JPH0258723A - 磁気記録媒体及び磁気記憶装置 - Google Patents
磁気記録媒体及び磁気記憶装置Info
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- JPH0258723A JPH0258723A JP63208317A JP20831788A JPH0258723A JP H0258723 A JPH0258723 A JP H0258723A JP 63208317 A JP63208317 A JP 63208317A JP 20831788 A JP20831788 A JP 20831788A JP H0258723 A JPH0258723 A JP H0258723A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気テープ、フロッピディスク磁気ディスク等
の磁気記録媒体及びこれらを用いた磁気記憶装置に係り
、特に高記録密度に好適な磁気記録媒体及びこれを用い
た磁気記憶装置に関する。
の磁気記録媒体及びこれらを用いた磁気記憶装置に係り
、特に高記録密度に好適な磁気記録媒体及びこれを用い
た磁気記憶装置に関する。
従来、高記録密度用の磁気記録媒体としては、特公昭5
4−33523号公報で示されているように、金属磁性
薄膜を用いた媒体が提案されている。−般に媒体形成法
としては、蒸着法、スパッタ法。
4−33523号公報で示されているように、金属磁性
薄膜を用いた媒体が提案されている。−般に媒体形成法
としては、蒸着法、スパッタ法。
メツキ法、及びイオンビームスパッタ法などがある。最
近、高記録密度化、高信頼性化に関する要求が高まって
きており、特開昭60−111323号、特開昭59−
177725号公報などのように、Co −P t 。
近、高記録密度化、高信頼性化に関する要求が高まって
きており、特開昭60−111323号、特開昭59−
177725号公報などのように、Co −P t 。
G o −N i −P t 、 Co −Cr −P
t 、 G o −Ta −P t 、 G o −
T i −P t 、 G o −Z r −P t
。
t 、 G o −Ta −P t 、 G o −
T i −P t 、 G o −Z r −P t
。
G o −Hf −P tなどの磁性合金を用いる提案
がなされるようになった。
がなされるようになった。
上記従来技術による磁気記録媒体は、アイ・イー・イー
・イー、トランザクションズ、オン、マグネティクス、
エム・ニー・ジ−22巻(1986年)895頁から8
97頁(IEEE Trans、 on Magn。
・イー、トランザクションズ、オン、マグネティクス、
エム・ニー・ジ−22巻(1986年)895頁から8
97頁(IEEE Trans、 on Magn。
MAG−22(1986) p 895− p 897
)に述べられているように媒体ノイズが大きくなり易い
という欠点があった。特に近年は高記録密度化に伴い、
記録周波数が高く帯域が広くなっており、そのためヘッ
ドノイズ、アンプノイズが増大する傾向にあり、媒体と
しては高出力を保ったままこれらのノイズよりも小さな
ノイズ特性を有するものの開発が望まれていた。
)に述べられているように媒体ノイズが大きくなり易い
という欠点があった。特に近年は高記録密度化に伴い、
記録周波数が高く帯域が広くなっており、そのためヘッ
ドノイズ、アンプノイズが増大する傾向にあり、媒体と
しては高出力を保ったままこれらのノイズよりも小さな
ノイズ特性を有するものの開発が望まれていた。
しかし、ヒューレットパツカードヤ、−ナル。
11月号、(1985年)28頁−29頁(Hewle
tt−Packard Journal、Nov、(1
985)p28−29)に述べられているように、磁気
特性を改良しようとすると耐食性が劣化するという問題
があった。
tt−Packard Journal、Nov、(1
985)p28−29)に述べられているように、磁気
特性を改良しようとすると耐食性が劣化するという問題
があった。
本発明の目的は、媒体ノイズが小さく、S/N特性に優
れ、しかも耐食性等の信頼性の高い磁気記録媒体及び大
容量で信頼性の高い磁気記憶装置を提供することにある
。
れ、しかも耐食性等の信頼性の高い磁気記録媒体及び大
容量で信頼性の高い磁気記憶装置を提供することにある
。
上記目的は、磁性層をCOとPtとを含み、さらにNi
、Cr、Mo、およびWからなる第1の群の中から選ば
れた少なくとも一種以上の元素からなる材料X、さらに
Ti、Zr、Hf、TayNb、RuおよびRhから成
る第2の群の中から選ばれた少なくとも一種以上の元素
から成る材料Y′、さらにAIlおよびSiから成る第
3の群の中から選ばれた少なくとも一種以上の元素から
なる材料Zを少なくとも含む合金とすることで速成され
る。
、Cr、Mo、およびWからなる第1の群の中から選ば
れた少なくとも一種以上の元素からなる材料X、さらに
Ti、Zr、Hf、TayNb、RuおよびRhから成
る第2の群の中から選ばれた少なくとも一種以上の元素
から成る材料Y′、さらにAIlおよびSiから成る第
3の群の中から選ばれた少なくとも一種以上の元素から
なる材料Zを少なくとも含む合金とすることで速成され
る。
ここで、Ptの組成は0.1 a t%以上30at%
以下、上記Zの組成は1a、t%以上15at%以下、
上記Y′の組成はlat%以上15at%以下であり、
残部がCO及び上記Xであることが望ましい。ここでC
r、Mo及びWから成る群から選ばれた少なくとも1種
の材料をB′としたときCOと上記Xとの組み合わせに
ついてはCot−aNia、 Ca1−a’ B ’a
’ 、 Cot−a−eN i aB ’eがあるが、
ここで不可避的な不純物を除きaは0.1以上0.5以
下、a′は0.01以上0.2以下、eは0.01以上
0.15以下であることが望ましい。
以下、上記Zの組成は1a、t%以上15at%以下、
上記Y′の組成はlat%以上15at%以下であり、
残部がCO及び上記Xであることが望ましい。ここでC
r、Mo及びWから成る群から選ばれた少なくとも1種
の材料をB′としたときCOと上記Xとの組み合わせに
ついてはCot−aNia、 Ca1−a’ B ’a
’ 、 Cot−a−eN i aB ’eがあるが、
ここで不可避的な不純物を除きaは0.1以上0.5以
下、a′は0.01以上0.2以下、eは0.01以上
0.15以下であることが望ましい。
また、磁性層中に酸素を0.1 a t%以上15at
%以下含ませることがさらに望ましく、該磁性層と非磁
性基板との間にCr、Mo、W及びCr−Tiなとこれ
らを主たる成分とする非磁性材料からなる中間層を設け
ることが好ましい。上記構成から成る媒体を用いること
で、高記録密度に適した高信頼性磁気記憶装置を提供す
ることができる。
%以下含ませることがさらに望ましく、該磁性層と非磁
性基板との間にCr、Mo、W及びCr−Tiなとこれ
らを主たる成分とする非磁性材料からなる中間層を設け
ることが好ましい。上記構成から成る媒体を用いること
で、高記録密度に適した高信頼性磁気記憶装置を提供す
ることができる。
上記効果は以下の作用による。COは結晶磁気異方性が
高く、Cr、Mo、W及びCr−Tiなどこれらを主成
分とする合金等の体心立方品系金属上にはCOが面内異
方向性成分を有するように配向するので、面内に高い保
磁力を有し得る。実際、Nj−、Cr、Mo、W、Pt
、等をCOに添加することで5000e程度以上の高い
保磁力が得られることが知られている。そこで本発明者
らは、CoNiPt、 CoCrPt及びCoNiCr
Pt合金にさらに周期率表4a、5a、6a、8,3b
、4bに属する種種の元素を添加し、高い保磁力を保っ
たまた媒体のノイズを低下せしめると共に耐食性を高め
ることを鋭意検討した結果、A (l g S ]及び
Al−8i合金を添加するとこれらがCOを主たる成分
とする磁性膜の結晶粒界に偏析して粒界間の磁気的な相
互作用を低減せしめることで著しくノイズが低減するこ
とが明らかになった。しかし粒界にこれ等の偏析物があ
るために局部電池を形成し易く、耐食性が劣化してしま
った。この問題を解決するためにさらに前記4a、5a
、6a、8,3b。
高く、Cr、Mo、W及びCr−Tiなどこれらを主成
分とする合金等の体心立方品系金属上にはCOが面内異
方向性成分を有するように配向するので、面内に高い保
磁力を有し得る。実際、Nj−、Cr、Mo、W、Pt
、等をCOに添加することで5000e程度以上の高い
保磁力が得られることが知られている。そこで本発明者
らは、CoNiPt、 CoCrPt及びCoNiCr
Pt合金にさらに周期率表4a、5a、6a、8,3b
、4bに属する種種の元素を添加し、高い保磁力を保っ
たまた媒体のノイズを低下せしめると共に耐食性を高め
ることを鋭意検討した結果、A (l g S ]及び
Al−8i合金を添加するとこれらがCOを主たる成分
とする磁性膜の結晶粒界に偏析して粒界間の磁気的な相
互作用を低減せしめることで著しくノイズが低減するこ
とが明らかになった。しかし粒界にこれ等の偏析物があ
るために局部電池を形成し易く、耐食性が劣化してしま
った。この問題を解決するためにさらに前記4a、5a
、6a、8,3b。
4b等の元素群を添加し、塩水噴霧試験によりその耐食
性を評価した結果、Ti、Zr、Hf、Ta+Nb、R
uおよびRhから成る群の中から選ばれた少なくとも一
種以上の元素からなる金属をさらに添加することでノイ
ズ特性を劣化せしめることなく耐食性を著しく向上する
ことができることが明らかになった。これは、TitZ
r、Hf、Ta。
性を評価した結果、Ti、Zr、Hf、Ta+Nb、R
uおよびRhから成る群の中から選ばれた少なくとも一
種以上の元素からなる金属をさらに添加することでノイ
ズ特性を劣化せしめることなく耐食性を著しく向上する
ことができることが明らかになった。これは、TitZ
r、Hf、Ta。
Nb等の元素が結晶粒界に緻密な不働態被膜を形成した
り、Ru、Rh等の元素が結晶粒自身の酸化還元電位を
責にするためであり、両方の機能を合わせ持たせるため
に両群の元素の合金を添加した場合にノイズ特性をそれ
程劣化せず最も高い耐食性が認められた。耐食性だけに
限れば例えばCoNiPt5j−系合金にPt、Pr等
を添加することで耐食性を向上することが出来るが、ノ
イズが大きくなるため好ましくない。
り、Ru、Rh等の元素が結晶粒自身の酸化還元電位を
責にするためであり、両方の機能を合わせ持たせるため
に両群の元素の合金を添加した場合にノイズ特性をそれ
程劣化せず最も高い耐食性が認められた。耐食性だけに
限れば例えばCoNiPt5j−系合金にPt、Pr等
を添加することで耐食性を向上することが出来るが、ノ
イズが大きくなるため好ましくない。
以下、上記添加元素の組成について説明する。
第2図に、N i −Pをメツキした51/4’φのA
l−Mg合金基板上に、RFマグネトロンスパッタ法を
用い、基板温度100℃アルゴンガス圧15 m To
w、投入電力1.5 W/dのもとで膜厚420nmの
Cr、膜厚60nmの (CoニーaNj、a)o、 asPto、o5sio
、o5Zro、osを形成した時の、保磁力のNi組成
依存性を示す。これからCOに対するNi組成aを10
at%以上、60at%とすることで高い保磁力が得ら
れることが分かる。
l−Mg合金基板上に、RFマグネトロンスパッタ法を
用い、基板温度100℃アルゴンガス圧15 m To
w、投入電力1.5 W/dのもとで膜厚420nmの
Cr、膜厚60nmの (CoニーaNj、a)o、 asPto、o5sio
、o5Zro、osを形成した時の、保磁力のNi組成
依存性を示す。これからCOに対するNi組成aを10
at%以上、60at%とすることで高い保磁力が得ら
れることが分かる。
同様に形成した
(Co1−a’ Cra’ )o、asPto、osS
io+osTao、os/ Cr膜についてもCoに対
するCrの組成a′が3at%以上、20at%以下の
場合に同様に高い保磁力が得られた。さらに、同条件で
形成した(Cot−a−eNjaCre)o、asPt
o、oaA Q o、o5Zro、os/ Cr膜につ
いても、0.1≦a≦0.5,0.01≦e≦0.15
の範囲で高い保磁力が得られた。
io+osTao、os/ Cr膜についてもCoに対
するCrの組成a′が3at%以上、20at%以下の
場合に同様に高い保磁力が得られた。さらに、同条件で
形成した(Cot−a−eNjaCre)o、asPt
o、oaA Q o、o5Zro、os/ Cr膜につ
いても、0.1≦a≦0.5,0.01≦e≦0.15
の範囲で高い保磁力が得られた。
以上の効果は磁性膜に添加する元素としてCrの替りに
Mo、Wを用いたりTa、Zrの替りに、Ti、Hf、
Nb、Ru、Rh及びこれらの合金を用いても同様であ
った。
Mo、Wを用いたりTa、Zrの替りに、Ti、Hf、
Nb、Ru、Rh及びこれらの合金を用いても同様であ
った。
さらに、第3図に前記条件で形成した
(Coo、7Nj、o、a)o、e−++PtdA Q
o、o5Zro、o5/ Cr膜の保磁力のpt組成
d依存性を示すが、pt組成が0.1at%以上、20
at%以下、より望ましくは2at%以上10at%以
下の場合に特に高い保磁力が得られ、再生出力も高くな
るので特に好ましい。
o、o5Zro、o5/ Cr膜の保磁力のpt組成
d依存性を示すが、pt組成が0.1at%以上、20
at%以下、より望ましくは2at%以上10at%以
下の場合に特に高い保磁力が得られ、再生出力も高くな
るので特に好ましい。
第4図に、前記条件で、膜厚60nmの(Coo、7N
io、s)o、5−cZro、o5sicPto、oI
!から成る磁性膜上にさらに膜厚40nmのカーボン保
護膜を形成した後に、パーフルオロマルキルボリエーテ
ル系のフッ素系液体潤滑剤を形成し、M n −Z n
フェライトリングヘッドでその記録再生特性を評価した
結果を示す。Si組組成上共にノイズは急激に減少し、
特にSi組成1at%以上より望ましくは3at%以上
の場合にノイズ低減効果が著しいことが分かる。Siを
15at%よりも多く添加してもノイズ減少の効果は少
ないが、飽和磁束密度、保磁力が急激に減少し、再生出
力が低下してしまうので好ましくない。Aflを添加し
た場合や、AflとSiとの合金を添加した場合も同様
の効果が認められた。
io、s)o、5−cZro、o5sicPto、oI
!から成る磁性膜上にさらに膜厚40nmのカーボン保
護膜を形成した後に、パーフルオロマルキルボリエーテ
ル系のフッ素系液体潤滑剤を形成し、M n −Z n
フェライトリングヘッドでその記録再生特性を評価した
結果を示す。Si組組成上共にノイズは急激に減少し、
特にSi組成1at%以上より望ましくは3at%以上
の場合にノイズ低減効果が著しいことが分かる。Siを
15at%よりも多く添加してもノイズ減少の効果は少
ないが、飽和磁束密度、保磁力が急激に減少し、再生出
力が低下してしまうので好ましくない。Aflを添加し
た場合や、AflとSiとの合金を添加した場合も同様
の効果が認められた。
前記条件で
C/(Coo、eNio、a)o、e−bZrbA Q
o、osPto*os / Cr膜を作製し、その耐
食性について塩水噴霧試験法で評価した結果、Zr組成
りをlat%以上とすることでノイズ特性を劣化せしめ
ることなく耐食性を5倍以上向上せしめることができた
。Zrを15at%よりも多く添加すると飽和磁束密度
が著しく低下して出力が低下してしまうので望ましくな
い、Zrの替りに、Ti、Hf、Ta、Nb。
o、osPto*os / Cr膜を作製し、その耐
食性について塩水噴霧試験法で評価した結果、Zr組成
りをlat%以上とすることでノイズ特性を劣化せしめ
ることなく耐食性を5倍以上向上せしめることができた
。Zrを15at%よりも多く添加すると飽和磁束密度
が著しく低下して出力が低下してしまうので望ましくな
い、Zrの替りに、Ti、Hf、Ta、Nb。
Ru、Rh及びこれらの合金についても同様の効果が認
められた。
められた。
上記組成の磁性材料を成膜する際に、Arガスにさらに
0.05voQ%ないし2voQ%の酸素を含有せしめ
ることで膜中に0.1 a t%以上15at%以下の
酸素を含有させることができ、この場合には酸素量と共
に結晶粒が微細化されると共に粒界に酸化物が偏析して
磁気的な相互作用を低減できるため、ノイズをさらに低
減できるので特に好ましい。また同時に不働態被覆膜の
強度も増加するので、耐食性も向上できる。
0.05voQ%ないし2voQ%の酸素を含有せしめ
ることで膜中に0.1 a t%以上15at%以下の
酸素を含有させることができ、この場合には酸素量と共
に結晶粒が微細化されると共に粒界に酸化物が偏析して
磁気的な相互作用を低減できるため、ノイズをさらに低
減できるので特に好ましい。また同時に不働態被覆膜の
強度も増加するので、耐食性も向上できる。
以上の構成の磁気ディスク、プロツピディスクや磁気テ
ープを用いることで、記録再生特性に優九、高い信頼性
を有する磁気記憶装置を提供できることは言うまでもな
い。
ープを用いることで、記録再生特性に優九、高い信頼性
を有する磁気記憶装置を提供できることは言うまでもな
い。
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。第1
図において、10は強化ガラス、プラスチック、N1−
PメツキAl合金などの基板、11.11’はCr 、
M o 、 W 、 Cr −T i 。
図において、10は強化ガラス、プラスチック、N1−
PメツキAl合金などの基板、11.11’はCr 、
M o 、 W 、 Cr −T i 。
Cr −S i 、 Cr −M o 、 Cr −W
などの金属下地層、12.12’はGo及びPtを含み
、さらにNi、Cr、Mo、Wから成る群から選ばれた
少なくとも一種以上の元素から成る材料及びTi。
などの金属下地層、12.12’はGo及びPtを含み
、さらにNi、Cr、Mo、Wから成る群から選ばれた
少なくとも一種以上の元素から成る材料及びTi。
Zr、Hf、Ta、Nb、Ru及びRhから成る群から
選ばれた少なくとも一種以上の元素からなる材料、さら
にAl及びSiから成る群から選ばれた少なくとも一種
以上の元素からなる材料とを少なくとも含む磁性合金、
13,13’はC,B。
選ばれた少なくとも一種以上の元素からなる材料、さら
にAl及びSiから成る群から選ばれた少なくとも一種
以上の元素からなる材料とを少なくとも含む磁性合金、
13,13’はC,B。
Siや、Ti、Zr、Hf、Nb、Ta、V。
Cr2M02Wの炭化物、窒化物、酸化物もしくはホウ
化物などから成る非磁性被覆層、14.14’はパーフ
ルオロアルキルポリエーテルなどからなる潤滑層である
。以下さらに詳細に本実施例について説明する。
化物などから成る非磁性被覆層、14.14’はパーフ
ルオロアルキルポリエーテルなどからなる潤滑層である
。以下さらに詳細に本実施例について説明する。
N1−Pを10μmメツキした直径130mmφのAl
−Mg合金基体を、1μ閣の研磨砥粒を用いてその表面
に略円局方向に微細な傷が入るように加工し、半径方向
の面粗さを中心線平均面粗さで10nmとしたものを磁
気ディスク用基板とした。本基板に、基板温度を120
℃yArガス圧を10 m Tow、投入電力をI W
7calとして、DCマグネトロンスパッタ法で、まず
、Crを500nm形成し、次いで膜厚50nmの第1
表に示す磁性合金を形成した後、膜厚30nmのCを形
成した。最後にパーフルオロアルキルポリエーテル系の
液体潤滑剤を4nm形成して磁気ディスクとした。
−Mg合金基体を、1μ閣の研磨砥粒を用いてその表面
に略円局方向に微細な傷が入るように加工し、半径方向
の面粗さを中心線平均面粗さで10nmとしたものを磁
気ディスク用基板とした。本基板に、基板温度を120
℃yArガス圧を10 m Tow、投入電力をI W
7calとして、DCマグネトロンスパッタ法で、まず
、Crを500nm形成し、次いで膜厚50nmの第1
表に示す磁性合金を形成した後、膜厚30nmのCを形
成した。最後にパーフルオロアルキルポリエーテル系の
液体潤滑剤を4nm形成して磁気ディスクとした。
第 1 表
該ディスクの記録再生特性をギャップ長0.7μmのM
n −Z nフェライトリングヘッドを用い、ヘッド
ディスク相対速度を20m/sとして9 MHz記録時
の媒体ノイズを評価した。いずれも5μVrIIs以下
とヘッドノイズ、アンプノイズや比較例に比へて小さな
ノイズの値となり、従来媒体に比べて高いS/Nが得ら
れた。いずれの媒体も60℃、80%RHの高温高湿試
験に対して、2週間経過後もエラーの増加が認められず
優れた耐食性を示した。
n −Z nフェライトリングヘッドを用い、ヘッド
ディスク相対速度を20m/sとして9 MHz記録時
の媒体ノイズを評価した。いずれも5μVrIIs以下
とヘッドノイズ、アンプノイズや比較例に比へて小さな
ノイズの値となり、従来媒体に比べて高いS/Nが得ら
れた。いずれの媒体も60℃、80%RHの高温高湿試
験に対して、2週間経過後もエラーの増加が認められず
優れた耐食性を示した。
次に第1図の構成でさらに別の実施例について説明する
。半径方向の面粗さが中心線平均面粗さで1.5 n
mとなるように略円周方向に沿った微細な凹凸をエツチ
ング法で形成した直径89nwnφ強化ガラス基板上に
、基板温度100℃で酸素を0.1voQ%、ないし0
.7vo12%含むガス圧15mTorrのArガス中
で、投入電力2W/dで膜厚350nmのCr 、膜厚
60 n、 mの(CooteNjo、4)o、aaZ
ro、oaA Q o、o4Pto、ot、膜厚30n
mのZrO2を形成した。次いで、パーフルオロアルキ
ルポリエーテル系の吸着性潤滑剤を5nm形成して磁気
ディスクとした。
。半径方向の面粗さが中心線平均面粗さで1.5 n
mとなるように略円周方向に沿った微細な凹凸をエツチ
ング法で形成した直径89nwnφ強化ガラス基板上に
、基板温度100℃で酸素を0.1voQ%、ないし0
.7vo12%含むガス圧15mTorrのArガス中
で、投入電力2W/dで膜厚350nmのCr 、膜厚
60 n、 mの(CooteNjo、4)o、aaZ
ro、oaA Q o、o4Pto、ot、膜厚30n
mのZrO2を形成した。次いで、パーフルオロアルキ
ルポリエーテル系の吸着性潤滑剤を5nm形成して磁気
ディスクとした。
オージェ(Auger)電子分光法で磁性膜中の酸素原
子量を分析した結果、2at%ないし10at%の酸素
が膜中に含有されていることが明らかになった。これら
の媒体は周速1.5 m/ s 、 7MHzで記録再
生したときいずれも4μV r m s以下の特に小さ
なノイズ特性を示し、酸素を含有せしめない場合(4,
5μVrlls)に比べて優れた特性を示した。また耐
食性についても、酸素を添加しない場合に比べて良好な
結果が得られた。
子量を分析した結果、2at%ないし10at%の酸素
が膜中に含有されていることが明らかになった。これら
の媒体は周速1.5 m/ s 、 7MHzで記録再
生したときいずれも4μV r m s以下の特に小さ
なノイズ特性を示し、酸素を含有せしめない場合(4,
5μVrlls)に比べて優れた特性を示した。また耐
食性についても、酸素を添加しない場合に比べて良好な
結果が得られた。
以上の結果は、M o 、 W 、 Cr −S i
、 Cr−Ti合金を下地層とした場合も同様であった
。
、 Cr−Ti合金を下地層とした場合も同様であった
。
薄膜磁気ヘッドもしくはMIGヘッドと上記89mmφ
、130mnφの磁気ディスクを4枚ないし8枚用いて
面記録密度で60 M b / i n ”以上装置容
量で200MB以上と高い記憶容量を有する磁気ディス
ク装置を作製した。従来の金属媒体を用いた装置に比べ
て約2倍耐食性、耐摺動信頼性が良好であり、記憶容量
、信頼性等に格段に優れていた。
、130mnφの磁気ディスクを4枚ないし8枚用いて
面記録密度で60 M b / i n ”以上装置容
量で200MB以上と高い記憶容量を有する磁気ディス
ク装置を作製した。従来の金属媒体を用いた装置に比べ
て約2倍耐食性、耐摺動信頼性が良好であり、記憶容量
、信頼性等に格段に優れていた。
また本発明による媒体を従来と同等の面記録密度の磁気
ディスク装置に適用した場合には、浮上スペーシングを
従来に比べ高くできるので耐摺動信頼性が2倍以上向上
できた。さらに本媒体を従来と同等以下のヘッド浮上ス
ペーシングで用いる場合には、面記録密度を2倍程度以
上高めることができるので装置を小型化、大容量化でき
た。
ディスク装置に適用した場合には、浮上スペーシングを
従来に比べ高くできるので耐摺動信頼性が2倍以上向上
できた。さらに本媒体を従来と同等以下のヘッド浮上ス
ペーシングで用いる場合には、面記録密度を2倍程度以
上高めることができるので装置を小型化、大容量化でき
た。
以上、磁気ディスク装置について主に説明したが、本発
明は磁気カード装置、磁気画像装置、磁気テープ装置、
フロッピディスク装置など、磁気記録を応用したいずれ
の装置にも適用できる。
明は磁気カード装置、磁気画像装置、磁気テープ装置、
フロッピディスク装置など、磁気記録を応用したいずれ
の装置にも適用できる。
以上説明したように、本発明によれば、CO系合金薄膜
の有する優れた磁気特性を劣化せしめることな〈従来の
装置に比べて1.5倍以上の高密度における記録再生時
のノイズレベルを減少させ、高密度での情報の記録再生
を高いS/Nで実現できると共に、さらに媒体の耐食性
も良好な、高性能、高信頼性を有する磁気記録媒体及び
磁気記憶装置を提供することができるので、特に磁気記
憶装置の高記録密度化、高信頼性化に効果がある。
の有する優れた磁気特性を劣化せしめることな〈従来の
装置に比べて1.5倍以上の高密度における記録再生時
のノイズレベルを減少させ、高密度での情報の記録再生
を高いS/Nで実現できると共に、さらに媒体の耐食性
も良好な、高性能、高信頼性を有する磁気記録媒体及び
磁気記憶装置を提供することができるので、特に磁気記
憶装置の高記録密度化、高信頼性化に効果がある。
第1図は本発明の一実施例の磁気ディスクの縦断面図、
第2,3図は本発明の磁気記録媒体の保磁力特性図、第
4図は本発明の実施例の磁気記録媒体のノイズ特性図で
ある。 10・・・基板、11..11’・・・下地層、12.
12’・・・磁性層、13.13’・・・非磁性保護被
覆層、14.14’ ・・・潤滑層。 第 1図 第2 図 Ni量 (a七%) 第3図 pt量 (at%) 第4図 Si量 (at%)
第2,3図は本発明の磁気記録媒体の保磁力特性図、第
4図は本発明の実施例の磁気記録媒体のノイズ特性図で
ある。 10・・・基板、11..11’・・・下地層、12.
12’・・・磁性層、13.13’・・・非磁性保護被
覆層、14.14’ ・・・潤滑層。 第 1図 第2 図 Ni量 (a七%) 第3図 pt量 (at%) 第4図 Si量 (at%)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、非磁性基板上に磁性層を形成した磁気記録媒体にお
いて、前記磁性層がCo及びptを含み、さらにNi、
Cr、Mo及びWから成る第1の群の中から選ばれた少
なくとも一種以上の元素からなる材料X、及びTi、Z
r、Hf、Ta、Nb、RuおよびRhから成る第2の
群の中から選ばれた少なくとも一種以上の元素から成る
材料Y′、さらにAlおよびSiから成る第3の群の中
から選ばれた少なくとも一種以上の元素からなる材料Z
を少なくとも含むことを特徴とする磁気記録媒体。 2、磁性層の組成が(Co_1−_aNi_a)_1−
_b−_c−_dY’_bZ_cPt_d、0.1≦a
≦0.5、0.01≦b≦0.15、0.01≦c≦0
.15、0.001≦d≦0.20であることを特徴と
する特許許請求の範囲第1項記載の磁気記録媒体。 3、B’をCr、Mo、Wから成る群から選ばれた少な
くとも一種以上の元素からなる材料としたとき磁性層の
組成が (Co_1−_a′B’_a′)_1−_b−_c−_
dY’_bZ_cPt_d、0.03≦a′≦0.20
、0.01≦b≦0.15、0.01≦c≦0.15、
0.001≦d≦0.20であることを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の磁気記録媒体。 4、前記B’で示した材料に対して磁性層の組成が(C
o_1−_a−_eNi_aB’_e)_1−_b−_
c−_dY’_bZ_cPt_d、0.1≦a≦0.5
、0.01≦e≦0.15、0.01≦b≦0.15、
0.001≦c≦0.15、0.01≦d≦0.20で
あることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の磁気
記録媒体。 5、磁性層中に酸素が0.1at%以上15at%以下
含まれることを特徴とする特許請求の範囲第1項ないし
第4項のいずれかに記載の磁気記録媒体。 6、磁性層と非磁性基板との間に、Cr、Mo、Wから
成る群から選ばれた少なくとも一種を主成分とする材料
から成る中間層を設けたことを特徴とする特許請求の範
囲第1項ないし第5項のいずれかに記載の磁気記録媒体
。 7、特許請求の範囲第1項ないし第6項のいずれかに記
載の磁気記録媒体を少なくとも有する磁気記憶装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63208317A JPH0258723A (ja) | 1988-08-24 | 1988-08-24 | 磁気記録媒体及び磁気記憶装置 |
| US07/391,181 US5143794A (en) | 1988-08-10 | 1989-08-08 | Magnetic recording media for longitudinal recording, process for producing the same and magnetic memory apparatus |
| KR1019890011332A KR0130768B1 (ko) | 1988-08-10 | 1989-08-09 | 면내 자기기록매체 및 그 제조방법과 자기기억장치 |
| US08/328,400 US5665478A (en) | 1988-08-10 | 1994-10-24 | Magnetic recording media for longitudinal recording |
| US08/852,096 US6335103B1 (en) | 1988-08-10 | 1997-05-06 | Magnetic recording media for longitudinal recording |
| US09/897,502 US6627253B2 (en) | 1988-08-10 | 2001-07-03 | Magnetic recording media for longitudinal recording, process for producing the same and magnetic memory apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63208317A JPH0258723A (ja) | 1988-08-24 | 1988-08-24 | 磁気記録媒体及び磁気記憶装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0258723A true JPH0258723A (ja) | 1990-02-27 |
Family
ID=16554260
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63208317A Pending JPH0258723A (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-24 | 磁気記録媒体及び磁気記憶装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0258723A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0376018A (ja) * | 1989-08-16 | 1991-04-02 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 水平記録用磁気記録ディスクおよび製造方法 |
| US5945190A (en) * | 1997-02-17 | 1999-08-31 | Fujitsu Limited | Magnetic recording medium and magnetic disk device |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5727003A (en) * | 1980-07-26 | 1982-02-13 | Tdk Corp | Magnetic recording device |
| JPS60185224A (ja) * | 1984-03-03 | 1985-09-20 | Hitachi Maxell Ltd | 磁気記録媒体 |
| JPS6313118A (ja) * | 1986-03-28 | 1988-01-20 | Hitachi Ltd | 磁気記録媒体 |
-
1988
- 1988-08-24 JP JP63208317A patent/JPH0258723A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5727003A (en) * | 1980-07-26 | 1982-02-13 | Tdk Corp | Magnetic recording device |
| JPS60185224A (ja) * | 1984-03-03 | 1985-09-20 | Hitachi Maxell Ltd | 磁気記録媒体 |
| JPS6313118A (ja) * | 1986-03-28 | 1988-01-20 | Hitachi Ltd | 磁気記録媒体 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0376018A (ja) * | 1989-08-16 | 1991-04-02 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 水平記録用磁気記録ディスクおよび製造方法 |
| US5945190A (en) * | 1997-02-17 | 1999-08-31 | Fujitsu Limited | Magnetic recording medium and magnetic disk device |
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