JPH03211479A - テスト容易化回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発明は、ＶＬＳＩ等の大規模論理回路および大規模
論理回路部品が搭載されている基板のテストを容易に行
うための大規模論理回路のテスト容易化回路に関するも
のである。

（従来の技術） 従来、大規模論理回路および大規模論理回路部品が搭載
されている基板の機能テストにおいては、その回路全体
で外部入力ビンより人カバターンを印加して出力ビンよ
り出力を観測し、期待値と比較を行うことによって良品
か否かの判定を行うようになされていた。

部品の搭載されている基板のテストでは、これ以外に基
板上の信号線上にテスタービンを接触させて、部品単位
に入力印加し、出力観測を行うインサーキットテストを
行っていた。

これをさらに詳しく説明すると、大規模論理回路部品等
が搭載されている基板のテストでは、基板の外部入力端
子より入カバターン系列を印加して基板の外部出力端子
よりその出力を観測し、観測した出力値と期待値を比較
することにより良品か不良品かの判定を行っていた。こ
の方法は良品か不良品かの判定を容易に行うことができ
るが、基板上のどこに不良箇所が存在するかを指摘する
故障解析が容易に行えないという問題点があった。さら
に、ＶＬＳＩ等の大規模論理回路部品が搭載されている
基板では、故障検出率の高いテスト入カバターン系列を
作成することは非常に困難であった。

一方、基板のテスト方法としては、基板上の信号線上に
プローブビンを接触させることにより、基板上に搭載さ
れている部品単位にテスト人カバターンを印加して出力
の観測を行いテストを実施する「インサーキットテスト
」手法がある。この手法を用いると、基板上に搭載され
ている部品の入出力信号にテスターのプローブビンが接
触されるので、テスト入カバターン系列の印加、出力の
観測が部品単位に行えるので、前述したテスト方法と比
較して、容易にテスト、故障解析が実施できる。しかし
、最近の様に、高密度実装化が進むにつれて、部品のビ
ンピッチが狭くなる、表面実装化等によりプローブビン
を基板に接触することが困難になフてきた。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来の基板のテストは、以上の様な方式のため、テスト
人カバターン系列の作成が困難で、不良箇所を指摘する
ための故障解析が困難であり、今後の高密度実装技術の
進歩に伴ない基板テストの実施がより困難になる等の問
題点があった。

この発明は、上記の様な問題点を解消するためになされ
たもので、大規模論理回路のテストを容易に行い得る様
にしたテスト容易化回路を得ることを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

この発明に係るテスト容易化回路は、大規模論理回路が
搭載された基板のテストを行う際に、上記大規模論理回
路内のシフトレジスタをマスタ回路とスレーブ回路に分
割し、分割された各回路間のインターフェース部分の回
路テストを行うようにしたものである。

〔作用〕

この発明におけるテスト容易化回路は、大規模論理回路
のシフトレジスタをマスタ回路とスレーブ回路に分割し
、論理回路全体をテスト容易な回路規模に分割して分割
された各分割回路間のインターフェース回路のテストを
行うことによりテストを容易化する。

（実施例〕 以下、この発明の一実施例を図について説明する。

第１図はシフトレジスタの構成例であり、２相クロツク
で動くシフトレジスタをマスタ回路とスレーブ回路に分
割して構成したものであり、（１）はマスタ回路、（２
）はスレーブ回路である。（１２）はマスタ回路のクロ
ック、（１３）はスレーブ回路のクロックを示し、（１
１）はコントロール人力であり、これによりシフト入力
（９）又はデータ人力（１０）を選択できる様になって
いる、なお、（３）　はＡＮＤゲート、（４）はＯＲゲ
ート、（５）は＾ＮＤゲート、（６）はインバータ、（
７）　、　（８）　　はフリップフロップ又はラッチ回
路である。

第２図はこのシフトレジスタを用いて構成された実施例
で、基板上に搭載されたＬＳＩはＬＳＴＩとＬＳＩ２に
分割され、　ＬＳＩＩにはシフトレジスタのマスタ回路
（ｌ＾）　、　（ＩＢ）が搭載される。（１８１、（１
７）は人出力バッファで、この人出力バッファは、入出
力コントロール（１４）により、マスタ回路（ＩＡ）　
、　（１Ｂ＋の出力値を選択するか、ＬＳＩＩの人出力
ＳＩａ、Ｓｌｂの値を選択するようになされている。

また、ＬＳＩ２には、シフトレジスタのスレーブ回路（
２）が搭載され、（１８）　、　（１９）は入出力コン
トロール（１５）によりスレーブ回路（２）の出力値を
コントロールするかＬＳＩの入出力５２ａ、Ｓ２ｂの値
を選択するようになされている。

以上の様に構成されたテスト容易化回路を用いて、第２
図のＬＳＩＩとＬ５Ｉ２の間のインターフェース信号の
回路部分をテストする場合、シフト人力（９）　にシフ
ト入力値をセットし、コントロール（１１）とクロック
（１２）により、マスタ回路（１＾）にシフト人力値が
セットされる。次に、人出力コントロール（１４）によ
り人出力バッファ（１６）をマスタ回路（ＩＡ）の出力
値を出力する様にコントロールする。次に、ＬＳＩ２の
入出力コントロール（１５）により人出力バッファ（１
８）をＬＳＩ入出力ビン５２ａの値を選択する様にコン
トールし、クロック（１３）を印加することによりスレ
ーブ回路（２）部分にシフト入力値がセットされる。次
に、入出力コントロール（１５）によりスレーブ回路（
２）部分にセットされた値を選択し、ＬＳＩ２の入出力
ビン５２ａへ出力する。

次に、ＬＳＩＩの人出力コントロール（１４）で人出力
バッファ（１６）をコントロールし、さらに、コントロ
ール（１１）とクロック（１２）でマスタ回路（ＩＢ）
部分にシフト入力値を取り込む。これを繰り返すことに
よりＬＳＩ２のシフト出力（２０）までシフト人力値を
シフトアウトすることができる。また、ＬＳＩＩがない
場合は、ＬＳＩ２のスレーブ回路（２）部分は通常のレ
ジスタとしても使用できる。

（発明の効果） この発明は、以上説明した様に、基板上に搭載されてい
るＬＳＩの様な大規模論理回路間のインターフェース回
路部分を分割することにより、容易にテストできるとい
う効果が得られ、従来の様に基板上の信号線上にテスト
のプローブを接触することも必要なく、高密度実装化に
も対応可能である。

【図面の簡単な説明】

第１図は２相クロツクで動くシフトレジスタの構成図、
第２図はこの発明の一実施例による基板上に搭載されて
いるＬＳＩ　とそのインターフェース部分の回路のテス
ト方法を説明する構成図である。 （１）　、　（１＾）、（１Ｂ）　　：マスタ回路（２
）ニスレープ回路 尚、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 大規模論理回路が搭載された基板のテストを行う際に、
   上記大規模論理回路内のシフトレジスタをマスタ回路と
   スレーブ回路に分割し、分割された各回路間のインター
   フェース部分の回路テストを行うようにしたことを特徴
   とするテスト容易化回路。