JPH03150792A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置Info
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- JPH03150792A JPH03150792A JP1289117A JP28911789A JPH03150792A JP H03150792 A JPH03150792 A JP H03150792A JP 1289117 A JP1289117 A JP 1289117A JP 28911789 A JP28911789 A JP 28911789A JP H03150792 A JPH03150792 A JP H03150792A
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- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4076—Timing circuits
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- G—PHYSICS
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- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/18—Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
提供することを目的とし、 ロウアドレスストローブ信号の立上りエッヂを検出して
第1のタイミング信号を出力する第1のタイミング回路
と、ロウアドレスストローブ信号の立下りエッヂを検出
して第2のタイミング信号を出力する第2のタイミング
回路と、前記第1のタイミング信号と第2のタイミング
信号との間のロウアドレス信号の内容変化を検出してア
ドレス変化信号を出力するアドレス変化検出回路と、前
記第1のタイミング信号に従ってロウアドレス信号の内
容をデコードする一方、上記アドレス変化信号が出力さ
れた場合には前記第2のタイミング信号に従ってロウア
ドレス信号の内容をデコードし、1つのワード線を選択
するロウデコーダと、前記選択した1つのワード線を第
2のタイミング信号に従って活性化するワードドライバ
と、を備えて構成する。
チプレクス方式の半導体記憶装置に関する。
ス・メモリ)は、指定された行(ロウ)のメモリセルの
内容をセンスアンプによって全てリードし、その内容を
同じメモリセルに再ライトして1つの基本動作サイクル
を完了する。リードの際に指定された列のビットの内容
を外部に出力すればリードサイクルに、また、再ライト
の前に指定された列のビットの内容を変更すればライト
サイクルに、あるいは、両方行えばリード(モデファイ
)ライトサイクルになる。
い、その後、列(コラム)の選択を行うため、ロウアド
レスとコラムアドレスとを時分割で取込むいわゆるマル
チプレクス方式が採られる。
クスされたロウアドレス信号とコラムアドレス信号とを
、ロウアドレスストローブ信号(以下、RAS)および
コラムアドレスストローブ信号(以下、CAS)に従っ
て取込む。これらのストローブ信号は共に負論理であり
、立下リエッヂをアドレス信号の取込みタイミングとし
て規定する。
、信号の内容をデコードして1つのワード線を選択し活
性化した後、CASの立下りでコラムアドレス信号を取
込み、信号の内容をデコードして1つのビット線を選択
し、上記1つのワード線と1つのビット線とに接続する
1つのメモリセルをアクセスする。
セルへのアクセスに要する時間が、CASの立下りから
の時間で決定されるため、高速アクセスといった面で充
分ではなかった。
な時間で内部タイミング信号を発生し、この信号に従っ
て自動的にコラムアドレスを取込むようにしたいわゆる
フロースルーラッチ(またはファーストコラム: fa
st Co1ua+n)方式のDRAMが知られている
。この方式のDRAMでは、CASの立下りを待たずに
メモリセルをアクセスでき、高速化を図ることができる
。
式のDRAMにあっては、実質的にCASの立下りタイ
ミングを早めたと同等の効果が得られるものの、アクセ
スの開始タイミングについてはRASの立下りタイミン
グに依存しているため、より一層の高速アクセスを図る
といった面で改善すべき課題がある。
の立下りタイミングよりも早めることができ、より一層
の高速アクセスを可能にした半導体記憶装置を提供する
ことを目的としている。
第1図に示すように、ロウアドレスストローブ信号の立
上りエッヂを検出して第1のタイミング信号を出力する
第1のタイミング回路と、ロウアドレスストローブ信号
の立下リエッヂを検出して第2のタイミング信号を出力
する第2のタイミング回路と、前記第1のタイミング信
号と第2のタイミング信号との間のロウアドレス信号の
内容変化を検出してアドレス変化信号を出力するアドレ
ス変化検出回路と、前記第1のタイミング信号に従って
ロウアドレス信号の内容をデコードする一方、上記アド
レス変化信号が出力された場合には前記第2のタイミン
グ信号に従ってロウアドレス信号の内容をデコードし、
1つのワード線を選択するロウデコーダと、前記選択し
た1つのワード線を第2のタイミング信号に従って活性
化するワードドライバと、を備えて構成する。
立上りタイミングでロウアドレス信号を取込んでデコー
ドし、RASの立下りタイミングでワード線の活性化を
行う。但し、RASの立下り時点でロウアドレス信号の
内容が変化していれば、その変化後の内容をデコードし
ワード線の活性化を行う。
合にはRASの立下りタイミング以前に、デコード動作
を完了しておくことができ、ワード線の選択および活性
化を早めることができる。
ば、ワード線の活性化後、直ちにメモリセルをアクセス
でき、−層の高速アクセスを図ることができる。
示す図であり、DRAMへの適用例である。
ードコントロール、3はリフレッシュアドレスカウンタ
、4はロウアドレスバッファ、5はロウアドレス・トラ
ンジション・デテクタ(以下、ロウATD)、6はアン
ドゲート、7はクロックジェネレータB、8はコラムア
ドレスバッファ、9はコラムアドレス・トランジション
・デテクタ(以下、コラムATD)、10はライトクロ
ックジェネレータ、11はデータ人力バッファ、12は
データ出力バッファ、13はロウデコーダ、14はワー
ドドライバ、15はコラムデコーダ、16はセンスアン
プ・I10ゲート、17はメモリセルアレイである。
ストローブ信号、σTIはコラムアドレスストローブ信
号、ADR3はロウ/コラムアドレス信号、WEはライ
トイネーブル信号、DINは人力データ、DOUTは出
力データ、T、〜T4はタイミング信号、SAはアドレ
ス変化信号である。
び第2のタイミング回路としての機能を有している。す
なわち、RASの立上りエッヂおよび立下りエッヂを検
出し、これらの検出時点で以下のタイミング信号を出力
する。
イミング信号) TI、Tz 、Tel ■RASの立下りタイミングで出力する信号(第2のタ
イミング信号) ’r+ 、’rz 、*’rユ 、T4但し、上記
信号のなかでT、は、ロウATD5からSAが出力され
たときに限って、■のタイミングでも出力される(*を
付したT、)。
し、ロウアドレスバッファ4を介しテ入力するロウアド
レス信号の内容をモニタしてRASの立上りおよび立下
りタイミングの双方でのロウアドレス信号の内容を比較
し、その内容に変化があった場合に信号SAを出力する
。
ロウアドレス信号の内容をデコードし、1つのワード線
を選択する。すなわち、ロウデコーダ13は、1)RA
Sの立上りタイミング(T、)でのロウアドレス信号の
内容に従って1つのワード線を選択する一方、 1i)RASの立上りタイミングと立下りタイミングと
の間でロウアドレス内容が変化した場合には、RASの
立下りタイミング(*T2 )でのロウアドレス信号の
内容(変化後の内容)に従って1つのワード線を選択す
る。
)に従って、上記の選択ワード線の活性化を開始する。
してRASの立上りタイミング(T4)およびCASの
立下りタイミングの情報を得るとトモにコラムアドレス
バッファ8やコラムATD9をコントロールしてRAS
の立下りタイミングから所定の時間後にコラムアドレス
信号を自動的に取込むフロースルーランチ(fast
Column)機能を発揮する。
施例の動作を説明する。
が出力されると、ロウアドレス信号がロウアドレスバッ
ファ4およびロウATD5を介してロウデコーダ13に
取込まれ、ロウデコーダ13でその内容(ROW)がデ
コードされて1つのワード線が選択される。その後RA
Sが立下り、T4が出力されると、ワードドライバ14
により1つのワード線が活性化され、そして、所定の時
間後にフロースルーラッチ機能によって自動的にコラム
アドレス信号が取込まれ、その内容(Col)をデコー
ドして1つのビット線の選択が行われる結果、例えばリ
ードサイクルであればDOUTに出力データがリードさ
れる。
、既にワード線の選択(デコード)が完了しているから
、その選択に要する分だけワード線の活性化開始を早め
ることができ、RASの立下りから出力データ(リード
サイクルの場合)を得るまでのロウアドレスアクセスタ
イム(LRAC)を高速化できる。
号の内容が変化した場合には、RASの立下りに同期し
て、変化後の内容に基づくワード線のデコードを開始す
るようになっている。このようにした理由は次のとおり
である。
ル期間にロウアドレス信号を入カスることにより高速ア
クセスを行うことができる。しかし、例えばこのアドレ
ス入力規定を満たし得ない場合やあるいはユーザによっ
ては通常のDRAMとして使用したい場合などでは、通
常どおりに、RASの立下りタイミングでロウアドレス
信号が確定しているので、RASの立下り以前ではロウ
アドレス信号の内容は不明である。したがって、通常ど
おりの使用形態において不都合を生じるから、本実施例
ではRASの立上りと立下りとの間でロウアドレス信号
の内容変化を検出し、この検出結果が出るまではワード
線の活性化を行わないようにしている。このようにする
と、RASの立下りタイミングでは通常どおりのロウア
ドレス信号の取込みをも行うことができ、従来のDRA
Mとの互換性を保つことができる。
ミングでロウアドレス信号の内容をデコードし、内容の
変化がなければRASの立下りタイミングでワード線の
活性化を開始するようにしたので、特に、フロースルー
ラッチ(fasL CoIurmn)方式と併用した場
合にロウアドレスアクセスタイム(LRAC)を短縮し
て一層の高速アクセス化を図ることができる。
、周期lに通常のDRAMのタイミングを、周期2にf
ast Columnのみを行う場合のタイミングを、
そして、周期3に本実施例の場合(fa−st Row
&Co1usnと呼称する)のタイミングを示している
。すなわち、周期1ではRASおよびCASの各立下り
からロウおよびコラムのアドレスデコードを開始するが
、周期2ではRASの立下りからロウアドレスデコード
を開始し、その後自動的にコラムアドレスのデコードを
開始している。
始が早い分だけ周期2の方が高速動作する。
ロウアドレスのデコードが完了しているので、前記周期
2に比べてそのデコードに要する分だけコラムアドレス
のデコード開始を早めることができ、したがって、周期
1〜3の中で最も高速動作させることができる。
下りタイミングよりも早めることができ、より一層の高
速アクセスを可能にした半導体記憶装置を提供できる。
示す図であり、 第2図はその構成図、 第3図はそのタイミングチャート、 第4図は従来例との比較のためのタイミングチャートで
ある。 l・・・・・・クロックジェネレータA(第1の回路、
第2の回路)、 5・・・・・・ロウATD (アドレス変化検出回路)
13・・・・・・ロウテコーダ、 14・・・・・・ワードドライバ、 17・・・・・・メモリセルアレイ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ロウアドレスストローブ信号の立上りエッヂを検出し
て第1のタイミング信号を出力する第1のタイミング回
路と、 ロウアドレスストローブ信号の立下りエッヂを検出し
て第2のタイミング信号を出力する第2のタイミング回
路と、 前記第1のタイミング信号と第2のタイミング信号と
の間のロウアドレス信号の内容変化を検出してアドレス
変化信号を出力するアドレス変化検出回路と、 前記第1のタイミング信号に従ってロウアドレス信号
の内容をデコードする一方、上記アドレス変化信号が出
力された場合には前記第2のタイミング信号に従ってロ
ウアドレス信号の内容をデコードし、1つのワード線を
選択するロウデコーダと、 前記選択した1つのワード線を第2のタイミング信号
に従って活性化するワードドライバと、を備えたことを
特徴とする半導体記憶装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1289117A JP2925600B2 (ja) | 1989-11-07 | 1989-11-07 | 半導体記憶装置 |
| US07/720,501 US5335206A (en) | 1989-11-07 | 1990-11-07 | Semiconductor storage device |
| PCT/JP1990/001443 WO1991006956A1 (fr) | 1989-11-07 | 1990-11-07 | Memoire a semi-conducteurs |
| EP90916367A EP0452510B1 (en) | 1989-11-07 | 1990-11-07 | Semiconductor memory device |
| DE69024945T DE69024945T2 (de) | 1989-11-07 | 1990-11-07 | Halbleiterspeicheranordnung |
| KR91700698A KR950014903B1 (en) | 1989-11-07 | 1991-07-05 | Memory device address and data access method using device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1289117A JP2925600B2 (ja) | 1989-11-07 | 1989-11-07 | 半導体記憶装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03150792A true JPH03150792A (ja) | 1991-06-27 |
| JP2925600B2 JP2925600B2 (ja) | 1999-07-28 |
Family
ID=17739002
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1289117A Expired - Lifetime JP2925600B2 (ja) | 1989-11-07 | 1989-11-07 | 半導体記憶装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5335206A (ja) |
| EP (1) | EP0452510B1 (ja) |
| JP (1) | JP2925600B2 (ja) |
| KR (1) | KR950014903B1 (ja) |
| DE (1) | DE69024945T2 (ja) |
| WO (1) | WO1991006956A1 (ja) |
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| DE69024945D1 (de) | 1996-02-29 |
| WO1991006956A1 (fr) | 1991-05-16 |
| KR950014903B1 (en) | 1995-12-16 |
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| EP0452510A1 (en) | 1991-10-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080507 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090507 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090507 Year of fee payment: 10 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090507 Year of fee payment: 10 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090507 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100507 Year of fee payment: 11 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100507 Year of fee payment: 11 |