JPH0259622B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0259622B2
JPH0259622B2 JP58229292A JP22929283A JPH0259622B2 JP H0259622 B2 JPH0259622 B2 JP H0259622B2 JP 58229292 A JP58229292 A JP 58229292A JP 22929283 A JP22929283 A JP 22929283A JP H0259622 B2 JPH0259622 B2 JP H0259622B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
solution
protective film
polyimide
precursor
siloxane
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP58229292A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS59107523A (ja
Inventor
Kazumasa Igarashi
Katsuhiko Yamaguchi
Kazuo Iko
Kazuyuki Miki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Denko Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nitto Denko Corp filed Critical Nitto Denko Corp
Priority to JP58229292A priority Critical patent/JPS59107523A/ja
Publication of JPS59107523A publication Critical patent/JPS59107523A/ja
Publication of JPH0259622B2 publication Critical patent/JPH0259622B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P14/00Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
    • H10P14/60Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of insulating materials
    • H10P14/68Organic materials, e.g. photoresists
    • H10P14/683Organic materials, e.g. photoresists carbon-based polymeric organic materials, e.g. polyimides, poly cyclobutene or PVC

Landscapes

  • Polymers With Sulfur, Phosphorus Or Metals In The Main Chain (AREA)
  • Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)
  • Silicon Polymers (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
この発明は半導体素子の保護膜形成方法に関す
る。 従来、半導体素子の表面保護膜(パツシベーシ
ヨン膜)は、CVD(Chemical Vapor
Deposition)法などにより、二酸化珪素の使用が
検討されてきたが、薄肉の二酸化珪素膜はクラツ
クが発生しやすい、ピンホールが多数存在するな
どの欠点があることから、半導体への応用がおく
れている。近年、この分野に上記の二酸化珪素膜
に代わる新規材料として、耐熱性高分子とくにポ
リイミドが注目されている。すなわち、この耐熱
性高分子はワイヤボンデイングに耐えうる充分な
耐熱性を有し、また卓越した電気絶縁性、低応力
歪、機械的強度など多くのすぐれた利点を有し、
厚膜とした場合でもクラツクが生じない、ピンホ
ールが僅少に抑えられるなどの点で注目を集めて
いる有機材料である。 一方、ダイオードのジヤンクシヨン保護膜は、
従来、シリコンゴム、シリコンワニスなどが用い
られ、半導体素子のP−N接合面(ジヤンクシヨ
ン)を保護する機能をもたせているが、一般にシ
リコン化合物は水に対して本質的に透過性であ
り、半導体を総合的に評価した場合、耐湿性とい
う面で信頼性の低下はさけられなかつた。このジ
ヤンクシヨン保護膜にも、近年、ポリマー自体が
耐湿特性にすぐれるポリイミドなどの耐熱性高分
子が応用されるようになつてきた。 このように、ポリイミドを中心とした耐熱性高
分子が各種半導体処理用保護膜として検討される
ようになつてきたが、この種の耐熱性高分子には
シリコンウエハなどの素子表面との密着性に劣り
接着しにくいという欠点があり、これがため半導
体素子の信頼性がいまひとつ満足できるものとは
いえなかつた。 このことから、上記耐熱性高分子の密着性を改
善するための提案が種々なされており、そのひと
つに、ポリイミドに関し、芳香族テトラカルボン
酸二無水物とジアミノ化合物との重合反応により
ポリイミド前駆体を合成する際に、上記のジアミ
ノ化合物としてジアミノシロキサンを使用する方
法がある。この方法は、分子骨格中にジアミノシ
ロキサンから誘導されるSi−O−Si結合を導入し
て、この結合部分によりシリコンウエハなどを構
成する珪素含有材の珪素原子との間に化学的結合
の手を持たせ、これを珪素含有材への接着現象の
活性点として密着性の向上を図らんとするもので
ある。 ところが、上記の提案法では、ジアミノシロキ
サンをジアミノ化合物中かなりの割合であるいは
ジアミノ化合物のすべてとして使用しているた
め、密着性の向上を図ることができたとしてもポ
リイミド保護膜の耐湿特性を大きく損なう問題が
ある。また、ジアミノシロキサンの過剰使用はポ
リイミド本来の耐熱性、電気絶縁性、機械的強度
などの面でも必ずしも好ましいものとはいえなか
つた。さらに、前記提案法のなかには、ジアミノ
シロキサンを過剰使用して合成されたポリイミド
前駆体とジアミノシロキサンを全く用いないでつ
まり分子内に珪素原子を含まないジアミンを用い
て合成されたポリイミド前駆体との混合物とする
方法もあるが、この場合でも混合物中に占める珪
素含有量が大であるため前述と同様の問題が生じ
るばかりか、混合物であるが故に密着性ないし耐
湿特性さらにその他の一般特性がロツト間でばら
つきやすく、安定した性能が得られなかつた。 一方、この種のシロキサン変性ポリイミド前駆
体は、耐熱性その他の一般特性上固有粘度の高い
高分子量体とされることが望まれるが、この場合
従来のシロキサン未変性のポリイミド前駆体にお
けると同様に、溶液粘度が高くなり実用的な固形
分濃度が得られない問題がある。たとえば、ポリ
イミド前駆体の合成時の仕込濃度は、一般に経済
的観点などから低くとも5〜15重量%程度とされ
ているのが普通であるが、このように低い仕込み
濃度としたときでも、スピンコート、デイツピン
グあるいははけ塗りなどに適した溶液粘度を得る
ためには、重合反応後さらに相当量希釈しなけれ
ばならない。そして、かかる希釈操作は、製造ロ
ツト間での溶液粘度のバラツキや塗工作業を複雑
とする原因となり、また固形分濃度の著しい低下
によつて、形成される塗膜にハジキや偏肉現象を
生じさせ、ポリイミド保護膜の性能に悪影響をお
よぼす結果となる。 この発明は、上記の観点から、高濃度状態で塗
工可能な粘度を示し、しかも素子面に対して密着
性にすぐれかつ耐湿特性良好なポリイミド保護膜
を与え、またこのポリイミド保護膜が本来の耐熱
性、電気絶縁性、機械的強度などを具備しうるよ
うなシロキサン変性ポリイミド前駆体を得るため
に、鋭意検討を重ねた結果、見い出されたもので
ある。 すなわち、この発明は、不活性溶媒中で、次の
一般式; (R1は二価の有機基、R′は一価の有機基であり、
nは1〜1000の整数である) で表されるジアミノシロキサンと分子内に珪素原
子を含まないジアミンとからなるジアミノ化合物
を芳香族テトラカルボン酸二無水物と、上記ジア
ミノシロキサンがジアミノ化合物全体量の1〜4
モル%となる割合で重合反応させることにより、
珪素含有量が0.5重量%以下のシロキサン変性ポ
リイミド前駆体の溶液を得、この溶液を40〜80℃
で加熱熟成して上記前駆体の固有粘度を低下さ
せ、ついでこの溶液を半導体素子面に塗布したの
ち高温加熱処理してポリイミド保護膜を形成する
ことを特徴とする半導体素子の保護膜形成方法に
係るものである。 このように、この発明においては、ポリイミド
保護膜の密着性を改善するために用いられるジア
ミノシロキサンは、前記特定範囲が必要かつ充分
なものであり、かかる使用割合にすると、ポリイ
ミド前駆体中に占める湿熱分解や酸ないしアルカ
リにより切断されやすいシロキサン結合部分がご
く僅かなものとなるために、ポリイミド保護膜の
耐湿特性を低下させることがなく、またポリイミ
ド本来の耐熱性、電気絶縁性、機械的強度などを
損なう心配もないことを見い出した。 一方、ジアミノシロキサンを上記使用割合にし
て合成されるシロキサン変性ポリイミド前駆体
は、このままでは従来の前駆体と同様に溶液粘度
が高くなる欠点を有している。ところが、前記こ
の発明により、重合反応後のポリイミド前駆体溶
液をさらに特定の温度下で加熱熟成すると、前駆
体の分子開裂ないし再配列によつてその固有粘度
が低下し、その後溶剤で希釈しなくとも塗布可能
な溶液粘度が得られること、およびこの方法で高
濃度でかつ低粘度の溶液としたときに、前記手段
によつて達成されたポリイミド保護膜としてのす
ぐれた密着性および耐湿特性はもちろんのこと、
耐熱性、機械的強度、電気絶縁性などにほとんど
悪影響をおよぼさないものであることを見い出し
たものである。 この発明において一般式(1)で示されるジアミノ
シロキサンは、式中の2個のR1および各R′がそ
れぞれ同一もしくは異なるものであつてもよく、
従来公知のものが広く包含される。その代表的な
ものを例示すると以下の如くである。 この発明において用いられる分子内に珪素原子
を含まないジアミン(以下、単に珪素不含ジアミ
ンと称する)は、次の一般式(2); H2N−R2−NH2 ………(2) (R2は珪素原子を含まない二価の有機基である) で表される芳香族ジアミン、脂肪族ジアミンおよ
び脂環族ジアミンが含まれ、式中のR2は前記一
般式(1)中のR1と同一であつても異なるものであ
つてもよい。とくに好適なのは芳香族ジアミンで
あるが、その代表例を示すと、たとえばメタフエ
ニレンジアミン、パラフエニレンジアミン、4・
4′−ジアミノジフエニルメタン、4・4′−ジアミ
ノジフエニルエーテル、2・2′−ビス(4−アミ
ノフエニル)プロパン、3・3′−ジアミノジフエ
ニルスルホン、4・4′−ジアミノジフエニルスル
ホン、4・4′−ジアミノジフエニルスルフイド、
ベンジジン、ベンジジン−3・3′−ジカルボン
酸、ベンジジン−3・3′−ジスルホン酸、ベンジ
ジン−3−モノカルボン酸、ベンジジン−3−モ
ノスルホン酸、3・3′−ジメトキシ−ベンジジ
ン、パラ−ビス(4−アミノフエノキシ)ベンゼ
ン、メタ−ビス(4−アミノフエノキシ)ベンゼ
ン、メタキシリレンジアミン、パラキシリレンジ
アミンなどが挙げられる。 この発明において上記のジアミノシロキサンと
珪素不含ジアミンとからなるジアミノ化合物と重
合反応させる芳香族テトラカルボン酸二無水物
は、次の一般式(3); (Arは四価の有機基である) で表されるものであり、その代表的なものを例示
すると、たとえばピロメリツト酸二無水物、3・
3′・4・4′−ベンゾフエノンテトラカルボン酸二
無水物、3・3′・4・4′−ビフエニルテトラカル
ボン酸二無水物、2・3・3′・4′−ビフエニルテ
トラカルボン酸二無水物、2・3・6・7−ナフ
タレンテトラカルボン酸二無水物、1・2・5・
6−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、1・
4・5・8−ナフタレンテトラカルボン酸二無水
物、2・2′−ビス(3・4−ジカルボキシフエニ
ル)プロパン二無水物、ビス(3・4−ジカルボ
キシフエニル)スルホン二無水物、3・4・9・
10−ペリレンテトラカルボン酸二無水物、ビス
(3・4−ジカルボキシフエニル)エーテル二無
水物、2・2′−ビス(2・3−ジカルボキシフエ
ニル)プロパン二無水物、1・1′−ビス(2・3
−ジカルボキシフエニル)エタン二無水物、ベン
ゼン−1・2・3・4−テトラカルボン酸二無水
物、2・3・6・7−アントラセンテトラカルボ
ン酸二無水物、1・2・7・8−フエナントレン
テトラカルボン酸二無水物などがある。 この発明にとくに好適な芳香族テトラカルボン
酸二無水物は、3・3′・4・4′−ビフエニルテト
ラカルボン酸二無水物である。この二無水物を使
用すると、高温高湿雰囲気下、たとえば121℃、
2気圧のプレツシヤークツカーテスト(以下、単
にPCTと略す)による電気特性がもつともすぐ
れた、つまり耐湿特性の極めて良好なポリイミド
が得られ、表面保護膜ないしジヤンクシヨン保護
膜としての性能を大きく向上させることができ
る。もちろん、他の二無水物を使用する場合でも
耐湿特性の向上を図りうるが、パツシベーシヨン
膜などとして応用する場合その膜厚を厚くするの
が望ましい。 この発明においては、上記のジアミノシロキサ
ンと珪素不含ジアミンとを同時に芳香族テトラカ
ルボン酸二無水物と重合反応させることが必要
で、たとえば両ジアミノ化合物を別々に重合させ
てのち混合する方式では、密着性および耐湿特性
のばらつきを生じ、品質の安定化を図りえない。 この重合反応に用いられるジアミノシロキサン
は、すでに述べたように、ジアミノ化合物全体量
の1〜4モル%、好適には3〜3.5モル%であり、
また得られるシロキサン変性ポリイミド前駆体中
に含まれてくる珪素含有量が0.5重量%以下とな
るように、その使用量を設定しなければならな
い。これらの量的関係を満足しなければ、密着性
と耐湿特性との両立が難しくなる。このジアミノ
シロキサンと珪素不含ジアミンとからなるジアミ
ノ化合物の芳香族テトラカルボン酸二無水物に対
する使用割合は、通常等モルとされるが、必要に
応じて一方を多少多くしても差し支えない。 重合反応は、従来公知の方法に準じて行えばよ
く、不活性溶媒の存在下、一般に窒素ガス気流中
で重合発熱を勘案して通常40℃以下、とくに好適
には30℃以下に制限しながら所定の重合度が得ら
れるまで反応させればよい。 なお、半導体素子表面の保護膜としてのポリイ
ミドは、イオン性不純物に汚染されることをさけ
なければならない。Na+、K+、Ca2+などのカチ
オン性不純物、Cl-などのアニオン性不純物など
からの汚染をうけないように注意しなければなら
ず、特にNa+イオンはポリイミド保護膜の電気特
性に悪影響を及ぼす。そのため重合に際しては原
料モノマー、溶媒ともに周知の方法により充分精
製したのち、使用すべきである。例えばNa+イオ
ンで5PPM以下、好適には1PPM以下であること
が望ましい。 このような重合反応に用いられる不活性溶媒と
しては、たとえばN−メチル−2−ピロリドン、
N・N′−ジメチルアセトアミド、N・N′−ジメ
チルホルムアミド、N・N′−ジメチルスルホキ
シド、ヘキサメチルホスホルアミドなどの高極性
塩基性溶媒が用いられる。この種の溶媒はいずれ
も吸湿性が大きく、吸湿された水は重合時の分子
量の低下、貯蔵安定性の低下の原因となるので使
用に先だつて脱水剤で充分に脱水しておくのがよ
い。またこれらの溶媒とともにトルエン、キシレ
ン、ベンゾニトリル、ベンゼン、フエノールの如
き汎用溶媒を併用することもできる。しかしその
使用量は生成ポリイミド前駆体の溶解度を低下さ
せない範囲にすべきである。 上記方法で合成されるシロキサン変性ポリイミ
ド前駆体の重合度は、反応物の固有粘度〔η〕を
調べることによつて簡単に検知できるものである
が、この固有粘度が1.3〜3.0となるまでの高重合
度とされていることが望ましい。これより低くな
るようでは、耐熱性その他の一般特性に好結果が
得られないからである。 この明細書に記載される固有粘度〔η〕とは、
溶媒としてN−メチル−2−ピロリドンを使用
し、測定温度30±0.01℃(恒温槽)で次式にした
がつて算出した値を意味するものである。 〔η〕=ln(t/to)/C t;ウベローデ粘度計で測定されるポリマー溶液
の落下時間 to;上記同様に測定される溶媒の落下時間 C;ポリマー濃度(0.5重量%とする) この発明においては、上記の重合反応工程に引
続き同一反応容器内で窒素気流中、40〜80℃、好
適には50〜60℃まで昇温して加熱熟成を行う。こ
の加熱熟成によつて前記の重合反応で得た高重合
度のシロキサン変性ポリイミド前駆体に適度な分
子開裂ないし再配列を生じさせて、低分子量化す
るものである。 低分子量化の度合は、溶液粘度とポリイミド特
性との関係によつて決められるものであり、一般
には固有粘度が0.3〜0.7となるようにするのが好
ましい。目安として、溶液濃度25重量%で溶液粘
度が1000〜20000センチポイズ程度である。上記
固有粘度があまりに低くなりすぎると、最終段階
での皮膜形成能に劣つてくるし、また半導体に適
用したときの絶縁特性、耐熱性その他の諸特性が
損なわれる。 加熱熟成温度をとくに40〜80℃に設定した理由
は、80℃を越える温度、とくに100℃以上になる
と架橋反応が進行しゲル化の危険があるためであ
り、また40℃より低くなると熟成の効果が充分に
得られず、熟成時間も長くなつて作業性を損なう
ためである。 このようにして得られる最終生成物としてのシ
ロキサン変性ポリイミド前駆体は、その重合度が
低下しているといつても、飽くまでもつぎの一般
式(4)にて示されるように、珪素不含ジアミンとジ
アミノシロキサンがアミド結合を介して芳香族テ
トラカルボン酸二無水物へ付加した結合単位が、
ランダムであるポリマー構造を有するものであ
り、このポリイミド前駆体の分子鎖にシロキサン
結合がごく僅か組み込まれた構造を有することを
特徴としている。 (R1、R2、R′、nおよびArは前記のとおり、l
およびmはともに正の整数で、m/l+m=0.01
〜0.04である) (R1、R2、R′、Ar、n、lおよびmは前記のと
おりである) かかるシロキサン変性ポリイミド前駆体は、そ
の溶液粘度が低く、たとえば重合反応工程での仕
込み濃度を20〜25重量%ないしそれ以上としたと
きでも加熱熟成工程後にあえて希釈しなくとも、
スピンコート、デイツピングあるいははけ塗りな
どに適した粘度を有している。 この発明においては、上記の前駆体溶液を上記
塗工法によりシリコンウエハの如き素子面に塗工
したのち、高温加熱処理して、脱水、環化するこ
とにより、シリコンウエハなどに対してすぐれた
密着性を示す前記の一般式(5)で示される如きポリ
イミドからなる保護膜を形成することができる。
このポリイミド保護膜は耐湿特性に非常にすぐれ
ているとともに、その本来の良好な耐熱性、耐薬
品性、機械的特性および卓越した電気絶縁性を具
備しており、半導体素子の表面保護膜やダイオー
ドのジヤンクシヨン保護膜としてすぐれた性能を
発揮する。 以下に、この発明の実施例を記載してより具体
的に説明する。 実施例 1 撹拌装置、冷却管、温度計および窒素置換装置
を付した500mlのフラスコを水浴上に固定した。
水素化カルシウムで一昼夜乾燥しさらに窒素置換
後蒸留したN・N′−ジメチルホルムアミド148.71
gを上記フラスコ中に加え、窒素を流し込み、以
下の方法で重合反応を行つた。 まず、1mlのマイクロシリンジによりビス(3
−アミノプロピル)テトラメチレンジシロキサン
(前記式イのジアミノシロキサン)0.87g
(0.0035モル)、ついで4・4′−ジアミノジフエニ
ルエーテル19.3g(0.0965モル)を仕込み、溶解
するまで撹拌した。その後、3・3′・4・4′−ビ
フエニルテトラカルボン酸二無水物29.4g(0.1
モル)を徐々に添加した。反応系を30℃以下とな
るように保持しながら透明粘稠溶液となるまで撹
拌した。このようにして得られたシロキサン変性
ポリイミド前駆体の25重量%溶液は、25℃BH型
粘度計で測定される粘度(以下同様)が測定上限
(2000000センチポイズ)以上であり、前駆体の固
有粘度は1.67、珪素含有量は0.397重量%であつ
た。 つぎに、加熱熟成工程として、水浴を取り去つ
て湯浴に換え、同一の反応容器を55±5℃に加熱
撹拌し、窒素気流中6時間加熱熟成したのち、さ
らに引続き28時間、計34時間加熱熟成することに
より、固有粘度が0.42、溶液粘度が4400センチポ
イズとなるまで低分子量化した。 この前駆体溶液をシリコンウエハ上にスピンコ
ートし、熱風乾燥機中150℃で1時間、200℃で1
時間、250℃で6時間加熱処理して、強靭なポリ
イミド表面保護膜(パツシベーシヨン膜)を形成
した。このポリイミド保護膜の赤外吸収スペクト
ルは、1780cm-1および1720cm-1にイミド基形成に
もとづく>C=Oの吸収が認められた。なお、上
記スピンコートは、3500r.p.mの回転数で前駆体
溶液を2〜3g滴下する方法で行つた。 実施例 2 精製N・N′−ジメチルホルムアミドの使用量
を125.91gとし、芳香族テトラカルボン酸二無水
物としてピロメリツト酸二無水物21.8g(0.1モ
ル)を使用した以外は、実施例1と同様に重合反
応を行つて、珪素含有量が0.469重量%、固有粘
度が1.65、溶液粘度が2000000センチポイズ以上
の高分子量のシロキサン変性ポリイミド前駆体の
25重量%溶液を得た。 つぎに、加熱熟成工程として、上記の前駆体溶
液を実施例1の場合と同様にして55±5℃で24時
間加熱熟成することにより、固有粘度0.38、溶液
粘度2200センチポイズとなるまで低分子量化し
た。 この前駆体溶液をシリコンウエハ上に実施例1
と同様にスピンコートし、熱風乾燥機中で150℃
で1時間、200℃で1時間、300℃で1時間加熱処
理して強靭なポリイミド表面保護膜を形成した。 実施例 3 精製N・N′−ジメチルホルムアミドの使用量
を156.53gとし、芳香族テトラカルボン酸二無水
物として3・3′・4・4′−ベンゾフエノンテトラ
カルボン酸二無水物32.2g(0.1モル)を、珪素
不含ジアミンとして4・4′−ジアミノジフエニル
メタン19.107g(0.0965モル)を使用した以外
は、実施例1と同様にして重合反応を行つて、珪
素含有量が0.377重量%固有粘度が1.38で、溶液
粘度が1700000センチポイズの高分子量のシロキ
サン変性ポリイミド前駆体の25重量%溶液を得
た。 つぎに、加熱熟成工程として、上記の前駆体溶
液を、実施例1の場合と同様にして、55±5℃で
15時間加熱熟成することにより、固有粘度0.45
で、溶液粘度2300センチポイズとなるまで低分子
量化した。 この前駆体溶液をシリコンウエハ素子(P−N
接合面)上にはけ塗りしたのち加熱処理してポリ
イミドからなるジヤンクシヨン保護膜を形成し
た。この保護膜は、6ケ月経過後の引張抗張力が
初期値の40%に低下したが、ジヤンクシヨン保護
膜としては充分に使用できる程度の強靭性であつ
た。 比較例 1 精製N・N′−ジメチルホルムアミドの使用量
を148.27g、4・4′−ジアミノジフエニルエーテ
ルの使用量を19.9g(0.0995モル)、ビス(3−
アミノプロピル)テトラメチルジシロキサンの使
用量を0.1243g(0.0005モル)とした以外は、実
施例1と同様にして重合反応を行つて、珪素含有
量が0.057重量%、固有粘度が2.37で、溶液粘度
が2000000センチポイズの高分子量のシロキサン
変性ポリイミド前駆体の25重量%溶液を得た。 つぎに、加熱熟成工程として、上記の前駆体溶
液を実施例1と同様の操作で加熱熟成することに
より、固有粘度が0.41、溶液粘度が2700センチポ
イズとなるまで低分子量化した。この前駆体溶液
をシリコンウエハ上に実施例1と同様にスピンコ
ートしたのち加熱処理してポリイミド表面保護膜
を形成した。 比較例 2 精製N・N′−ジメチルホルムアミドの使用量
を149.22g、4・4′−ジアミノフエルエーテルの
使用量を18.6g(0.093モル)、ビス(3−アミノ
プロピル)テトラメチルジシロキサンの使用量を
1.7395g(0.007モル)とした以外は、実施例1
と同様にして重合反応を行つて、珪素含有量が
0.791重量%、固有粘度が0.80で、溶液粘度が
50000センチポイズのシロキサン変性ポリイミド
前駆体の25重量%溶液を得た。 つぎに、加熱熟成工程として、上記の前駆体溶
液を実施例1と同様の操作で加熱熟成することに
より、固有粘度が0.45、溶液粘度が5100センチポ
イズとなるまで低分子量化した。この前駆体溶液
をシリコンウエハ上に実施例1と同様にスピンコ
ートしたのち加熱処理してポリイミド表面保護膜
を形成した。 比較例 3 ビス(3−アミノプロピル)テトラメチルジシ
ロキサンと4・4′−ジアミノジフエニルエーテル
とを実施例2と同じ割合で別々にピロメリツト酸
二無水物と重合反応させたのち、両者を混合して
ポリイミド前駆体混合物の25重量%溶液を得た。
ジアミノシロキサンから得たポリイミド前駆体の
固有粘度は0.63、珪素不含ジアミンから得たポリ
イミド前駆体の固有粘度は2.00であつた。またポ
リイミド前駆体混合物中の珪素含有量は0.469重
量%で、溶液粘度は測定上限(2000000センチポ
イズ)以上であつた。 つぎに、上記溶液を、さらに実施例1と同様の
操作で加熱熟成することにより、固有粘度が
0.53、溶液粘度が4100センチポイズとなるまで低
分子量化した。この前駆体溶液を実施例2と同様
にスピンコートしたのち、さらに同様に加熱処理
してポリイミド表面保護膜を形成した。 比較例 4 精製N・N′−ジメチルホルムアミドの使用量
を99.27gとし、芳香族テトラカルボン酸二無水
物としてピロメリツト酸二無水物を21.8g(0.1
モル)、珪素不含ジアミンとしてパラ−フエニレ
ンジアミンを10.42g(0.0965モル)、ジアミノシ
ロキサンとしてビス(3−アミノプロピル)テト
ラメチルジシロキサンを0.87g(0.0035モル)使
用した以外は、実施例1と同様にして重合反応を
行つて、珪素含有量が0.594重量%、固有粘度が
1.58で、溶液粘度が1800000センチポイズのシロ
キサン変性ポリイミド前駆体の25重量%溶液を得
た。 つぎに、加熱熟成工程として、上記の前駆体溶
液を実施例1と同様の操作で加熱熟成することに
より、固有粘度が0.39、溶液粘度が1900センチポ
イズとなるまで低分子量化した。この前駆体溶液
をシリコンウエハ上に実施例1と同様にスピンコ
ートしたのち、さらに加熱処理してポリイミド表
面保護膜を形成した。 つぎに、上記実施例1〜3および比較例1〜4
で得られたポリイミド保護膜の同一環境条件下で
の密着性および電気絶縁性につき試験した。ま
た、ポリイミド保護膜を形成する際の塗布性(塗
膜の状態)を目視にて観察した。これらの結果
は、次の表に示されるとおりであつた。なお、実
施例1〜3における「B」とは、各実施例の結果
であり、「A」とは参考のために各実施例におい
て加熱熟成工程を省略し、重合反応工程で得た高
分子量、高粘度のシロキサン変性ポリイミド前駆
体溶液を塗布可能な程度にまで溶媒で希釈してポ
リイミド保護膜を形成したときの試験結果であ
る。
【表】 上記の表から明らかなように、この発明によれ
ば、シリコンウエハなどの素子面への塗布性にす
ぐれ、クラツク、ピンホールなど塗膜欠陥に起因
する欠点を克服でき、密着性、耐熱性、低応力
性、機械的強度にすぐれ、また耐湿特性にもすぐ
れるポリイミド保護膜を形成でき、半導体素子の
安定供給ならびに信頼性向上に寄与するものであ
ることがわかる。またこの発明において芳香族テ
トラカルボン酸二無水物として3・3′・4・4′−
ビフエニルテトラカルボン酸二無水物を用いた実
施例1によればその効果がとくに顕著となること
も明らかである。 一方、この発明とは異なり、重合反応後加熱処
理を行わないもの(各実施例の「A」)では、い
ずれも塗布性が悪くなり、またジアミノシロキサ
ンの使用量が少ないもの(比較例1)逆に使用量
が多いもの(比較例2、4)では、密着性を損な
うか耐湿特性が悪くなり、さらにジアミノシロキ
サンの使用量がこの発明の範囲内にあつてもジア
ミノシロキサンと珪素不含ジアミンとを別々に芳
香族テトラカルボン酸二無水物と反応させる方法
を採ると(比較例3)、密着性や耐湿特性などに
好結果が得られないことも判る。 なお、別の実験として、実施例1における加熱
熟成工程での加熱処理時間を6時間として固有粘
度0.75、溶液粘度30000センチポイズのシロキサ
ン変性ポリイミド前駆体をつくり、これを用いて
前記同様にポリイミド保護膜を形成したところ、
スピンコート時の塗膜性状はある程度改良されて
いたが、偏肉発生がややみられ実施例1に較べて
塗布性に劣つていた。また、逆に加熱処理時間を
60時間として固有粘度0.28、溶液粘度600センチ
ポイズのシロキサン変性ポリイミド前駆体をつく
り、これを用いてポリイミド保護膜を形成したと
ころ、低分子量化が進みすぎているため保護膜に
ミクロクラツクが発生し、絶縁破壊電圧が低下
し、半導体表面保護膜ないしジヤンクシヨン保護
膜としての性能を発揮させえなかつた。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 不活性溶媒中で、次の一般式; (R1は二価の有機基、R′は一価の有機基であり、
    nは1〜1000の整数である) で表されるジアミノシロキサンと分子内に珪素原
    子を含まないジアミンとからなるジアミノ化合物
    を芳香族テトラカルボン酸二無水物と、上記ジア
    ミノシロキサンがジアミノ化合物全体量の1〜4
    モル%となる割合で重合反応させることにより、
    珪素含有量が0.5重量%以下のシロキサン変性ポ
    リイミド前駆体の溶液を得、この溶液を40〜80℃
    で加熱熟成して上記前駆体の固有粘度を低下さ
    せ、ついでこの溶液を半導体素子面に塗布したの
    ち高温加熱処理してポリイミド保護膜を形成する
    ことを特徴とする半導体素子の保護膜形成方法。
JP58229292A 1983-12-05 1983-12-05 半導体素子の保護膜形成方法 Granted JPS59107523A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58229292A JPS59107523A (ja) 1983-12-05 1983-12-05 半導体素子の保護膜形成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58229292A JPS59107523A (ja) 1983-12-05 1983-12-05 半導体素子の保護膜形成方法

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56029241A Division JPS5813088B2 (ja) 1981-02-27 1981-02-27 シロキサン変性ポリイミド前駆体の製造法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59107523A JPS59107523A (ja) 1984-06-21
JPH0259622B2 true JPH0259622B2 (ja) 1990-12-13

Family

ID=16889838

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58229292A Granted JPS59107523A (ja) 1983-12-05 1983-12-05 半導体素子の保護膜形成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59107523A (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1299801C (en) * 1987-03-31 1992-04-28 Chung J. Lee Soluble polyimidesiloxanes and methods for their preparation and use
JPH0211631A (ja) * 1988-06-30 1990-01-16 Nippon Steel Chem Co Ltd 半導体保護用樹脂及び半導体
JPH05326718A (ja) * 1992-05-25 1993-12-10 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置およびその製造方法
JP2007211204A (ja) * 2006-02-13 2007-08-23 Hitachi Chem Co Ltd 耐熱性樹脂ワニス、耐熱性樹脂ワニスを添加した耐熱性コーティング剤及び耐熱性コーティング剤を用いた絶縁膜又は半導体装置
JP2007246897A (ja) * 2006-02-15 2007-09-27 Hitachi Chem Co Ltd 耐熱性樹脂ペースト、耐熱性樹脂ペーストの製造方法、及び耐熱性樹脂ペーストから得られる絶縁膜又は保護膜を有する半導体装置
US11178486B2 (en) 2015-11-19 2021-11-16 The Lovesac Company Modular furniture speaker assembly with reconfigurable transverse members
US12507009B2 (en) 2015-11-19 2025-12-23 The Lovesac Company Systems and methods for correcting sound loss through partially acoustically transparent materials
US10212519B2 (en) 2015-11-19 2019-02-19 The Lovesac Company Electronic furniture systems with integrated internal speakers
US11689856B2 (en) 2015-11-19 2023-06-27 The Lovesac Company Electronic furniture systems with integrated induction charger
US10979241B2 (en) 2015-11-19 2021-04-13 The Lovesac Company Electronic furniture systems with integrated artificial intelligence
US11832039B2 (en) 2021-04-12 2023-11-28 The Lovesac Company Tuning calibration technology for systems and methods for acoustically correcting sound loss through fabric
US12495253B2 (en) 2015-11-19 2025-12-09 The Lovesac Company Systems and methods for tuning based on furniture configuration
US11647840B2 (en) 2021-06-16 2023-05-16 The Lovesac Company Furniture console and methods of using the same

Also Published As

Publication number Publication date
JPS59107523A (ja) 1984-06-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4520075A (en) Siloxane-modified polyimide precursor and polyimide
JPS5813087B2 (ja) シロキサン変性ポリイミド前駆体の製造方法
JP2760520B2 (ja) ポリイミド共重合体及びその製造方法
US4672099A (en) Soluble polyimide-siloxane precursor, process for producing same and cross-linked polyimide-siloxane
JPH0259622B2 (ja)
JPS63234031A (ja) ポリイミド−シロキサン、製法と用途
JPS5813088B2 (ja) シロキサン変性ポリイミド前駆体の製造法
JPH0145493B2 (ja)
JPS63317554A (ja) 液状ポリイミド樹脂組成物
JPH0129370B2 (ja)
US4499252A (en) Process for producing polyimide precursor
JP2003261823A (ja) 多孔質膜形成用塗布液の製造方法および該塗布液、並びに多孔質膜の製造方法および多孔質膜
JPS6323928A (ja) 変性ポリイミドの製造方法
JPH0259619B2 (ja)
US5376733A (en) Precursor composition capable of yielding a polyimidesilicone resin
JPH0259620B2 (ja)
JPS6076533A (ja) ポリイミド前駆体の製造方法
JPH03243625A (ja) ポリイミド前駆体組成物およびポリイミドの製造方法
JPS61293227A (ja) s−トリアジン環を有する可溶性ポリイミドシロキサン前駆体の製造法
JPH0259621B2 (ja)
JPS5953287B2 (ja) ポリイミド前駆体の製造法
KR950000072B1 (ko) 고내열성 실록산 폴리이미드막의 형성방법
JPH0578483A (ja) ポリイミド共重合体
JPH06271674A (ja) シロキサン変性ポリアミドイミド樹脂および樹脂組成物
JP2621180B2 (ja) ポリイミド組成物