JPH0282647A - 半導体集積回路およびその製造方法 - Google Patents

半導体集積回路およびその製造方法

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JPH0282647A
JPH0282647A JP63235233A JP23523388A JPH0282647A JP H0282647 A JPH0282647 A JP H0282647A JP 63235233 A JP63235233 A JP 63235233A JP 23523388 A JP23523388 A JP 23523388A JP H0282647 A JPH0282647 A JP H0282647A
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JP
Japan
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circuit
basic circuit
section
semiconductor integrated
semiconductor substrate
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Application number
JP63235233A
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English (en)
Inventor
Moriyuki Chimura
盛幸 千村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
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Filing date
Publication date
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Priority to EP89309585A priority patent/EP0360596A1/en
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Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D84/00Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
    • H10D84/90Masterslice integrated circuits
    • H10D84/903Masterslice integrated circuits comprising field effect technology
    • H10D84/907CMOS gate arrays
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/90Bond pads, in general
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/90Bond pads, in general
    • H10W72/951Materials of bond pads
    • H10W72/952Materials of bond pads comprising metals or metalloids, e.g. PbSn, Ag or Cu

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  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体基板上の全面が基本回路素子で構成され
たマメクースライヌ方式の半導体集積回路およびその製
造方法に関するものである。
従来の技術 マヌターヌライ7方式の半導体集積回路としてはゲート
アレイが代表的なものである。第3図aは従来のゲート
アレイの半導体基板を示す図であり、1は既定の回路規
模に対応したサイズのチップ、2はチップ1の7クライ
プレーン、3はチップ1を半導体基板上に規則正しく配
置し、前もって電極配線製造工程i11までを作シ込ん
であるマヌターヌライヌ、4は基本回路素子が作り込ま
れた1、発明の名称 半導体集積回路およびその製造方法 2、特許請求の範囲 (1)少なくとも1種類の基本回路素子を全面に敷き詰
めて作り込んだ半導体基板上に、前記基本回路素子によ
り形成される回路領域である内部 3、回路部と、入力
まだは出力の少なくとも一方の機能を持つ入出力回路部
と、未使用の前記基本回路素子上に形成されるポンデイ
ングパツドおよびヌクライブレーンを備えた半導体集積
回路。
(2)基本回路素子を駆動能力が異なる複数のトランジ
ヌタで構成した特許請求の範囲第1項記載の半導体集積
回路。
(3)半導体基板上の全面に少なくとも1種類の基本回
路素子が敷き詰めて作り込まれたマスターヌライヌを製
造する工程と、同マスターヌライヌ上に、回路規模に応
じて前記基本回路素子によシ形成される回路領域である
内部回路部と、入力または出力の少なくとも一方の機能
を持つ基本回路素子部である。第3図すはチップ1の拡
大図であり、4は基本回路素子部、5は入出力回路素子
部、6はボンディングバノド、7は入出力回路素子部6
とポンデーイングパソド6とからなる外部接続部である
マヌターヌライヌ3は回路規模に応じた大きさの基本回
路素子部4のまわりに外部接続部7を配置し、固定され
たサイズのチップ1で構成される。
そして、回路規模の異なるマヌターヌライス3が数種類
から十数種類準備され、所望の半導体集積回路装置を作
る場合、その中から最適のものを選択し、配線以降の工
程を行い半導体集積回路を完成させていた。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、この従来方式では回路規模に一致する7
7ターヌライヌを必ずしも選択することができず、その
回路規模に近い77ターヌライ7で対応せざるを得す、
未使用の無駄な領域が発生するという問題点があった。
例えば、回路規模が10000ゲートの場合、ゲート利
用率を考慮すると10000ゲートの77#−1ライス
では対応できず、15000ゲートまたは20000ゲ
ートのマヌターヌライヌで対応せざるを得ない。
この場合5000または10000ゲ一ト分の無駄が生
じる。
また、無駄のない最適なマヌターヌライヌを準備するた
めには極めて細分化した回路規模のものが多種類必要と
なり、準備に多大な労力が必要であると共に未使用の可
能性のあるマヌター7ライ7を在庫として持つ必要があ
り、極めて無駄であるという問題がある。
課題を解決するだめの手段 本発明の半導体集積回路は、少なくとも1種類の基本回
路素子を全面に敷き詰めて作り込んだ半導体基板上に、
前記基本回路素子により形成される回路規模に応じた大
きさの内部回路部と、入出力回路部と、未使用のmI記
基本回路素子上に形成される配線部、ポンチ゛イングパ
ノドおよびヌクライプレーンで構成されたものである。
また、これを削る製造方法は、半導体基板上の全面に基
本回路素子が敷き詰めて作り込まれたマヌター7ライス
を製造し、同マヌターヌライヌ上の全面に、回路規模に
応じて前記基本回路素子により形成される内部回路部と
、入出力回路部と、未使用の前記基本回路素子上に形成
される配線部。
ボンディングパノドおよびヌクライプレーンとを形成し
たチップを繰り返し配置し、E+1記半導体基板を前記
ヌクライプレーンに沿って切断するものである。
作用 この構成およびその製造方法によって、1種類のマヌタ
ーヌライヌで任意のチップサイズの半導体集積回路が製
造可能となる。
実施例 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図亀は本発明の一実施例におけるチップ状の多数の
半導体集積回路を全面に作り込んだウェー・・を示す図
である。第1図乙において、8はチップ、9はチップ8
のヌクライプレーン、斜線部10は回路配置部、11は
ウェーノ・である。第1図すはチ、、プ8を含む周辺の
拡大図であり、本発明の半導体集積回路は、基本回路素
子が少なくとも一種類以上配置された基本回路素子、配
置部12に配置された基本回路素子を用いて形成された
内部回路部13と、入力または出力の少なくとも一方の
機能を持つ入出力回路部14および基本回路素子上に形
成されたボンディングパ・ノドと7タライプレーン9と
から構成される。なお、16は入出力回路部14とボン
ディングパソド16からなる外部接続回路部である。
次に、製造方法について説明する。
半導体基板上の全面に基本回路素子を敷き詰めて製造工
程の大部分を作り込んだマスターヌライヌを形成する。
次に、回路規模に応じた基本回路素子で形成された回路
領域である内部回路部13と、基本回路素子で形成され
た入力または出力の少なくとも一方の機能を持つ入出力
回路部14と、未使用の基本回路素子上に外部ビン接続
用のボンディングパノド16とで形成される外部接続回
路部16を型面配線により形成する。外部接続回路部1
6の周囲の未使用の基本回路素子上にチノフ切断用のヌ
クライプレーン9を形成する。ヌクライプレーン9の領
域を切断することにより半導体集積回路が得られる。
第2図は基本回路素子配置部12の一実施例であり、0
MO3のトランジヌタを概略的にゲート長だけを示した
図である。第2図において、17゜18はP型トランジ
ヌタのゲート長を示し、今2:1の割合とし、19.2
0はN型トランジヌクのゲート長を示し、同じく2:1
の割合の構成とする。この構成において、基本駆動能力
単位をP型トランジヌタ17およびN型トランジスタ1
9とすれば、駆動能力が半分の場合はP型トランジヌク
18およびN型トランジヌタ2oを単独に用い、1.5
倍の場合はP型トランジヌタ17.IQおよびN型トラ
ンジスタ19.20をそれぞれ並列に接続する等を行う
ことにより、きめ細かい駆動能力のトランジヌクが効率
よく作成できる。
発明の効果 以上のように本発明によれば、1種類のマヌターヌライ
ヌ上に任意のチップサイズの半導体集積回路が形成でき
、固定回路規模のマヌターヌライヌ方式のように未使用
ゲートの無駄を生じさせない。従ってチップのコヌトを
低減できる。また、ヌタンダードセル方式、あるいはセ
ルベーヌ方式による半導体集積回路に比べて製造工程が
短かい。
よって最適なチップサイズでかつ開発期間が大幅に短縮
することができる。
【図面の簡単な説明】 第1図aは本発明の一実施例を示す半導体集積回路を乍
り込んだウエーノ・の図、第1図すは第1図aに示す半
導体集積回路の拡大図、第2図は基本回路素子配置部の
一実施例を示す図、第3図aは従来のマヌターヌライヌ
を示す図、第3図すは第3図&の1チツプの拡大図であ
る。 1.8・・・・・・千ノフ、2.9・・・・・・ヌクラ
イプレーン、3・・・・・・マヌターヌライヌ、4・・
・・・・基本回路素子部、6・・・・・・入出力回路素
子、6,16・・・・・ボンデ、イングパノド、7・・
・・・・外部接続回路部、10・・・・・回路配置部、
11・・・・・ウェーハ、12・・・・・基本回路素子
配置部、13・・・・・内部回路部、14・・・・・・
入出力回路部、16・・・・・・外部接続回路部、17
18・・・・・・P型トランジヌタのゲート、19 、
20・・・・・N型トランジヌタのゲート。 代理人の氏名 方理士 粟 野 重 孝ほか1名 第2図 Z 憾

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)少なくとも1種類の基本回路素子を全面に敷き詰
    めて作り込んだ半導体基板上に、前記基本回路素子によ
    り形成される回路領域である内部回路部と、入力または
    出力の少なくとも一方の機能を持つ入出力回路部と、未
    使用の前記基本回路素子上に形成されるボンディングパ
    ッドおよびスクライブレーンを備えた半導体集積回路。
  2. (2)基本回路素子を駆動能力が異なる複数のトランジ
    スタで構成した特許請求の範囲第1項記載の半導体集積
    回路。
  3. (3)半導体基板上の全面に少なくとも1種類の基本回
    路素子が敷き詰めて作り込まれたマスタースライスを製
    造する工程と、同マスタースライス上に、回路規模に応
    じて前記基本回路素子により形成される回路領域である
    内部回路部と、入力または出力の少なくとも一方の機能
    を持つ入出力回路部と、未使用の前記基本回路素子上に
    形成されるボンディングパッドおよびチップ切断用スク
    ライブレーンとを形成したチップを繰り返し配置する工
    程と、前記半導体基板を前記スクライブレーンに沿って
    切断する工程とからなる半導体集積回路の製造方法。
JP63235233A 1988-09-20 1988-09-20 半導体集積回路およびその製造方法 Pending JPH0282647A (ja)

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US5517041A (en) * 1991-09-02 1996-05-14 Seiko Epson Corporation Semiconductor device
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JPS63187648A (ja) * 1987-01-30 1988-08-03 Fuji Xerox Co Ltd ゲ−トアレイ

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