JPH03196650A - フリップチップボンディング方法 - Google Patents
フリップチップボンディング方法Info
- Publication number
- JPH03196650A JPH03196650A JP1339293A JP33929389A JPH03196650A JP H03196650 A JPH03196650 A JP H03196650A JP 1339293 A JP1339293 A JP 1339293A JP 33929389 A JP33929389 A JP 33929389A JP H03196650 A JPH03196650 A JP H03196650A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solder
- solder bumps
- chip
- board
- flux
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3489—Composition of fluxes; Application thereof; Other processes of activating the contact surfaces
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
- H10W74/10—Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition
- H10W74/15—Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition on active surfaces of flip-chip devices, e.g. underfills
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は半田バンプによるフリップチップボンディン
グ方法に関する。
グ方法に関する。
〈従来の技術〉
第5図は従来の半田バンプによるフリップチップボンデ
ィング状態を示す概略図である。
ィング状態を示す概略図である。
図において、31は半田バンプであって、この半田バン
プ31はICチップ32上に形成されており、基板34
上に形成された電極35ヘフリツプチツプボンデイング
されている。このフリップチップボンディングは基板3
4上の電極35への半田バンプ3Iのボンディングであ
り、以下の手順によって行われている。
プ31はICチップ32上に形成されており、基板34
上に形成された電極35ヘフリツプチツプボンデイング
されている。このフリップチップボンディングは基板3
4上の電極35への半田バンプ3Iのボンディングであ
り、以下の手順によって行われている。
すなわち、第3図は従来のボンディングの手順を示した
ものである。
ものである。
ICチップ22は例えばサーマルヘッドの駆動制御用の
ICであり、半田バンプ21は直径110 pva高さ
85μ−でピッチは210μmで形成されている。基板
24上に形成された電極25上へ半田バンプ21を精度
よく位置合わせされた状態でICチップ22が搭載され
る。このとき、予め基板24上には、半田フラックス2
3がスタンピングあるいはスクリーン印刷によって塗布
されており、この半田フラックス23によりICチップ
22が基板24上へ仮固定される。
ICであり、半田バンプ21は直径110 pva高さ
85μ−でピッチは210μmで形成されている。基板
24上に形成された電極25上へ半田バンプ21を精度
よく位置合わせされた状態でICチップ22が搭載され
る。このとき、予め基板24上には、半田フラックス2
3がスタンピングあるいはスクリーン印刷によって塗布
されており、この半田フラックス23によりICチップ
22が基板24上へ仮固定される。
第4図に前記仮固定の状態を示している。符号は第3図
と同一に示しである。半田フラックス23は予め、基板
24上に塗布されており、半田フラックス23は基板2
5にはよく濡れている。ICチップ22は基板24上へ
塗布された半田フラックス23上へ搭載されており、半
田バンプ21へ半田フラックス23が濡れた状態になっ
ている。第4図の状態において、はんだリフローされ、
半田バンプ21は溶融し、基板24上の電極25に接着
される。
と同一に示しである。半田フラックス23は予め、基板
24上に塗布されており、半田フラックス23は基板2
5にはよく濡れている。ICチップ22は基板24上へ
塗布された半田フラックス23上へ搭載されており、半
田バンプ21へ半田フラックス23が濡れた状態になっ
ている。第4図の状態において、はんだリフローされ、
半田バンプ21は溶融し、基板24上の電極25に接着
される。
〈発明が解決しようとする課題〉
フリップチップボンディングにおいては、第5図に示す
ように、半田バンプ31が基板24上の電極35へ全て
確実に接着されることが必要不可欠なことである。
ように、半田バンプ31が基板24上の電極35へ全て
確実に接着されることが必要不可欠なことである。
この接着は半田付けであるから、確実に接着されるため
には、充分な半田フラックスが必要となる。すなわち、
半田バンプと基板上の電極が充分半田フラックスに濡れ
ていることが必要である。
には、充分な半田フラックスが必要となる。すなわち、
半田バンプと基板上の電極が充分半田フラックスに濡れ
ていることが必要である。
しかしながら、従来例の場合、第4図の26で示す半田
バンプのように、半田フラックスの濡れの不充分な部分
が発生しやすく、その結果、第6図の26′で示すよう
に、半田付は不良による接続不良が起こることになる。
バンプのように、半田フラックスの濡れの不充分な部分
が発生しやすく、その結果、第6図の26′で示すよう
に、半田付は不良による接続不良が起こることになる。
これは、ICチップ22が基板24上へ搭載された時、
各半田パン121等へ半田フラックスは濡れてゆくが、
濡れ性の差により、半田フラックスの濡れの不充分な半
田バンプ26が発生するものと考えられる。
各半田パン121等へ半田フラックスは濡れてゆくが、
濡れ性の差により、半田フラックスの濡れの不充分な半
田バンプ26が発生するものと考えられる。
本発明は上記事情に鑑みて創案されたもので、半田フラ
ックスの濡れが充分であり、フリップチップボンディン
グが確実に行える新規なフリップチップボンディング方
法を提供することを目的としている。
ックスの濡れが充分であり、フリップチップボンディン
グが確実に行える新規なフリップチップボンディング方
法を提供することを目的としている。
〈課題を解決するための手段〉
本発明に係るフリップチップボンディング方法は、半田
バンプによるフリップチップボンディングにおいて、前
記半田バンプが形成されたICチップが基板上へ搭載さ
れる前に、前記半田バンプ全ての被うように予めチップ
側に半田フラックスを塗布したことを特徴としている。
バンプによるフリップチップボンディングにおいて、前
記半田バンプが形成されたICチップが基板上へ搭載さ
れる前に、前記半田バンプ全ての被うように予めチップ
側に半田フラックスを塗布したことを特徴としている。
〈作用〉
半田バンプによるフリップチップボンディングにおいて
、ICチップを基板上へ搭載する前に、半田フラックス
を予めチップの半田バンプ全てを被うように、塗布した
ことから、基板上へ搭載したときには、既に半田バンプ
は半田フラックスに充分濡れており、半田付は不良によ
る接着不良なしにボンディングすることができる。
、ICチップを基板上へ搭載する前に、半田フラックス
を予めチップの半田バンプ全てを被うように、塗布した
ことから、基板上へ搭載したときには、既に半田バンプ
は半田フラックスに充分濡れており、半田付は不良によ
る接着不良なしにボンディングすることができる。
〈実施例〉
以下、図面を参照して本発明に係る一実施例を説明する
。第1図は本発明による半田バンプによるフリップチッ
プボンディングの手順を示したものである。
。第1図は本発明による半田バンプによるフリップチッ
プボンディングの手順を示したものである。
ICチップ2の電極には、半田バンプ1が形成されてい
る。このICチップ2は従来例で示したものと同じく、
例えばサーマルヘッドの駆動制御用ICであり、半田バ
ンプ1は直径110μ11高さ85μ蒙、ピッチ210
μ−で形成されている。
る。このICチップ2は従来例で示したものと同じく、
例えばサーマルヘッドの駆動制御用ICであり、半田バ
ンプ1は直径110μ11高さ85μ蒙、ピッチ210
μ−で形成されている。
基板4上に形成された電極5上へ半田バンプ1を精度よ
く位置合わせして、その状態でICチップ2が搭載され
る。このとき、予めICチップ2には半田フラックス3
を半田バンプ1の全てを被うように塗布されており、こ
の半田フラックス3により、ICチップ2が基板4上へ
仮固定される。
く位置合わせして、その状態でICチップ2が搭載され
る。このとき、予めICチップ2には半田フラックス3
を半田バンプ1の全てを被うように塗布されており、こ
の半田フラックス3により、ICチップ2が基板4上へ
仮固定される。
第2図に仮固定の状態を示している。符号は第1図と同
一で示す。半田フラックス3はICチップ2側半田バン
プ1にも基板4側電極5にもよく濡れた状態が得られる
。
一で示す。半田フラックス3はICチップ2側半田バン
プ1にも基板4側電極5にもよく濡れた状態が得られる
。
第2図の状態にて、はんだリフローされ、半田バンプ2
1は溶融し、基板4上の電極5に接着される。第5図の
ように、半田バンプが基板上の電極へ全て確実に接着す
ることができる。
1は溶融し、基板4上の電極5に接着される。第5図の
ように、半田バンプが基板上の電極へ全て確実に接着す
ることができる。
なお、ICチップの半田バンプへの半田フラックスの塗
布は、ボンディング直前のチップをボンディングコレッ
トに吸着した状態、あるいは吸着する直前の状態で半田
フラックス浴へ半田バンプ面をデイツプすることによっ
て簡単に行える。
布は、ボンディング直前のチップをボンディングコレッ
トに吸着した状態、あるいは吸着する直前の状態で半田
フラックス浴へ半田バンプ面をデイツプすることによっ
て簡単に行える。
〈発明の効果〉
本願発明に係るフリップチップボンディング方法は、半
田バンプによるフリップチップボンディングにおいて、
前記半田バンプが形成されたICチップが基板上へ搭載
される前に、前記半田バンプ全での被うように予めチッ
プ側に半田フラックスを塗布したことを特徴とするもの
であるから、チツブ側の半田バンプと基板側の電極は充
分半田フラックスに濡れており、半田付は不良による接
着不良はなく、確実にボンディングすることができる。
田バンプによるフリップチップボンディングにおいて、
前記半田バンプが形成されたICチップが基板上へ搭載
される前に、前記半田バンプ全での被うように予めチッ
プ側に半田フラックスを塗布したことを特徴とするもの
であるから、チツブ側の半田バンプと基板側の電極は充
分半田フラックスに濡れており、半田付は不良による接
着不良はなく、確実にボンディングすることができる。
その結果、製造歩留りが向上するため、製造コストが低
減でき、品質の向上が図れるという効果がある。
減でき、品質の向上が図れるという効果がある。
第1図は本願発明による半田バンプによるフリップチッ
プボンディングの手順の説明図、第2図は第1図によっ
てチップを搭載した仮固定の状態の説明図、第3図、第
4図は従来例を示す説明図である。第5図は確実に半田
バンプが接着された状態の説明図、第6図は半田バンプ
の接着不良の状態の説明図である。 1 ・・・・半田バンプ 2 ・・・・ICチップ 3 ・・・・半田フラックス 4 ・・・・基板 5 ・・・・電極
プボンディングの手順の説明図、第2図は第1図によっ
てチップを搭載した仮固定の状態の説明図、第3図、第
4図は従来例を示す説明図である。第5図は確実に半田
バンプが接着された状態の説明図、第6図は半田バンプ
の接着不良の状態の説明図である。 1 ・・・・半田バンプ 2 ・・・・ICチップ 3 ・・・・半田フラックス 4 ・・・・基板 5 ・・・・電極
Claims (1)
- (1)半田バンプによるフリップチップボンディングに
おいて、前記半田バンプが形成されたICチップが基板
上へ搭載される前に、前記半田バンプ全ての被うように
予めチップ側に半田フラックスを塗布したことを特徴と
するフリップチップボンディング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1339293A JPH03196650A (ja) | 1989-12-26 | 1989-12-26 | フリップチップボンディング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1339293A JPH03196650A (ja) | 1989-12-26 | 1989-12-26 | フリップチップボンディング方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03196650A true JPH03196650A (ja) | 1991-08-28 |
Family
ID=18326085
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1339293A Pending JPH03196650A (ja) | 1989-12-26 | 1989-12-26 | フリップチップボンディング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03196650A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19511898A1 (de) * | 1995-03-31 | 1996-10-02 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zur Flächenkontaktierung elektronischer Bauelemente |
| US6147870A (en) * | 1996-01-05 | 2000-11-14 | Honeywell International Inc. | Printed circuit assembly having locally enhanced wiring density |
| US6199139B1 (en) | 1998-01-27 | 2001-03-06 | International Business Machines Corporation | Refresh period control apparatus and method, and computer |
| US6246014B1 (en) | 1996-01-05 | 2001-06-12 | Honeywell International Inc. | Printed circuit assembly and method of manufacture therefor |
-
1989
- 1989-12-26 JP JP1339293A patent/JPH03196650A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19511898A1 (de) * | 1995-03-31 | 1996-10-02 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zur Flächenkontaktierung elektronischer Bauelemente |
| DE19511898C2 (de) * | 1995-03-31 | 1999-09-23 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zur Verbindung von Kontaktflächen eines elektronischen Bauelements und eines Substrats |
| US6147870A (en) * | 1996-01-05 | 2000-11-14 | Honeywell International Inc. | Printed circuit assembly having locally enhanced wiring density |
| US6246014B1 (en) | 1996-01-05 | 2001-06-12 | Honeywell International Inc. | Printed circuit assembly and method of manufacture therefor |
| US6199139B1 (en) | 1998-01-27 | 2001-03-06 | International Business Machines Corporation | Refresh period control apparatus and method, and computer |
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