JPH03124332U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の光デイスクテスタの構成を示
すブロツク図、第２図は本考案の光デイスクテス
タの動作を示すタイムチヤート、第３図は本考案
の各構成要素の動作を示すフローチヤート、第４
図は光ヘツドがトラツク上を動く軌跡の説明図、
第５図は従来の光デイスクテスタの構成を示すブ
ロツク図、第６図は従来装置で光デイスクを測定
する場合のタイムチヤート、第７図は光ヘツドが
トラツク上を動く軌跡の説明図、第８図は従来装
置の各構成要素の動作を示すフローチヤートであ
る。 １１……スピンドル・エンコーダ、２０……光
ヘツド、３０……サーボ制御部、４０……測定モ
ジユール、４２……ＡＮＤゲート、５０……制御
部、５１……ＣＰＵ、５３……サーボ制御用プロ
セツサ、５５……Ｉ／Ｏポート。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 デイスクを回転し、このデイスクに設けられた
   トラツクに光ヘツドから光ビームを照射して得ら
   れた反射光で、トラツク上の欠陥を検査する光デ
   イスクテスタにおいて、 前記光ヘツドをフオーカス制御及びトラツキン
   グ制御するサーボ制御部と、 前記光ヘツドで受けた反射光からトラツクの欠
   陥を測定する測定モジユールと、 １トラツクの回転ごとに発生するスピンドル・
   エンコーダのＺ相のパルス信号に基づいて、前記
   測定モジユールの測定開始トリガーをイネーブル
   するゲート信号と、測定をオフするマスク信号と
   を前記測定モジユールに与える回路手段と、 測定がマスクされている間に前記光ヘツドを所
   定の数だけトラツクジヤンプさせるコマンドを前
   記サーボ制御部に与えるサーボ制御用プロセツサ
   と、 前記測定モジユールに測定パラメータを与える
   とともに、前記サーボ制御用プロツセサにトラツ
   クジヤンプのパラメータを与えるＣＰＵと、 から構成され、トラツクジヤンプしながらトラツ
   クを間引いて測定する機能を有することを特徴と
   した光デイスクテスタ。