JPH0322017A - イニシャライズプログラム検証方式 - Google Patents
イニシャライズプログラム検証方式Info
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- JPH0322017A JPH0322017A JP15557889A JP15557889A JPH0322017A JP H0322017 A JPH0322017 A JP H0322017A JP 15557889 A JP15557889 A JP 15557889A JP 15557889 A JP15557889 A JP 15557889A JP H0322017 A JPH0322017 A JP H0322017A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は.磁気ディスクの磁気面をオペレーティング
システムで使用可能にする磁気記録面をフォーマット化
するためのイニシャライズプログラム検証方式に関する
ものである. [従来の技術] 第3図は,従来のイニシャライズシステムの槽或を示す
ブロック図である.図において,(1)は一般的なパソ
コンを使用し,オペレータがプログラムを動作させるた
めの診断支援装置,(2)は.診断支援装置(1)がI
MPLまたはプログラムロード時に使用するフロッピー
ディスク(FDD)装!.(3)はマイコンを搭載して
,マイクロプログラムによりチャネルとのデータの授受
および磁気ディスク装置にデータのリード/ライトを行
う磁気ディスク制御装置.(4)は2320制御部,(
5)は電源投入時にIMPLするためのプログラムが格
納されているROMメモリ,(6)は磁気ディスク制御
装置(3〉のIMPL時にプログラムまたはデータを制
御メモリへ転送するためのブロッピーディスク(FDD
)装置.(7)はマイコン(CPU),(8)はメイン
メモリである制御メモリ.(9)はチャネルや後述する
磁気ディスク装置(10)を制御するチャネルディスク
制御部,(11)は磁気ディスク制御部,(12)は磁
気ディスクである。なお,磁気ディスク装置は磁気ディ
スク制御部(11)および磁気ディスク(12)とから
構戒されている.第4図はイニシャライズプログラムの
m能を示すブロック図である.図において,(8a)は
後述するIFC部(15)で変換したデータを保持する
バッファ( I FWB=I BM − FORMAT
・WRITE−DATA−BUFFER).(8B>は
後述するIFR部(17)で読み出したデータを格納す
るバッファ(I FRB= I BM−FORMAT・
READ−DATA−BUFFER),(12a)およ
び(12b)はそれぞれ磁気ディスク(12)のトラッ
クのキズ情報が記録されている一般的なESDI媒体欠
陥情報トラック(DLL),(DL2),(12c)は
ユーザが使用可能なトラック内の一つのユーザトラック
(UT),(1 3)はESDI媒体欠陥情報トラック
(1 2 a), (1 2 b)の情報をリードする
EFR(ESD I − FORMAT−READ)部
,(14)はEFR部(13)でリードしたデタの正統
性をチェックするEFC (ESD I・FORMAT
.CHECK)部,IFC(IBM−FORMAT −
CONVERTER)部(15)はESDIの媒体欠
陥情報をIBM3350フォーマットに変換する。(1
6)はバッファ(I FWB)(8a)のデータを磁気
ディスク(12)へ書き込むためのI FW(I BM
.FORMAT − WRITE)部である,I F
R(I BM−FORMAT−READ)部(17)は
磁気ディスク(12)へ書き込んだデタを読み返す。(
18〉はIFWB(8a)のデータとIFRB(8b)
の全データを比較する比較器(DC I ),(1 9
)はプログラムの終了を示すEND部である. 第5図は従来のプログラムフローチャートを示す図であ
る. 従来のイニシャライズシステムは上記のように構成され
,オペレータが診断支援装置(1)を操作してイニシャ
ライズプログラムを動作させると,磁気ディスク装置(
10)の磁気ディスク(12)の媒体欠陥情報トラック
(1 2 a>, (1 2 b)よりEFR部(13
)がキズ情報をリードする。キズ情報はEFC部(14
〉でその正統性をチェックした後に,IFC部(15)
でIBMフォーマットに変換し,そのデータをIFWB
(8a)にロードする。次に,磁気ディスク装置(12
)の磁気ディスク(12)の任意のトラックをシークし
て位置決めしたUT(12c)にIFWB(8a)のデ
ータをIFW部(16)を通してライトする.ライトが
完了すると次にIFR部(17〉を通してデータをリー
ドしてIFRB(8b)にデータをロードする.次に,
IFWB(8a)のデータとIFRB(8b)のデータ
とを比較器(DCI)(18)で比較して,不一致がな
ければ1つのトラックのイニシャライズ動作を完了して
END部(19)に出力する。
システムで使用可能にする磁気記録面をフォーマット化
するためのイニシャライズプログラム検証方式に関する
ものである. [従来の技術] 第3図は,従来のイニシャライズシステムの槽或を示す
ブロック図である.図において,(1)は一般的なパソ
コンを使用し,オペレータがプログラムを動作させるた
めの診断支援装置,(2)は.診断支援装置(1)がI
MPLまたはプログラムロード時に使用するフロッピー
ディスク(FDD)装!.(3)はマイコンを搭載して
,マイクロプログラムによりチャネルとのデータの授受
および磁気ディスク装置にデータのリード/ライトを行
う磁気ディスク制御装置.(4)は2320制御部,(
5)は電源投入時にIMPLするためのプログラムが格
納されているROMメモリ,(6)は磁気ディスク制御
装置(3〉のIMPL時にプログラムまたはデータを制
御メモリへ転送するためのブロッピーディスク(FDD
)装置.(7)はマイコン(CPU),(8)はメイン
メモリである制御メモリ.(9)はチャネルや後述する
磁気ディスク装置(10)を制御するチャネルディスク
制御部,(11)は磁気ディスク制御部,(12)は磁
気ディスクである。なお,磁気ディスク装置は磁気ディ
スク制御部(11)および磁気ディスク(12)とから
構戒されている.第4図はイニシャライズプログラムの
m能を示すブロック図である.図において,(8a)は
後述するIFC部(15)で変換したデータを保持する
バッファ( I FWB=I BM − FORMAT
・WRITE−DATA−BUFFER).(8B>は
後述するIFR部(17)で読み出したデータを格納す
るバッファ(I FRB= I BM−FORMAT・
READ−DATA−BUFFER),(12a)およ
び(12b)はそれぞれ磁気ディスク(12)のトラッ
クのキズ情報が記録されている一般的なESDI媒体欠
陥情報トラック(DLL),(DL2),(12c)は
ユーザが使用可能なトラック内の一つのユーザトラック
(UT),(1 3)はESDI媒体欠陥情報トラック
(1 2 a), (1 2 b)の情報をリードする
EFR(ESD I − FORMAT−READ)部
,(14)はEFR部(13)でリードしたデタの正統
性をチェックするEFC (ESD I・FORMAT
.CHECK)部,IFC(IBM−FORMAT −
CONVERTER)部(15)はESDIの媒体欠
陥情報をIBM3350フォーマットに変換する。(1
6)はバッファ(I FWB)(8a)のデータを磁気
ディスク(12)へ書き込むためのI FW(I BM
.FORMAT − WRITE)部である,I F
R(I BM−FORMAT−READ)部(17)は
磁気ディスク(12)へ書き込んだデタを読み返す。(
18〉はIFWB(8a)のデータとIFRB(8b)
の全データを比較する比較器(DC I ),(1 9
)はプログラムの終了を示すEND部である. 第5図は従来のプログラムフローチャートを示す図であ
る. 従来のイニシャライズシステムは上記のように構成され
,オペレータが診断支援装置(1)を操作してイニシャ
ライズプログラムを動作させると,磁気ディスク装置(
10)の磁気ディスク(12)の媒体欠陥情報トラック
(1 2 a>, (1 2 b)よりEFR部(13
)がキズ情報をリードする。キズ情報はEFC部(14
〉でその正統性をチェックした後に,IFC部(15)
でIBMフォーマットに変換し,そのデータをIFWB
(8a)にロードする。次に,磁気ディスク装置(12
)の磁気ディスク(12)の任意のトラックをシークし
て位置決めしたUT(12c)にIFWB(8a)のデ
ータをIFW部(16)を通してライトする.ライトが
完了すると次にIFR部(17〉を通してデータをリー
ドしてIFRB(8b)にデータをロードする.次に,
IFWB(8a)のデータとIFRB(8b)のデータ
とを比較器(DCI)(18)で比較して,不一致がな
ければ1つのトラックのイニシャライズ動作を完了して
END部(19)に出力する。
次に.第5図のフローチャートについて説明する.プロ
グラムを開始(S1)すると,EFR部(13〉で媒体
欠陥情報トラック(1 2 a).(1 2 b)をリ
ードする(S2).次に,EFC部(14)で情報の正
統性をチェックし(S3),正常でないなら異常処理(
S4)へ,正常であれば,IFC部(15)でIBM3
350フォーマットに変換する(S5)。
グラムを開始(S1)すると,EFR部(13〉で媒体
欠陥情報トラック(1 2 a).(1 2 b)をリ
ードする(S2).次に,EFC部(14)で情報の正
統性をチェックし(S3),正常でないなら異常処理(
S4)へ,正常であれば,IFC部(15)でIBM3
350フォーマットに変換する(S5)。
同時に制御メモリ(8)のIFWB(8a)へデータを
ロードする(S6).次に,IFW部(16)で,前記
IFWB(8a)のデータをUT(12C)ヘライトす
る(S 7 ).次にライトしたデータをIFR部(1
7)でリードする(S8)。リードしたデータはIFR
B(8b)ヘロードする(S9)。f&後に比較器(D
CI)(18)にて,IFWB(8a)のデタとIFR
B(8b)のデータを比較して(SIO),不一致なら
異常処理(S4〉へ.一致なら終了(Sl1〉へ進む. [発明が解決しようとする課題] 上記のような従来のイニシャライズプログラム検証方式
では,イニシャライズした後に記録された情報が正しい
か,ホスト計算機へ接続して別途用意された診断プログ
ラムにより検証しなければならないという問題点があっ
た。また,さらにホスト計算機が生産現場に必要になり
費用の増大があるなどの問題点があった。
ロードする(S6).次に,IFW部(16)で,前記
IFWB(8a)のデータをUT(12C)ヘライトす
る(S 7 ).次にライトしたデータをIFR部(1
7)でリードする(S8)。リードしたデータはIFR
B(8b)ヘロードする(S9)。f&後に比較器(D
CI)(18)にて,IFWB(8a)のデタとIFR
B(8b)のデータを比較して(SIO),不一致なら
異常処理(S4〉へ.一致なら終了(Sl1〉へ進む. [発明が解決しようとする課題] 上記のような従来のイニシャライズプログラム検証方式
では,イニシャライズした後に記録された情報が正しい
か,ホスト計算機へ接続して別途用意された診断プログ
ラムにより検証しなければならないという問題点があっ
た。また,さらにホスト計算機が生産現場に必要になり
費用の増大があるなどの問題点があった。
この発明は,かかる問題点を解決するためになされたも
ので,ホスト計算機を使用しないでかつ従来の設備でプ
ログラムの検証まで行うイニシャライズプログラム検証
方式を得ることを目的とする. [課題を解決するための手段] この発明に係るイニシャライズプログラム検証方式は,
磁気ディスク装置のイニシャライズシステムにおいて,
イニシャライズ動作モードとイニシャライズプログラム
検証動作モードとを切換えるための動作モード切換手段
とを設け,前記動作モード切換手段によりイニシャライ
ズ動作とイニシャライズプログラム検証動作を行うよう
にしたものである。
ので,ホスト計算機を使用しないでかつ従来の設備でプ
ログラムの検証まで行うイニシャライズプログラム検証
方式を得ることを目的とする. [課題を解決するための手段] この発明に係るイニシャライズプログラム検証方式は,
磁気ディスク装置のイニシャライズシステムにおいて,
イニシャライズ動作モードとイニシャライズプログラム
検証動作モードとを切換えるための動作モード切換手段
とを設け,前記動作モード切換手段によりイニシャライ
ズ動作とイニシャライズプログラム検証動作を行うよう
にしたものである。
[作用]
この発明においては,動作モード切換スイッチは.イニ
シャライズ動作またはイニシャライズプログラム検証動
作のどちらのモードでも任意に設定可能である. [実施例] 第1図はこの発明の一実施例によるイニシャライズシス
テムの構戒を示すプロ・ソク図である.図において.
(8 a>. (8 b), (1 2)〜(1 9)
は従来のものと同様である.(8c)はプログラム検証
時に使用するテストソースデータを格納するTEST
− DATA − BUFFER(TSDB)で,磁気
ディスク装置(10〉の磁気ディスク(12)の媒体欠
陥情報トラック(D L L )(1 2 a>,(D
L 2)(12b)の情報と同一のフォーマットでキ
ズ情報を任意に設定したデータを格納する。(8d〉は
TEST−DATA.BtJFFER(TEDB)で,
プログラム検証用のIBMフォーマット期待データでT
SDB(8C)のデータが正し<IBMフォーマットに
変換されたと同じデータを格納する.(20)はデータ
の正統性をチェックする第2の比較器(DC2).(2
1)および(22)は第1および第2の動作モード切
換スイッチで,イニシャライズ動作モードとイニシャラ
イズプログラム検証動作モードを切換え,通常連動して
動作する.第2図はこの発明の動作フローチャートを示
す図である。
シャライズ動作またはイニシャライズプログラム検証動
作のどちらのモードでも任意に設定可能である. [実施例] 第1図はこの発明の一実施例によるイニシャライズシス
テムの構戒を示すプロ・ソク図である.図において.
(8 a>. (8 b), (1 2)〜(1 9)
は従来のものと同様である.(8c)はプログラム検証
時に使用するテストソースデータを格納するTEST
− DATA − BUFFER(TSDB)で,磁気
ディスク装置(10〉の磁気ディスク(12)の媒体欠
陥情報トラック(D L L )(1 2 a>,(D
L 2)(12b)の情報と同一のフォーマットでキ
ズ情報を任意に設定したデータを格納する。(8d〉は
TEST−DATA.BtJFFER(TEDB)で,
プログラム検証用のIBMフォーマット期待データでT
SDB(8C)のデータが正し<IBMフォーマットに
変換されたと同じデータを格納する.(20)はデータ
の正統性をチェックする第2の比較器(DC2).(2
1)および(22)は第1および第2の動作モード切
換スイッチで,イニシャライズ動作モードとイニシャラ
イズプログラム検証動作モードを切換え,通常連動して
動作する.第2図はこの発明の動作フローチャートを示
す図である。
上記のように横或されたイニシャライズプログラム検証
方式において,第1および第2の動作モード切換スイッ
チ(21),(22)をイニシャライズ側,すなわち接
点(21a)と接点(21c)および接点(22a)と
接点(2 2 c )が接続された状態では従来通り動
作する.一方,プログラム検証モード側,すなわち接点
(21a)と接点(21b)および接点(22a)と接
点(22b)が接続された状態では.プログラムが動作
を開始すると,TSDB(8c)をリードする.リード
されたデータは第1の動作モード切換スイッチ(2l〉
の接点(2lb)と接点(21c)を通りEPC部(1
4)へ入りTSDB(8c)のデータチェックがなされ
る.次に,IFC部(l5〉でIBMフォーマットに変
換されて,IFWB(8a)にロードされる.次に,I
FWB(8a)のデータをIFW部(16)により磁気
ディスク(12)の目的トラックをシークした後にUT
(12C)にデータをライトする.次に,UT(12c
)よりIFR部(17)によりデータがリードされる.
次に,第1の比較器(DCI)(18)でIFWB(8
a)のデータとIFRB(8b)のデタを比較する.次
に.第2の比較器(D C 2 >(20)でTEDB
(8d)のプログラム検証用期待データとIFRB(8
b)のリードデータを比較する.一致するとEND部(
19〉に出力し,終了する。
方式において,第1および第2の動作モード切換スイッ
チ(21),(22)をイニシャライズ側,すなわち接
点(21a)と接点(21c)および接点(22a)と
接点(2 2 c )が接続された状態では従来通り動
作する.一方,プログラム検証モード側,すなわち接点
(21a)と接点(21b)および接点(22a)と接
点(22b)が接続された状態では.プログラムが動作
を開始すると,TSDB(8c)をリードする.リード
されたデータは第1の動作モード切換スイッチ(2l〉
の接点(2lb)と接点(21c)を通りEPC部(1
4)へ入りTSDB(8c)のデータチェックがなされ
る.次に,IFC部(l5〉でIBMフォーマットに変
換されて,IFWB(8a)にロードされる.次に,I
FWB(8a)のデータをIFW部(16)により磁気
ディスク(12)の目的トラックをシークした後にUT
(12C)にデータをライトする.次に,UT(12c
)よりIFR部(17)によりデータがリードされる.
次に,第1の比較器(DCI)(18)でIFWB(8
a)のデータとIFRB(8b)のデタを比較する.次
に.第2の比較器(D C 2 >(20)でTEDB
(8d)のプログラム検証用期待データとIFRB(8
b)のリードデータを比較する.一致するとEND部(
19〉に出力し,終了する。
次に,第2図のフローチャートについて説明する.プロ
グラムを開始(S1)すると,制御メモリ(8A)のT
SDR(8C)から検証用媒体欠陥情報をリードする(
313)。次に,EFC部(14)にて情報の正統性を
チェックする(S3).以後.従来と同じシーケンスを
実行する.最後の第1の比較器(DCI)(19)でI
FWB(8a)のデータとIFRB(8b)のデータを
比較する(SIO)が一致すると,次に,TEDB(8
d)のデータとIFRB(8b)のデータとを比較して
,不一致ならば異常処理(S4)へ正常なら終了(Sl
l)へ進む.なお.上記実施例では磁気ディスク制御装
置について説明したが.他のI/O制御装置でも同様な
効果を奏する. また.上記実施例の動作モード切換スイッチをプログラ
ムスイッチとしても同様な効果を奏する. [発明の効果] この発明は以上説明したとおり,イニシャライズ動作モ
ードとイニシャライズプログラム検証動作モードを切換
えるための動作モード切換手段を設けたので,イニシャ
ライズ動作とイニシャライズプログラム検証動作を同一
のプログラムで可能としたので,プログラム検証設備を
新たに設ける必要もなく,また磁気ディスク装置も必要
なく,プログラムの改修など発生した場合に容易にプロ
グラム検証できるなどの効果がある.
グラムを開始(S1)すると,制御メモリ(8A)のT
SDR(8C)から検証用媒体欠陥情報をリードする(
313)。次に,EFC部(14)にて情報の正統性を
チェックする(S3).以後.従来と同じシーケンスを
実行する.最後の第1の比較器(DCI)(19)でI
FWB(8a)のデータとIFRB(8b)のデータを
比較する(SIO)が一致すると,次に,TEDB(8
d)のデータとIFRB(8b)のデータとを比較して
,不一致ならば異常処理(S4)へ正常なら終了(Sl
l)へ進む.なお.上記実施例では磁気ディスク制御装
置について説明したが.他のI/O制御装置でも同様な
効果を奏する. また.上記実施例の動作モード切換スイッチをプログラ
ムスイッチとしても同様な効果を奏する. [発明の効果] この発明は以上説明したとおり,イニシャライズ動作モ
ードとイニシャライズプログラム検証動作モードを切換
えるための動作モード切換手段を設けたので,イニシャ
ライズ動作とイニシャライズプログラム検証動作を同一
のプログラムで可能としたので,プログラム検証設備を
新たに設ける必要もなく,また磁気ディスク装置も必要
なく,プログラムの改修など発生した場合に容易にプロ
グラム検証できるなどの効果がある.
第1図はこの発明のの一実施例によるイニシャライズシ
ステムの構戒ブロック図,第2図はこの発明の動作フロ
ーチャート図,第3図は従来のイニシャライズシステム
の概略図,第4図は従来のイニシャライズプログラムの
機能図,第5図は従来の動作フローチャート図である. 図において,(12)・・・磁気ディスク,(8A)・
・・制御メモリ,(21)・・・第1の動作モードスイ
ッチ,(22)・・・第2の動作モードスイッチである
. なお,各図中同一符号は同一又は相当部分を示す. 昂2図 昂5図
ステムの構戒ブロック図,第2図はこの発明の動作フロ
ーチャート図,第3図は従来のイニシャライズシステム
の概略図,第4図は従来のイニシャライズプログラムの
機能図,第5図は従来の動作フローチャート図である. 図において,(12)・・・磁気ディスク,(8A)・
・・制御メモリ,(21)・・・第1の動作モードスイ
ッチ,(22)・・・第2の動作モードスイッチである
. なお,各図中同一符号は同一又は相当部分を示す. 昂2図 昂5図
Claims (1)
- 磁気ディスク装置のイニシャライズシステムにおいて、
イニシャライズモードとイニシャライズプログラム検証
モードを切換えるための動作モード切換手段とを設け、
前記動作モード切換手段によりイニシャライズ動作およ
びプログラム検証動作を行うようにしたことを特徴とす
るイニシャライズプログラム検証方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15557889A JPH0322017A (ja) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | イニシャライズプログラム検証方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15557889A JPH0322017A (ja) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | イニシャライズプログラム検証方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0322017A true JPH0322017A (ja) | 1991-01-30 |
Family
ID=15609111
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15557889A Pending JPH0322017A (ja) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | イニシャライズプログラム検証方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0322017A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7414358B2 (en) | 2001-11-14 | 2008-08-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Fluorescent lamp and manufacturing method for arc tube |
-
1989
- 1989-06-20 JP JP15557889A patent/JPH0322017A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7414358B2 (en) | 2001-11-14 | 2008-08-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Fluorescent lamp and manufacturing method for arc tube |
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