JPH0478579U - - Google Patents

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JPH0478579U
JPH0478579U JP12110190U JP12110190U JPH0478579U JP H0478579 U JPH0478579 U JP H0478579U JP 12110190 U JP12110190 U JP 12110190U JP 12110190 U JP12110190 U JP 12110190U JP H0478579 U JPH0478579 U JP H0478579U
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JP
Japan
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circuit board
measurement point
groove
circuit
probe
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JP12110190U
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Description

【図面の簡単な説明】
第1図〜第6図は本考案のそれぞれ実施例を示
す説明図で、第1図は回路試験装置のXYテーブ
ルを主とした全体的な構成図、第2図は第1図に
示す部分の側面図、第3図は検査基板支持部材の
溝と検査基板との関係を示す説明図、第4図は検
査基板を固定するためのピンの一例を示す説明図
、第5図は検査基板と中継基板との関係を表す斜
視図、第6図は中継基板の支持方法を説明する模
式図である。図において、11はXYテーブル、
12,13は基板支持部材、14,15はガイド
、16は中継基板、17は検査基板、18は検査
基板支持部材、19は中継基板支持部材、20は
プローブ、21は位置合わせピンである。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 ほぼ方形に形成された回路基板を支持可能なX
    YテーブルとこのXYテーブルに支持された回路
    基板の所定の測定点に向けて移動可能であること
    ともに上記測定点に接触して上記回路基板の所定
    の測定点における信号を取り出すプローブを有し
    、このプローブにより取得された信号を処理し、
    上記回路基板の良否を判定するよう構成された回
    路試験装置において、 上記回路基板の少なくとも2個の縁辺を挟んで
    保持する溝を有する回路基板支持部材と、この回
    路基板支持部材の一側から上記溝内に向けて進退
    可能な複数のピンと、このピンの先端にスプリン
    グにより付勢され上記溝体に挿入された回路基板
    を押さえつける保持部材とを有する回路基板固定
    装置を設けたことを特徴とする回路試験装置の回
    路基板固定装置。
JP12110190U 1990-11-19 1990-11-19 Pending JPH0478579U (ja)

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JPH0478579U true JPH0478579U (ja) 1992-07-08

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11937786B2 (en) 2015-08-31 2024-03-26 Gentuity, Llc Imaging system includes imaging probe and delivery devices

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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