JPH03119701A - 抵抗層付導電材料及び抵抗層付プリント回路基板 - Google Patents

抵抗層付導電材料及び抵抗層付プリント回路基板

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JPH03119701A
JPH03119701A JP1255134A JP25513489A JPH03119701A JP H03119701 A JPH03119701 A JP H03119701A JP 1255134 A JP1255134 A JP 1255134A JP 25513489 A JP25513489 A JP 25513489A JP H03119701 A JPH03119701 A JP H03119701A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はプリント回路基板に供される抵抗層付導電材料
及びこれを用いた抵抗層付プリント回路基板に関する。
詳しくは、この抵抗層付導電材料を絶縁支持体と積層接
着したとき、導電材料の抵抗層と絶縁支持体間の接着強
度を著しく改善することのできる抵抗層付導電材料及び
抵抗層と絶縁支持体間の接着強度に優れる抵抗層付プリ
ント回路基板に関する。
[従来の技術] プリント回路基板に、所要の抵抗部品を取り付けるには
、一般に半田付けによる方法が行われている。しかしな
がら、この方法は手数がかかるばかりで、この分野にお
ける最近の傾向である、小型化、軽量化、高密度化の進
展には対応できない。
そこで抵抗部品を半田付けする方法に代って、絶縁支持
体材料、例えば、ガラス−エポキシ樹脂含浸基材などに
抵抗層付銅箔を加熱加圧し積層接着して得られた抵抗層
付銅張積層板を、一般のプリント配線板と同様にサブト
ラクティブ法を用い、選択的エツチング手法を併用して
所望する抵抗回路を絶縁支持体上に残存形成させる方法
が行われるようになってきた。この抵抗回路を形成する
にあたっては、少なくとも2種類のエツチング液を用い
てエツチングレジスト膜の被覆形成と、エツチングレジ
スト膜の剥離を繰り返し、銅箔と抵抗層をそれぞれ別々
に溶解除去することが行われる。
このため、エツチング液、レジスト剥離液自体の酸性や
アルカリ性雰囲気によって、抵抗層と絶縁支持体の界面
は積層板の側面からの浸食作用を受けやすく、抵抗層と
絶縁支持体の接着強度(耐薬品)が低下する。したがっ
て、常態接着強度、熱処理後接着強度の大きいことも含
めて抵抗層と絶縁支持体間の接着強度を向上させること
は、抵抗層付回路基板の信頼性を高める上で重要なこと
である。
この抵抗層と絶縁支持体間の接着強度を改善する方法に
ついて例示すると、特公昭57−3234号公報には抵
抗層の材料として約30重量%以下のリンを含む電気メ
ッキニッケルーリンより成り、材料中のニッケルが50
重量%以上のニッケルの酸化物、水酸化物及び/又は過
酸化物を含むものを用い、接着強度を高める方法が記載
されている。
また、特公昭55−32001号公報には、片面を粗面
化処理した導電板の粗面に抵抗性メッキ層を形成し、該
層を接着面として絶縁部材に接着し、接着強度を高める
方法が記載されている。
しかしながら、前者の方法も後者の方法もともに、絶縁
支持体、例えば前述したガラス−エポキシ樹脂基板等の
有機質と抵抗層(金属質)間を化学的に結合して接着強
度を改善するものではない。
特に後者にあっては、接着面を粗面化して表面積を増大
させ、機械的な接着強度の増強を図るものであるが、抵
抗性メッキ層を厚く形成する場合は、素地の表面積は抵
抗性メッキ形成により、平坦化されてしまい、実質的に
は表面積は減少し、接着強度の増強は得られにくいとい
う問題がある。
このように従来知られている方法では、実用上十分信頼
性の高い接着強度を有する抵抗層付プリント回路基板を
得ることが出来なかった。
[発明が解決しようとする課題] 本発明は、抵抗層付導電材料を絶縁支持体材料と加熱加
圧して積層接着したときに、絶縁支持体と抵抗層を実用
上十分な水準に強固に接着させることができる抵抗層付
導電材料を提供することを目的とする。
本発明はまた、絶縁支持体と抵抗層が強固に接着した抵
抗層付プリント回路基板を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明者らは前記目的を達成するために鋭意研究を行っ
た結果、導電材料層の表面に形成された抵抗層の上に、
特定量のクロムを含有するクロメート層と特定な方法に
より形成されたシランカップリング剤層とを設けること
により絶縁支持体と抵抗層とを強固に接着させることが
できることを見出し、この知見に基づいて本発明を完成
するに至った。
すなわち、本発明は導電材料層の表面に、抵抗層、金属
クロムとして5〜120μg / d rdのクロムを
含有するクロメート層及び0.001〜5重量%のシラ
ンカップリング剤溶液を塗布乾燥してなるシランカップ
リング剤層を順次設けたことを特徴とする抵抗層付導電
材料を提供するものである。
本発明はまた、上記抵抗層付導電材料に絶縁支持体を積
層接着してなる抵抗層付プリント回路基板を提供するも
のである。
本発明において用いられる導電材料層としては、好まし
くは電解銅箔、圧延銅箔が挙げられる。この他にアルミ
箔、亜鉛箔、錫箔などの金属箔、アルミ、亜鉛、錫など
の合金箔、あるいはアルミ箔面に銅メッキ層や亜鉛メッ
キ層などを数μm被着させた複合箔等も用いることがで
きる。
これらの金属箔の厚みは、特に限定するものではないが
、取扱い上及び経済的見地から5〜100μmの厚みを
有しているものが好ましい。
導電材料層上に設けられる抵抗層としては、Ni、Cr
、Co、Fe等を含む二元又は三元合金層が用いられる
。この抵抗層の形成手段としては、電気メッキ法、無電
解メッキ法、化学メッキ法、蒸着法、スパッタリング法
等が挙げられるが、特に限定されるものではない。抵抗
層の厚みは、必要に応じて設定される抵抗値の値、すな
わち抵抗層固有の抵抗値の値を勘案して決められるが、
通常100人〜5000人の範囲に設定される。
抵抗層の材質としては、例えば米国特許第266295
7号公報明細書、特公昭60−25917号公報、特開
昭57−3234号公報などに記載されているものが挙
げられ、具体的には、NiP N N iCo、N i
 −Co−P、 N i −F e。
Ni−Cr、Ni−Cr−PSNj−8bSNi−B、
Ni−Mo、Cr−Ni−Fe、Cr−8b、Cr−P
、Co−B、Co−W、Co−W−P、Co−V、Co
−Ni−Cr等が用いられる。
これらの中でNi−P合金メッキ層が好適に用いられる
抵抗層の表面には金属クロムとして5〜120μg /
 d rrrのクロムを含有するクロメート層が設けら
れている。クロメート層はシランカップリング剤層との
化学的結合作用により接着強度の向上に効果を発揮する
クロメート層の形成は、通常6価クロムイオンを供給す
ることのできる水溶性クロム化合物、例えば、無水クロ
ム酸、重クロム酸塩、クロム酸塩の中から適宜選択され
る薬剤の水溶液を用いて浸漬処理又は電解処理等により
行われる。以下にクロメート層を形成するのに好適な浴
組成及び処理条件を示す。なお、()内は特に好ましい
範囲である。
Na2Cr20.−2H,00,5〜20 g / R
又はCr0a、 K2CrO4等   (3〜10g/
1)pH1〜13 調整は酸又はアルカリ添加 (酸性) 浴温            10〜80℃(20〜4
0℃) 処理時間          1〜60秒(1〜10秒
) 電流密度        0.1〜IOA/d耐(0,
3〜5A/dn−r) 陽極          pb又はPb合金このクロメ
ート層中に含まれるクロムの含有量は金属クロムとして
測定したとき、5〜120μg / d rdの範囲に
被着する。5μg/d tri未満の場合は接着強度向
上の効果が小さく、120μg/dmを超える場合は接
着強度を低下させる傾向が生じ、改善効果が小さくなる
。特に好ましい範囲は10〜100μg/dn−rの範
囲である。また、クロメート層の厚みの好ましい範囲は
40〜400人である。
次に、シランカップリング剤層は、クロメート層上にo
、ooi〜5重量%のシランカップリング剤溶液を塗布
乾燥して形成される。
シランカップリング剤としては、例えば一般式YR5i
Xs (式中、Yは高分子と反応する官能基、RはYと
ケイ素原子とを連結する鎖状又は環状の炭化水素を含む
結合基、Xはケイ素原子に結合する有機又は無機の加水
分解性の基を表す。)で示される薬剤が用いられる。
この一般式で示される薬剤の代表例を示すと、ビニルト
リメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニル
トリス(2−メトキシエトキシ)シラン、N−(2−ア
ミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシ
ラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロピル
トリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシ
シラン、3−グリシドキシプロビルトリメトキシシラン
、3−グリシドキシプロビルメチルジメトキシシラン、
2− (3,4−エポキシシクロヘキル)エチルトリメ
トキシシラン、3−クロロプロピルメチルジメトキシシ
ラン、3−クロロプロピルトリメトキシシラン、3−メ
タクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−メルカ
プトプロピルトリメトキシシランなどを挙げることがで
きる。
これらの薬剤の1種類以上を水又はアルコールと水等を
溶媒として0.001〜5重量%の濃度のシランカップ
リング剤の溶液を調製して、これを塗布乾燥することに
よりシランカップリング剤層を形成する。
シランカップリング剤の溶液の濃度が上記範囲外である
と接着強度が低下し、本発明の目的を損うことになる。
溶液の濃度の特に好ましい範囲は0.1〜3重量%の範
囲である。溶液の液温は室温でよく、塗布は、浸漬、ス
プレー、刷毛等により実施される。通常、塗布した後は
、室温〜100℃の雰囲気において乾燥され、シランカ
ップリング剤層が形成される。
上記のようにして得られた抵抗層付導電材料は絶縁支持
体と積層接着され抵抗層付プリント回路板基板となる。
絶縁支持体としては、基材に熱硬化樹脂を含浸させた樹
脂含浸基材を加熱硬化させた材料、熱可塑性材料等が用
いられる。
熱硬化性樹脂としては、例えばエポキシ樹脂、フェノー
ル樹脂、ポリイミド樹脂、変性ポリイミド樹脂、不飽和
ポリエステル樹脂などの銅張積層板用樹脂として通常使
用されているものが用いられる。基材としてはガラス布
、紙などが用いられる。絶縁支持体の形成は通常、樹脂
含浸基材と抵抗層付導電材料を積層成形する際に行われ
る。積層成形は通常加熱加圧して行われる。
これらの中でガラス−エポキシ樹脂含浸基材を積層成形
して得られる絶縁支持体が好適に用いられる。
熱可塑性材料としては、ポリエチレン、ポリテトラフル
オロエチレン、ポリエーテルスルホン、ポリエーテルイ
ミド等が用いられる。
本発明の抵抗層付導電材料と絶縁支持体とを接着する際
、導電材料に接着剤を塗布して接着することも可能であ
る。
このようにして得られたプリント回路基板は抵抗層と絶
縁支持体が極めて強固に接着しており、これを用いて回
路加工された抵抗層付プリント回路基板は優れた信頼性
を有している。
[作用] 前記したように、本発明の抵抗層付導電材料は導電材料
層、抵抗層、クロメート層及びシランカップリング剤層
から構成されているものである。
この材料を絶縁支持体と加熱加圧して積層接着したとき
、接着強度を改善される機構については次のように考え
られる。すなわち、抵抗層上に形成されたクロメート層
の表面層は水和酸化クロム(以下、M−OHと略記する
。)を含む層であると考えられる。そして抵抗層とクロ
メート層は強固に接着されている。また、前記一般式で
示されるシランカップリング剤は、これを水溶液の形で
使用しているため、該式中のXで示される加水分解性の
基、例えば、クロル基、メトキシ基、メトキシエトキシ
基などは、次式に示すように、水によってシラノールが
生成する。
YR5iX、 + 3820−YR8i (OH) s
 + 3 HX更に、シランカップリング剤層を設けた
クロメート層と絶縁支持体(樹脂基材又は接着剤、以下
これをPと略記する。)とを加熱加圧;7て接着すると
き、前記一般式のYなる基、例えばビニル基、アミノ基
、ジアミノ基、クロル基、エポキシ基、メルカプト基、
メタクリロキシ基、グリシドキシ基などは、Pに含まれ
る高分子化合物、例えば、フェノール樹脂、エポキシ樹
脂、アクリル樹脂、アルキッド樹脂、塩化ビニル樹脂、
不飽和ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂等の各樹脂
と化学的に結合するとともに、前記シラノールが前記M
−OHと結合して次式に示すような反応によって強固な
接着が行われる。
P + YR3i (OH) s +M−OH−P−Y
R−3i−0−Mしたがって、クロメート層と絶縁支持
体の中間に位置するシランカップリング剤層は、両者を
化学結合させる役割を果たして接着強度の向上に寄与し
ているものと考えられる。
[実施例] 以下、本発明を実施例に基づいて詳細に説明するが、本
発明はこれに限定されるものではない。
実施例1 あらかじめ粗面化処理を施した厚み35μmの電解銅箔
の表面を6NHC1(液温25℃)を用いて5分間酸洗
いし、水洗した後、下記メッキ浴で平均厚み0.04μ
mのNi−P合金メッキの抵抗層を形成させた。抵抗層
中のNiftは3゜98mg/dm2、P量は0.70
mg/dm2であった。
浴組成:  Ni5Ot・6 N20 37 g/ l
NiC1x・6Hz011g/I N i COs       7 g / IHIP0
4     12g/V HsP Os       7 g/ i’処理条件:
pH1,8 電流密度     1.08A/d耐 電解時間      40秒 浴温        76℃ 引き続いて十分水洗した後、該抵抗層上に下記の電解浴
でクロメート層を電解形成させた。クロメート層中のク
ロム含量は表に示した。
浴組成:  NazCr20t” 2HzO3,5g/
l処理条件:pH5,7 電流密度     0.5A/d耐 電解時間       4秒 浴温        25℃ 次に十分水洗した後、前記クロメート層上に、3−グリ
シドキシプロビルトリメトキシシランの0、 2重量%
水溶液(液温25℃)を用いて浸漬時間15秒の浸漬塗
布を行って、80℃で5分間乾燥し、シランカップリン
グ剤層を形成した。
このようにして得られた抵抗層付導電材料の接着強度を
評価するため、抵抗層付導電材料を絶縁支持体材料(ガ
ラス−エポキシ樹脂含浸基材)と温度168℃、圧力1
00kg/cが、60分間の条件で加熱加圧して、板厚
1.2mmの抵抗層付銅張積層板を得た。
これを試験片として下記に示す接着強度をそれぞれ測定
した。(測定中1mm) (1)常態接着強度:室温下においての接着強度。
(2)塩酸処理後接着強度:室温下で6N  MCIに
1時間浸漬後の接着強度。
(3)シアン化カリウム処理後接着強度:温度70℃に
加温した10%シアン化カリウム溶液に30分間浸漬後
の接着強度。
(4)加熱処理後接着強度:温度180℃の恒温槽中に
48時間放置後の接着強度。
各測定結果を表に一括して示した。(2)及び(3)に
ついては、室温下における接着強度をAとし、Aと同一
の試験片を(2)及び(3)の雰囲気下で測定した接着
強度をBとしたとき、(A−B)/AX100 (%)
から算出される耐薬品性の劣化率を表中の()内に示し
た。
実施例2〜4 表に示すようにクロメート層を形成する薬剤及びその処
理条件を変えて、クロメート層中の金属クロム量を変化
させて被着させ、シランカップリング剤溶液の薬剤の種
類及び濃度を変えた他は実施例1と同様にして抵抗層付
導電材料を作製した。
得られた抵抗層付導電材料の接着強度を実施例1と同様
に測定し、その結果を一括して表に示した。
比較例1 クロメート層及びシランカップリング剤層を形成しなか
った他は、実施例1と同様にして各接着強度を測定し、
その結果を一括して表に示した。
比較例2 シランカップリング剤層を形成せずに抵抗層とクロメー
ト層を形成させた他は実施例1と同様にして各接着強度
を測定し、その結果を一括して表に示した。
比較例3 クロメート層を形成せずに抵抗層とシランカップリング
剤層を形成させた他は実施例1と同様にして各接着強度
を測定し、その結果を一括して表に示した。
比較例4 実施例1と同様に抵抗層を形成させた後、クロメート層
及びシランカップリング剤層を形成せずに、抵抗層に3
0重量%水酸化カリウム溶液中、液温25℃で、5A/
dirr、10秒の電気化成処理を施し、抵抗層上に、
酸化物、水酸化物等の被膜を形成させた他は実施例1と
同様にして各接着強度を測定し、その結果を一括して表
に示した。
(以下余白) 表の測定結果から明らかなように、実施例1〜4を比較
例1〜4と比較すると、本発明の実施例の接着強度は極
めて高い数値を示していることがわかる。
比較例1はNi−Pメッキ層のみを形成したものであり
、比較例2及び比較例3は抵抗層上にクロメート層又は
シランカップリング剤層の一方を本発明の特定する量の
範囲内で形成し、クロメート層とシランカップリング剤
層を重ねて形成しなかった例である。比較例4は抵抗層
上に電気化成処理膜のみを形成させたものである。これ
らの比較例の接着強度はいずれも実用上の品質特性を十
分満足するものではなかった。
い接着強度を有しており、薬品処理又は熱処理に遭遇し
ても高い接着強度を維持することができるため、抵抗層
付プリント回路基板に好適に用いることができる。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.導電材料層の表面に、抵抗層、金属クロムとして5
    〜120μg/dm^2のクロムを含有するクロメート
    層及び0.001〜5重量%のシランカップリング剤溶
    液を塗布乾燥してなるシランカップリング剤層を順次設
    けたことを特徴とする抵抗層付導電材料。
  2. 2.導電材料層が銅箔であり、抵抗層がNi−P合金メ
    ッキ層である請求項1記載の抵抗層付導電材料。
  3. 3.請求項1又は2記載の抵抗層付導電材料と絶縁支持
    体とを積層接着してなる抵抗層付プリント回路基板。
JP1255134A 1989-10-02 1989-10-02 抵抗層付導電材料及び抵抗層付プリント回路基板 Expired - Lifetime JPH07120564B2 (ja)

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