JPH03191876A - 電球断芯検出方法 - Google Patents
電球断芯検出方法Info
- Publication number
- JPH03191876A JPH03191876A JP1332439A JP33243989A JPH03191876A JP H03191876 A JPH03191876 A JP H03191876A JP 1332439 A JP1332439 A JP 1332439A JP 33243989 A JP33243989 A JP 33243989A JP H03191876 A JPH03191876 A JP H03191876A
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- current
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 52
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
この発明は例えば灯浮標の照明用等の電球断芯検出方法
に関する。
に関する。
（σ）従来の技術
従来灯浮標等において、照明用の電球の断芯を検出する
方法として、第３図に示すように、電球（１）の回路に
、検出抵抗（２）を直列に挿入し、この抵抗の両端に発
生する電圧をコンパレータ（３）を介して、電流信号と
して取り出す、即ち、検出抵抗の両端に発生する電圧の
有無によって、断芯の検出を行う方法がとられていた。
方法として、第３図に示すように、電球（１）の回路に
、検出抵抗（２）を直列に挿入し、この抵抗の両端に発
生する電圧をコンパレータ（３）を介して、電流信号と
して取り出す、即ち、検出抵抗の両端に発生する電圧の
有無によって、断芯の検出を行う方法がとられていた。
（八）発明が解決しようとする問題点
このような従来の方法は、検出抵抗での電圧降下ロスを
少なくするためには、抵抗値をできるだけ下げる必要が
あるが、抵抗値があまり低いと、小電流の電球を使用し
た場合、検出抵抗での発生電圧が低く、検出が困難であ
り、また、逆に検出抵抗を大きくすると、小電流の場合
でも検出できる反面大電流の電球を使用したときの電圧
ロスが大きくなるという欠点がある。
少なくするためには、抵抗値をできるだけ下げる必要が
あるが、抵抗値があまり低いと、小電流の電球を使用し
た場合、検出抵抗での発生電圧が低く、検出が困難であ
り、また、逆に検出抵抗を大きくすると、小電流の場合
でも検出できる反面大電流の電球を使用したときの電圧
ロスが大きくなるという欠点がある。
例えば、検出抵抗値 ０．１Ω、使用電球電圧１２ｖと
すると、電球電流０．２５ Ａのときの検出（ロス）電
圧は０．０２５Ｖであるが、電球電流８Ａのときの検出
（ロス）電圧は０．８■となる。
すると、電球電流０．２５ Ａのときの検出（ロス）電
圧は０．０２５Ｖであるが、電球電流８Ａのときの検出
（ロス）電圧は０．８■となる。
即ち、０．２５Ａ電球では、電球電圧の低下は２゜１％
と低いが、検出電圧としては低い値であり検出困難とな
る。逆に８Ａ電球では０．８Ｖと検出には充分な電圧が
発生するが、電球電圧の低下も６゜７％と大きくなる。
と低いが、検出電圧としては低い値であり検出困難とな
る。逆に８Ａ電球では０．８Ｖと検出には充分な電圧が
発生するが、電球電圧の低下も６゜７％と大きくなる。
（ニ）問題点を解決するための手段
この発明は、断芯検出は、常時連続して行う必要はない
ことに着目し、検出抵抗は適宜な抵抗値のものを用い、
検出抵抗回路に自動制御装置を備えた（図示せず）ＦＥ
Ｔを並設することによって、例えば、１ｍ５ｅｃ位の短
時間の間に、検出動作を行わせな後、１００ｍ５ｅｃ位
の時間は検出動作を停止させるという間欠的に検出する
方法である。
ことに着目し、検出抵抗は適宜な抵抗値のものを用い、
検出抵抗回路に自動制御装置を備えた（図示せず）ＦＥ
Ｔを並設することによって、例えば、１ｍ５ｅｃ位の短
時間の間に、検出動作を行わせな後、１００ｍ５ｅｃ位
の時間は検出動作を停止させるという間欠的に検出する
方法である。
（ネ）作用
このようにすれば、例えば、１ｍ５ｅｃ位のごく短時間
、ＦＥＴのゲートをＬレベルとし、ＦＥＴをＯＦＦの状
態とする。これにより電球電流は全て検出抵抗に流れ、
検出抵抗の両端に電圧を発生する。この間に検出動作を
行わせる。続いて、１００ｍ５ｅｃ位の時間ＦＥＴのゲ
ートを１ルベルとじＦＥＴをＯＮの状態とすれば、電球
電流は殆どＦＥＴに流れ検出抵抗での電圧ロスは最小限
のものとなる。この間は検出動作は停止する。
、ＦＥＴのゲートをＬレベルとし、ＦＥＴをＯＦＦの状
態とする。これにより電球電流は全て検出抵抗に流れ、
検出抵抗の両端に電圧を発生する。この間に検出動作を
行わせる。続いて、１００ｍ５ｅｃ位の時間ＦＥＴのゲ
ートを１ルベルとじＦＥＴをＯＮの状態とすれば、電球
電流は殆どＦＥＴに流れ検出抵抗での電圧ロスは最小限
のものとなる。この間は検出動作は停止する。
従って小Ｉｌ流電球でも充分な検出電圧が得られまた、
大電流でもロス電圧は低い。
大電流でもロス電圧は低い。
（へ）実施例
この発明を第１図に示す回路図に従って説明すると、電
球（１）の回路に直列に挿入された検出抵抗（２）の両
端間に接続きれたコンパレータ（３）と並列に、Ｆ Ｅ
Ｔ （５）をそのソースＳとドレインＤを接続するこ
とで設ける。
球（１）の回路に直列に挿入された検出抵抗（２）の両
端間に接続きれたコンパレータ（３）と並列に、Ｆ Ｅ
Ｔ （５）をそのソースＳとドレインＤを接続するこ
とで設ける。
第２図は波形図で上からＦ Ｅ Ｔ （５）のゲートＧ
１検出抵抗（２）の電圧およびコンノ（レータ（３）の
出力波形図である。本例ではＦ Ｅ Ｔ （５）のゲー
トＧのＨレベルを１００ｍ５ｅｃ間隔で１ｍ５ｅｃＬレ
ベルとする。このＬレベルの時電球電流は全て検出抵抗
（２）に流れ検出抵抗の両端に電圧を発生し、コンパレ
ータ（３）の電流検出出力が現れる。この間に断芯検出
動作を行わせる。
１検出抵抗（２）の電圧およびコンノ（レータ（３）の
出力波形図である。本例ではＦ Ｅ Ｔ （５）のゲー
トＧのＨレベルを１００ｍ５ｅｃ間隔で１ｍ５ｅｃＬレ
ベルとする。このＬレベルの時電球電流は全て検出抵抗
（２）に流れ検出抵抗の両端に電圧を発生し、コンパレ
ータ（３）の電流検出出力が現れる。この間に断芯検出
動作を行わせる。
即ち、検出動作時間は、１００ ｍ５ｅｃ毎に１回１ｍ
ｓｅｅ時行うという間欠検出となる。
ｓｅｅ時行うという間欠検出となる。
これにより、平均ロス電圧は、非検出時のものに近くな
る。これを更に具体的に説明すれば、例えば、検出抵抗
（２）の抵抗値を０．５Ω、Ｆ Ｅ Ｔ （５）のＯＮ
時の抵抗を０．０５Ω、使用電球電圧を１２■とした時
、 検出動作時は、 電球電流０．２５Ａのとき、検出（ロス）電圧０゜２５
ｖ 電球電流８Ａのとき、検出（ロス）電圧、４ｖであり、
また、検出休止時は、 電球電流０．２５Ａのとき、検出（ロス）電圧０゜１１
ｖ 電球電流８Ａのとき、検出（ロス）電圧０．３６Ｖとな
り、０．２５Ａ電球でも、検出に充分な電圧が得られ、
８ Ａ ｉ！ ｆｌｔでも、ロス電圧は３％と低くおき
えることができる。
る。これを更に具体的に説明すれば、例えば、検出抵抗
（２）の抵抗値を０．５Ω、Ｆ Ｅ Ｔ （５）のＯＮ
時の抵抗を０．０５Ω、使用電球電圧を１２■とした時
、 検出動作時は、 電球電流０．２５Ａのとき、検出（ロス）電圧０゜２５
ｖ 電球電流８Ａのとき、検出（ロス）電圧、４ｖであり、
また、検出休止時は、 電球電流０．２５Ａのとき、検出（ロス）電圧０゜１１
ｖ 電球電流８Ａのとき、検出（ロス）電圧０．３６Ｖとな
り、０．２５Ａ電球でも、検出に充分な電圧が得られ、
８ Ａ ｉ！ ｆｌｔでも、ロス電圧は３％と低くおき
えることができる。
なお、ＦＥＴ（５）のゲートＧに間欠的に信号を供給し
、コンパレータ（３）の出力より電球の断芯を検出する
方法は、例えば次のようにすればよい。第４図は検出部
のブロック図、第５図は断芯検出タイムチャートである
。
、コンパレータ（３）の出力より電球の断芯を検出する
方法は、例えば次のようにすればよい。第４図は検出部
のブロック図、第５図は断芯検出タイムチャートである
。
発振Ｎ（６）の出力をバイナリ−カウンター（７）でカ
ウントし、その出力をＲＯＭ （８）のアドレスに入力
し、あらかじめ書き込んであるＲ ＯＭ （８）データ
をＯ番地から順次読み出す事でタイミング信号（信号Ａ
、４８号Ｂ）を得る。
ウントし、その出力をＲＯＭ （８）のアドレスに入力
し、あらかじめ書き込んであるＲ ＯＭ （８）データ
をＯ番地から順次読み出す事でタイミング信号（信号Ａ
、４８号Ｂ）を得る。
信号Ａは、１００ ｍ５ｅｃに１回１ｍ５ｅｃの間、Ｌ
レベルとなる様ＲＯＭ （８）にデータを入れである。
レベルとなる様ＲＯＭ （８）にデータを入れである。
又、信号Ｂは、信号ＡがＬレベルの中間でＨレベルパル
スを１回出力する様、ＲＯＭにデータを入れである。
スを１回出力する様、ＲＯＭにデータを入れである。
信号Ａは、ＦＥＴのゲートに入力し、信号Ｂはう・ンチ
回路（９）に入力する事で、１８号Ａ ｈ（Ｌレベルに
なり、ＦＥＴがＯＦＦしたために、電球電流が電流検出
抵抗に全て流れている時のコンパレータ出力を、信号Ｂ
の立上りによりラッチ回路で、断芯検出タイミング時の
コンパレータ出力状態を保持する。
回路（９）に入力する事で、１８号Ａ ｈ（Ｌレベルに
なり、ＦＥＴがＯＦＦしたために、電球電流が電流検出
抵抗に全て流れている時のコンパレータ出力を、信号Ｂ
の立上りによりラッチ回路で、断芯検出タイミング時の
コンパレータ出力状態を保持する。
電球正常時は、信号ＡがＬレベルの時、検出抵抗電圧が
高くなるため、コンパレータ出力がＨレベルとなりラッ
チ回路及び、信号Ｂにより、この状態（Ｈレベル）を保
持する。又、電球断芯時は、電流がゼロのため、信号Ａ
がＬレベルになっても、検出抵抗電圧はゼロとなり、こ
れをラッチ回路及び、（ｇ号Ｂで保持するため、断芯信
号（Ｌレベル）として取り出せる。
高くなるため、コンパレータ出力がＨレベルとなりラッ
チ回路及び、信号Ｂにより、この状態（Ｈレベル）を保
持する。又、電球断芯時は、電流がゼロのため、信号Ａ
がＬレベルになっても、検出抵抗電圧はゼロとなり、こ
れをラッチ回路及び、（ｇ号Ｂで保持するため、断芯信
号（Ｌレベル）として取り出せる。
（ト）効果
このように、簡単な方式により、小電流電球から大電流
電球までの広範囲の電流負荷に対して、無調整で対応で
き、電球の光力低下も少ない。また、検出抵抗での消費
電力も小ざくて済み、発熱が少ないため小型化できる特
徴がある。
電球までの広範囲の電流負荷に対して、無調整で対応で
き、電球の光力低下も少ない。また、検出抵抗での消費
電力も小ざくて済み、発熱が少ないため小型化できる特
徴がある。
第１図は本発明の構成を示す回路図、第２図はその動作
を示す波形図、第３図は従来の構成を示す回路図である
。第４図はＦＥＴのゲートに間欠信号を供給しコンパレ
ータよりの出力より電球の断芯を検出する検出部のブロ
ック図、第５図はその断芯検出のタイムチャートである
。 （１）・・・・ 電球、（２）・・・・ 検出抵抗、（
３）・・・・コンパレータ、（４）・・・・ コンパレ
ータ用基準電源、（５）・・・ ＦＥＴ。 フイζ−Ｚ
を示す波形図、第３図は従来の構成を示す回路図である
。第４図はＦＥＴのゲートに間欠信号を供給しコンパレ
ータよりの出力より電球の断芯を検出する検出部のブロ
ック図、第５図はその断芯検出のタイムチャートである
。 （１）・・・・ 電球、（２）・・・・ 検出抵抗、（
３）・・・・コンパレータ、（４）・・・・ コンパレ
ータ用基準電源、（５）・・・ ＦＥＴ。 フイζ−Ｚ
Claims (1)
- 電球回路に直列に検出抵抗を挿入し、この検出抵抗の両
端子間の電圧の有無により電球の断芯検出を行うように
した電球断芯検出方法において、検出抵抗の両端子間に
ＦＥＴ（電界効果トランジスタ）を並設し、検出抵抗の
両端子間の電圧検出を、間欠的に行うようにしたことを
特徴とする電球断芯検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1332439A JP2617804B2 (ja) | 1989-12-21 | 1989-12-21 | 灯浮標用電球断芯検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1332439A JP2617804B2 (ja) | 1989-12-21 | 1989-12-21 | 灯浮標用電球断芯検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03191876A true JPH03191876A (ja) | 1991-08-21 |
| JP2617804B2 JP2617804B2 (ja) | 1997-06-04 |
Family
ID=18254990
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1332439A Expired - Fee Related JP2617804B2 (ja) | 1989-12-21 | 1989-12-21 | 灯浮標用電球断芯検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2617804B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6180794A (ja) * | 1984-09-27 | 1986-04-24 | 富士通株式会社 | ランプ切れ検出回路 |
-
1989
- 1989-12-21 JP JP1332439A patent/JP2617804B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6180794A (ja) * | 1984-09-27 | 1986-04-24 | 富士通株式会社 | ランプ切れ検出回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2617804B2 (ja) | 1997-06-04 |
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Legal Events
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