JPH03125311A - 磁気抵抗読取り変換器及びその製造方法 - Google Patents
磁気抵抗読取り変換器及びその製造方法Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
磁気抵抗読取り変換器及びその製造方法に関する。
データを感知することは、長年にわたり公知であった。
作範囲内に維持するために、縦方向及び横方向のバイア
スを与えなければならないことも公知であった。米国特
許第4024489号明細書は、硬磁性バイアス層を使
用したMRセンサを開示している。このセンサでは、M
R層及び硬磁性バイアス層の両方が、センサ全体を横切
って延びて、横方向のバイアスを形成する。
が形成されるMRセンサを開示している。
Feなどの磁気抵抗ストライプの縁部領域を処理して、
硬磁性状態を発生させている。しかし、縁部領域は、感
知電流の方向と平行に配設され、ストライブ全体に沿っ
て延びて、横方向バイアスを発生させているが、縦方向
バイアスは発生させない。
度で記録されたデータを読み取るのに必要な小型のMR
読取り変換器を製造することは、ますます困難になって
来ている。これらの要件を溝たすべく提案された1つの
解決策が、米国特許第46!83885号明細書に記載
されている。この特許によれば、端部領域内へと延びる
強磁性MR層及び端部領域上にのみ延びる反強磁性層の
間の交換カップリングにより、横方向バイアスはセンサ
の中心の能動領域にのみ発生され、縦方向バイアスは端
部受動領域に発生される。米国特許第4839808号
明細書は、MR層と硬磁性層の間の交換カップリングに
よって端部領域のみに発生される縦方向バイアスを有す
るMRセンサを開示している。
85号明細書に開示され特許請求された形式の従来型の
MR読取り変換器は、変換器10“の全体にわたって延
びるMRR層1を含んでいる。
縦方向バイアス・フィールドを発生させ、薄い非磁性ス
ペーサ層13によってMRR層1から離隔された軟磁性
薄膜層15が、少なくとも中心能動領域16の部分に、
横方向バイアス・フィールドを発生させる。読取り信号
は、この実施例では、導体18と20の間の間隔によっ
て画定される、中心能動領域16上で感知される。
。しかし、将来の設計上の要件を満たすには、寸法が正
確なことが必要なため、経済的で十分に正確な工程でこ
れらの構造体を構築する可能性が厳しく限定される。
能動領域上のみに延びており、硬磁性バイアス層が、M
R層との隣接接合部を形成する各端部に設けられ、MR
センサ中に縦方向バイアスを発生させるような、MRセ
ンサを開示していない。
に中心の能動領域上のみに延びており、硬磁性バイアス
層がMR層との隣接接合部を形成する各端部領域に設け
られて、MRセンサ中に縦方向バイアスを発生させる、
磁気抵抗(MR)読取り変換器を提供することである。
よって離隔された端部受動領域を有するMRセンサを含
んでいる。実質的に中心能動領域上のみに延びる強磁性
薄膜MR層が、形成される。
部受動領域上に延びて、MR層の一端との電気的かつ磁
気的な連続性を有する隣接接合部を形成し、MRセンサ
中に縦方向バイアスを発生させる。
磁性材料からなる薄膜MR層を、変換器の少なくとも中
心能1領域上に付着するステップと、変換器の中心能動
領域を覆うステンシルを生成するステップと、変換器の
ステンシルで覆われない部分をエツチングで除去するス
テップを含む。
れない領域上に付着して、変換器の端部受動領域を形成
し、硬磁性材料で、MR材料の一端との隣接接合部を形
成して、縦方向バイアスを変換器の各端部受動領域に発
生させる。
。MR読取り変換器は、実質的に中心能動領域24上の
みに延びるMRR層2と、MRリード変換器10中に縦
方向バイアスを発生させるためMRR層2との隣接接合
部30を形成する各端部領域28中の硬磁性バイアス層
26とを含んでいる。本実施例は、追加の側部読取り抑
制要素を必要としない。そのかわり、各端部領域28の
硬磁性バイアス層28は、MRR層2との電気的及び磁
気的連続性を提供しなければならない。硬磁性バイアス
層28には、Co Cr 1Co P t NCoCr
Ptなどのメタラジの単層を設けることができるが、タ
ングステンや金などの下側層または上側層を使用するこ
とが望ましい。硬磁性層の厚さは、所望量のバイアス・
フラックスを与えるように選ぶ。当業者なら知っている
ように、横方向バイアスは、中心能動領域24でも必要
であるが、このバイアスは、軟質フィルム・バイアス、
分岐バイアス、ラセン状バイアスあるいは、他の整合性
のある任意の横方向バイアス技術によってもたらすこと
ができる。ただし、横方向バイアス構造は、第1図の概
念図には示されていない。
部を作成するための方法の特定の実施例を第3a図ない
し第3d図に示す。この方法は、NlFeなどのMR材
料の薄膜を適切な基板21上にたとえばセンサの長さに
わたって付着するステップを含んでいる。図の実施例で
は、MR層22を付着する前に、軟磁性薄膜23及び非
磁性スペーサ層25を含む横方向バイアス構造体を、基
板21上に付着する。この方法では、続いてフォトレジ
ストなど適切な材料の薄膜を付着し、フォトレジスト材
料をパターン付けしてステンシル32(第3a図参照)
を形成する。ステンシル32は、MR材料の薄膜22、
スペーサ層25及び軟磁性薄膜23にスパッタ・エツチ
ング、イオン・ミリング、化学的エツチングなどのサブ
トラクティブ工程を施して、MR3層構造27(第3b
図参照)を形成するとき、MR層22の各縁部を画定す
るために用いる。次いで、ステンシル32がバイアス層
2B(第3c図参照)の縁部を再び画定するとき、硬磁
性バイアス層2θ用の材料を付着する。同じステンシル
32を用いて導体層を付着して、導体リード線29及び
31を形成する。希望するなら、導体リード線29及び
31が硬磁性バイアス層2θと同じ長さに延びていない
場合、導体リード線29及び31を後のステップで付着
することができる。言うまでもなく、ある量の硬磁性材
料及び導電性材料もステンシル32の上部に付着する。
イアス層26を有し、それぞれ中心能動領域24上にの
み延びるMR3層構造27との連続する接合部を有する
センサを形成するため、リフトオフ工程(第3d図参照
)でステンシル32と共に除去する。
は、第1図及び第3図では概念的に正方形として示しで
あるが、好ましい実施例は、接合部が容易にかつ迅速に
製造できるように、形状が充分に制御゛できる接合部を
含んでいる。
成方法をより詳細に示す。こ、の場合、ステンシル32
は、薄い下側層33と厚い結像層から形成される2層レ
ジストを含んでいる。1回の露光と1回の現像ステップ
でレジストの縁部形状を画定する。適切な現像液中で下
側層33を溶解することによってアンダーカットを形成
する。アンダーカットの距離は、現像時間によって決ま
る。
たとえば、イオン・ミリングなど単一方向法を用いて除
去する。入射角Φは、入射ビームに対して基板を適切に
傾斜させることによって、制御する。更に、所与のどの
位置から見ても、基板の回転のある区間にその縁部が薄
膜35に影を落とす、ステンシル32の近傍を除いて、
入射ビームが方位角θの周囲を円錐状に回転するのが見
えるように基板を回転させることによって、円対称が得
られる。第4図に示すように、方位角が0度の場合、R
M35は0点まで露光され、この露光限界点は徐々に左
へ移動して、終には、方位角180度のとき、a点まで
移動する。この実施例では複合ミリングによって、薄膜
の破線で示す部分37のミリング加工の間に、除去の結
果として曲線状のテーパ3θが形成される。
に、硬磁性バイアス層38をスパッタリングによって付
着して、破線38で示すような付着形状を形成させる。
ロファイルを実線で示す、MR材料層35は、第4図で
は単一層として示しであるが、MR要素は、たとえば、
横方向バイアス層など、他の層を含んでもよいことを認
識されたい。
分を含んでいる。このテーパ形状は、ステンシル32の
高さ及び選択した入射角Φによって決まる。特定の実施
例では、ステンシルの厚さは約Fμmであり、入射角Φ
は、70〜80度の範囲にあった。この選択した組合せ
により、センサの厚さのおよそ5倍の長さのテーバが得
られた。
ないが、磁気的信頼性を高めるには、接合部は短くなけ
ればならない。特定の適用例では、長さがセンサの厚さ
の3〜5倍の範囲内の接合部が適切である。
5図に示す。この図は、センサの端面図、すなわち以前
に記録された磁気データがそこから読み出される、磁気
記録媒体に非常に近接した表面を示している。変換器は
、変換器の中心能動領域44上に延びるMR要素42と
、MR要素との隣接接合部48を形成する硬磁性バイア
ス層48とを含んでいる。この硬磁性バイアス層46は
、変換器の端部領域50上を延びて、変換器の端部領域
50中にのみ縦方向バイアスを発生させる。
みに延びており、硬磁性バイアス層がMR層との隣接接
合部を形成する各端部領域に設けられて、MRセンサ中
に縦方向バイアスを発生させる、製造し易い磁気抵抗読
取り変換器が提供される。
な端面図である。 第2図は、縦方向バイアスが、MR読取り変換器の端部
領域にのみ設けられている、従来型のMR式読取り変換
器の端面図である。 第3 図は、本発明による連続した接合
部を形成するための方法の特定の実施例を示す図である
。 第4図は、本発明の特定の実施例による連続した接合部
を形成するための方法をより詳細に示す展開図である。 第5図は、第3図及び第4図に図示した方法により製造
されるMR読取り変換器の特定の実施例の端面図である
。 21・・・・基板、22・・・・磁気抵抗(MR)層、
23・・・・軟磁性薄膜、24・・・・中心能動領域、
25・・・・非磁性スペーサ層、26・・・・硬磁性バ
イアス層、27・・・・MR3層構造、28・・・・端
部受動領域、29.31・・・・リード線、30・・・
・隣接接合部、32・・・・ステンシル、33・・・・
下(11層、34・・・・結像層。
Claims (17)
- (1)中心能動領域によって離隔された端部受動領域を
有する磁気抵抗センサと、 磁性材料から形成され、実質的に前記中心能動領域上に
延びる磁気抵抗導電層の薄膜と、硬磁性材料の第1及び
第2の薄膜とを含み、硬磁性材料の前記薄膜がそれぞれ
前記磁気抵抗導電層の一端との電気的かつ磁気的連続性
を有する隣接接合部を形成しており、硬磁性材料の前記
薄膜がそれぞれ実質的に前記端部受動領域の一方上にの
み延びて、前記磁気抵抗センサ中に縦方向バイアスを発
生させることを特徴とする、磁気抵抗読取り変換器。 - (2)前記隣接接合部が、2個の重なったテーパを含む
ことを特徴とする、請求項1に記載の磁気抵抗読取り変
換器。 - (3)前記の重なったテーパが連続曲面を含むことを特
徴とする、請求項2に記載の磁気抵抗読取り変換器。 - (4)前記隣接接合部が、前記磁気抵抗層の厚さの3〜
5倍の長さを有することを特徴とする、請求項1に記載
の磁気抵抗読取り変換器。 - (5)さらに、前記中心能動領域の少なくとも一部分に
、横方向バイアスを形成するための手段を有する請求項
1に記載の磁気抵抗読取り変換器。 - (6)横方向バイアスを発生させるための前記手段が、
前記磁気抵抗層から離隔した軟磁性薄膜を含むことを特
徴とする、請求項5に記載の磁気抵抗読取り変換器。 - (7)前記変換器の少なくとも中心能動領域上に、強磁
性材料の薄い磁気抵抗層を付着するステップと、 前記変換器の中心能動領域を被覆するステンシルを生成
するステップと、 前記磁気抵抗材料の前記ステンシルで被覆されていない
部分をエッチングで除去して、前記変換器の中心能動領
域を形成するステップと、 硬磁性材料の薄膜を、変換器の前記ステンシルで被覆さ
れていない領域上に付着して、変換器の端部受動領域を
生成するステップとを含み、前記端部領域の硬磁性材料
は、磁気抵抗材料の前記層の一端との隣接接合部を形成
して、縦方向バイアスが、変換器の各端部受動領域中に
形成されることを特徴とする、中心能動領域によって離
隔された端部受動領域を有する磁気抵抗読取り変換器を
製造するための方法。 - (8)前記エッチング・ステップで、方向性エッチング
法を使用することを特徴とする、請求項7に記載の磁気
抵抗読取り変換器を製造するための方法。 - (9)前記方向性エッチング法が、イオン・ビーム・ミ
リングから成ることを特徴とする、請求項8に記載の磁
気抵抗読取り変換器を製造するための方法。 - (10)前記方向性エッチング法が、前記変換器に対し
てある角度で行なわれることを特徴とする、請求項8に
記載の磁気抵抗読取り変換器を製造するための方法。 - (11)前記角度が、70〜80度の範囲にあることを
特徴とする、請求項10に記載の磁気抵抗読取り変換器
を製造するための方法。 - (12)前記変換器が前記エッチング・ステップの間、
前記角度に対して垂直な面内で回転することを特徴とす
る、請求項10に記載の磁気抵抗読取り変換器を製造す
るための方法。 - (13)前記ステンシルが、フォトレジスト材料から成
ることを特徴とする、請求項11に記載の磁気抵抗読取
り変換器を製造するための方法。 - (14)前記フォトレジスト材料が、薄い下側層と厚い
結像層とを含むことを特徴とする、請求項13に記載の
磁気抵抗読取り変換器を製造するための方法。 - (15)前記薄い下側層がアンダーカットをもつことを
特徴とする、請求項14に記載の磁気抵抗読取り変換器
を製造するための方法。 - (16)さらに、前記中心能動領域の少なくとも一部分
に横方向バイアスを発生させるための手段を付着するス
テップを含む、請求項7に記載の磁気抵抗読取り変換器
を製造するための方法。 - (17)横方向バイアスを発生させるための前記手段が
、前記磁気抵抗層から離隔した軟磁性薄膜から成ること
を特徴とする、請求項16に記載の磁気抵抗読取り変換
器を製造するための方法。
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