JPH0282440A - 電子顕微鏡像記録装置 - Google Patents
電子顕微鏡像記録装置Info
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- JPH0282440A JPH0282440A JP63233989A JP23398988A JPH0282440A JP H0282440 A JPH0282440 A JP H0282440A JP 63233989 A JP63233989 A JP 63233989A JP 23398988 A JP23398988 A JP 23398988A JP H0282440 A JPH0282440 A JP H0282440A
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- Japan
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- electron beam
- shutter
- phosphor sheet
- electron microscope
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、電子顕微鏡において試料を透過した電子線を
蓄積性蛍光体シートに照射することにより、この試料の
電子顕微鏡像を該シートに記録する電子顕微鏡像記録装
置に関するものである。
蓄積性蛍光体シートに照射することにより、この試料の
電子顕微鏡像を該シートに記録する電子顕微鏡像記録装
置に関するものである。
(従来の技術)
従来より、試料を透過させた電子線を電界あるいは磁界
によって屈折させて、試料の拡大像をIL+る電子顕微
鏡が周知となっている。この電子顕微鏡像を観察するた
め従来は一般に、投影レンズの結像面に写真フィルムを
配して透過電子線像を露光させたり、あるいはイメージ
インテンシファイアを配して透過電子線像を増幅投影す
るようにしていたが、本出願人は、電子顕微鏡像を高感
度、高画質で記録再生可能で、しかも各種処理が容易と
なるように、顕微鏡像を担持する電気信号が直接前られ
る、新しい電子顕微鏡像記録再生方法を提案した(特開
昭61−51738号、特開昭G1−93539号等)
。この電子顕微鏡像記録再生方法は基本的に、電子線エ
ネルギーを蓄積する2次元センサに、試料を透過した電
子線を真空状態で蓄積記録し、次いで該2次元センサに
光照射あるいは加熱を行なって蓄積されたエネルギーを
光として放出させ、この放出光を光電的に検出して画像
信号を得、この画像信号を用いて試料の透過電子線像を
再生するものである。
によって屈折させて、試料の拡大像をIL+る電子顕微
鏡が周知となっている。この電子顕微鏡像を観察するた
め従来は一般に、投影レンズの結像面に写真フィルムを
配して透過電子線像を露光させたり、あるいはイメージ
インテンシファイアを配して透過電子線像を増幅投影す
るようにしていたが、本出願人は、電子顕微鏡像を高感
度、高画質で記録再生可能で、しかも各種処理が容易と
なるように、顕微鏡像を担持する電気信号が直接前られ
る、新しい電子顕微鏡像記録再生方法を提案した(特開
昭61−51738号、特開昭G1−93539号等)
。この電子顕微鏡像記録再生方法は基本的に、電子線エ
ネルギーを蓄積する2次元センサに、試料を透過した電
子線を真空状態で蓄積記録し、次いで該2次元センサに
光照射あるいは加熱を行なって蓄積されたエネルギーを
光として放出させ、この放出光を光電的に検出して画像
信号を得、この画像信号を用いて試料の透過電子線像を
再生するものである。
上記の2次元センサとは、電子線露出を受けたときその
エネルギーの少なくとも一部を一時的に蓄積し、後に外
部から刺激を与えると蓄積しているエネルギーの少なく
とも一部を光、電気、音等の検出可能な形態で放出する
能力を持つ材料からなるものである。この2次元センサ
として具体的には、例えば特開昭55−12429号、
同55−11.6340号、同55−183472号、
同56−11395号、同5B−104645号公報等
に示される蓄積性蛍光体シートが特に好適に用いられう
る。すなわち、ある種の蛍光体に電子線等の放射線を照
射するとこの放射線のエネルギーの一部がその蛍光体中
に蓄積され、その後その蛍光体に可視光等の励起光を照
射すると、蓄積されたエネルギーに応じて蛍光体が蛍光
(輝尽発光)を示す。このような性質を示す蛍光体を蓄
積性蛍光体と言う。蓄積性蛍光体シートとは、上記蓄積
性蛍光体からなるシート状の記録体のことであり、一般
に支持体とこの支持体上に積層された蓄積性蛍光体層と
からなる。蓄積性蛍光体層は蓄積性蛍光体を適当な結合
剤中に分散させて形成したものであるが、この蓄積性蛍
光体層が自己支持性である場合、それ自体で蓄積性蛍光
体シートとなりうる。なお、この蓄積性蛍光体シートを
形成するための輝尽性蛍光体の例は、前記特開昭61−
93539号に詳しく記載されている。
エネルギーの少なくとも一部を一時的に蓄積し、後に外
部から刺激を与えると蓄積しているエネルギーの少なく
とも一部を光、電気、音等の検出可能な形態で放出する
能力を持つ材料からなるものである。この2次元センサ
として具体的には、例えば特開昭55−12429号、
同55−11.6340号、同55−183472号、
同56−11395号、同5B−104645号公報等
に示される蓄積性蛍光体シートが特に好適に用いられう
る。すなわち、ある種の蛍光体に電子線等の放射線を照
射するとこの放射線のエネルギーの一部がその蛍光体中
に蓄積され、その後その蛍光体に可視光等の励起光を照
射すると、蓄積されたエネルギーに応じて蛍光体が蛍光
(輝尽発光)を示す。このような性質を示す蛍光体を蓄
積性蛍光体と言う。蓄積性蛍光体シートとは、上記蓄積
性蛍光体からなるシート状の記録体のことであり、一般
に支持体とこの支持体上に積層された蓄積性蛍光体層と
からなる。蓄積性蛍光体層は蓄積性蛍光体を適当な結合
剤中に分散させて形成したものであるが、この蓄積性蛍
光体層が自己支持性である場合、それ自体で蓄積性蛍光
体シートとなりうる。なお、この蓄積性蛍光体シートを
形成するための輝尽性蛍光体の例は、前記特開昭61−
93539号に詳しく記載されている。
上記電子顕微鏡像記録再生方法においては、蓄積性蛍光
体シート等の2次元センサに電子顕微鏡像を蓄積記録す
るようにしたから、電子顕微鏡像を高感度で記録するこ
とが可能になり、したがって電子顕微鏡の電子線露光量
を低減でき、試料の損傷を少なくすることができる。ま
たこの方法においては電子顕微鏡像に階調処理、周波数
強調処理等の画像処理を施すことも極めて容易になり、
また前述したような回折パターンの処理や、3次元像の
再構成、画像の2値化等の画像解析も、上記電気信号を
コンピュータに入力することにより、従来に比べ極めて
簡単かつ迅速に行なえるようになる。
体シート等の2次元センサに電子顕微鏡像を蓄積記録す
るようにしたから、電子顕微鏡像を高感度で記録するこ
とが可能になり、したがって電子顕微鏡の電子線露光量
を低減でき、試料の損傷を少なくすることができる。ま
たこの方法においては電子顕微鏡像に階調処理、周波数
強調処理等の画像処理を施すことも極めて容易になり、
また前述したような回折パターンの処理や、3次元像の
再構成、画像の2値化等の画像解析も、上記電気信号を
コンピュータに入力することにより、従来に比べ極めて
簡単かつ迅速に行なえるようになる。
上述の蓄積性蛍光体シートを利用する電子顕微鏡像情報
の記録再生システムにおいては、電子顕微鏡像情報の読
取り時に十分な強度の励起光を照射すれば、蓄積電子線
エネルギーは全て放出されるはずである。しかし実際に
読取り時に照射する励起光の強度はそれほど高くはなく
、したがって蓄積性蛍光体シートを繰り返し使用すると
きは、読取り時に前回記録の電子顕微鏡像情報がノイズ
となって現われるという問題がある。このような残存電
子線エネルギーは、例えば特開昭61−138443号
に示されるように、電子顕微鏡像情報読取り後の蓄積性
蛍光体シートに光を照射することによって放出させるこ
とができる。
の記録再生システムにおいては、電子顕微鏡像情報の読
取り時に十分な強度の励起光を照射すれば、蓄積電子線
エネルギーは全て放出されるはずである。しかし実際に
読取り時に照射する励起光の強度はそれほど高くはなく
、したがって蓄積性蛍光体シートを繰り返し使用すると
きは、読取り時に前回記録の電子顕微鏡像情報がノイズ
となって現われるという問題がある。このような残存電
子線エネルギーは、例えば特開昭61−138443号
に示されるように、電子顕微鏡像情報読取り後の蓄積性
蛍光体シートに光を照射することによって放出させるこ
とができる。
(発明が解決しようとする課題)
ところが、上記電子顕微鏡像情報読取り後の蓄積性蛍光
体シートに極めて多量の光を照射しても、残存電子線エ
ネルギーがシート再使用可能なレベルまで放出され得な
いことがある、ということか本発明者等の研究により判
明した。
体シートに極めて多量の光を照射しても、残存電子線エ
ネルギーがシート再使用可能なレベルまで放出され得な
いことがある、ということか本発明者等の研究により判
明した。
そこで本発明は、上記不具合の発生を防止して、蓄積性
蛍光体シートを必ず再使用可能とする電子顕微鏡像記録
装置を提供することを目的とするものである。
蛍光体シートを必ず再使用可能とする電子顕微鏡像記録
装置を提供することを目的とするものである。
(課題を解決するための手段及び作用)本発明は、前記
電子顕微鏡像を蓄積性蛍光体シートに記録する場合には
極めて多量の電子線が該シートに照射されることがあり
、その場合に上述の不具合が発生する、という知見に基
づいて得られたものであり、 本発明の第1の7d子顕微鏡像記録装置は、前述したよ
うに電子顕微鏡において試料を透過した電子線を蓄積性
蛍光体シートに照射することにより、この試料の電子顕
微鏡像を該シートに記録する電子顕微鏡像記録装置にお
いて、 蓄積性蛍光体シートと試料との間に配されて電子線を遮
断するシャッターと、 試料を透過した電子線の電流密度を測定する電流密度測
定手段と、 設定された上記シャッターの開時間と、上記電流密度測
定手段が測定した電流密度とに基づいて、シャッターが
開かれたとき蓄積性蛍光体シートに照射されることにな
る電子線露出量を演算する演算手段と、 この演算手段が演算した電子線露出量が、予め設定され
た限界値を超えたときに警報を発する警報手段とが設け
られたことを特徴とするものである。
電子顕微鏡像を蓄積性蛍光体シートに記録する場合には
極めて多量の電子線が該シートに照射されることがあり
、その場合に上述の不具合が発生する、という知見に基
づいて得られたものであり、 本発明の第1の7d子顕微鏡像記録装置は、前述したよ
うに電子顕微鏡において試料を透過した電子線を蓄積性
蛍光体シートに照射することにより、この試料の電子顕
微鏡像を該シートに記録する電子顕微鏡像記録装置にお
いて、 蓄積性蛍光体シートと試料との間に配されて電子線を遮
断するシャッターと、 試料を透過した電子線の電流密度を測定する電流密度測
定手段と、 設定された上記シャッターの開時間と、上記電流密度測
定手段が測定した電流密度とに基づいて、シャッターが
開かれたとき蓄積性蛍光体シートに照射されることにな
る電子線露出量を演算する演算手段と、 この演算手段が演算した電子線露出量が、予め設定され
た限界値を超えたときに警報を発する警報手段とが設け
られたことを特徴とするものである。
また本発明の第2の電子顕微鏡像記録装置は、上記第1
の装置における警報手段に代えて、上記演算手段が演算
した電子線露出量が、予め設定された限界値を超えたと
きに、上記シャッターの開作動を妨げる手段が設けられ
たことを特徴とするものである。
の装置における警報手段に代えて、上記演算手段が演算
した電子線露出量が、予め設定された限界値を超えたと
きに、上記シャッターの開作動を妨げる手段が設けられ
たことを特徴とするものである。
また本発明の第3の電子顕微鏡像記録装置は、上記第1
の装置における警報手段に代えて、上記演算手段が演算
した電子線露出量が、予め設定された限界値を超えたと
きに上記シャッターの開時間を、電子線露出ユが前記限
界値となる値に自動的に設定し直す手段が設けられたこ
とを特徴とするものである。
の装置における警報手段に代えて、上記演算手段が演算
した電子線露出量が、予め設定された限界値を超えたと
きに上記シャッターの開時間を、電子線露出ユが前記限
界値となる値に自動的に設定し直す手段が設けられたこ
とを特徴とするものである。
上記の限界値は、蓄積性蛍光体シートの残存電子線エネ
ルギーがシート11f使用−可能な程度まで良好に放出
されうるようになる電子線露出量の上限値としておけば
よい。このような限界値は、実験あるいは経験に基づい
て適切に定めることが可能であり、例えば下記の蛍光体
からなる蓄積性蛍光体シートを用いる装置にあっては、
lX1O°7C/cm2、より望ましくはlXl0−9
C/cm2程度の値とすればよい。
ルギーがシート11f使用−可能な程度まで良好に放出
されうるようになる電子線露出量の上限値としておけば
よい。このような限界値は、実験あるいは経験に基づい
て適切に定めることが可能であり、例えば下記の蛍光体
からなる蓄積性蛍光体シートを用いる装置にあっては、
lX1O°7C/cm2、より望ましくはlXl0−9
C/cm2程度の値とすればよい。
く蓄積性蛍光体の例〉
特開昭55−160078号公報に記載されているM”
FX−xA:yLn [ただしMIlはBa、Ca5S r%Mg5Zn。
FX−xA:yLn [ただしMIlはBa、Ca5S r%Mg5Zn。
およびCdのうちの少なくとも一種、AはBed。
M g Os Ca Os S r OSB a O1
Z n O%A9Jz 03 、YZ O3、La2
o3、Inz 03、SiO2、TiO2、ZrO2、
GeO2,5n02 、Nb205 、Ta205およ
びThozのうちの少なくとも一種、LnはEu、Tb
5Ce。
Z n O%A9Jz 03 、YZ O3、La2
o3、Inz 03、SiO2、TiO2、ZrO2、
GeO2,5n02 、Nb205 、Ta205およ
びThozのうちの少なくとも一種、LnはEu、Tb
5Ce。
T m SD y SP r SHo s N d s
Y b SE r sSm、およびGdのうちの少な
くとも一種、XはB、、Br、および■のうちの少なく
とも一種であり、Xおよびyはそれぞれ5×10”5≦
χ≦0.5、およびQ<y≦0.2である]の組成式で
表わされる蛍光体。
Y b SE r sSm、およびGdのうちの少な
くとも一種、XはB、、Br、および■のうちの少なく
とも一種であり、Xおよびyはそれぞれ5×10”5≦
χ≦0.5、およびQ<y≦0.2である]の組成式で
表わされる蛍光体。
特開昭60−101173号公報に記載されているM’
FX−aM’ X’ 二 xEu’[ただし
MlはBa5SrおよびCaからなる群より選ばれる少
なくとも一種のアルカリ土類金属であり、M’はRbお
よびCsからなる群より選ばれる少なくとも一種のアル
カリ金属であり、XはB、、BrおよびIからなる群よ
り選ばれる少なくとも一種のハロゲンであり、Xo は
F、 CQJ。
FX−aM’ X’ 二 xEu’[ただし
MlはBa5SrおよびCaからなる群より選ばれる少
なくとも一種のアルカリ土類金属であり、M’はRbお
よびCsからなる群より選ばれる少なくとも一種のアル
カリ金属であり、XはB、、BrおよびIからなる群よ
り選ばれる少なくとも一種のハロゲンであり、Xo は
F、 CQJ。
BrおよびIからなる群より選ばれる少なくとも一種の
ハロゲンであり、そしてaおよびXはそれぞれ0<a≦
4.0,0<x≦0.2であるコの組成式で表わされる
蛍光体。
ハロゲンであり、そしてaおよびXはそれぞれ0<a≦
4.0,0<x≦0.2であるコの組成式で表わされる
蛍光体。
特開昭80−139781号公報に記載されているBa
FXeaNaX’ :xEu”、yM’[ただしXお
よびXoはいずれもCi、BrおよびIからなる群より
選ばれる少なくとも一種のハロゲンであり、Mlはに、
RbおよびCsからなる171より選ばれる少なくとも
一種のアルカリ金属であり、そしてaSxおよびyはそ
れぞれ0<a≦2.0.0<x≦0.2および5 X
10−4 ≦Y :ii; 10−2である]の組成式
で表わされる蛍光体。
FXeaNaX’ :xEu”、yM’[ただしXお
よびXoはいずれもCi、BrおよびIからなる群より
選ばれる少なくとも一種のハロゲンであり、Mlはに、
RbおよびCsからなる171より選ばれる少なくとも
一種のアルカリ金属であり、そしてaSxおよびyはそ
れぞれ0<a≦2.0.0<x≦0.2および5 X
10−4 ≦Y :ii; 10−2である]の組成式
で表わされる蛍光体。
特開昭60−161478号公報に記載されている(B
al−* 、Ca、)FX : xEu”[ただしXは
+4、BrおよびIからなる群より選ばれる少なくとも
一種のハロゲンであり、そしてaおよびXはそれぞれ1
o°5≦a≦2XlO−2、および0<x≦0.2であ
る〕の組成式で表わされる蛍光体。
al−* 、Ca、)FX : xEu”[ただしXは
+4、BrおよびIからなる群より選ばれる少なくとも
一種のハロゲンであり、そしてaおよびXはそれぞれ1
o°5≦a≦2XlO−2、および0<x≦0.2であ
る〕の組成式で表わされる蛍光体。
特開昭81−21181号公報に記載されている(Ba
、4.M’ a)FX−bNaX’c l5il
・d (A9J) :xEu2+[ただしM3はC
aおよびSrからなる群より選ばれる少なくとも一種の
アルカリ土類金属であり、XおよびXoはいずれもC9
J、BrおよびIからなる群より選ばれる少なくとも一
種のハロゲンであり、(Sit および+A 9J1
は+iぞれSi成分およびA9J成分てあり、モしてa
、bおよびXはそれぞれ0≦a≦5XlO−2,0<b
≦2.0および0<x≦0.2の範囲の数値であり、C
およびdは5×10°5≦c+d≦0.5であって、が
ッo<c/ (c+d)<1.0の範囲の数値である]
の組成式で表わされる蛍光体。
、4.M’ a)FX−bNaX’c l5il
・d (A9J) :xEu2+[ただしM3はC
aおよびSrからなる群より選ばれる少なくとも一種の
アルカリ土類金属であり、XおよびXoはいずれもC9
J、BrおよびIからなる群より選ばれる少なくとも一
種のハロゲンであり、(Sit および+A 9J1
は+iぞれSi成分およびA9J成分てあり、モしてa
、bおよびXはそれぞれ0≦a≦5XlO−2,0<b
≦2.0および0<x≦0.2の範囲の数値であり、C
およびdは5×10°5≦c+d≦0.5であって、が
ッo<c/ (c+d)<1.0の範囲の数値である]
の組成式で表わされる蛍光体。
上記本発明の第1の装置にあっては、警報が発せられた
時、また第2の装置にあっては、シャッター開操作をし
てもシャッターが開がないときに、電子顕微鏡操作者は
設定露出量が高過ぎるということを知ることができるか
ら、例えばシャッター開時間をより短く設定し直すこと
により、蓄積性蛍光体シート再使用の上で適切な露出量
に設定し直して電子顕微鏡像の記録を行なうことができ
る。
時、また第2の装置にあっては、シャッター開操作をし
てもシャッターが開がないときに、電子顕微鏡操作者は
設定露出量が高過ぎるということを知ることができるか
ら、例えばシャッター開時間をより短く設定し直すこと
により、蓄積性蛍光体シート再使用の上で適切な露出量
に設定し直して電子顕微鏡像の記録を行なうことができ
る。
一方上記本発明の第3の装置を使用する場合は、電子線
露出量が高過ぎる値に設定されていても、この露出量は
、蓄積性蛍光体シート再使用の上で適切で、かつ設定し
た値に最も近い値に変更された上で電子顕微鏡像の記録
がなされる。この場合は、電子顕微鏡操作者が設定した
値とは異なる露出量で電子顕微鏡像記録がなされたこと
を操作者に知らせるために、上記第1の装置における警
報装置を併設するのが望ましい。
露出量が高過ぎる値に設定されていても、この露出量は
、蓄積性蛍光体シート再使用の上で適切で、かつ設定し
た値に最も近い値に変更された上で電子顕微鏡像の記録
がなされる。この場合は、電子顕微鏡操作者が設定した
値とは異なる露出量で電子顕微鏡像記録がなされたこと
を操作者に知らせるために、上記第1の装置における警
報装置を併設するのが望ましい。
(実 施 例)
以下、図面に示す実施例に基づいて本発明の詳細な説明
する。
する。
第1図は、本発明の電子顕微鏡像記録装置を備えた電子
顕微鏡像記録再生システムを示すものである。電子顕微
鏡1の鏡体部1aは、−様の速度の電子線2を射出する
電子銃3と、電子線2を試料面に絞り込む磁気レンズ、
静電レンズ等からなる少なくとも1コの集束レンズ4と
、試料台5と、上記集束レンズ4と同様の対物レンズ6
と、投影レンズ7とを有してなる。試料台5上に載置さ
れた試料8を透過した電子線2は上記対物レンズ6によ
り屈折され、該試料8の拡大透過像8aを形成する。こ
の拡大透過像8aは投影レンズ7により、結像面9に結
像投影される(図中の8b)。
顕微鏡像記録再生システムを示すものである。電子顕微
鏡1の鏡体部1aは、−様の速度の電子線2を射出する
電子銃3と、電子線2を試料面に絞り込む磁気レンズ、
静電レンズ等からなる少なくとも1コの集束レンズ4と
、試料台5と、上記集束レンズ4と同様の対物レンズ6
と、投影レンズ7とを有してなる。試料台5上に載置さ
れた試料8を透過した電子線2は上記対物レンズ6によ
り屈折され、該試料8の拡大透過像8aを形成する。こ
の拡大透過像8aは投影レンズ7により、結像面9に結
像投影される(図中の8b)。
上記鏡体部1aの下方には、本発明の第1実施例による
電子顕微鏡像記録装置が配置されている。
電子顕微鏡像記録装置が配置されている。
この装置は電子顕微鏡像読取機能も備えて、電子顕微鏡
像記録読取装置10として形成されており、鏡体部1a
内の前記結像面9に固定された2次元センサとしての蓄
積性蛍光体シート11と、励起光源12および光走査系
13からなる励起手段と、前記鏡体部1aの周壁に設け
られた透光窓14を介して蓄積性蛍光体シート11に対
向するように配されたフォトマルチプライヤ−(光電子
増倍管)15と、消去光r1M1Bとを有している。
像記録読取装置10として形成されており、鏡体部1a
内の前記結像面9に固定された2次元センサとしての蓄
積性蛍光体シート11と、励起光源12および光走査系
13からなる励起手段と、前記鏡体部1aの周壁に設け
られた透光窓14を介して蓄積性蛍光体シート11に対
向するように配されたフォトマルチプライヤ−(光電子
増倍管)15と、消去光r1M1Bとを有している。
上記蓄積性蛍光体シート11は前述したような蓄積性蛍
光体が透明支持体上に層成されてなるものである。また
励起光源12は一例としてHe−Neレーザ、半導体レ
ーザ等からなり、光走査系13は第]および第2の光偏
向器13a、13bと、固定ミラー13cとからなる。
光体が透明支持体上に層成されてなるものである。また
励起光源12は一例としてHe−Neレーザ、半導体レ
ーザ等からなり、光走査系13は第]および第2の光偏
向器13a、13bと、固定ミラー13cとからなる。
第1および第2の光偏向器13a、13bとしてはそれ
ぞれ、ガルバノメータミラー、ポリゴンミラー、ホログ
ラムスキャナ、AOD等の公知の光偏向器が使用されう
る。励起光源12から射出された励起光ビーム12aは
第1の光偏向器+3aにより偏向されるとともに、第2
の光偏向器13bにより上記偏向の方向と直角な方向(
図の矢印A方向)に偏向され、例えば鉛ガラス等が嵌め
込まれた透光窓21を透過して鏡体部la内に入射し、
固定ミラー13cにおいて反射して前記蓄積性蛍光体シ
ート11上に入射する。このようにして蓄積性蛍光体シ
ルト11は、励起光ビームI2aによりX−7両方向に
走査される。なお図示はしないか、励起光源12から発
せられた励起光ビーム12aは、蓄積性蛍光体シート1
1が発する輝尽発光光(後に詳述する)の波長611域
をカットするフィルターを通過させ、ビームエキスパン
ダーによりビーム径を調整した後、光偏向器13a、
13bて偏向され、次いでfθレンズを通過させて均一
なビーム径として蓄積性蛍光体シート11に入射される
のか好ましい。
ぞれ、ガルバノメータミラー、ポリゴンミラー、ホログ
ラムスキャナ、AOD等の公知の光偏向器が使用されう
る。励起光源12から射出された励起光ビーム12aは
第1の光偏向器+3aにより偏向されるとともに、第2
の光偏向器13bにより上記偏向の方向と直角な方向(
図の矢印A方向)に偏向され、例えば鉛ガラス等が嵌め
込まれた透光窓21を透過して鏡体部la内に入射し、
固定ミラー13cにおいて反射して前記蓄積性蛍光体シ
ート11上に入射する。このようにして蓄積性蛍光体シ
ルト11は、励起光ビームI2aによりX−7両方向に
走査される。なお図示はしないか、励起光源12から発
せられた励起光ビーム12aは、蓄積性蛍光体シート1
1が発する輝尽発光光(後に詳述する)の波長611域
をカットするフィルターを通過させ、ビームエキスパン
ダーによりビーム径を調整した後、光偏向器13a、
13bて偏向され、次いでfθレンズを通過させて均一
なビーム径として蓄積性蛍光体シート11に入射される
のか好ましい。
前記消去光源16は蓄積性蛍光体シート11の励起波長
領域に含まれる光を発生するものである。そして上記第
2の光偏向器13bと固定ミラー13cとの間において
励起光ビーム12aの光路中に入る位置と、該光路から
外れた位置とをとりうるミラ17か配設されている。消
去光源16か発する消去光1Eiaはレンズ18によっ
て集光され、上記ミラー17が励起光ビーム12aの光
路中に入る位置に設定されていれば、該ミラー17およ
び固定ミラー13cにおいて反射して、蓄積性蛍光体シ
ート11を全面的に照射する。また対物レンズ7と蓄積
性蛍光体シト11との間において鏡体部1aには、電子
線2を遮断しうるシャッター19が設けられ、蓄積性蛍
光体シート11とフォトマルチプライヤ−15との間に
は光ンヤッター22が設けられている。そして前記透光
窓14には、蓄積性蛍光体シー)11が発する輝尽発光
光のみを透過させ、励起光ビーム12aを取り除く光学
フィルターを備えたガラス20が嵌着されている。また
鏡体部1aの内部は通常の電子顕微鏡におけるのと同様
に、蓄積性蛍光体シート11が配置されている部分も含
めて、電子顕微鏡稼動中は真空ポンプ等の公知の手段に
より真空状態に維持される。
領域に含まれる光を発生するものである。そして上記第
2の光偏向器13bと固定ミラー13cとの間において
励起光ビーム12aの光路中に入る位置と、該光路から
外れた位置とをとりうるミラ17か配設されている。消
去光源16か発する消去光1Eiaはレンズ18によっ
て集光され、上記ミラー17が励起光ビーム12aの光
路中に入る位置に設定されていれば、該ミラー17およ
び固定ミラー13cにおいて反射して、蓄積性蛍光体シ
ート11を全面的に照射する。また対物レンズ7と蓄積
性蛍光体シト11との間において鏡体部1aには、電子
線2を遮断しうるシャッター19が設けられ、蓄積性蛍
光体シート11とフォトマルチプライヤ−15との間に
は光ンヤッター22が設けられている。そして前記透光
窓14には、蓄積性蛍光体シー)11が発する輝尽発光
光のみを透過させ、励起光ビーム12aを取り除く光学
フィルターを備えたガラス20が嵌着されている。また
鏡体部1aの内部は通常の電子顕微鏡におけるのと同様
に、蓄積性蛍光体シート11が配置されている部分も含
めて、電子顕微鏡稼動中は真空ポンプ等の公知の手段に
より真空状態に維持される。
また上記シャッター19の上方には、該シャッター19
と連動して、電子線2の照射を受ける位置とそこから退
出した位置とをとりうる露出計30が設けられている。
と連動して、電子線2の照射を受ける位置とそこから退
出した位置とをとりうる露出計30が設けられている。
この露出量30の出力は露出量演算部31に入力される
。またこの露出量演算部31には、シャッター条件設定
部32と、シャッター19の駆動およびその開時間(シ
ャッター速度)を制御するシャッターコントローラ33
と、例えばCRTおよびキーボード等からなるデータ表
示部34とが接続されている。
。またこの露出量演算部31には、シャッター条件設定
部32と、シャッター19の駆動およびその開時間(シ
ャッター速度)を制御するシャッターコントローラ33
と、例えばCRTおよびキーボード等からなるデータ表
示部34とが接続されている。
以下、上記構成の電子顕微鏡像記録読取装置10による
電子顕微鏡像の記録、読取りについて詳しく説明する。
電子顕微鏡像の記録、読取りについて詳しく説明する。
試料台5に試料8を載置し、電子銃3、集束レンズ4、
対物レンズ6および投影レンズ7を駆動させ、そして前
述のシャッター19を開くと(第1図図示の状態)、結
像面9に固定された蓄積性蛍光体シートIIに、試料8
の拡大透過像8bを担持する電子線2のエネルギーが蓄
積される。この電子線露出の際に、光シヤツター22は
閉じられているのが好ましい。なお、シャッター19の
制御については後に詳述する。次いでシャッタ19が閉
じられ光シヤツター22は開かれ、続いて前述のように
励起光源12から削出され、X−Y両方向に偏向された
励起光ビーム12aがシート11上に入射せしめられる
。このように偏向された励起光ビーム12aにより蓄積
性蛍光体シート11は2次元的に走査され、該シート1
1は上記電子線エネルギーのレベルに応じた強度の輝尽
発光光を放出する。この輝尽発光光はシート11の裏側
から、上記励起光ビーム12aを取り除く光学フィルタ
ーを備えたガラス20を介してフォトマルチプライヤ−
15によって受光され、輝尽発光光量が光電的に読み取
られる。
対物レンズ6および投影レンズ7を駆動させ、そして前
述のシャッター19を開くと(第1図図示の状態)、結
像面9に固定された蓄積性蛍光体シートIIに、試料8
の拡大透過像8bを担持する電子線2のエネルギーが蓄
積される。この電子線露出の際に、光シヤツター22は
閉じられているのが好ましい。なお、シャッター19の
制御については後に詳述する。次いでシャッタ19が閉
じられ光シヤツター22は開かれ、続いて前述のように
励起光源12から削出され、X−Y両方向に偏向された
励起光ビーム12aがシート11上に入射せしめられる
。このように偏向された励起光ビーム12aにより蓄積
性蛍光体シート11は2次元的に走査され、該シート1
1は上記電子線エネルギーのレベルに応じた強度の輝尽
発光光を放出する。この輝尽発光光はシート11の裏側
から、上記励起光ビーム12aを取り除く光学フィルタ
ーを備えたガラス20を介してフォトマルチプライヤ−
15によって受光され、輝尽発光光量が光電的に読み取
られる。
上記輝尽発光光の光量を担持するフォトマルチプライヤ
−15の出力は、増幅器23によって適正レベルの電気
信号(読取画像信号)Sに増幅される。
−15の出力は、増幅器23によって適正レベルの電気
信号(読取画像信号)Sに増幅される。
次いでこの読取画像信号SはA/D変換器24において
、ディジタル画像信号Sdに変換され、信号処理回路2
5において例えば階調処理、周波数強調処理等の信号処
理を受けて、光走査記録装置、CRT等の画像再生装置
60に送られる。この画像再生装置60においては、画
像信号Sdが担う画像、すなわち蓄積性蛍光体シートl
■に記録された電子顕微鏡像が再生される。
、ディジタル画像信号Sdに変換され、信号処理回路2
5において例えば階調処理、周波数強調処理等の信号処
理を受けて、光走査記録装置、CRT等の画像再生装置
60に送られる。この画像再生装置60においては、画
像信号Sdが担う画像、すなわち蓄積性蛍光体シートl
■に記録された電子顕微鏡像が再生される。
なお信号処理回路25から出力された画像信号は、以上
説明のように直ちに画像再生装置60に送って電子顕微
鏡像再生に供してもよいし、あるいは後に画像再生する
ために、−旦磁気テープ、磁気ディスク等の記憶媒体2
8に記憶させておいてもよい。
説明のように直ちに画像再生装置60に送って電子顕微
鏡像再生に供してもよいし、あるいは後に画像再生する
ために、−旦磁気テープ、磁気ディスク等の記憶媒体2
8に記憶させておいてもよい。
上述のようにして輝尽発光光の読取り、すなわち電子顕
微鏡像の読取りが終了した後、光シヤツター22が閉じ
られ、ミラー17は励起光ビーム12aの光路中に入る
位置に立てられ、そしてこのミラー17の動作と連動し
て消去光源16が点灯される。
微鏡像の読取りが終了した後、光シヤツター22が閉じ
られ、ミラー17は励起光ビーム12aの光路中に入る
位置に立てられ、そしてこのミラー17の動作と連動し
て消去光源16が点灯される。
それによりシー ト11の表面には、該消去光源16が
発する消去光1.6aが照射される。蓄積性蛍光体シH
1に前記のように励起光ビーム12aが照射されても、
該シート11に蓄積されていた電子線エネルギーがすべ
て放出される訳ではなく、残像が残る場合がある。しか
し上記のようにして蓄積性蛍光体シートllに消去光l
eaを照射すれば、上記残像が消去され、蓄積性蛍光体
シート11が再使用可能となる。またこの消去光照射に
より、シート11の蛍光体中に不純物としてて含まれて
いる226Raなどの放射性元素によるノイズ成分も放
出される。
発する消去光1.6aが照射される。蓄積性蛍光体シH
1に前記のように励起光ビーム12aが照射されても、
該シート11に蓄積されていた電子線エネルギーがすべ
て放出される訳ではなく、残像が残る場合がある。しか
し上記のようにして蓄積性蛍光体シートllに消去光l
eaを照射すれば、上記残像が消去され、蓄積性蛍光体
シート11が再使用可能となる。またこの消去光照射に
より、シート11の蛍光体中に不純物としてて含まれて
いる226Raなどの放射性元素によるノイズ成分も放
出される。
上記消去光源16としては、例えば特開昭56−I H
92号に示されているようなタングステンランプ、ハロ
ゲンランプ、赤外線ランプ、キセノンフラッシュランプ
あるいはレーザ光源等が任意に選択使用され得る。また
読取り用の励起光rA12を消去用に兼用してもよい。
92号に示されているようなタングステンランプ、ハロ
ゲンランプ、赤外線ランプ、キセノンフラッシュランプ
あるいはレーザ光源等が任意に選択使用され得る。また
読取り用の励起光rA12を消去用に兼用してもよい。
次に、前述したシャッター19の制御について詳しく説
明する。蓄積性蛍光体シート11への電子顕微鏡像記録
に先立って、シャッター19は電子線2を遮断する位置
に設定され、それに連動して露出計30も電子線2の照
射を受ける位置に設定される。
明する。蓄積性蛍光体シート11への電子顕微鏡像記録
に先立って、シャッター19は電子線2を遮断する位置
に設定され、それに連動して露出計30も電子線2の照
射を受ける位置に設定される。
このときの露出計30の出力、すなわち電子線2の電流
密度を示す信号S1は露出量演算部31に入力される。
密度を示す信号S1は露出量演算部31に入力される。
また電子顕微鏡操作者がシャッター条件設定部32にお
いて設定したシャッター開時間(シャッター速度)を示
す信号S2も、上記露出量演算部31に人力される。こ
の信号S2は露出量演算部31を経てシャッターコント
ローラ33に人力され、次いてこのシャッターコントロ
ーラ33に例えば手動操作によりシャッター開作動指令
信号S3が人力されれば、シャッターコントローラ33
は信号S2が示すシャッター速度でシャッター19を駆
動させる。
いて設定したシャッター開時間(シャッター速度)を示
す信号S2も、上記露出量演算部31に人力される。こ
の信号S2は露出量演算部31を経てシャッターコント
ローラ33に人力され、次いてこのシャッターコントロ
ーラ33に例えば手動操作によりシャッター開作動指令
信号S3が人力されれば、シャッターコントローラ33
は信号S2が示すシャッター速度でシャッター19を駆
動させる。
しかし露出量演算部3!は、信号S2が示すシャッター
開時間が不適切である場合は、警報指令信号S4をデー
タ表示部34に送り、このデータ表示部34において音
響、表示等からなる警報を発生させる。すなわち露出量
演算部31は、露出計30から入力された信号S1が示
す電流密度をx(A/cシ)、シャッター条件設定部3
2から入力された信号S2が示すシャッター開時間をy
(秒)としたとき、x”yの値を演算し、この演算値と
、予め設定された限界値Qとを比較して、もし X・y>Q であれば信号S4を出力して上記の警報を発生させる。
開時間が不適切である場合は、警報指令信号S4をデー
タ表示部34に送り、このデータ表示部34において音
響、表示等からなる警報を発生させる。すなわち露出量
演算部31は、露出計30から入力された信号S1が示
す電流密度をx(A/cシ)、シャッター条件設定部3
2から入力された信号S2が示すシャッター開時間をy
(秒)としたとき、x”yの値を演算し、この演算値と
、予め設定された限界値Qとを比較して、もし X・y>Q であれば信号S4を出力して上記の警報を発生させる。
したがって電子顕微鏡操作者は、この警報が発せられた
ときはそのままシャッター開作動指令信号S3を人力す
ることはしないで、シャッター条件設定部32において
シャッター開時間をより短く設定し直し、その条件下で
は警報が生じないことを確認した上でシャッター19を
開作動させることができる。を記の限界値Qは前述した
ように、それを超える電子線露出量で電子顕微鏡像記録
がなされると前記消去が良好に行なわれ得なくなるとい
う値であり、この限界値Qは実験あるいは経験に基づい
て適切に定めることができる。この限界値Qの具体的な
例は、先に述べた通りである。
ときはそのままシャッター開作動指令信号S3を人力す
ることはしないで、シャッター条件設定部32において
シャッター開時間をより短く設定し直し、その条件下で
は警報が生じないことを確認した上でシャッター19を
開作動させることができる。を記の限界値Qは前述した
ように、それを超える電子線露出量で電子顕微鏡像記録
がなされると前記消去が良好に行なわれ得なくなるとい
う値であり、この限界値Qは実験あるいは経験に基づい
て適切に定めることができる。この限界値Qの具体的な
例は、先に述べた通りである。
次に第2図を参照して、本発明の第2実施例について説
明する。なおこの第2図において、第1図に示したもの
と同じ要素については第1図中と同じ番号を付してあり
、それらについての説明は特にノ要の無い限り省略する
(以下、同様)。この第2図の電子顕微鏡像記録読取装
置40における露出制御部41は、第1図の装置の露出
量演算部31と同じ演算を行ない、もし X6y>Q であれば警報指令信号S4をデータ表示部34に送ると
もに、シャッターロック信号S5をシャッターコン!・
ローラ33に送る。シャッターコントローラ33はこの
シャッターロック信号S5を受けると、たとえシャッタ
ー開作動指令信号S3が入力されても、シャッター19
を駆動させない。それによりこの場合も電子顕微鏡操作
者は、シャッター開時III yの設定が不適切である
ことを知ることができる。
明する。なおこの第2図において、第1図に示したもの
と同じ要素については第1図中と同じ番号を付してあり
、それらについての説明は特にノ要の無い限り省略する
(以下、同様)。この第2図の電子顕微鏡像記録読取装
置40における露出制御部41は、第1図の装置の露出
量演算部31と同じ演算を行ない、もし X6y>Q であれば警報指令信号S4をデータ表示部34に送ると
もに、シャッターロック信号S5をシャッターコン!・
ローラ33に送る。シャッターコントローラ33はこの
シャッターロック信号S5を受けると、たとえシャッタ
ー開作動指令信号S3が入力されても、シャッター19
を駆動させない。それによりこの場合も電子顕微鏡操作
者は、シャッター開時III yの設定が不適切である
ことを知ることができる。
一方露出制御部41は、
x’y≦Q
である場合は、シャッターロック信号S5は出力せず、
人力された信号S2をそのままシャッターコントローラ
33に送り、該信号S2が示すシャッター速度で電子顕
微鏡像を記録させる。なおこの第2図の装置においては
、特に警報は発生させないようにしても構わない。
人力された信号S2をそのままシャッターコントローラ
33に送り、該信号S2が示すシャッター速度で電子顕
微鏡像を記録させる。なおこの第2図の装置においては
、特に警報は発生させないようにしても構わない。
次に第3図を参照して、本発明の第3実施例について説
明する。この第3図の電子顕微鏡像記録読取装置50に
おける露出量演算部51も、第1図の装置の露出量演算
部31と同じ演算を行ない、もしX壷y>Q であればx−y−Qとなるシャッター開時間yを算出し
、その開時間を示す信号S6をシャッターコントローラ
33に送る。したがってこの場合、シャッターコントロ
ーラ33にシャッター開作動指令信号S3が入力されれ
ば、シャッター19はシャッター条件設定部32で設定
された開時間ではなく、上記露出量演算部51が求めた
開時間で開作動し、そのときの電子線露出量は限界値Q
となる。またこの場合露出量演算部51は警報指令信号
S4を出力し、前述の警報を発生させる。
明する。この第3図の電子顕微鏡像記録読取装置50に
おける露出量演算部51も、第1図の装置の露出量演算
部31と同じ演算を行ない、もしX壷y>Q であればx−y−Qとなるシャッター開時間yを算出し
、その開時間を示す信号S6をシャッターコントローラ
33に送る。したがってこの場合、シャッターコントロ
ーラ33にシャッター開作動指令信号S3が入力されれ
ば、シャッター19はシャッター条件設定部32で設定
された開時間ではなく、上記露出量演算部51が求めた
開時間で開作動し、そのときの電子線露出量は限界値Q
となる。またこの場合露出量演算部51は警報指令信号
S4を出力し、前述の警報を発生させる。
一方露出量演算部51は、
x”y≦Q
である場合は、入力された信号S2をそのままシャッタ
ーコントローラ33に送り、該信号S2が示すシャッタ
ー開時間の下に電子顕微鏡像を記録させる。
ーコントローラ33に送り、該信号S2が示すシャッタ
ー開時間の下に電子顕微鏡像を記録させる。
この第3実施例の装置においては、電子顕微鏡操作者が
シャッター条件設定部32で設定したものではないシャ
ッター条件で電子顕微鏡像記録がなされることがあるか
ら、上述の警報は必ず出させるようにするのが好ましい
。
シャッター条件設定部32で設定したものではないシャ
ッター条件で電子顕微鏡像記録がなされることがあるか
ら、上述の警報は必ず出させるようにするのが好ましい
。
(発明の効果)
以上詳細に説明した通り本発明の電子顕微鏡像記録装置
においては、電子顕微鏡像の記録に際して、その像の読
取り後に蓄積性蛍光体シートに残存する電子線エネルギ
ーの消去処理が不可能になるほどに高い電子線露出量が
与えられることが確実に防止される。したがって本装置
で使用された蓄積性蛍光体シートは、上記残存電子線エ
ネルギーの放出が必ず満足に行なわれるようになるので
、本装置によれば、電子顕微鏡像記録再生システムの信
頼性を高める効果が得られる。
においては、電子顕微鏡像の記録に際して、その像の読
取り後に蓄積性蛍光体シートに残存する電子線エネルギ
ーの消去処理が不可能になるほどに高い電子線露出量が
与えられることが確実に防止される。したがって本装置
で使用された蓄積性蛍光体シートは、上記残存電子線エ
ネルギーの放出が必ず満足に行なわれるようになるので
、本装置によれば、電子顕微鏡像記録再生システムの信
頼性を高める効果が得られる。
第1.2および3図はそれぞれ、本発明の第1.2およ
び3実施例による電子顕微鏡像記録装置を備えた電子顕
微鏡像記録再生システムを示す概略正面図である。 1・・・電子顕微鏡 2・・・電子線8・・・試
料 9・・・電子顕微鏡の結像面10.4
0.50・・・電子顕微鏡像記録読取装置11・・・蓄
積性蛍光体シート 12・・・励起光源12a・・・励
起光ビーム I3・・・光走査系13a、13b・・
・光偏向器 [5・・・フォトマルチプライヤ−16・・・消去光源
16a・・・消去光 19・・・シャッター2
3・・・増幅器 24・・・A/D変換器2
5・・・信号処理回路 30・・・露出計31.5
1・・・露出量演算部 32・シャッター条件設定部 33・・・シャッターコントローラ 34・・・データ表示部 41・・・露出制御部筒 図
び3実施例による電子顕微鏡像記録装置を備えた電子顕
微鏡像記録再生システムを示す概略正面図である。 1・・・電子顕微鏡 2・・・電子線8・・・試
料 9・・・電子顕微鏡の結像面10.4
0.50・・・電子顕微鏡像記録読取装置11・・・蓄
積性蛍光体シート 12・・・励起光源12a・・・励
起光ビーム I3・・・光走査系13a、13b・・
・光偏向器 [5・・・フォトマルチプライヤ−16・・・消去光源
16a・・・消去光 19・・・シャッター2
3・・・増幅器 24・・・A/D変換器2
5・・・信号処理回路 30・・・露出計31.5
1・・・露出量演算部 32・シャッター条件設定部 33・・・シャッターコントローラ 34・・・データ表示部 41・・・露出制御部筒 図
Claims (2)
- (1)電子顕微鏡において試料を透過した電子線を蓄積
性蛍光体シートに照射することにより、この試料の電子
顕微鏡像を該シートに記録する電子顕微鏡像記録装置に
おいて、 前記蓄積性蛍光体シートと試料との間に配されて電子線
を遮断するシャッターと、 前記試料を透過した電子線の電流密度を測定する電流密
度測定手段と、 設定された前記シャッターの開時間と、前記電流密度測
定手段が測定した電流密度とに基づいて、前記シャッタ
ーが開かれたとき蓄積性蛍光体シートに照射されること
になる電子線露出量を演算する演算手段と、 この演算手段が演算した電子線露出量が、予め設定され
た限界値を超えたときに警報を発する警報手段とを備え
たことを特徴とする電子顕微鏡像記録装置。 - (2)電子顕微鏡において試料を透過した電子線を蓄積
性蛍光体シートに照射することにより、この試料の電子
顕微鏡像を該シートに記録する電子顕微鏡像記録装置に
おいて、 前記蓄積性蛍光体シートと試料との間に配されて電子線
を遮断するシャッターと、 前記試料を透過した電子線の電流密度を測定する電流密
度測定手段と、 設定された前記シャッターの開時間と、前記電流密度測
定手段が測定した電流密度とに基づいて、前記シャッタ
ーが開かれたとき蓄積性蛍光体シートに照射されること
になる電子線露出量を演算する演算手段と、 この演算手段が演算した電子線露出量が、予め設定され
た限界値を超えたときに、前記シャッターの開作動を妨
げる手段とが設けられたことを特徴とする電子顕微鏡像
記録装置。(3)電子顕微鏡において試料を透過した電
子線を蓄積性蛍光体シートに照射することにより、この
試料の電子顕微鏡像を該シートに記録する電子顕微鏡像
記録装置において、 前記蓄積性蛍光体シートと試料との間に配されて電子線
を遮断するシャッターと、 前記試料を透過した電子線の電流密度を測定する電流密
度測定手段と、 設定された前記シャッターの開時間と、前記電流密度測
定手段が測定した電流密度とに基づいて、前記シャッタ
ーが開かれたとき蓄積性蛍光体シートに照射されること
になる電子線露出量を演算する演算手段と、 この演算手段が演算した電子線露出量が、予め設定され
た限界値を超えたときに前記シャッターの開時間を、電
子線露出量が前記限界値となる値に自動的に設定し直す
手段とが設けられたことを特徴とする電子顕微鏡像記録
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63233989A JPH0282440A (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | 電子顕微鏡像記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63233989A JPH0282440A (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | 電子顕微鏡像記録装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0282440A true JPH0282440A (ja) | 1990-03-23 |
Family
ID=16963801
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63233989A Pending JPH0282440A (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | 電子顕微鏡像記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0282440A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5648043A (en) * | 1979-09-28 | 1981-05-01 | Hitachi Ltd | Exposure meter for electron beam |
| JPS61138443A (ja) * | 1984-12-07 | 1986-06-25 | Fuji Photo Film Co Ltd | 電子顕微鏡像記録読取装置 |
-
1988
- 1988-09-19 JP JP63233989A patent/JPH0282440A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5648043A (en) * | 1979-09-28 | 1981-05-01 | Hitachi Ltd | Exposure meter for electron beam |
| JPS61138443A (ja) * | 1984-12-07 | 1986-06-25 | Fuji Photo Film Co Ltd | 電子顕微鏡像記録読取装置 |
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