JPH0256446A - 液晶材料 - Google Patents
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- JPH0256446A JPH0256446A JP63208913A JP20891388A JPH0256446A JP H0256446 A JPH0256446 A JP H0256446A JP 63208913 A JP63208913 A JP 63208913A JP 20891388 A JP20891388 A JP 20891388A JP H0256446 A JPH0256446 A JP H0256446A
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- Liquid Crystal Substances (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は9画像表示の応答性に優れた表示素子として有
用な強誘電性の液晶性化合物及びそれを含有するカイラ
ルスメクチック液晶組成物に関する。
用な強誘電性の液晶性化合物及びそれを含有するカイラ
ルスメクチック液晶組成物に関する。
現在、液晶材料による表示素子は受光型の表示方式であ
り、消費電力の少ないことや、薄型の表示装置を作成で
きる等の特長があシ、広く実用に供されている。一方発
光型の表示方式で、高速応答全特長とするEL(エレク
トロルミネッセンス)やプラズマデイスプレィの開発も
盛んである。
り、消費電力の少ないことや、薄型の表示装置を作成で
きる等の特長があシ、広く実用に供されている。一方発
光型の表示方式で、高速応答全特長とするEL(エレク
トロルミネッセンス)やプラズマデイスプレィの開発も
盛んである。
これまで表示素子に用いられてきた液晶は殆どがネマチ
ック液晶で、その主流はTNCツイスト・ネマチック(
Twisted Nematic ) ]型である。こ
のTN型表示方式は、小型、低消費電力などの長所を有
する反面9画像表示の応答速度が遅いという欠点も有し
ている。この点における改善は種4Uみられてきたが、
モレキュラ・クリスタルズ・アンド争すキッド争りリス
タルズ(Mo1ecularCrystals an
d Liquid Crystals )第94巻第
155〜165頁で示された理論的限界値を実証した結
果にとどまり、TN型表示用の材料開発もほぼ限界に来
ていると見られる。
ック液晶で、その主流はTNCツイスト・ネマチック(
Twisted Nematic ) ]型である。こ
のTN型表示方式は、小型、低消費電力などの長所を有
する反面9画像表示の応答速度が遅いという欠点も有し
ている。この点における改善は種4Uみられてきたが、
モレキュラ・クリスタルズ・アンド争すキッド争りリス
タルズ(Mo1ecularCrystals an
d Liquid Crystals )第94巻第
155〜165頁で示された理論的限界値を実証した結
果にとどまり、TN型表示用の材料開発もほぼ限界に来
ていると見られる。
そこで上記欠点を克服するためにネマチック液晶にかわ
って近年ではカイフ/し液晶の開発に関心が移り、とく
に強誘電性液晶については、かなりの進展が見られるよ
うになった。
って近年ではカイフ/し液晶の開発に関心が移り、とく
に強誘電性液晶については、かなりの進展が見られるよ
うになった。
強誘電性液晶として最初に開発されたものは。
ローC1oH21O8CH=N(3−CH=CH−CO
2−H3 −CH2CHC2H5 * (式中*は不斉炭素原子を示す)で表わされる化合物(
以下DOBAMBCと略す)で、その液晶相の相系列と
相転移温度(℃)は次の通シである。
2−H3 −CH2CHC2H5 * (式中*は不斉炭素原子を示す)で表わされる化合物(
以下DOBAMBCと略す)で、その液晶相の相系列と
相転移温度(℃)は次の通シである。
(式中Cは結晶相、 SAはスメクチックA相、Sc*
はカイラルスメクチックC相、SH*はカイラルスメク
チックH相、■は等方性液体をそれぞれ示す)。
はカイラルスメクチックC相、SH*はカイラルスメク
チックH相、■は等方性液体をそれぞれ示す)。
強誘電性は分子配列上分類命名されているカイラルスメ
クチックC相(以下Sc*と略す)もしくはカイラルス
メクチックH相(以下Sl+*と略ス)に発現し1強誘
電性に基づく応答は次式[A)τ−″/P5.ECA〕 (式中τは応答時間、ηは液晶材料の粘度、 Psは自
発分極、Eは電界を示す)として表わされるため、理論
上1μsまでの応答のできる表示素子を得る可能性がア
ール・ビ・メイヤー(R,B、 Meyer )等忙よ
り、ジャーナル・オプ・フィジックス・フラン7(Jo
urnal of Physics France )
第36巻、第69頁(1975)に示された。
クチックC相(以下Sc*と略す)もしくはカイラルス
メクチックH相(以下Sl+*と略ス)に発現し1強誘
電性に基づく応答は次式[A)τ−″/P5.ECA〕 (式中τは応答時間、ηは液晶材料の粘度、 Psは自
発分極、Eは電界を示す)として表わされるため、理論
上1μsまでの応答のできる表示素子を得る可能性がア
ール・ビ・メイヤー(R,B、 Meyer )等忙よ
り、ジャーナル・オプ・フィジックス・フラン7(Jo
urnal of Physics France )
第36巻、第69頁(1975)に示された。
代表的な強誘電性液晶として第1表に示される化合物が
ある。しかし、これらの化合物は光により短時間の内に
異性化を起こしたり、また水分に不安定で、加水分解反
応によシ液晶性を示さ、なくなり1表示素子用材料とし
て好ましくない。
ある。しかし、これらの化合物は光により短時間の内に
異性化を起こしたり、また水分に不安定で、加水分解反
応によシ液晶性を示さ、なくなり1表示素子用材料とし
て好ましくない。
最近では、第2表に示される強誘電性液晶化合物が開示
されている。
されている。
第 2 表
〔問題点を解決するための手段〕
本発明者等は、上記観点から鋭意研究の結果。
安定性にすぐれ、Sc*相もしくはSH”相に属する上
限温度が高(、Ps値の大きな強誘電性の液晶性化合物
及びそれを含有する液晶組成物を見出し1本発明に到っ
た。。
限温度が高(、Ps値の大きな強誘電性の液晶性化合物
及びそれを含有する液晶組成物を見出し1本発明に到っ
た。。
すなわち9本発明は、一般式〔I〕
(へ)第2表中R,Rはアルキル基を、木は不斉炭素原
子をそれぞれ示す。
子をそれぞれ示す。
これらの化合物によって上記問題点が解決され。
自発分極(、Ps)の値は比較的大きい値を示している
が1強誘電性を示すカイラルスメクチック相の上限温度
が低く実用的でない。
が1強誘電性を示すカイラルスメクチック相の上限温度
が低く実用的でない。
(式中Rは炭素数1〜20のアルキル基又はアルコキシ
基を、Qはエチニレン基又はエチレン基を。
基を、Qはエチニレン基又はエチレン基を。
mは1〜5の整数を、nはO〜5の整数を、*は不斉炭
素原子をそれぞれ示す)で表わされるトラン骨格又はジ
アレーニルエタン骨格を有することを特徴とする液晶性
化合物である。
素原子をそれぞれ示す)で表わされるトラン骨格又はジ
アレーニルエタン骨格を有することを特徴とする液晶性
化合物である。
また本発明は、上記一般式〔I〕で表わされる化合物を
少なくとも1種含有することを特徴とする液晶組成物で
ある。
少なくとも1種含有することを特徴とする液晶組成物で
ある。
一般式(Ilにおいて、トラン骨格部は、Qがエチニレ
ン基の場合で1次のように命名される。
ン基の場合で1次のように命名される。
3 2 2’ 3’したがって、上
記一般式〔I〕で表わされる化合物ハ、4−(R又はS
)−アルコキシカルボニル−4’ −p−アルキル(又
はアルコキシ)フェニルカルボニルオキシトランと命名
することができる。
記一般式〔I〕で表わされる化合物ハ、4−(R又はS
)−アルコキシカルボニル−4’ −p−アルキル(又
はアルコキシ)フェニルカルボニルオキシトランと命名
することができる。
サラに一般式(1)において、ジアレーニルエタン骨格
部は、Qがエチレン基の場合で1次のように命名される
。
部は、Qがエチレン基の場合で1次のように命名される
。
したがって、上記一般式〔I〕で表わされる化合物は、
1−C4−(R又はS)−アルコキシカルボニルフェニ
ル:]−2−〔4’−<p−アルキル又はアルコキシフ
ェニル ル〕エタンと命名することができる。
1−C4−(R又はS)−アルコキシカルボニルフェニ
ル:]−2−〔4’−<p−アルキル又はアルコキシフ
ェニル ル〕エタンと命名することができる。
一般式〔I〕で表わされる化合物の製造法は下記に詳述
するが,製造原料の一つとして光学活性基を有するアル
コール化合物が使用される・光学活性アルコールとして
は.産業上の汎用性を考えて安価で入手できる.例えば
、1級アルコールとして.2−メチルブタノール、3−
メチルペンタノール、4−メチルヘキサノール、5−メ
チルヘプタツール、6−メチルオクタツールなどが.2
Rアルコールトシて.■ーメチルプロパツール、1−メ
チルブタノール、l−メチルペンタノール。
するが,製造原料の一つとして光学活性基を有するアル
コール化合物が使用される・光学活性アルコールとして
は.産業上の汎用性を考えて安価で入手できる.例えば
、1級アルコールとして.2−メチルブタノール、3−
メチルペンタノール、4−メチルヘキサノール、5−メ
チルヘプタツール、6−メチルオクタツールなどが.2
Rアルコールトシて.■ーメチルプロパツール、1−メ
チルブタノール、l−メチルペンタノール。
■ーメチルへキサノー/L/,l−メチルヘプタツール
、■ーメチルオクタツールなどが挙げられ,よく利用さ
れる。
、■ーメチルオクタツールなどが挙げられ,よく利用さ
れる。
本発明の化合物の製造法の概略を示すと次のようになる
。
。
〔上記式中Rは炭素数1〜20のアルキル基又はアこで
mは1〜5の整数,nはO〜5の整数,*は不斉炭素原
子を示す)を、 TEAはトリエチルアミンを,THF
はテトラヒドロフランをそれぞれ示す。〕〔作 用〕 本発明の化合物は次の作用及び特長を示す。
mは1〜5の整数,nはO〜5の整数,*は不斉炭素原
子を示す)を、 TEAはトリエチルアミンを,THF
はテトラヒドロフランをそれぞれ示す。〕〔作 用〕 本発明の化合物は次の作用及び特長を示す。
まず水分を含有する雰囲気下において.容易に分解され
うるような基,アゾメチン基(−N=CH−)をもたず
、光によって異性化するような基(−ζ)−〇H =C
H−)をもたないので、湿気.光に対して非常に安定で
ある。次に本発明の化合物は単独でも強誘電性を示す上
限温度が高く.本発明の化合物どうしを.又は本発明の
化合物と既存強誘電性液晶性化合物.例えばエステル系
.ビフェニル系。ピリミジン系等を混合することにより
。
うるような基,アゾメチン基(−N=CH−)をもたず
、光によって異性化するような基(−ζ)−〇H =C
H−)をもたないので、湿気.光に対して非常に安定で
ある。次に本発明の化合物は単独でも強誘電性を示す上
限温度が高く.本発明の化合物どうしを.又は本発明の
化合物と既存強誘電性液晶性化合物.例えばエステル系
.ビフェニル系。ピリミジン系等を混合することにより
。
強誘電性を示す温度範囲の下限を室温以下にすることも
可能である。
可能である。
また本発明の化合物は大きいPs (自発分IM)fh
tYを示すため,混合系のブレンド材料として用いた場
合に.融点の降下の目的を達すると共に,混合系のPs
値を向上させることが可能である。
tYを示すため,混合系のブレンド材料として用いた場
合に.融点の降下の目的を達すると共に,混合系のPs
値を向上させることが可能である。
以下に実施例を例示して本発明を説明するが。
実施例中の%は重量%を示すものとする。
攪拌器,温度計及び還流冷却器を備えた500CC.の
三つロフラスコに, Ml 素’A 流中f 4 −
7 /l/ コキシカルポニルブロムベンゼン54 m
+nol, 3−メチル− 1 − フ゛チ ン −
3 −オ ー ル 5.91 ? ( 70
mmol ) 。
三つロフラスコに, Ml 素’A 流中f 4 −
7 /l/ コキシカルポニルブロムベンゼン54 m
+nol, 3−メチル− 1 − フ゛チ ン −
3 −オ ー ル 5.91 ? ( 70
mmol ) 。
トリフェニルホスフィン270■、ジクロロビス(トリ
フェニルホスフィン)パラジウム触に14oq(0,2
0m mol )及びトリエチルアミン60 m乙を仕
込み、攪拌溶解し、ヨウ化銅45〜を加えた。室温で3
時間攪拌後、徐々に加熱し、30分要して内温を80℃
とした。この温度で10時間反応させた。反応後は室温
に戻し、トリエチルアミンを減圧上留去し、残留物にエ
ーテル300 mlを加えて水洗、無水硫酸ナトリウム
で乾燥した。濾過後、エーテルを留去し、残留物をシリ
カゲルカラムクロマトグラフィー(200メツシユのシ
リカゲiI/10051 、展開溶媒ニジクロルメタン
)にかけて9次式の化合物(A)を中間化合物としC得
た。
フェニルホスフィン)パラジウム触に14oq(0,2
0m mol )及びトリエチルアミン60 m乙を仕
込み、攪拌溶解し、ヨウ化銅45〜を加えた。室温で3
時間攪拌後、徐々に加熱し、30分要して内温を80℃
とした。この温度で10時間反応させた。反応後は室温
に戻し、トリエチルアミンを減圧上留去し、残留物にエ
ーテル300 mlを加えて水洗、無水硫酸ナトリウム
で乾燥した。濾過後、エーテルを留去し、残留物をシリ
カゲルカラムクロマトグラフィー(200メツシユのシ
リカゲiI/10051 、展開溶媒ニジクロルメタン
)にかけて9次式の化合物(A)を中間化合物としC得
た。
H3
攪拌2g、温度計及び蒸留装置を備えた300 cc、
の三つロフラスコに、窒素気流中で上記化合物〔A〕5
7.8mmo+、無水トルエン120mt及びナトリウ
ムハイドライド(60%ヌジュール分散剤)200■を
仕込み、室温で30分間攪拌した。徐々に加熱し。
の三つロフラスコに、窒素気流中で上記化合物〔A〕5
7.8mmo+、無水トルエン120mt及びナトリウ
ムハイドライド(60%ヌジュール分散剤)200■を
仕込み、室温で30分間攪拌した。徐々に加熱し。
30分要して内温を70℃とした。アセトン(副生物)
の還流が始まり、トルエンと共に留出しはじめるが、さ
らに加熱して留出温度がトルエンの沸点となるまで反応
を続けた。この間2時間を要し留出した溶媒は60m1
であった。反応終了後、室温に戻し、ベンイン100m
乙加えて水洗、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。F5過
後、有機溶媒を留去し、残留物をシリカゲルカラムクロ
マトグラフィー (200メツシユのシリカゲル100
F 、展開溶媒:ベンゼン)にかけて、第3表の4−
アルコキ、ジカルボニルフェニルアセチレンを85〜8
8%の収率で得た。その構造はIR及びNMRスペクト
ルで確認した。
の還流が始まり、トルエンと共に留出しはじめるが、さ
らに加熱して留出温度がトルエンの沸点となるまで反応
を続けた。この間2時間を要し留出した溶媒は60m1
であった。反応終了後、室温に戻し、ベンイン100m
乙加えて水洗、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。F5過
後、有機溶媒を留去し、残留物をシリカゲルカラムクロ
マトグラフィー (200メツシユのシリカゲル100
F 、展開溶媒:ベンゼン)にかけて、第3表の4−
アルコキ、ジカルボニルフェニルアセチレンを85〜8
8%の収率で得た。その構造はIR及びNMRスペクト
ルで確認した。
結果を第3表に示す。
第
表
sa例2 p−ブロモフェニル−4−アルコキシ(又は
(注1 ) : 2100〜2150儒−1にCミCに
基づく吸収ピークあるが極めて弱い。
(注1 ) : 2100〜2150儒−1にCミCに
基づく吸収ピークあるが極めて弱い。
攪拌器、温度計及び還流冷却器を備えた100cc、三
つロフラスコに、p−ブロモフェノ−zlz 3.93
9(25rnmol )と無水ピリジン10m1を仕込
み、攪拌下に溶解した。このピリジン溶液に、4−アル
コキシ(又はアルキル)ベンゾイルクロライド20rr
unolを含むテトラヒドロフラン溶液20m1を水冷
下加えた。反応温度を室温に戻した後、還流温度とし。
つロフラスコに、p−ブロモフェノ−zlz 3.93
9(25rnmol )と無水ピリジン10m1を仕込
み、攪拌下に溶解した。このピリジン溶液に、4−アル
コキシ(又はアルキル)ベンゾイルクロライド20rr
unolを含むテトラヒドロフラン溶液20m1を水冷
下加えた。反応温度を室温に戻した後、還流温度とし。
8時間攪拌した。反応終了後、ベンセンを加え。
水洗、 10%苛性ソーダのアルカリ水洗、水洗の順で
洗浄した後、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。
洗浄した後、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。
溶媒を減圧下に留去し、残留物をエタノールから結晶と
して単離精製し、p−プロモフェニ/L/−4−アルコ
キシ(又はアルキ/l/)ベンゾエートI:C)を72
〜97%の収率で得た。
して単離精製し、p−プロモフェニ/L/−4−アルコ
キシ(又はアルキ/l/)ベンゾエートI:C)を72
〜97%の収率で得た。
結果を第4表に示す。
第
4e
表
(ハ)第4表中の透明点は液晶相から等方性液体への転
移点を示し、()は融点以下の過冷却状態における液晶
相から等方性液体への転移点を示す。
移点を示し、()は融点以下の過冷却状態における液晶
相から等方性液体への転移点を示す。
攪拌器、温度計及び還流冷却器を備えた三つロフラスコ
に、窒素気流中で製造例2で得られたp−7”ロモフェ
ニ)V −4−アルコキシ(又Lt 7 /l/キ/l
/ )ベンゾエート4.8を旧no!、製造例1で得ら
れた4−アルコキンカルボ二〜フェニルアセチレン5、
0 mmo! 、 トリフェニルホスフィン65Tng
、 ジクロロビヌ(トリフェニルホスフィン)パラジ
ウム触媒32■及びトリエチルアミン80m1を仕込み
、攪拌溶解し、ヨウ化銅6■を加えた。室温で2時間攪
拌後、徐々に加熱し、30分要して還流温度とした。こ
の温度で10時間反応させた。反応後は室温に戻し、ト
リエチルアミンを減圧上留去し、残留物にエーテ/L/
100 mlを加えて水洗、無水硫酸ナトリウムで乾燥
した。濾過後、エーテルを留去し残留物ヲシリカゲル力
ラムクロマトグラフィー(200メツシユのシリカゲ/
L/1oOr、R開溶媒:ベンゼン/ヘキサン=171
)にかけて単離精製した。ヘキサンから再結晶化して
4−アルコキシカルボニル−4−[p−アルコキシ〔又
はアルキ/l/)フェニル〕カルボニルオキシトラン〔
I〕ヲ81〜90%の収率で得た。各化合物の構造はI
R。
に、窒素気流中で製造例2で得られたp−7”ロモフェ
ニ)V −4−アルコキシ(又Lt 7 /l/キ/l
/ )ベンゾエート4.8を旧no!、製造例1で得ら
れた4−アルコキンカルボ二〜フェニルアセチレン5、
0 mmo! 、 トリフェニルホスフィン65Tng
、 ジクロロビヌ(トリフェニルホスフィン)パラジ
ウム触媒32■及びトリエチルアミン80m1を仕込み
、攪拌溶解し、ヨウ化銅6■を加えた。室温で2時間攪
拌後、徐々に加熱し、30分要して還流温度とした。こ
の温度で10時間反応させた。反応後は室温に戻し、ト
リエチルアミンを減圧上留去し、残留物にエーテ/L/
100 mlを加えて水洗、無水硫酸ナトリウムで乾燥
した。濾過後、エーテルを留去し残留物ヲシリカゲル力
ラムクロマトグラフィー(200メツシユのシリカゲ/
L/1oOr、R開溶媒:ベンゼン/ヘキサン=171
)にかけて単離精製した。ヘキサンから再結晶化して
4−アルコキシカルボニル−4−[p−アルコキシ〔又
はアルキ/l/)フェニル〕カルボニルオキシトラン〔
I〕ヲ81〜90%の収率で得た。各化合物の構造はI
R。
NMRスペクトルデータで確認した。
例1. C化合物階3〕
IR、J/、l、、、!2928.1728.1720
.1276、762 cm−”NMR: a ”:、’
、¥38.1〜6.8(In、 12H)、 5.1(
m、 LH)。
.1276、762 cm−”NMR: a ”:、’
、¥38.1〜6.8(In、 12H)、 5.1(
m、 LH)。
4.0(t、 2H)、 2.0〜0.7(m、 31
〜33H)ppm例2.〔化合物I&L8〕 IR、νl11.x 2924,1732.17
12.1270,880゜NMR:δ?Dt’r38.
1(m、4H)、7.6(m、4H)、7.3(m、4
H)。
〜33H)ppm例2.〔化合物I&L8〕 IR、νl11.x 2924,1732.17
12.1270,880゜NMR:δ?Dt’r38.
1(m、4H)、7.6(m、4H)、7.3(m、4
H)。
5.2(m、 LH)、 2.7(t、 2B)、 1
.9〜0.7(m、 、30〜31 H) 991n得
られた各化合物の相転移温度と共に結果を第5表に示す
。
.9〜0.7(m、 、30〜31 H) 991n得
られた各化合物の相転移温度と共に結果を第5表に示す
。
(へ)第5表中の記号は次のことを示す。
C:結晶相、Sx:素性未決定のスメクチック相。
S^:スメクチックA相、S(’:カイラルスメクチッ
クC相。
クC相。
Ch:コレステリック相、■二等方性液体相。
PS:自発分極の値(IIC//cnl)。
を減圧下で留去した。度広粗生成物をシリカゲルカラム
クロマトグラフィー(200メツシユのシリカゲ/v5
oy、R開HK :ベンゼン/ヘキサン=1/1)にか
けて精製した。収率は90〜97%であった。各化合物
の構造はIR、NMRスペクトルで確認した。
クロマトグラフィー(200メツシユのシリカゲ/v5
oy、R開HK :ベンゼン/ヘキサン=1/1)にか
けて精製した。収率は90〜97%であった。各化合物
の構造はIR、NMRスペクトルで確認した。
例1.〔化合動部13〕
攪拌器、温度計、還流冷却器及び水素ガスをためたゴム
風せんを備えたフラヌコに、実施例1でmf: 4−ア
ルコキシカルボニル−ルコキシ(又はアルキ/V)フェ
ニル〕カルボニルオキシトラン4.4mmol 、 5
%パラジウム−炭素触媒500 Illg及び酢酸エチ
ルlomlを仕込んだ。水素ガス置換後に,室温で反応
させた。反応の進行の程度を薄層クロマトチップで調べ
た。反応は約6時間でほぼ完了したが.さらに14時間
水素雰囲気中で攪拌を続けた。反応後はダイカライドを
敷いたグラスフィルターで触姪を除去し.酢酸エチルI
R 、 v,、、、x2924, 1732, 1
708, 1280, 846。
風せんを備えたフラヌコに、実施例1でmf: 4−ア
ルコキシカルボニル−ルコキシ(又はアルキ/V)フェ
ニル〕カルボニルオキシトラン4.4mmol 、 5
%パラジウム−炭素触媒500 Illg及び酢酸エチ
ルlomlを仕込んだ。水素ガス置換後に,室温で反応
させた。反応の進行の程度を薄層クロマトチップで調べ
た。反応は約6時間でほぼ完了したが.さらに14時間
水素雰囲気中で攪拌を続けた。反応後はダイカライドを
敷いたグラスフィルターで触姪を除去し.酢酸エチルI
R 、 v,、、、x2924, 1732, 1
708, 1280, 846。
762cm”
NMR :δ::’ 8.2〜7.9(m.4H)、
7.3〜6.8(m,8H)。
7.3〜6.8(m,8H)。
5、2(m. 1)1)、 4.0 (t, 2H)、
3.0(8. 4.H)。
3.0(8. 4.H)。
2、1−0.67(m,31 〜32H)ppm例2.
〔化合物NIL18〕 IR 、 ti,、。 2928. 1730.
1710. 1278. 1178。
〔化合物NIL18〕 IR 、 ti,、。 2928. 1730.
1710. 1278. 1178。
7 5 6 an−”
NMR :δ?:s 8.1(In,4H)、7.8
(m,8H)、5.1(fll.IH)。
(m,8H)、5.1(fll.IH)。
3.0 (8,4H)、 2.7 (t、 2H)、
2.0〜0.67(+n、31)1)ppm 得られた各化合物の相転移温度と共に結果を第6表に示
す。
2.0〜0.67(+n、31)1)ppm 得られた各化合物の相転移温度と共に結果を第6表に示
す。
(へ)第6表中の記号は次のことを示す。
C:結晶相、Sx:素性未決定のスメクチック相。
SA: スメクチックA相、Sc*:カイラルスメクチ
ックC相。
ックC相。
Ch:コレステリック相、■二等方性液体相。
PS:自発分極の値(nC7crl )実施例3
第5表の化合動磁7.第6表の化合物随11及びN11
12の本発明の液晶性化合物を用いて、下記第7表の液
晶組成物を調製し、その相転移温度を測定した結果、第
7表に示す通りであった。
12の本発明の液晶性化合物を用いて、下記第7表の液
晶組成物を調製し、その相転移温度を測定した結果、第
7表に示す通りであった。
第 7 表
この液晶組成物を1ポリイミド膜を塗布し1表面をラビ
ングして平行配向処理を施し、セル厚を2μmに制御し
た透明!極を有するセルに注入したところ、 Sc
で均一な配向のセルが得られた。また40℃の温度下±
IOVの矩形波電圧を印加すると、応答時間0.53m
5. コントラス) 10の表示素子が得られた。
ングして平行配向処理を施し、セル厚を2μmに制御し
た透明!極を有するセルに注入したところ、 Sc
で均一な配向のセルが得られた。また40℃の温度下±
IOVの矩形波電圧を印加すると、応答時間0.53m
5. コントラス) 10の表示素子が得られた。
実施例4
実施例3の液晶組成物80%と次の構造式で表わされる
化合物20%とからなる液晶組成物を調製し、その相転
移温度を測定した結果1次の通りであった。
化合物20%とからなる液晶組成物を調製し、その相転
移温度を測定した結果1次の通りであった。
35℃ 62℃ 92℃C−−
−−−5c*−−−−−S八−一一一−■この液晶組成
物を実施例3で用いたセルと同様のセルに注入したとこ
ろScで均一な配向のセルを得ることができた。このセ
ルの40℃での応答時11J]o、51m5.コントラ
スト13であった。エステル系材料の他にビフェニル系
、ピリミジン系液晶化合物などとの混合によっても融点
を下げ、 Sc*の温度範囲を拡大することが可能であ
った。
−−−5c*−−−−−S八−一一一−■この液晶組成
物を実施例3で用いたセルと同様のセルに注入したとこ
ろScで均一な配向のセルを得ることができた。このセ
ルの40℃での応答時11J]o、51m5.コントラ
スト13であった。エステル系材料の他にビフェニル系
、ピリミジン系液晶化合物などとの混合によっても融点
を下げ、 Sc*の温度範囲を拡大することが可能であ
った。
実施例5
第6表の化合物N112.磁17及びN120の本発明
の液晶性化合物を用いて、下記第8表の液晶組成物を調
製し、その相転移温度を測定した結果。
の液晶性化合物を用いて、下記第8表の液晶組成物を調
製し、その相転移温度を測定した結果。
第8表に示す通りであった。
第8表
この液晶組成物を実施例3で用いたセルと同様のセルに
注入したところSC*で均一な配向のセルを得ることが
できた。このセルの45℃での応答時間0.50m5.
コントラスト10の表示素子が得られた。
注入したところSC*で均一な配向のセルを得ることが
できた。このセルの45℃での応答時間0.50m5.
コントラスト10の表示素子が得られた。
実施例6
実施例5の液晶組成物80%と次の構造式で表わされる
化合物20%とからなる液晶組成物を調製し、その相転
移温度を測定した結果1次の通りであった。
化合物20%とからなる液晶組成物を調製し、その相転
移温度を測定した結果1次の通りであった。
この液晶組成物を実施例3で用いたセルと同様のセルに
注入したところScで均一な配向のセルを得ることがで
きた。このセルの40℃での応答時間0、45 ms
、 コントラスト13であった。エステ/>材料の他
にビフェニル系、ピリミジン系液晶化合物などとの混合
によっても融点を下げ、 Sc*の温度範囲を拡大す
ることが可能であった。
注入したところScで均一な配向のセルを得ることがで
きた。このセルの40℃での応答時間0、45 ms
、 コントラスト13であった。エステ/>材料の他
にビフェニル系、ピリミジン系液晶化合物などとの混合
によっても融点を下げ、 Sc*の温度範囲を拡大す
ることが可能であった。
上記実施例1,2.3及び5で示したように本発明の化
合物は、 Sc相を呈し9強誘電性を有する化合物で
あり、また実施例4及び6の結果から室温を含む広い温
度範囲のカイラルスメクチック液晶組成物を得ていく上
で、有効な成分となることは明らかである。
合物は、 Sc相を呈し9強誘電性を有する化合物で
あり、また実施例4及び6の結果から室温を含む広い温
度範囲のカイラルスメクチック液晶組成物を得ていく上
で、有効な成分となることは明らかである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、一般式〔 I 〕 ▲数式、化学式、表等があります▼〔 I 〕 (式中Rは炭素数1〜20のアルキル基又はアルコキシ
基を、Qはエチニレン基又はエチレン基を、mは1〜5
の整数を、nは0〜5の整数を、*は不斉炭素原子をそ
れぞれ示す)で表わされるトラン骨格又はジアレーニル
エタン骨格を有することを特徴とする液晶性化合物。 2、Qがエチニレン基である特許請求の範囲第1項記載
の液晶性化合物。 3、Qがエチレン基である特許請求の範囲第1項記載の
液晶性化合物。 4、一般式〔 I 〕 ▲数式、化学式、表等があります▼〔 I 〕 (式中Rは炭素数1〜20のアルキル基又はアルコキシ
基を、Qはエチニレン基又はエチレン基を、mは1〜5
の整数を、nは0〜5の整数を、*は不斉炭素原子をそ
れぞれ示す)で表わされるトラン骨格又はジアレーニル
エタン骨格を有する液晶性化合物を少なくとも1種含有
することを特徴とする液晶組成物。 5、Qがエチニレン基である特許請求の範囲第4項記載
の液晶組成物。 6、Qがエチレン基である特許請求の範囲第4項記載の
液晶組成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63208913A JPH0256446A (ja) | 1988-08-22 | 1988-08-22 | 液晶材料 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63208913A JPH0256446A (ja) | 1988-08-22 | 1988-08-22 | 液晶材料 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0256446A true JPH0256446A (ja) | 1990-02-26 |
Family
ID=16564192
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63208913A Pending JPH0256446A (ja) | 1988-08-22 | 1988-08-22 | 液晶材料 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0256446A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6804103B1 (en) | 1999-09-28 | 2004-10-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Electronic component and method for manufacturing the same |
-
1988
- 1988-08-22 JP JP63208913A patent/JPH0256446A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6804103B1 (en) | 1999-09-28 | 2004-10-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Electronic component and method for manufacturing the same |
| US7345362B2 (en) | 1999-09-28 | 2008-03-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Electronic component and method for manufacturing the same |
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