JPH01127971A - 導通検査方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、Ｉ−Ｏピンの導通検査に関し、特にニー〇ピ
ンが回路基板裏側に存在する際のＩ−Ｏピンの導通検査
方式に関する。

〔従来の技術〕

従来、この種の検査は、直接導通チェックな行いたい回
路基板裏側のＩ−Ｏピンと表面信号パターン間で行って
いた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述した従来のニー〇ピン導通検査は、回路基板裏側Ｉ
−０ピンと表面側の信号パターンとを直接ブロービング
して検査するので裏側Ｉ−Ｏピンのプローブを固定し、
さらに表面側の信号パターンをプローブする為に手間が
掛かり、また、一般的な自動プローブ装置での検査は出
来ないという欠点がある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明のＩ−０ピン導通検査方式は、回路基板裏側のＩ
−Ｏピンの電源ピンと信号ピンをショートさせ、このこ
とにより回路基板表面上の検査対象となる信号パターン
と電源パッドとの導通検査を実施する。

〔実施例〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。

第１図は、本発明の一実施例を示す構成図である。

被検査回路基板ｌのＩ−Ｏピン４をＩ−Ｏピンシヨート
治具５でショートさせる。プローバーＡ２及びプ四−バ
ーＢ３にて電源パッド６とＩ−０パッド７間の導通を検
査する。

第２図は、本発明の縦断面図である。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、回路基板検査において基
板裏側にＩ−Ｏピンを有するものに関し、表面信号パタ
ーンとＩ−Ｏピンとの導通検査を行う際、Ｉ−Ｏピンを
ニー○ピンショート治具にて信号Ｉ−０ピンと電源ニー
○ビンをショートさせ、表面の信号パターンと電源パッ
ド間の導通検査をすることで、同等の検査結果が得られ
るという効果がある。

このことは、特に自動プローブ装置で検査を行う際に効
果がある。

また、裏側Ｉ−０ピンの代替えに電源パッドを利用する
ことで直接裏側Ｉ−Ｏピンとの抵抗値を測定した結果に
近い値が得られる。これは、信号パターンに比べて電源
パターンの抵抗値が小さい為である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の実施例を示す図および第２図は第１
図の縦断面図である。 １・・・・・・被検査回路基板、２・・・・・・プロー
バーＡ、３・・・・・・プローバーＢ、４・・印・ニー
ｏピン、５・・・・・・Ｉ−０ピンシヨート治具、６・
・・・・・電源パッド、７・・・・・・Ｉ−〇パッド、
８・・・・・・電源Ｉ−０ピン、９・・・・・・信号Ｉ
−〇ピン、１０・・・・・・電源層。 代理人　弁理士　　内　原　　　音

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　回路基板のパターン検査において、Ｉ−Ｏピンを基板
   裏側に有する回路基板のＩ−Ｏピンと表面信号パターン
   との導通チェックをＩ−Ｏピンの信号及び電源ピンを全
   てショートさせて、表面信号パターンと表面電源パッド
   との導通をチェックすることにより行うことを特徴とす
   る導通検査方式。