JPH0283899A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

Info

Publication number
JPH0283899A
JPH0283899A JP63235697A JP23569788A JPH0283899A JP H0283899 A JPH0283899 A JP H0283899A JP 63235697 A JP63235697 A JP 63235697A JP 23569788 A JP23569788 A JP 23569788A JP H0283899 A JPH0283899 A JP H0283899A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
serial access
counter
signal
sas
address
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63235697A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroaki Ogawa
小川 弘晃
Masaaki Noguchi
正明 野口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu VLSI Ltd, Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu VLSI Ltd
Priority to JP63235697A priority Critical patent/JPH0283899A/ja
Priority to US07/408,028 priority patent/US5097447A/en
Priority to EP89309443A priority patent/EP0364110B1/en
Priority to DE68919464T priority patent/DE68919464T2/de
Priority to KR8913538A priority patent/KR920010820B1/ko
Publication of JPH0283899A publication Critical patent/JPH0283899A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1006Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔目次〕 概要 産業上の利用分野 従来の技術        (第11図)発明が解決し
ようとする課題 課題を解決するための手段 作用 実施例 本発明の原理説明    (第1〜6図)本発明の一実
施例    (第7〜10図)発明の効果 〔概要〕 シリアルアクセスメモリ (SAM)を備えた半導体記
憶装置に関し、 シリアルアクセススピードの高速化を目的とし、ソリア
ルアクセススト[+−ブ信号の立下りに同期してシリア
ルアクセスの初期アドレス値を取込むとともに、その後
のシリアルアクセスストロブ信号の立下りに同期してア
ドレス値をカウントアツプしてシリアルアクセスアドレ
ス信号を発生ずる第1のカウンタと、該第1のカウンタ
で発生したシリアルアクセスアドレス信号と冗長アドレ
ス信号とを比較して冗長メモリセルへの切換を判定する
冗長判定手段と、前記シリアルアクセスストローブ信号
の立上りに同期して第1のカウンタで発生したソリアル
アクセスアドレス信号を取込み、出力する第2のカウン
タと、第2のカウンタからのシリアルアクセスアドレス
信号と冗長判定手段からの判定結果信号に従って、1つ
のセルがアクセスされるデータレジスタと、を備えて構
成しでいろ。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体記憶装置に関し、特に、シリアルアク
セスメモリ (SAM)を備えた゛l″、i5体記憶装
置に関する。
一般に、画像処理関係の分野で使用される画像用メモリ
には、ランダムボートおよびシリアルボートといった2
つのボートが備えられており、ランダムボートをCPU
側に、また、シリアルボートをCRT側に接続して使用
される。シリアルボート側のアクセススピードは、画像
表示速度に直接に影響するので、高速なものが望ましい
。特に、描画速度の速い画像処理システムに使用される
画像用メモリには一段とアクセススピードの速いものが
要求される。
C従来の技術〕 従来のこの種の半導体記憶装置としては、例えば、第1
1図に示すものがある。第11図において、1は半導体
記憶装置であり、半導体記憶装置1は、ロウアドレスで
指定されたワード線とコラムアドレスで指定されたビッ
ト線との交点のメモリセルを選択し、このメモリセルに
情報を書込んだりあるいは読出したりするRAM (ラ
ンダムアクセスメモリ)2を備えるとともに、SAM(
シリアルアクセスメモリ)3を備えている。SAM3は
シリアルアクセスストローブ信号(以下、5AS)の立
上りに同期してコラムアドレスを(シリアルアクセスの
初期アドレス値として)取込み、シリアルアクセスアド
レス5AADを発生するアドレスカウンタ3aと、予め
設定された冗長アドレスと5AADとを比較した結果、
アドレス一致が検出されると、冗長切換信号SOMを出
力する冗長判定回路3bと、RAM2の一行分に相当す
る記憶セルおよび冗長セルを持ち、5AAIIに従って
記憶セルが順次−つづシリアルにアクセスされるととも
に、SOMが出力された場合には冗長セルがアクセスさ
れるデータレジスタ3Cと、データレジスタ3cと入・
出力端子4との間を双方向で接続するシリアル人・出カ
バソファ3dとを有している。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、このような従来の半導体記憶装置にあっ
ては、アドレスカウンタ3aへの二1ラムアドレスの取
込タイミングがSAS信号の立上りに同期して行われる
構成となっていたため、シリアルアクセススピードの高
速化の面で問題点があった。
すなわち、大容量メモリ装置では、冗長構成を取ること
は不可欠であり、必然的に冗長判定動作を必要とする。
冗長判定動作は、アクセスしようとするセルのアドレス
と予め不良セルとしてプログラムされた冗長アドレスと
を比較し、これらが一致するか否かによって判定される
が、この動作は、アクセスしようとするセルのアドレス
、すなわち、5AADが確定した後でなければ行えない
したがって、5AADの確定、さらに冗長判定といった
内部動作を経なければシリアルアクセスを行うことがで
きない。その結果、高速化を意図してSAS信号の周期
長を短縮化しようとしても、上記内部動作に要する時間
だけ短縮化が制限され、高速化の阻害要因となっていた
そこで、本発明は、S A S 信号の立下りに同期し
、て必要な内部動作を開始し、S A S信号が立上っ
たときには、速やかにシリアルアクセス動作を行えるよ
うにすることにより、SAS信号の周期長の短縮化を可
能にし2てシリアルアクセススピードの高速化を図るこ
とを目的としている。
(課題を解決するだめの手段〕 本発明では、十記目的を達成するために、シリアルアク
セスストローブ信号の立下りに同期してシリアルアクセ
スの初期ア)・レス値を取込むとともに、その後のシリ
アルアクセスストローブ(、? 号のず1下りに同期し
てアドレス値をカウントアツプしてシリアルアクセスア
ドレス信号を発生する第1のカウンタと、該第1のカウ
ンタで発生したシリアルアクセスアルレス信号と冗長ア
ドレス信号とを比較して冗長メモリセルへの切換を判定
する冗長判定手段と、前記シリアルアクセスストローブ
信号の立」ニリに同期して第1のカウンタで発生したシ
リアルアクセスアドレス信号を取込み、出力する第2の
カウンタと、第2のカウンタからのシリアルアクセスア
ドレス信号と冗長判定手段からの判定結果信号に従って
、1つのセルがアクセスされるデータレジスタと、を備
えて構成している。
〔作用〕
本発明では、SAS信号の立下りに同期して第1のカウ
ンタに初期アドレス値が取込まれ、そして、その後のS
AS信号の立下りに同期して上記初期アドレス値がカウ
ントアンプされ、シリアルアクセスアドレス信号が作ら
れる。
したがって、冗長判定動作を含む内部動作をSAS信号
の立上り以前に開始させることができるので、SAS信
号の周期長を短縮化することが可能になり、シリアルア
クセススピードの高速化が図られる。
(実施例〕 以下、本発明を図面に基づいて説明する。
原五翌泗− 第1図は本発明の原理説明図である。第1図において、
10は第1のカウンタ、11は第2のカウンタ、12は
冗長判定手段、13はゲート&ラッチであり、第1のカ
ウンタ10にはコラムアドレス信号C0、転送制御信号
SAT、反転シリアルアクセスストローブ信号SASが
入力されている。なお、反転シリアルアクセスストロー
ブ信号SASはシリアルアクセスストローブ信号SAS
に対して180°位相の違う信号であり、SASの立下
りは否τ丁聯立上りに一致している。第1のカウンタl
Oおよび第2のカウンタ11は第2のカウンタ11側を
マスター、第1のカウンタlO側をスレーブとするマス
タースレーブ型のフリップフロップを構成しており、第
1のカウンタ10はSATが“H”のときに、SASが
立上ると、このタイミングでCADを初期アドレスとし
て取込み、これをそのままスレーブアドレスSADとし
て出力する。第2のカウンタ11はSASの立上りでS
ADを取込み、このSADをマスクアドレスMADとし
て出力する。
また、第1のカウンタ10は取込んだCAl1を百ア〕
の立上り毎にカウントアンプしていき、これをSADと
して出力する動作も行う。
第2図のタイミングチャートにおいて、第1のカウンタ
lOからのSADは、SASの立」ニリ、ずなわちSA
Sの立下りに同期して更新され、また、MADはSAS
の立上り番こ同期して更新されている。冗長判定手段1
2は、SADと冗長アドレスとに基づいて冗長判定を行
い、この判定動作はSASの立上り以前に開始され、必
要に応して判定結果を示す信号SAが出力される。そし
て、SASが立上ると、ゲート&ラッチ13が開かれて
SOMが出力されるとともに、第2のカウンタ11から
MADが取出される。データレジスタは、その1つのレ
ジスフセルがMADでアクセスされるとともに、SOM
が出力されているとき、すなわち、冗長切換えを要する
ときには冗長用セルに切換えられ、シリアルアクセス動
作が開始される。
したがって、シリアルアクセス動作は、MADとSOM
が出力されたとき、換言すれば、SASの立上り直後か
ら開始されるので、SASの周期長を短縮することがで
き、シリアルアクセススピードを高速化することができ
るようになる。
なお、実際の半導体記憶装置では、データレジスタが複
数ビットのアドレスで指定されるので、この複数ビット
をnビットとすると、第3図に示すような概念構成図と
なる。
第3図において、アドレスカウンタ20は、上述の第1
のカウンタ10および第2のカウンタ11を1つのビッ
トに対応させて、これをnビット分備えるもので、アド
レスカウンタ20からは、nビット分のSADおよびM
ADが取出される。なお、21はクロック発生回路であ
り、クロック発生回路21はSASと同一タイミングの
クロック信号φと、SASを反転したクロック信号φを
発生するものである。
このようにしても、nビットのSADはTの立上り、す
なわちSASの立下りに同期して取出され、また、nビ
ットのMADはφの立上り、すなわちSASの立上りに
同期して取出されるから、必要な回部動作をSASの立
上り以前に開始させることができ、SASの周期長を短
縮化してシリアルアクセススピードを高速化することが
できるようになる。
また、SAMに与えられるコラムアドレス(初期アドレ
ス)は、RAM側のコラムデコーダにおいてプリデコー
ドされ、グループ分けされることがあるが、このような
グループ分けの場合には、第5図のようにするのが好ま
しい。
第5図において、アドレスカウンタ30は、下位桁に重
みづけされたグループAカウンタ30aと、上位桁に重
みづけされたグループロカウンタ30bとを有している
。なお、グループ数は一例であり、これに限定されるも
のではない。グループAカウンタ30aには、グループ
Aに含まれるビット数分のマスタースレーブフリソブフ
ロフブ31a〜3In(符号Mはマスター、Sはスレー
ブを示す)と、マスタースレーブフリンブフロップ31
nからのマスタ出力を受けて牛ヤリQAを発生するキャ
リ回路32とを有している。また、グループロカウンタ
30bは、グループBに含まれるビット数分のマスター
スレーフ゛フリンブフロツプ33a〜33mを有してい
る。34はグループA用のシフトクロック発生回路であ
り、シフトクロック発生回路34ば、SASと同一タイ
ミングのクロック信号φ1 と、SASを反転したり1
.1ツク仁号φ1とを発生する。35はグループB用の
シフトクロック発生回路であり、シフトクロック発生回
路35は、QAが出力される毎に、SASと同一タイミ
ングのクロック信号φ2と、SASを反転したクロック
信号φ2とを発生する。なお、36はグループA側の冗
長判定回路、37はグループB側の冗長判定回路、38
は冗長判定回路36および37からの判定結果信号AG
およびBGを受けてSASの立上りのタイミングでSO
Mを出力するゲート&ランチである。
第6図のタイミングチャー1.において、グループAの
SADは、φ1の立上り、すなわちSASの立Fり毎に
更新され、M八りはφ、の立上り、すなわち、SASの
立上り毎に更新されている。
そして、グループAカウンタ30aのカウントが一順す
ると、キャリ回路32からQAが出力される。
グループBのSADは、このQAを受けて77の立上り
、すなわちSASの立下りで更新され、MADはφ、の
立上り、すなわち、SASの立上りで更新される。
:l1」(列I肌 第7〜10図は本発明に係る半導体記憶装置の一実施例
を示す図である。
まず、構成を説明する。第7図において、40はRAM
、41はSAMである。RAM40は、マルチブレクス
された外部アドレス信号を取込み、ロウアドレス信号お
よびコラムアドレス信号に振り分けるアドレスカンタァ
42と、ロウアドレス信号をデコードしてメモリセルア
レイ43の1つのワード′線を指定するロウデコーダ4
4と、コラムアドレス信号をデコードしてメモリセルア
レイ43の1つのビット線を指定するコラムデコーダ4
5と、指定されたビット線の電位を増幅してデータの読
出しや書込みを行うセンスアンプ&I10ゲート46と
、ランダム人・出力端子47とセンスアンプ&I10ゲ
ート46との間に位置して双方向にデータをやりとりす
る入・出カバソファ48と、を備えている。
一方、SAM41は、転送制御信号SATおよびシリア
ルアクセスストローブ信号SASを受けてSATと同一
タイミングのクロック信号φSAT、SATを反転させ
たクロック信号φsAt、SASと同一 タイミングの
クロック信号φ、□、SASを反転させたクロック信号
φ、□を発生するクロック発生回路49と、SAD、M
ADを発生するアトし・スカウンタ50と、SADおよ
び冗長アドレスを比較して冗長判定信号S。を出力する
冗長判定回路51と、S11を一旦保持し、これをSO
Mとして出力するゲートルラッチ52と、メモリセルア
レイ43の一行分に相当する複数のレジスタセルと冗長
セルとを含むデータレジスタ53と、MADをデコード
してデータレジスタ53の1つのレジスタセルを指定す
るデコーダ54と、シリアル人・出力端子55とデータ
レジスタ53との間に介在し、データを双方向にやりと
りするシリアル人・出力バッファ56と、を備えている
第8図はアドレスカウンタ50の一例を示す図である。
アドレスカウンタ50はコラムアドレス信号のビット数
分のマスタースレーブ型フリップフロ・7ブF F o
 ” F F nを備えている。第9図は代表としてF
Foの構成を示す図である。FFoのスレーブ側Sは、
2つのPチャネルトランジスタ60.61と2つのNチ
ャネルトランジスタ62.63をトーテムポール接続し
た第1のゲート64と、3つのPチャネルトランジスタ
65.66.67と3つのNチャネルトランジスタ68
.69.70をトーテムポール接続した第2のゲート7
1と、4つのPチャネルトランジスタ72.73.74
.75と4つのNチャネルトランジスタ76.77.7
8.79とにより構成されたスレーブ側フリソブフロン
プ80と、を備え、第1のゲート64はφ、Aアが“L
”でφ3ATが“I]″のときにAo(コラムアドレス
信号)を取込み、スレーブ側フリップフロップ80はφ
、□が“H”から“L”へ(φsssが“L”から“H
″)と切換わると、ずなわち、SASが立下ると、取込
まれたAOをラッチし、ラッチしたAOをAo’(SA
D)として出力するとともに、マスター側Mに送る。
マスター側Mは、2つのPチャネルトランジスタ81.
82と2つのNチャネルトランジスタ83.84とをト
ーテムポール接続した第1のゲート85と、3つのPチ
ャネルトランジスタ86.87.88と3つのNチャネ
ルトランジスタ89.90.91とにより構成されたマ
スター側フリップフロップ92と、を備え、第1のゲー
ト85およびマスター側フリップフロップ92は、φ、
□が“L”から“H”へ(φSASが“H”から“L”
)と切換ねると、すなわちSASが立上ると、スレーブ
側SからのAO′をラッチし、ラッチしたAO′をA□
’(MAD)として出力する。
第10図は冗長判定回路51、ゲートルラッチ52の一
例を示す図である。冗長判定回路51はn個のEXNO
RゲートEゲートENRと、1つのn入力NANDゲー
ト93とを備え、アドレスカウンタ50からの5AD(
Ao’〜An ’)と冗長アドレス(ヒユーズアドレス
Fo〜Fn)との一致を検出し、一致が検出されるとS
Nを出力する。また、ゲートルラッチ52は、2つのP
チャネルトランジスタ94.95と2つのNチャネルト
ランジスタ96.97をトーテムポール接続した第1の
ゲート98と、3つのPチャネルトランジスタ99.1
00.101と3つのNチャネルトランジスタ102.
103 、+04から構成されたフリップフロップ10
5と、Pチャネルトランジスタ106およびNチャネル
トランジスタ107からなる出力インバータゲ−1−1
08と、を備え、第1のゲート98およびフリップフロ
ップ105はφSASがL″から“H′へ(φSAIが
′H′から1L″)と切換ると、すなわちSASが立上
ると、冗長判定回路51からのS11をラッチし、この
ラッチしたSMをSOMとして出力する。
このような構成において、シリアルアクセス時には、S
ATは“L”論理にされる。これにより、φS^丁=“
L′・φSAT =“H“となって・アドレスカウンタ
50のFFo〜FFnはコラムアトレア 大信号(Ao−An)を初期値として取込む。アドレス
カウンタ50のスレーブ側SはSASの立下りでA o
 −A nをラッチするとともに、5AD(AO′〜A
n’)を出力する。また、アドレスカウンタ50はSA
Sの立上りタイミングでSADをマスター側にラッチす
るとともに、MAD (Ao  −An″)として出力
する。冗長判定回路51は、アドレスカウンタ50から
のSADと冗長アドレス(Fo−Fn)との一致を取り
その結果(SH)をゲートムラフチ52に出力する。ゲ
ートアンドラッチ52は、このSNをSASの立上りタ
イミングでラッチし、SOMとして出力する。
すなわち、アドレスカウンタのセットおよび冗長判定と
いった内部動作がSASの立下りから開始され、SAS
の立上りでは、すべての内部動作を完了させることがで
きる。したがって、SASの立上りとともに、速やかに
シリアルアクセス動作を行うことができるようになる。
このことは、SASの一周期長を短縮できることを意味
しており、この短縮化に伴ってシリアルアクセススピー
ドの高速化を達成することができる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、SAS信号の立下りに同期して必要な
内部動作、例えばカウンタのセントや冗長判定を開始さ
せることができ、SAS信号が立上ったときには、速や
かにシリアルアクセスを行うことができる。したがって
、SAS信号の周期長を短縮化することができるように
なり、シリアルアクセススピードを高速化することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理ブロック図、 第2図は第1図のタイミングチャート、第3図は複数ビ
ット構成に対応させた概、念構成図、 第4図は第3図のタイミングチャート、第5図はグルー
プ分けされたアドレスに対応する場合の構成図、 第6図は第5図のタイミングチャート、第7〜10図は
本発明に係る半導体記憶装置の一実施例を示す図であり
、 第7図はその全体構成図、 第8図はそのアドレスカウンタの一例を示す構成図、 第9図はそのFFoの一例を示す構成図、第10図はそ
の冗長判定回路およびゲート&ラッチの一例を示す構成
図、 第1I図は従来例を示すその要部構成図である。 SAS・・・・・・シリアルアクセスストローブ信号、
10・・・・・・第1のカウンタ、 11・・・・・・第2のカウンタ、 12・・・・・・冗長判定手段、 30・・・・・・アドレスカウンタ(第1および第2の
カウンタ)、 36.37・・・・・・冗長判定回路(冗長判定手段)
、50・・・・・・アドレスカウンタ(第1および第2
のカウンタ)、 51・・・・・・冗長判定回路(冗長判定手段)、53
・・・・・・データレジスタ、 2 】

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 シリアルアクセスストローブ信号の立下りに同期してシ
    リアルアクセスの初期アドレス値を取込むとともに、 その後のシリアルアクセスストローブ信号の立下りに同
    期してアドレス値をカウントアップしてシリアルアクセ
    スアドレス信号を発生する第1のカウンタと、 該第1のカウンタで発生したシリアルアクセスアドレス
    信号と冗長アドレス信号とを比較して冗長メモリセルへ
    の切換を判定する冗長判定手段と、前記シリアルアクセ
    スストローブ信号の立上りに同期して第1のカウンタで
    発生したシリアルアクセスアドレス信号を取込み、出力
    する第2のカウンタと、 第2のカウンタからのシリアルアクセスアドレス信号と
    冗長判定手段からの判定結果信号に従って、1つのセル
    がアクセスされるデータレジスタと、を備えたことを特
    徴とする半導体記憶装置。
JP63235697A 1988-09-20 1988-09-20 半導体記憶装置 Pending JPH0283899A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63235697A JPH0283899A (ja) 1988-09-20 1988-09-20 半導体記憶装置
US07/408,028 US5097447A (en) 1988-09-20 1989-09-15 Semiconductor memory device having a serial access memory
EP89309443A EP0364110B1 (en) 1988-09-20 1989-09-18 Semiconductor memory device having a serial access memory
DE68919464T DE68919464T2 (de) 1988-09-20 1989-09-18 Halbleiterspeichereinrichtung, die einen Speicher mit Seriengriff aufweist.
KR8913538A KR920010820B1 (en) 1988-09-20 1989-09-20 Serial access memory within semiconductor memory devie

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63235697A JPH0283899A (ja) 1988-09-20 1988-09-20 半導体記憶装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0283899A true JPH0283899A (ja) 1990-03-23

Family

ID=16989884

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63235697A Pending JPH0283899A (ja) 1988-09-20 1988-09-20 半導体記憶装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5097447A (ja)
EP (1) EP0364110B1 (ja)
JP (1) JPH0283899A (ja)
KR (1) KR920010820B1 (ja)
DE (1) DE68919464T2 (ja)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2880547B2 (ja) * 1990-01-19 1999-04-12 三菱電機株式会社 半導体記憶装置
JPH0821233B2 (ja) 1990-03-13 1996-03-04 株式会社東芝 画像メモリおよび画像メモリからデータを読み出す方法
GB2247965B (en) * 1990-09-14 1994-08-24 Samsung Electronics Co Ltd Dual-port memory device
US5799186A (en) * 1990-12-20 1998-08-25 Eastman Kodak Company Method and apparatus for programming a peripheral processor with a serial output memory device
JP2549209B2 (ja) * 1991-01-23 1996-10-30 株式会社東芝 半導体記憶装置
AU642978B2 (en) * 1991-03-12 1993-11-04 Alcatel N.V. Method and device for aquisition and alignment of data
US5325502A (en) * 1991-05-15 1994-06-28 Micron Technology, Inc. Pipelined SAM register serial output
US5206821A (en) * 1991-07-01 1993-04-27 Harris Corporation Decimation circuit employing multiple memory data shifting section and multiple arithmetic logic unit section
JP2687785B2 (ja) * 1991-09-27 1997-12-08 日本電気株式会社 半導体記憶装置
JPH0775015B2 (ja) * 1991-12-19 1995-08-09 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション データ通信及び処理システム並びにデータ通信処理方法
JP4018159B2 (ja) * 1993-06-28 2007-12-05 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路
FR2710445B1 (fr) * 1993-09-20 1995-11-03 Sgs Thomson Microelectronics Circuit de redondance dynamique pour mémoire en circuit intégré.
US5452261A (en) * 1994-06-24 1995-09-19 Mosel Vitelic Corporation Serial address generator for burst memory
JP3226425B2 (ja) * 1994-09-09 2001-11-05 富士通株式会社 半導体記憶装置
US5513144A (en) * 1995-02-13 1996-04-30 Micron Technology, Inc. On-chip memory redundancy circuitry for programmable non-volatile memories, and methods for programming same
US5678017A (en) 1995-03-24 1997-10-14 Micron Technology, Inc. Automatic reloading of serial read operation pipeline on last bit transfers to serial access memory in split read transfer operations
JP3828222B2 (ja) * 1996-02-08 2006-10-04 株式会社日立製作所 半導体記憶装置
JPH10334689A (ja) * 1997-05-30 1998-12-18 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US6182239B1 (en) * 1998-02-06 2001-01-30 Stmicroelectronics, Inc. Fault-tolerant codes for multi-level memories
US6078548A (en) * 1999-03-08 2000-06-20 Winbond Electronics Corporation CPU capable of modifying built-in program codes thereof and method for the same
JP4600792B2 (ja) * 2000-07-13 2010-12-15 エルピーダメモリ株式会社 半導体装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4292674A (en) * 1979-07-27 1981-09-29 Sperry Corporation One word buffer memory system
JPS57164331A (en) * 1981-04-02 1982-10-08 Nec Corp Buffer controller
JPS6148200A (ja) * 1984-08-14 1986-03-08 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US4745577A (en) * 1984-11-20 1988-05-17 Fujitsu Limited Semiconductor memory device with shift registers for high speed reading and writing
JPS61160898A (ja) * 1985-01-05 1986-07-21 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
JPS6337899A (ja) * 1986-07-30 1988-02-18 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPS63136391A (ja) * 1986-11-27 1988-06-08 Nec Corp 半導体メモリ装置
JP2639650B2 (ja) * 1987-01-14 1997-08-13 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 半導体装置
US4823302A (en) * 1987-01-30 1989-04-18 Rca Licensing Corporation Block oriented random access memory able to perform a data read, a data write and a data refresh operation in one block-access time
JPS6433800A (en) * 1987-07-29 1989-02-03 Toshiba Corp Semiconductor memory
JPH07105157B2 (ja) * 1987-09-10 1995-11-13 日本電気株式会社 冗長メモリセル使用判定回路
US4885720A (en) * 1988-04-01 1989-12-05 International Business Machines Corporation Memory device and method implementing wordline redundancy without an access time penalty
US4891794A (en) * 1988-06-20 1990-01-02 Micron Technology, Inc. Three port random access memory

Also Published As

Publication number Publication date
KR920010820B1 (en) 1992-12-17
EP0364110A3 (en) 1990-05-23
EP0364110B1 (en) 1994-11-23
US5097447A (en) 1992-03-17
DE68919464D1 (de) 1995-01-05
DE68919464T2 (de) 1995-04-20
EP0364110A2 (en) 1990-04-18
KR900005456A (ko) 1990-04-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0283899A (ja) 半導体記憶装置
US6804743B2 (en) Two step memory device command buffer apparatus and method and memory devices and computer systems using same
US5319763A (en) Data processor with concurrent static and dynamic masking of operand information and method therefor
TW389903B (en) DRAM with integral SRAM and systems and methods using the same
EP0355560B1 (en) Conditional write ram
JPH01223697A (ja) 内容番地付け記憶装置
JPH11203860A (ja) 半導体記憶装置
JP3577119B2 (ja) 半導体記憶装置
US6542569B2 (en) Memory device command buffer apparatus and method and memory devices and computer systems using same
JPH0743429A (ja) 物理アドレス変換回路
JPH02100737A (ja) データ転送制御装置
JPS63116236A (ja) 情報処理装置
JPH0863975A (ja) スタティックramおよびこのスタティックramを有する処理装置
JPH04228187A (ja) ランダム・アクセス・メモリ・アレイ
TW425567B (en) Built-in self-test circuit for RAMBUS DRAM
JPH05113929A (ja) マイクロコンピユータ
JP3628545B2 (ja) メモリー素子用内蔵自己テスト回路
JPS6386191A (ja) ダイナミツクメモリ
JPH0520350A (ja) ベクトル処理装置
JPS63244496A (ja) 内容番地付けメモリ
JP2659228B2 (ja) 半導体メモリ
JPS5982695A (ja) 半導体記憶素子
JPH03248242A (ja) メモリ制御回路
JPS5860363A (ja) 論理装置の動作履歴記憶方式
JPS60123946A (ja) アドレス変換装置