JPH03178146A - ワイヤボンディング状態検査装置 - Google Patents

ワイヤボンディング状態検査装置

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JPH03178146A
JPH03178146A JP1316997A JP31699789A JPH03178146A JP H03178146 A JPH03178146 A JP H03178146A JP 1316997 A JP1316997 A JP 1316997A JP 31699789 A JP31699789 A JP 31699789A JP H03178146 A JPH03178146 A JP H03178146A
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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (INり 集積回路等のワイヤボンディング状態を自動検査する視
覚機能を備えたワイヤボンディング状態検査装置に間し
、 ワイヤ会やボール変形の影響を受けることなく、精度良
くボンディングボール中心を検出してワイヤボンディン
グ状態を検査することを目的とし、パッドにボンディン
グされたワイヤの先端のボンディングボールを撮像する
m像手段と、該撮像手段の出力映all信号をディジタ
ル56理して画素を生成する画素生成手段と、該画素生
成手段により生成された画素のうち所定サイズの検査領
域における画素を記憶するm淡階調画像メモリと、該濃
淡階調画像メモリから読み出した全画素から自動2値化
算出法により閾値を算出し、該閾値で前記検査領域にお
ける画像を2iflj化する閾値算出手段と、該閾値算
出手段により得られた該2値画像を距離変換する距離変
換手段と、該距離変換されたfi像の各画素の値を前記
ワイヤと反対の方向からサーチして最初に検出した最大
鎗の画素位置の中心を前記ボンディングボールの中心位
置として検出する中心検出手段と、該中心検出手段で検
出された中心位置と該距離変換された画像の各画素のう
ち所定鉛の画素位置とのか離を計算してボンディングボ
ール形状を検査する形状検査手段とより構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明はワイヤボンディング状態検査装置に係り、特に
集81回路等のワイヤボンディング状態を自動検査する
視覚機能を備えたワイヤボンディング状態検査装置に関
する。
近年、集積り路(IC)や大規模集W1回路(LSI)
は広範囲に、かつ、大量に使用されるようになっている
ため、ICやLSIにおけるワイヤボンディング状態の
外観検査の自動化が行なわれるようになってきた。この
ワイヤボンディング状態の外観検査においては、ボンデ
ィングボールの中心位置を正確に検出することが必要と
される。
〔従来の技術〕
第10図は従来のワイヤボンディング状態検査装置の一
例の構成図を示す。同図中、1はリードフレームで、そ
の上にICチップ2が載置されている。ICチップ2上
にはパッド3が形成されている。4はワイヤで、−Sが
パッド3上にボンディングボール5を形成して固着され
ている。
リードフレーム1は搬送装置であるフレームフィーダ6
により、照明装置7及びII像装茸8の真下に搬送され
る。これにより、ボンディングボール5は照明装d7で
照明され、m*装置8で撮像される。iIIm装置8か
ら取り出された映像信号は情報処3g!装置9に供給さ
れ、ここでアブ0グ処理又はディジタル処理にてシェー
ディングが補正されて画像を均一な!2淡状態にしてか
ら自動的に求めたgA(llIで211i化されてlc
像画像のワイヤボンディング状態が検査される。
ここで、従来のワイヤボンディング状態検査装金では、
上記情報処1!!9における処理として、パッド3を検
出した後、このパッド3におけるワイヤ4の部分を除く
個所を横切る線分の最大鎖からボンディングボール5の
径を算出し、この径からボンディングボール5の中心位
置を検出したり(例えば、特開昭57−172746号
公報)、あるいはボンディングボール5の平面形状を真
円と仮定し、X方向とy方向の各々についてボンディン
グボール像からパッド像へ変わる接点を検出し、その接
点を通りx、y方向に垂線を引いてそれらの交点をボー
ル中心位置として検出する方法(例えば、特R[53−
124066号公報)が知られている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかるに、前者の従来IIはワイヤ4の部分を除く個所
を求めているが、ボンディングボール5はワイヤ4の端
点であるので、ボンディングボール画像にはワイヤ画像
がfiP!iy、、ワイヤ4だけを除くことが実際には
困難であり、ボンディング状態検査精度に制約を与えて
いる。
また、後者の従来装置では、ボンディングボール5の平
面形状を真円と仮定しているが、実際のボンディングボ
ール5の平面形状は真円でないことが殆どであるため、
ボール中心taを正確に検出できず、またボンディング
ボール5に変形がある場合は、ボール中心付置から極端
にずれた位置をボール中心位置として検出してしまう。
本発明は以上の点に鑑みてなされたもので、ワイヤ像や
ボール変形の影響を受けることなく、精度良くボンディ
ングボール中心を検出してワイヤボンディング状態を検
査し得るワイヤボンディング状態検査’IAEを提供す
ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
第1図は本発明の原理ブロック図を示す、同図中、10
はva像手段で、パッドにボンディングされたワイヤの
先端のボンディングボールをflII!する。11は画
素生成手段、12は濃淡階調画像メモリで、これらは爬
像手段10からの映像信号から画素を生成し、l前窓サ
イズの検査領域における画素を記憶する。
13は閾値緯出手段で、濃淡階調画像メモリ12から読
み出した全画素から自動2値化算出法により閾値を算出
し、その閾値で前記検査領域における画像を2f+!化
して濃淡画像を得る。
14は距離変換手段で、上記濃淡画像を距離変換する。
15は中心検出手段で、距離変換されh画像の各画素の
鎗を前記ワイヤと反対の方向からサーチして最初に検出
した最大値の画素位置の中心を前記ボンディングボール
の中心位置として検出する。更に、16は形状検査手段
で、上記検出した中心付置と距離変換された11淡画像
の各画素のうち所定伯の画素位置との距離を計算してボ
ンディングボール形状を検査する。
〔作用〕
本発明ではmItix出手段13により得られた濃淡画
像を匝離変換手段14により罪離変換し、距離画像の各
画素の値を最外周(輪郭部)で「1]とし、中心の画素
はど値を大とする。しかる後に、この距離変換された濃
淡画像の画素の値のうち、中心検出手段15によりワイ
ヤの反対方向から最大値を検出し、そのうち最初に検出
された最大値の画素位置の中心をボンディングボールの
中心位置とすることで、ワイヤ像やボール変形に影響さ
れずにボンディングボール中心1ftFを検出すること
ができる。
また、最大値そのものがボンディングボールの最大半径
となるため、本発明では上記検出した中心位置を基準に
して、形状検査手段16により距離変換画像の最小半径
を検出することにより、ワイヤ像やボール変形に影響さ
れずにボール形状を検査することができる。
〔実施例〕
第2図は本発明の一実施例の構成図を示す。同図中、第
10図と同一構成部分には同一符号を付し、その説明を
省略する。第2図において、照明装置7及び撮11ff
8は第1図に示した撮像手段10を構成している。第2
図中、21は画像入力回路で、前記画素生成手段11を
構成しており、入力映像信号をディジタル処理する。2
2Lt画像メモリ、23&i画像処理メモリで、これら
は前記′a淡階;alj*メモリ12を構成している。
また、24は画像処理プロセッサで、前記積値わ出手段
13.距離変換手段14.中心検出手段15及び形状検
査手段16を構成しており、後述する第3図に示すフロ
ーチャートに従ってm値を算出する。25は画像表示回
路で、デイスプレィ26に画像表示を行なわせる。上記
の画像入力回路219画倣メモリ222画像処理メモリ
23゜画像処理プロセッサ24及び画像表7j、@路2
5の4g互固の画素データ転送は、イメージバス27を
/?6て行なわれる。
また、28はプログラムメモリで、このワイヤボンディ
ング状態検査装置全体をtsmするための10グラムが
格納されている。29はシステムプロセッサで、プログ
ラムメモリ28からのプログラムに従い、このワイヤボ
ンディング状態検査装置全体の回路を統括v4tlする
30はカメラコントローラで、Ill!I!装置8の動
作制御を行なう。31は照明コントローラで、照明装W
17のICチップ2に対する照明光量を調整して映像信
号のS/Nを最適にする。32はフレームフィーダコン
トローラで、搬送¥A置であるフレームフィーダ6を搬
送l1lIIIする。33はI10コントローラで、キ
ーボード及びジョイスティック34.プリンタ35とシ
ステムプロセッサ29との向のインタフェースをとる。
キーボード及びジョイスティック34は検査条件の設定
などに用いられ、またプリンタ35は検査結果の印刷出
力などに用いられる。
36虹ノロツビーデイスクコントローラ(FCC)及び
ハードディスクコント0−ラ(HDC)で、フロッピー
ディスク37及びハードディスク38に接続されている
。フロッピーディスク37及びハードディスク38には
、検査結果や検査基準などが格納される。更に39はシ
ステムバスで、上記の各回路間のデータ転送用バスであ
る。
次に本実施例の動作について説明する6鴎像装′r18
はtCチップ2にボンディングされたワイψ4のICチ
ップ2側の端に形成されたボンディングボール5をm像
し、これにより得られる映像信号を画像入力回路21に
供給する。画像入力回路21は人力峡ffi信gをディ
ジタル処理して画素群が時系列的に台底された画像デー
タを生成し、そのtaデータをイメージバス27を介し
て画像メモリ22に格納する。システムプロセッサ29
はgl像メモリ22から所定の[、サイズの領w1.D
の画素〈画像データ〉を切り出して画像処理メモリ23
に格納する。
このようにして画像処理メモリ23に格納された上記の
領域りの全画素を用いて、画像処理プロセッサ24は第
3図に示す)O−チャートに従って、前記IIIti算
出手段13から形状検査手段16に至る各処理を行なう
まず、第3図に示すように画像処理プロセッサ24は前
記領1tLoの全画素を読み出すく切り出す)(ステッ
プ41)。次に、画像処理プロセッサ24は読み出した
各自1に間の階調補m(サブビクセル生成〉を行なう(
第3図中、ステップ42)。
この画素!1階調補I&i第4図に丞す如く、画像処理
メモリ23から読み出された領域りの各画素のうち、任
意の相鱗る4つの6素を黒丸P+〜P4で示し、またそ
れらの画素N清値をP+=f’(i、j)、Pz =f
’  (i+1.j)、Pal =f’  (i、j+
1)、P4−f’  (i+1.j+1)とすると、白
丸SPで示す位置に次式%式%(1 ) で表わされるf (x、y)の階調値をもつサブビクセ
ルを生成する方法である。ただし、上式中αはP+から
の水平方向の距離、βはPlからの垂直方向の距離を示
す。
この画素圓階A補1畠によって、上記の4画素P+”P
4間には第4図に白丸で示す各位置に上記と同様にして
サブビクセルが生成される。これにより、上記の画1k
aW調補面前のボンディングボール5の画像が第5図(
A)に示す如く斜めの11像部分のギザギザが大であっ
たのに対し、上記の画lA閤階講補濡を行なうことによ
り、ボンディングボール5の画I&は同図(8)に示す
如く斜めのllill分のギザギザが大幅に小さくなり
、ディジタル化に伴うaF化誤差が大幅に軽減された画
像が得られる。
次に、画f11!l!L理プロセッサ24は検査領域り
の全癒1(サブビクセルを含む)からその2値化濁値下
を自動2m化処理で算出する(第3図中、ステップ43
〉、ここでいう自動2Wi化とは、例えば適応2値化(
Adaptive B 1nariZation )の
ような自動2値化lIr1算出法のことである。この適
応2値化により、検査領域り内の全画素数をN。
画素階ll鎖をf (x、y)・γを所定の比とすると
、2値化閾filTは次式 %式%) なる式に基づいて算出される。
上記の2値化閾値Tの算出後、Tより大なる階調値をも
つ画素を“O”、T以下の階調値をもつ画素を“1”と
したときの検査領VtDにおける画像は第6図に模式的
に示す如き2WI化画像である。
ただし、第6図中では値“O”の各画素の図示は省略し
である。この2iU化画像は、第6図に示すようにIC
チップ2やバッド3に比べて映像信号強度の小さなワイ
ヤ4及びボンディングボール5の検査領[0における形
状を示している。この2値化画像のデータは画像処理メ
モリ23内に、前記画素格納領域とは別の領域に格納さ
れる。
次に、画像処理プロセッサ24は上記の2鉛化画像の距
離変換を行なう(第3図中、ステップ44)。この距離
変換は、2fB化画像の輪郭を形成する最も外側の画素
の値を“1″とし、そこから2鉛化画像の中心へ向って
画素が1つ進む毎にその4索の値を1つ増加させる処理
である。換言すると、この距離変換は2偵化画像を41
Ii或する各lIm素が輪郭から何番目の画素であるか
を示す値をその画素に付与する処理である。従って、こ
の距J11変換により、上記の2 (a化画像を構成す
る各画素の艙は第7図に示す如くに設定される。
次に、画像処理プロセッサ24は距離変換後の検査領域
り内の上記画像に対して、ワイヤ4に対向するfりdか
らワイヤ4に向かう方向へ画素の値をリーチし、ボンデ
ィングボール5の中心位置を検出する(第3図中、ステ
ップ45)。すなわち、第8Fj!Iに示す如く、ワイ
ヤ4のある位置と反対方向から上記の距離変換後の画像
を構成する各画素の釦を検出し、最初に検出した最大1
fI(ここでは“6”)のあった画素(第8図に斜線で
示す)の中心をボンディングボール5の中心位置Cとす
る。
ここでは、第8図に斜線で示す検出最大め“6”の画素
は同一行に2つあるので、その2画素の境界をボンディ
ングボール5の中心位NCとし、その検出量大値RHA
Xは6.5とされる。なお、ボンディングボール5のワ
イヤ4に対向する位置からワイヤ4への検出方向は、I
l&装置8に対するICCフッ2.バッド3.ワイヤ4
及びポンディングボール50位置及び方向が予めわかっ
ていることから識別できる。
次に、画像処理プロセッサ24は距離変換後の画像にお
いて、上記中心位dCから値が“1”である輪郭を構成
している各画素までの距離を算出することにより、ボン
ディングボール5の形状を検査する(第3図中、ステッ
プ46〉。すなわち、このステップ46では第9図に矢
印で示した中心位置Cと輪郭画素との閤の距離を算出し
、そのうちの最小1aRを求める。この最小値RH1N
は41N ボンディングボール5の最小半径を表わしている。
しかる後に、画像処理プロセッサ24はボンディングボ
ール5の良否判定を行なう。この良否判定U、ス?ツ1
45で検出したボンディングボール5の中心位1iff
Cとパッド3の中心位置とのずれからボンディングボー
ル50位置ずれを検査し、その位置fれが許容範囲内に
あるかどうかの判定と、ステップ46で検出した最小値
(R小ボール半径)R,、Nと、ステップ45で検出し
た最大値(最大ボール半径)RHAXと基準ボール径R
310(例えば35μm〜65μl)の比から求めたボ
ール変形が許容範囲内にあるかどうかの判定からなる。
1者のボール変形に閏する71定は、例えば最小ボール
゛r径RHIMが基準ボール径R81Dの70%以上で
、最大ボール半径RHAXが基準ボールt¥R3TDの
130%以下の許容範囲内にあるか否かのマ4定である
従って、本実施例によれば、ワイヤ4やボール変形の影
響を受けることなく、精度良くボンディングボール5の
中心位ICを検出することができる。
なお、本発明は上記の実施例に限定されるものではなく
、例えば第3図のステップ42のサブビクセル生成処理
は、より高精度な検査結果を1!!るうえで望ましい処
理であるが、原理的には省略しても差し支えない。
〔発明の効果〕
上述の姐く、本発明によれば、ワイヤ像やボール変形に
影響されずにボール形状を検査することができるため、
従来に比べより′a精度なボンディングボールの状態検
査を行なうことができる等の特長を有するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理ブロック図、 第2図は本発明の一実施例の構成図、 第3図は本発明の一実施例の動作説明用゛ノローチャー
ト、 第4図は画素sNa補諷0説明図、 第5図は画素問南講補間前後の画像例を示す図、第6図
虹ボンディングボール2値化像を示す図、第7図はボン
ディングボール距離変換11!i像を示す図、 第8図はボンディングボール中心位置の検出説明図、 第9図はボンディングボール形状検査説明図、第10図
q従来V装置の一例の構成図である。 図において、 2 Lt I Cチップ、 3はパッド、 4uワイヤ、 5はボンディングボール、 1(HJ[m手段、 11はi!ii素生戒手生成 12L1濃淡晰調南像メモリ、 13は閾値粋出手段、 14は距離変換手段、 15は中心検出手段、 16LL形状検査手段、 24は画像処理プロセッサ を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 パッドにボンディングされたワイヤの先端のボンディン
    グボールを撮像する撮像手段(10)と、該撮像手段(
    10)の出力映像信号をディジタル処理して画素を生成
    する画素生成手段(11)と、 該画素生成手段(11)により生成された画素のうち所
    定サイズの検査領域における画素を記憶する濃淡階調画
    像メモリ(12)と、 該濃淡階調画像メモリ(12)から読み出した全画素か
    ら自動2値化算出法により閾値を算出し、該閾値で前記
    検査領域における画像を2値化する閾値算出手段(13
    )と、 該閾値算出手段(13)により得られた2値画像を距離
    変換する距離変換手段(14)と、該距離変換された画
    像の各画素の値を前記ワイヤと反対の方向からサーチし
    て最初に検出した最大値の画素位置の中心を前記ボンデ
    ィングボールの中心位置として検出する中心検出手段(
    15)と、 該中心検出手段(15)で検出された中心位置と該距離
    変換された画素の各画素のうち所定値の画素位置との距
    離を計算してボンディングボール形状を検査する形状検
    査手段(16)と、 を具備したことを特徴とするワイヤボンディング状態検
    査装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN112447537A (zh) * 2019-09-03 2021-03-05 德律科技股份有限公司 检测系统以及检测方法

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