り落される。
発明が解決しようとする問題点 ところで、チツプ3が装着されている支持板1
の一方の主表面側の樹脂被覆部5aはチツプ3を
保護するために必然的に厚く形成され、支持板1
の他方の主表面側の樹脂被覆部5bは放熱効果を
良くするために薄く形成される。このため、注入
孔8から例えばトランスフアー成形法で樹脂を注
入した時に、支持板1の下側に樹脂が円滑に流入
せず、未充填部分又は絶縁耐力の低い部分が生じ
るおそれがあつた。今、パワートランジスタを例
にとつて説明したが、ダイオード等の別の半導体
装置においても同様な問題がある。
そこで、本発明の目的は、放熱支持板のチツプ
装着面と反対の面に薄い樹脂被覆部を良好に形成
することが出来る樹脂封止型半導体装置の製造方
法を提供することにある。
問題点を解決するための手段 上記目的を達成するための本発明は、放熱機能
を有するように形成され且つ一端部近傍に切欠部
又は孔を有している金属性支持板と、前記支持板
の一方の主表面上に装着された半導体チツプと、
前記チツプに接続されたリードと、前記支持板、
前記チツプ、及び前記リードの一部を被覆する絶
縁性樹脂被覆体とから成り、且つ前記支持板の一
方の主表面側の樹脂被覆部が他方の主表面側の樹
脂被覆部よりも厚くなるように前記樹脂被覆体が
形成され、且つ前記切欠部又は孔の部分に取付用
切欠部又は孔が生じるように前記樹脂被覆体が形
成される樹脂封止型半導体装置の製造方法におい
て、前記一方の主表面側の樹脂被覆部の前記チツ
プを被覆する部分及び前記取付用切欠部又は孔の
近傍を被覆する部分よりも薄い被覆部分を前記取
付用切欠部又は孔から離間していると共に前記取
付用切欠部又は孔よりも前記支持板の一端部から
離れている位置に生じさせるための突出部を設け
た樹脂封止用型を使用し、前記支持板の一端部近
傍側の注入孔から前記樹脂封止用型の成形空間内
に封止樹脂を注入して前記樹脂被覆体を成形する
ことを特徴とする樹脂封止型半導体装置の製造方
法に係わるものである。
作 用 上記発明において、突出部を有する樹脂封止用
型を使用すると、この突出部はチツプが装着され
ている支持板の一方の主表面側に対する樹脂の流
入を抑制する。このため、支持板の他方の主表面
側に対する樹脂の流れが強くなり、薄い樹脂被覆
部であつても、良好に形成することが出来る。更
に、本発明では、樹脂封止用型の突出部が、取付
用切欠部又は孔から離間していると共に、この取
付用切欠部又は孔よりも支持板の一端部から離れ
ているので、樹脂封止用型における取付用切欠部
又は孔を設けるための部分の基づく樹脂の流れの
不均一性の発生又は樹脂の未充填部分の発生を防
ぐことができる。
実施例 次に、第1図〜第11図を参照して本発明の実
施例に係わる樹脂封止型トランジスタ及びその製
造方法について述べる。
第1図、第2図、及び第3図は完成したトラン
ジスタを示し、第4図はリードフレームにチツプ
を装着した状態を示し、第5図は樹脂封止が完成
したリードフレームを示し、第6図は金型を示
し、第7図〜第10図は金型を使用してトランス
フアー成形法で樹脂被覆体を形成する工程を示
す。
第1図〜第3図のトランジスタを形成する際に
は、まず、第4図に示すリードフレームと呼ばれ
る半導体装置組立体を用意する。第4図におい
て、21はニツケル被覆銅板から成る放熱支持
板、22a,22b,22cは同じ材料から成る
外部リードで、22aがベースリード、22bが
コレクタリード、22cがエミツタリードであ
る。23はシリコンパワートランジスタチツプ
で、上面にはベース電極及びエミツタ電極が、下
面にはコレクタ電極がそれぞれ形成されている。
このチツプ23は下面において放熱支持板21に
半田(図示せず)により固着されている。24
a,24cはアルミニウム線から成る内部リード
であり、チツプ23のベース電極とベースリード
22aとの間、及びチツプ23のエミツタ電極と
エミツタリード22cとの間に配設されている。
25はジヤンクシヨンコーテイングレジンと呼ば
れるチツプ保護用のシリコン樹脂から成る保護層
である。26はタイバーと呼ばれるリード同志の
連結部である。27はリード端を共通に連結する
連結部である。放熱支持板21の一端部21aに
はU字状の切欠部28が形成されている。なお、
この切欠部28に代りに放熱支持板21に孔を形
成することもよく行われている。第4図にはリー
ドフレームの内の1個のパワートランジスタを示
しているが、実際には単一のリードフレームは多
数のトランジスタを含む。
本実施例では、第4図に示すリードフレーム
に、第5図に示す如く樹脂被覆体37を設け、し
かる後、連結部26,27を切り落とすことによ
つて第1図〜第3図の樹脂封止型トランジスタを
完成させる。第1図〜第3図から明らかな如く、
支持板21の一方の主表面(上面)側には比較的
厚い樹脂被覆部37aが設けられ、他方の主表面
(下面)側には薄い樹脂被覆部37bが設けられ
ている。上側の樹脂被覆体37aは、チツプ2
3、保護層25、内部リード24a,24cを覆
う最も厚い主被覆部分41と、切欠部28に対応
して設けられた取付孔39の近傍を被覆する取付
孔近傍を被覆部分42と、上記主被覆部分41と
取付孔近傍被覆部分42との間にこれ等よりも薄
く形成された薄い被覆部分43とを有する。この
結果、樹脂被覆体37の表面には薄い被覆部分4
3に対して溝38が形成されている。なお、溝3
8は、取付孔39とチツプ23とを結ぶ直線上に
は設けられていない。
第1図〜第3図及び第5図に示す樹脂被覆体3
7は、第6図に示す上部金型29と下部金型30
とを第7図及び第8図に示す如く組み合せ、ここ
に、第9図及び第10図に示す如く樹脂を注入す
ることにより形成する。第6図〜第10図におい
て、31は、上部金型29と下部金型30が型締
めされることによつて形成される空所32に封止
樹脂を圧入するための注入孔である。29aは第
1図に示した取付孔39を形成するために上部金
型29から突出した円柱状ピンで、放熱支持板2
1の切欠部28を貫通している。29bは上部金
型29から突出した仕切り状の突出部であり、第
1図の溝38を形成するものである。なお、仕切
り状の突出部29bはその中央に樹脂の流れを許
す溝35を有している。第4図に示すリードフレ
ームを金型29,30に入れる際には、第6図の
矢印33,34で示すように、上部金型29と下
部金型30とを合せて型締めする。この時、溝3
6aでリード22aを溝36bでリード22bを
溝36cでリード22cをそれぞれ挟持する。こ
の結果、第7図及び第8図に示す如く、金型2
9,30で形成された空所32の中に支持板31
が浮いた状態に配置される。また、第1図〜第3
図に示す樹脂被覆体37を得るために、上部空所
32aが広くなり、下部空所32bが狭くなるよ
うに配置される。しかし、本発明に従つてチツプ
23の広い空所(32a)の入口近傍に樹脂の流
れの強さを抑制するための突出部29bが設けら
れているので、注入孔31から注入した樹脂は狭
い下部空所32bにも比較的良好に浸入する。
空所32に対する樹脂の注入は、公知のトラン
スフアー成形法に基づいて、熱硬化性エポキシ樹
脂を、ポツト内で軟化させ、加圧して金型29,
30内に注入する。これにより、第7図に示す注
入孔31から液状の樹脂が注入され、空所32の
全部が樹脂で充填される。金型29,30は樹脂
を熱硬化させる温度(150゜〜200゜程度)に加熱さ
れているので、充填された樹脂は短時間(数分)
の内に熱硬化し、第9図及び第10図に示す樹脂
被覆体37となる。なお、完全に熱硬化させるた
めに、金型29,30からリードフレームを取り
出した後に、更に長時間の熱処理を行う。
上述の如きトランスフアー成形法による樹脂被
覆体37の形成において、第6図、第7図及び第
9図で矢印40で示す方向性を有して液状の樹脂
を加圧注入すると、比較的広い上部空所32aに
樹脂が容易に充填されようとする。しかし、本実
施例では、矢印40で示す樹脂の注入方向に交差
するように突出部29bが設けられているので、
樹脂の流れが抑制され、この結果、支持板21の
下側の狭い空所32bにおける樹脂の流れが相対
的に強めらる。これにより、上部空所32aと下
部空所32bでの封止の流れのバランスが良くな
り、従来あつた下部空所32bの未充填状態がほ
とんど見られなくなつた。即ち、下部空所32b
に形成される薄い樹脂被覆部37bの絶縁不良と
いう問題を解決できた。
上部金型29の突出部29bを、封止樹脂の主
たる流れ方向(矢印40の方向)に直交する仕切
り状に配設することにより、樹脂の流れを効果的
に押えているが、その高さや位置はモールド金型
の取り個数やパツケージの大きさ等によりそれぞ
れ最適値が異なる。なお、注入孔31から見て封
止樹脂の主たる流れ方向ににピン29aがあるた
め、ピン29aも封止樹脂の流れを押えるように
働く。従つて、注入孔31とピン29aを結ぶラ
インの延長上であり且つピン29aの注入孔31
と反対側の領域において封止樹脂の未充填が発生
することがある。しかし、本実施例では、第6図
から最も明らかな如く、ピン29aによつて分割
された封止樹脂の流れが、突出部29bによつて
再び抑制されるから、上記のピン29aの反対側
領域に封止樹脂が回り込み易くなり、未充填が確
実に防止される。更に本実施例では、矢印40と
ピン29aとを結ぶ直線の延長上に突出部29b
の作用を低減させる溝35が設けられており、こ
の溝35がピン29aによる封止樹脂の流れの抑
制作用を相殺するように働くので、上記ピン29
aの反対側領域の未充填を確実に防止することが
できる。
ところで、第1図〜第3図に示すトランジスタ
の取付けは、通常、外部の放熱作用を有する取付
板に下部樹脂被覆部37bを当てるようになし、
取付孔39にネジ又はボルト等の取付部材を貫通
させ、これにより取付板に固定することによつて
行う。この様な取付時に、ネジ又はボルト等の頭
又はナツトが取付孔39の近傍を強く押圧する
と、クラツクが生じるので、取付孔39の近傍を
あまり薄くすることは出来ない。このため、本実
施例では、取付孔39の近傍の被覆部分42は取
付に支障がない厚さに形成され、本発明に従う溝
38における薄い被覆部分43は、取付孔39の
近傍の被覆部分42よりも薄く形成されている。
変形例 本発明は、上述の実施例に限定されるものでな
く、種々の変形が可能なものである。例えば、第
13図に示す如く、取付孔39を囲む部分に比較
的厚い被覆部分42を円筒状に設け、ここを囲む
ように薄い被覆部分43を設けてもよい。この
際、主被覆部分41は勿論厚く形成する。また、
取付孔39がチツプ23に接近する位置にある場
合には、第6図の注入孔31とピン29aとの間
に突出部29bを設けてもよい。また、取付孔3
9を切欠部(溝又は凹部)としてもよい。また、
ダイオードにも適用可能である。
発明の効果 上述から明らかな如く、本発明によれば支持板
のチツプを保持する側の面を被覆するための型の
空間に突出部を設けたので、樹脂の流れが抑制さ
れ、支持板の他方の主表面側にも良好に樹脂が流
入する。従つて、樹脂被覆体の全部を良好に形成
することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例に係わるトランジスタ
を示す斜視図、第2図は第1図のトランジスタの
平面図、第3図は第2図の−線断面図、第4
図は第1図のトランジスタを形成するためのリー
ドフレームを示す斜視図、第5図は第4図のリー
ドフレームに樹脂被覆体を設けた状態を示す斜視
図、第6図は金型を示す斜視図、第7図は金型に
リードフレームを入れた状態を示す第2図の−
線に相当する部分の断面図、第8図は金型にリ
ードフレームを入れた状態を示す第2図の−
線に相当する部分の断面図、第9図、及び第10
図は第7図及び第8図の金型に樹脂を充填した状
態をそれぞれ示す断面図、第11図は従来のトラ
ンジスタを示す斜視図、第12図は第11図のト
ランジスタを形成するために金型にリードフレー
ムを入れて樹脂を充填した状態を示す断面図、第
13図は本発明の変形例を示す斜視図である。 21……放熱支持板、22a,22b,22c
……リード、23……トランジスタチツプ、24
a,24c……内部リード、25……保護層、2
8……切欠部、29……上部金型、29a……ピ
ン、29b……突出部、30……下部金型、31
……注入孔、32……空所、32a……上部空
所、32b……下部空所、37……樹脂被覆体、
37a……一方の樹脂被覆部、37b……他方の
樹脂被覆部、38……溝、39……取付孔、41
……主被覆部分、42……取付孔近傍被覆部分、
43……薄い被覆部分。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 放熱機能を有するように形成され且つ一端部
    近傍に切欠部又は孔を有している金属製支持板
    と、前記支持板の一方の主表面上に装着された半
    導体チツプと、前記チツプに電気的に接続された
    リードと、前記支持板、前記チツプ、及び前記リ
    ードの一部を被覆する絶縁性樹脂被覆体とから成
    り、且つ前記支持板の一方の主表面側の樹脂被覆
    部が他方の主表面側の樹脂被覆部よりも厚くなる
    ように前記樹脂被覆体が形成され、且つ前記切欠
    部又は孔の部分に取付用切欠部又は孔が生じるよ
    うに前記樹脂被覆体が形成される樹脂封止型半導
    体装置の製造方法において、 前記一方の主表面側の樹脂被覆部の前記チツプ
    を被覆する部分及び前記取付用切欠部又は孔の近
    傍を被覆する部分よりも薄い被覆部分を前記取付
    用切欠部又は孔から離間していると共に前記取付
    用切欠部又は孔よりも前記支持板の一端部から離
    れている位置に生じさせるための突出部を設けた
    樹脂封止用型を使用し、前記支持板の一端部近傍
    側の注入孔から前記樹脂封止用型の成形空間内に
    封止樹脂を注入して前記樹脂被覆体を成形するこ
    とを特徴とする樹脂封止型半導体装置の製造方
    法。 2 前記樹脂被覆体の成形は、トランスフアー成
    形法で成形することである特許請求の範囲第1項
    記載の半導体装置の製造方法。
JP59114018A 1984-06-04 1984-06-04 樹脂封止型半導体装置の製造方法 Granted JPS60257529A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS60169843U (ja) * 1984-04-19 1985-11-11 日本電気株式会社 絶縁型半導体装置

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