JPH03112012A - 透明導電膜付き基板 - Google Patents
透明導電膜付き基板Info
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は透明導電膜付き基板に関するものであり、特に
各種デイスプレーに使用され、コントラストの向上を計
るために遮光性膜を被着した透明導電膜付き基板に関す
るものである。
各種デイスプレーに使用され、コントラストの向上を計
るために遮光性膜を被着した透明導電膜付き基板に関す
るものである。
[従来の技術]
従来、この種の透明導電膜付き基板としては第5図(平
面図)に示すものがあった。この透明導電膜付き基板1
は、液晶デイスプレーの単純マトリックス型に使用する
ものであり、ガラス基板2の一主表面上に、短冊状の複
数の透明導電膜からなる電極3を並列して被着し、その
電極3間にカーボン粒子を含んだアクリル樹脂からなる
、絶縁性の有機樹脂の遮光性膜パターン4をスクリーン
印刷等により被着してなるものであった。
面図)に示すものがあった。この透明導電膜付き基板1
は、液晶デイスプレーの単純マトリックス型に使用する
ものであり、ガラス基板2の一主表面上に、短冊状の複
数の透明導電膜からなる電極3を並列して被着し、その
電極3間にカーボン粒子を含んだアクリル樹脂からなる
、絶縁性の有機樹脂の遮光性膜パターン4をスクリーン
印刷等により被着してなるものであった。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、従来の透明導電膜付き基板1におけるコ
ントラスト向上のための遮光性膜パターン4が有機樹脂
であることから、長時間電界を印加して起動すると遮光
率が低下してしまう問題点があった。すなわち遮光率の
経時変化が生じてしまい、コントラストが低下するとい
う問題点があった。また、有機樹脂からなる遮光性膜パ
ターンは、有機樹脂中のカーボン粒子寺の量を増大させ
ることにより遮光率を向上させることは考えられるが、
カーボン粒子の量を増大させると導電性を生ずることと
なる。したがって、有機樹脂からなる遮光性膜パターン
が十分な絶縁性を維持するためにその遮光率は最大96
%(可視光領域)程度であり、近年要求されているコン
トラストの高い高品位デイスプレーに適さない問題点も
あった。
ントラスト向上のための遮光性膜パターン4が有機樹脂
であることから、長時間電界を印加して起動すると遮光
率が低下してしまう問題点があった。すなわち遮光率の
経時変化が生じてしまい、コントラストが低下するとい
う問題点があった。また、有機樹脂からなる遮光性膜パ
ターンは、有機樹脂中のカーボン粒子寺の量を増大させ
ることにより遮光率を向上させることは考えられるが、
カーボン粒子の量を増大させると導電性を生ずることと
なる。したがって、有機樹脂からなる遮光性膜パターン
が十分な絶縁性を維持するためにその遮光率は最大96
%(可視光領域)程度であり、近年要求されているコン
トラストの高い高品位デイスプレーに適さない問題点も
あった。
[課題を解決するための手段]
本発明は前述した課題を解決するためになされたもので
、その特徴は、基板の一生表面上に、金屑含有無機物質
からなる遮光性膜パターンを被着し、前記遮光性膜パタ
ーン上及び前記一主表面の露出部上にゾル−ゲル法によ
り絶縁膜を積層し、さらに前記絶縁膜上に透明導電膜を
設けたことを特徴とする透明導電膜付き基板である。
、その特徴は、基板の一生表面上に、金屑含有無機物質
からなる遮光性膜パターンを被着し、前記遮光性膜パタ
ーン上及び前記一主表面の露出部上にゾル−ゲル法によ
り絶縁膜を積層し、さらに前記絶縁膜上に透明導電膜を
設けたことを特徴とする透明導電膜付き基板である。
[実施例コ
本発明の一実施例を第1図〜第4図に基づき詳細に説明
する。
する。
尚、第1図は、本例の第2図のX−X線断面図であり、
第2図は本例の平面図であり、第3図は、基板上に遮光
性膜パターンを被着したものの平面図であり、さらに第
4図は本例の製作工程を示す断面図である。
第2図は本例の平面図であり、第3図は、基板上に遮光
性膜パターンを被着したものの平面図であり、さらに第
4図は本例の製作工程を示す断面図である。
先ず、本例の透明導電膜付き基板10は、液晶デイスプ
レーの単純マトリックス型に使用するものであり、この
透明導電膜付き基板10の2枚はそれぞれ、周知の液晶
を内在せしめるように対向配置される。なお、この配置
方向は、一方の透明導電膜付き基板10が第2図に示す
平面図のようであり、もう一方の透明導電膜付き基板1
0が平面的に第2図のものを90°回転している方向で
ある。
レーの単純マトリックス型に使用するものであり、この
透明導電膜付き基板10の2枚はそれぞれ、周知の液晶
を内在せしめるように対向配置される。なお、この配置
方向は、一方の透明導電膜付き基板10が第2図に示す
平面図のようであり、もう一方の透明導電膜付き基板1
0が平面的に第2図のものを90°回転している方向で
ある。
本例の透明導電膜付き基板10は、第1図及び第2図に
示すとおり、透光性基板11の一生表面上に、金属含有
無機物質からなる遮光性膜パターン12を積層し、この
遮光性膜パターン12及び透光性基板11の露出表面1
1a(露出部)上に第1絶縁膜13と第2絶縁膜14と
透明導電膜15とを順次積層したものである。
示すとおり、透光性基板11の一生表面上に、金属含有
無機物質からなる遮光性膜パターン12を積層し、この
遮光性膜パターン12及び透光性基板11の露出表面1
1a(露出部)上に第1絶縁膜13と第2絶縁膜14と
透明導電膜15とを順次積層したものである。
さらに、この透明導電膜付き基板10について第3図及
び第4図に基づぎ以下に詳述する。
び第4図に基づぎ以下に詳述する。
先ず、厚さ 1.1.で−辺が1908のアルミノボロ
シリケートガラス(例えば、HOY A (441製商
品名NA−45)からなる透光性基板11の一生表面上
に、スパッタリング法又は真空蒸着法によりクロム膜か
らなる遮光性膜(膜厚:約1200人)を積層する。
シリケートガラス(例えば、HOY A (441製商
品名NA−45)からなる透光性基板11の一生表面上
に、スパッタリング法又は真空蒸着法によりクロム膜か
らなる遮光性膜(膜厚:約1200人)を積層する。
次にこの遮光性膜上に、スピンコード法によりポジ型レ
ジスト膜(例えば、長瀬産業社製商品名NPR−330
0であり、膜厚は約1.0虜である。)を積層し、ブレ
ベーク(100℃で30分)する。
ジスト膜(例えば、長瀬産業社製商品名NPR−330
0であり、膜厚は約1.0虜である。)を積層し、ブレ
ベーク(100℃で30分)する。
次に、所望のパターンを有するフォトマスクを用いて密
着露光法により、前述したポジ型レジスト膜を露光し、
専用現像液で現像し、その後ポジ型レジスト膜パターン
をマスクとして、例えば、硝酸第2セリウムアンモンと
過塩素酸どの混合液で遮光性膜をエツチングして遮光性
膜パターン12(可視光領域(380nm〜780nm
lにおいて遮光率は、99.8%)を形成する(第3図
及び第4図(a)参照。
着露光法により、前述したポジ型レジスト膜を露光し、
専用現像液で現像し、その後ポジ型レジスト膜パターン
をマスクとして、例えば、硝酸第2セリウムアンモンと
過塩素酸どの混合液で遮光性膜をエツチングして遮光性
膜パターン12(可視光領域(380nm〜780nm
lにおいて遮光率は、99.8%)を形成する(第3図
及び第4図(a)参照。
)。なお、この遮光性膜パターン12は、第3図に示す
とおり、遮光性膜がエツチングされ透光性基板11の表
面が露出して露出表面11aを有しており、この露出表
面11aは、−辺の長さLlが約50庫の正方形状をな
し、かつ隣り合う露出表面11a間の距ff1L2は2
0項である。
とおり、遮光性膜がエツチングされ透光性基板11の表
面が露出して露出表面11aを有しており、この露出表
面11aは、−辺の長さLlが約50庫の正方形状をな
し、かつ隣り合う露出表面11a間の距ff1L2は2
0項である。
次に第4図(b)に示すように、遮光性膜パターン12
上及び基板11の露出表面11a上に、ゾル−ゲル法に
よりポリケイ酸からなる第1絶縁膜13(膜厚:約70
00人)をv4層する。このポリケイ酸からなる第1絶
縁膜13は、20重量%のテトラヒドロキシシラン11
%エチルアルコール溶液と80重坦%のn−ブチルアル
コールとの混合液を、遮光性膜パターン12上及び露出
表面11a上に滴下し、300r、 p]でスピンコー
ド法により塗布し、次に400℃で60分間焼成し、い
わゆるゾル−ゲル法で形成される。なお、この第1絶縁
g!13は、下層の遮光性膜パターン12の段差の影響
を実質的に受けないで、その表面は平坦となる。
上及び基板11の露出表面11a上に、ゾル−ゲル法に
よりポリケイ酸からなる第1絶縁膜13(膜厚:約70
00人)をv4層する。このポリケイ酸からなる第1絶
縁膜13は、20重量%のテトラヒドロキシシラン11
%エチルアルコール溶液と80重坦%のn−ブチルアル
コールとの混合液を、遮光性膜パターン12上及び露出
表面11a上に滴下し、300r、 p]でスピンコー
ド法により塗布し、次に400℃で60分間焼成し、い
わゆるゾル−ゲル法で形成される。なお、この第1絶縁
g!13は、下層の遮光性膜パターン12の段差の影響
を実質的に受けないで、その表面は平坦となる。
次に、同図(C)に示すように、第1絶縁層膜13上に
スパッタリング法によりSiO2からなる第2絶縁膜1
4(膜厚: 3000人)を積層する。なお、スパッタ
リング法は反応性スパッタリング法で、ターゲットはS
iO2であり、アルゴンと酸素との混合雰囲気でスパッ
タリングを行なう。
スパッタリング法によりSiO2からなる第2絶縁膜1
4(膜厚: 3000人)を積層する。なお、スパッタ
リング法は反応性スパッタリング法で、ターゲットはS
iO2であり、アルゴンと酸素との混合雰囲気でスパッ
タリングを行なう。
次に、同図(d)に示すように第2絶縁膜14上に、ス
パッタリング法によりインジウム・ティン・オキサイド
(ITO)からなる透明導電膜15(膜厚:約1700
人)を積層し、本例の透明導電膜付き基板10を作製す
る。なお、スパッタリング法は反応性スパッタリング法
である。
パッタリング法によりインジウム・ティン・オキサイド
(ITO)からなる透明導電膜15(膜厚:約1700
人)を積層し、本例の透明導電膜付き基板10を作製す
る。なお、スパッタリング法は反応性スパッタリング法
である。
さらに、本例の透明導電膜付き基板10の透明導電膜1
5をエツチングして第2図に示す露出表面11aに対応
するような正方形状のパターンを作製する方法を以下台
に述べる。
5をエツチングして第2図に示す露出表面11aに対応
するような正方形状のパターンを作製する方法を以下台
に述べる。
先ず、前述した透明導電PA15上に、前述したレジス
トと同様のポジ型レジスト膜をスピンコード法により膜
厚約1扉で塗布し、100℃で30分間プレベークする
。次に、第3図及び第4図(a)で示した遮光性膜パタ
ーン12を形成したときに使用したフォトマスクとパタ
ーンが反転しているものを用いて露光し、専用現像液で
11像する。
トと同様のポジ型レジスト膜をスピンコード法により膜
厚約1扉で塗布し、100℃で30分間プレベークする
。次に、第3図及び第4図(a)で示した遮光性膜パタ
ーン12を形成したときに使用したフォトマスクとパタ
ーンが反転しているものを用いて露光し、専用現像液で
11像する。
次に、所定の透明導電膜のエツチング液(例えば、塩化
第2鉄と塩酸との混合液)で透明導電膜15をエツチン
グし、第4図(e)に示すような、透明導電膜パターン
15aを作製する。
第2鉄と塩酸との混合液)で透明導電膜15をエツチン
グし、第4図(e)に示すような、透明導電膜パターン
15aを作製する。
以上のように、本例によれば、遮光性膜パターン12が
金属含有無機物質からなることから、耐薬品性に優れ、
また第1絶縁膜13の表面には実質的に段差が生じてい
ないことから、透明導電膜15の表面にも段差がなく、
したがってこの透明導電膜15手をスパッタリング法に
より積層しても段差によって生ずる、透明導電ll11
5の膜厚変化、歪みによる透明導電膜15のクラックの
発生が防止できる。
金属含有無機物質からなることから、耐薬品性に優れ、
また第1絶縁膜13の表面には実質的に段差が生じてい
ないことから、透明導電膜15の表面にも段差がなく、
したがってこの透明導電膜15手をスパッタリング法に
より積層しても段差によって生ずる、透明導電ll11
5の膜厚変化、歪みによる透明導電膜15のクラックの
発生が防止できる。
さらに透明導電膜15の表面が実質的に平坦であるので
、透明導電膜15をバターニングするとき段差によって
生ずるエツチング液の段差部分への浸み込みを防止でき
、精度よく透明導電膜パターン15aを作製することが
できる。また、第1絶縁1113と透明導電膜15との
間に第2絶縁膜14があることから、絶縁性がさらに向
上し、より高い電界を印加しても起動できるという利点
がある。
、透明導電膜15をバターニングするとき段差によって
生ずるエツチング液の段差部分への浸み込みを防止でき
、精度よく透明導電膜パターン15aを作製することが
できる。また、第1絶縁1113と透明導電膜15との
間に第2絶縁膜14があることから、絶縁性がさらに向
上し、より高い電界を印加しても起動できるという利点
がある。
なお、第2絶縁躾14は、5if2以外に他の透明な金
属酸化物等であってもよく、また反応性スパッタリング
法以外の高周波スパッタリング法やマグネットロンスパ
ッタリング法等でもよく、真空蒸着法であってもよい。
属酸化物等であってもよく、また反応性スパッタリング
法以外の高周波スパッタリング法やマグネットロンスパ
ッタリング法等でもよく、真空蒸着法であってもよい。
さらに第2絶縁膜14は、膜厚が1500〜5000人
であることが好ましい。
であることが好ましい。
本発明は前記実施例に限らず下記のものであってもよい
。
。
先ず、前記実茄例では金属含有無機物質からなる遮光性
膜パターンがクロム膜からなるものであったが、他の金
属膜、例えば、Ta、W、Moであってもよく、またク
ロム酸化物、モリブデン酸化物等の金属酸化物やタンタ
ル珪化物、タングステン珪化物、モリブデン珪化物等の
金属珪化物でもよい。また、遮光性膜パターンは一層で
なくて二層等の複数層からなるものでもよい。また遮光
性膜パターンの遮光率は、可視光領域(波長3800m
〜780na)で99.8%以上が望ましい。また、前
記実施例では、ゾル−ゲル法による第1絶縁膜の他に第
2絶縁膜を設けていたが、第2絶縁躾はなくてもよい。
膜パターンがクロム膜からなるものであったが、他の金
属膜、例えば、Ta、W、Moであってもよく、またク
ロム酸化物、モリブデン酸化物等の金属酸化物やタンタ
ル珪化物、タングステン珪化物、モリブデン珪化物等の
金属珪化物でもよい。また、遮光性膜パターンは一層で
なくて二層等の複数層からなるものでもよい。また遮光
性膜パターンの遮光率は、可視光領域(波長3800m
〜780na)で99.8%以上が望ましい。また、前
記実施例では、ゾル−ゲル法による第1絶縁膜の他に第
2絶縁膜を設けていたが、第2絶縁躾はなくてもよい。
このゾル−ゲル法による絶縁膜は、ポリケイ酸からなる
もの以外にこのポリケイ酸にバインダーとしての有機物
を添加したものであってもよく、さら゛に膜厚は5oo
o〜2G000人が好ましい。
もの以外にこのポリケイ酸にバインダーとしての有機物
を添加したものであってもよく、さら゛に膜厚は5oo
o〜2G000人が好ましい。
また、透明導電膜としては、ITO以外に、アンチモン
をドープした5n02等であってもよい。
をドープした5n02等であってもよい。
さらに基板としてはガラスに限らず、セラミックや金属
等であってもよく、用途に応じて適宜決定すればよい。
等であってもよく、用途に応じて適宜決定すればよい。
[発明の効果]
以上のとおり本発明によれば、遮光性膜パターンの金属
含有無機物質からなることから、遮光率の経時変化が防
止でき、かつ遮光率も向上するのでコントラストの高い
高品位デイスプレーにも使用できる効果がある。
含有無機物質からなることから、遮光率の経時変化が防
止でき、かつ遮光率も向上するのでコントラストの高い
高品位デイスプレーにも使用できる効果がある。
第1図〜第4図は本発明の一実施例を示す図であり、第
1図は第2図のx−X線断面図、第2図は平面図、第3
図は基板上に遮光性膜パターンを被着したものの平面図
及び第4図は製作工程を示す断面図である。第5図は従
来の透明導電膜付き基板を示す平面図である。 10・・・透明導電膜付き基板、11・・・基°板、1
2・・・遮光性膜パターン、13・・・第1絶縁膜(ゾ
ル−ゲル法による絶縁膜)、14・・・第2絶縁膜、1
5・・・透明導電膜第 1 図 第 図 第 図
1図は第2図のx−X線断面図、第2図は平面図、第3
図は基板上に遮光性膜パターンを被着したものの平面図
及び第4図は製作工程を示す断面図である。第5図は従
来の透明導電膜付き基板を示す平面図である。 10・・・透明導電膜付き基板、11・・・基°板、1
2・・・遮光性膜パターン、13・・・第1絶縁膜(ゾ
ル−ゲル法による絶縁膜)、14・・・第2絶縁膜、1
5・・・透明導電膜第 1 図 第 図 第 図
Claims (1)
- (1)基板の一主表面上に、金属含有無機物質からなる
遮光性膜パターンを被着し、前記遮光性膜パターン上及
び前記一主表面の露出部上にゾル−ゲル法により絶縁膜
を積層し、さらに前記絶縁膜上に透明導電膜を設けたこ
とを特徴とする透明導電膜付き基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25112089A JPH03112012A (ja) | 1989-09-27 | 1989-09-27 | 透明導電膜付き基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25112089A JPH03112012A (ja) | 1989-09-27 | 1989-09-27 | 透明導電膜付き基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03112012A true JPH03112012A (ja) | 1991-05-13 |
Family
ID=17217961
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25112089A Pending JPH03112012A (ja) | 1989-09-27 | 1989-09-27 | 透明導電膜付き基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03112012A (ja) |
-
1989
- 1989-09-27 JP JP25112089A patent/JPH03112012A/ja active Pending
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