JPH0478579U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0478579U JPH0478579U JP12110190U JP12110190U JPH0478579U JP H0478579 U JPH0478579 U JP H0478579U JP 12110190 U JP12110190 U JP 12110190U JP 12110190 U JP12110190 U JP 12110190U JP H0478579 U JPH0478579 U JP H0478579U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- measurement point
- groove
- circuit
- probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第1図〜第6図は本考案のそれぞれ実施例を示
す説明図で、第1図は回路試験装置のXYテーブ
ルを主とした全体的な構成図、第2図は第1図に
示す部分の側面図、第3図は検査基板支持部材の
溝と検査基板との関係を示す説明図、第4図は検
査基板を固定するためのピンの一例を示す説明図
、第5図は検査基板と中継基板との関係を表す斜
視図、第6図は中継基板の支持方法を説明する模
式図である。図において、11はXYテーブル、
12,13は基板支持部材、14,15はガイド
、16は中継基板、17は検査基板、18は検査
基板支持部材、19は中継基板支持部材、20は
プローブ、21は位置合わせピンである。
す説明図で、第1図は回路試験装置のXYテーブ
ルを主とした全体的な構成図、第2図は第1図に
示す部分の側面図、第3図は検査基板支持部材の
溝と検査基板との関係を示す説明図、第4図は検
査基板を固定するためのピンの一例を示す説明図
、第5図は検査基板と中継基板との関係を表す斜
視図、第6図は中継基板の支持方法を説明する模
式図である。図において、11はXYテーブル、
12,13は基板支持部材、14,15はガイド
、16は中継基板、17は検査基板、18は検査
基板支持部材、19は中継基板支持部材、20は
プローブ、21は位置合わせピンである。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 ほぼ方形に形成された回路基板を支持可能なX
YテーブルとこのXYテーブルに支持された回路
基板の所定の測定点に向けて移動可能であること
ともに上記測定点に接触して上記回路基板の所定
の測定点における信号を取り出すプローブを有し
、このプローブにより取得された信号を処理し、
上記回路基板の良否を判定するよう構成された回
路試験装置において、 上記回路基板の少なくとも2個の縁辺を挟んで
保持する溝を有する回路基板支持部材と、この回
路基板支持部材の一側から上記溝内に向けて進退
可能な複数のピンと、このピンの先端にスプリン
グにより付勢され上記溝体に挿入された回路基板
を押さえつける保持部材とを有する回路基板固定
装置を設けたことを特徴とする回路試験装置の回
路基板固定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12110190U JPH0478579U (ja) | 1990-11-19 | 1990-11-19 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12110190U JPH0478579U (ja) | 1990-11-19 | 1990-11-19 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0478579U true JPH0478579U (ja) | 1992-07-08 |
Family
ID=31868977
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12110190U Pending JPH0478579U (ja) | 1990-11-19 | 1990-11-19 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0478579U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11937786B2 (en) | 2015-08-31 | 2024-03-26 | Gentuity, Llc | Imaging system includes imaging probe and delivery devices |
-
1990
- 1990-11-19 JP JP12110190U patent/JPH0478579U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11937786B2 (en) | 2015-08-31 | 2024-03-26 | Gentuity, Llc | Imaging system includes imaging probe and delivery devices |
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