JPH03224232A - 半導体集積回路装置 - Google Patents
半導体集積回路装置Info
- Publication number
- JPH03224232A JPH03224232A JP1956590A JP1956590A JPH03224232A JP H03224232 A JPH03224232 A JP H03224232A JP 1956590 A JP1956590 A JP 1956590A JP 1956590 A JP1956590 A JP 1956590A JP H03224232 A JPH03224232 A JP H03224232A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring
- potential
- semiconductor integrated
- wirings
- integrated circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 13
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は、半導体集積回路装置に関し、さらに詳しく言
えば、電気的シールドにより、アナログ信号の電位レベ
ルを安定化させた半導体集積回路装置に関する。
えば、電気的シールドにより、アナログ信号の電位レベ
ルを安定化させた半導体集積回路装置に関する。
(ロ)従来の技術
近年、半導体集積回路は、大規模化、高集積化が進み配
線本数の増加、配線間距離の短縮という方向にある。
線本数の増加、配線間距離の短縮という方向にある。
このため、互いに隣接する平行配線間に存在する分布容
量が増大し、隣接する配線の電位変化の影響が大きくな
る傾向にある。
量が増大し、隣接する配線の電位変化の影響が大きくな
る傾向にある。
この場合、デジタル信号配線においては、通常のデジタ
ル回路の耐ノイズ性が比較的大きい為、このような電位
変化の影響により、誤動作することは稀である。
ル回路の耐ノイズ性が比較的大きい為、このような電位
変化の影響により、誤動作することは稀である。
しかしながら、デジタル信号配線とアナログ信号配線と
が隣接している平行配線においては、このような電位変
化が直接例えばA/Dコンバータ又はD/Aコンバータ
の変換精度を悪化させるという問題があり、これを避け
るためには配線間の距離を変換精度を悪化させない程度
まで広げるか、又は平行配線を回避するパターンレイア
ウト上の工夫をしなければならなかった。
が隣接している平行配線においては、このような電位変
化が直接例えばA/Dコンバータ又はD/Aコンバータ
の変換精度を悪化させるという問題があり、これを避け
るためには配線間の距離を変換精度を悪化させない程度
まで広げるか、又は平行配線を回避するパターンレイア
ウト上の工夫をしなければならなかった。
第5図は、従来例に係るA/Dコンバータの回路図であ
り、 第4図は、第5図の回路における第1の配線(1)、第
2の配線(2)を含む断面図である。
り、 第4図は、第5図の回路における第1の配線(1)、第
2の配線(2)を含む断面図である。
図において、デジタル信号用の第1の配線(1)と、ア
ナログ信号用の第2の配線(2)とから成る平行配線が
形成され、第2の配線(2)はゲートにサンプルホール
ド用の信号φが入力されたPチャンネルトランジスタT
を介して比較器の一方の入力端子に接続され、基準電圧
V refが前記比較器の他方の入力端子に入力されて
いる。
ナログ信号用の第2の配線(2)とから成る平行配線が
形成され、第2の配線(2)はゲートにサンプルホール
ド用の信号φが入力されたPチャンネルトランジスタT
を介して比較器の一方の入力端子に接続され、基準電圧
V refが前記比較器の他方の入力端子に入力されて
いる。
容量C1及び容量C3は第1の配線(1)及び第2の配
線(2〉と半導体基板間の容量である。
線(2〉と半導体基板間の容量である。
第1の配線(1)と第2の配線(2)との間には容量C
3が形成されている。
3が形成されている。
第6図は第5図の回路の動作例を示したタイミングチャ
ートである。サンプルホールド用の信号φがロウレベル
の時、PチャンネルトランジスタTはオンし、その結果
第2の配線(2)においてアナログ信号が比較器の一方
の入力端子に伝達され、アナログ1圧Vに達する。
ートである。サンプルホールド用の信号φがロウレベル
の時、PチャンネルトランジスタTはオンし、その結果
第2の配線(2)においてアナログ信号が比較器の一方
の入力端子に伝達され、アナログ1圧Vに達する。
次に、信号≠がハイレベルの時、Pチャンネルトランジ
スタTはオフし、その結果前記アナログ電圧Vがホール
ドされる。
スタTはオフし、その結果前記アナログ電圧Vがホール
ドされる。
この時、第1の配線(1)がロウレベルからハイレベル
に変化した場合、配線間容量C1の影響で第2の配線(
2)ノミ位はΔV l= C1/ (CI+ Ct+
c s ) x v oだけ増加する。
に変化した場合、配線間容量C1の影響で第2の配線(
2)ノミ位はΔV l= C1/ (CI+ Ct+
c s ) x v oだけ増加する。
ここで、■、は第1の配線(1)の電位変化である。
この容量CIが大きいと、ΔV、の値が大きくなり、基
準電圧V refとの比較において、Δ■1の誤差が生
ずるのでA/D変換の誤差が大きくなってしまう。
準電圧V refとの比較において、Δ■1の誤差が生
ずるのでA/D変換の誤差が大きくなってしまう。
(ハ)発明が解決しようとする課題
従来の半導体集積回路装置においては、デジタル信号配
線とアナログ信号配線とが隣接している平行配線間の容
量によりアナログ信号が変化し、例えばA/Dコンバー
タの変換精度の悪化を招く。
線とアナログ信号配線とが隣接している平行配線間の容
量によりアナログ信号が変化し、例えばA/Dコンバー
タの変換精度の悪化を招く。
したがって、変換精度の悪化を避けるためには、配線間
の距離を広げなければならず、配線面積が増加するとい
う欠点がある。
の距離を広げなければならず、配線面積が増加するとい
う欠点がある。
また、パターンレイアウト上で平行配線を回避すること
は、パターンレイアウトの自由度を小さくし、かつ自動
配置配線上の制約になるという欠点がある。
は、パターンレイアウトの自由度を小さくし、かつ自動
配置配線上の制約になるという欠点がある。
本発明は、前述の課題に鑑みて創作されたものであり、
配線面積を増加させることなく、パターンレイアウトの
自由度を小きくすることなく、かつアナログ信号の電位
レベルを安定化させた半導体集積回路装置を提供するこ
とを目的とする。
配線面積を増加させることなく、パターンレイアウトの
自由度を小きくすることなく、かつアナログ信号の電位
レベルを安定化させた半導体集積回路装置を提供するこ
とを目的とする。
(ニ)課題を解決するための手段
本発明の半導体集積回路装置は、デジタル信号用の第1
の配線とアナログ信号用の第2の配線とからなる平行配
線と、前記平行配線間に絶縁膜を介して形成され、かつ
一定の電位に固定された電気的シールド用の第3の配線
とを具備することを特徴とする。
の配線とアナログ信号用の第2の配線とからなる平行配
線と、前記平行配線間に絶縁膜を介して形成され、かつ
一定の電位に固定された電気的シールド用の第3の配線
とを具備することを特徴とする。
(*〉作用
本発明は、前述のように平行配線間に絶縁膜を介して形
成され、かつ一定の電位に固定された第3の配線のシー
ルド効果により、前記第3の配線の無い場合に比較して
配線間容量を非常に小さくできるので、デジタル信号の
電位変化の影響を小さくし、アナログ信号の電位レベル
を安定化することができる。
成され、かつ一定の電位に固定された第3の配線のシー
ルド効果により、前記第3の配線の無い場合に比較して
配線間容量を非常に小さくできるので、デジタル信号の
電位変化の影響を小さくし、アナログ信号の電位レベル
を安定化することができる。
(へ)実施例
以下、本発明に係る一実施例を第1図乃至第3図を参照
して説明する。
して説明する。
第1図は、本発明の一実施例の断面図であり、アルミニ
ウムより成るデジタル信号用の第1の配線(11)と、
アルミニウムより成るアナログ信号用の第2の配線(1
2)とが平行配線を形成している。
ウムより成るデジタル信号用の第1の配線(11)と、
アルミニウムより成るアナログ信号用の第2の配線(1
2)とが平行配線を形成している。
平行配線間には、一定電位に固定され、アルミニウムよ
り成る第3の配線(13)が絶縁膜(14)を介して配
置されている。
り成る第3の配線(13)が絶縁膜(14)を介して配
置されている。
第2図は、本発明に係るA/Dコンバータ回路の回路図
である0図においては、第3の配線(13)は接地電位
に接続されているが、電源電位に接続されてもよい。
である0図においては、第3の配線(13)は接地電位
に接続されているが、電源電位に接続されてもよい。
このような構成によれば、第3の配線(13)のシール
ド効果により、配線間容量を非常に小さくできる。
ド効果により、配線間容量を非常に小さくできる。
第3図は、第2図の回路の動作例を示すタイミングチャ
ートである。
ートである。
サンプルホールド用の信号iがロウレベルの時、Pチャ
ンネルトランジスタTはオンし、その結果第2の配線(
12)においてアナログ信号が比較器の一方の入力端子
に伝達され、アナログ1圧■に達する。
ンネルトランジスタTはオンし、その結果第2の配線(
12)においてアナログ信号が比較器の一方の入力端子
に伝達され、アナログ1圧■に達する。
次に、信号≠がハイレベルの時、Pfヤンネルトランジ
スタTはオフし、その結果前記アナログ電圧■がホール
ドされる。
スタTはオフし、その結果前記アナログ電圧■がホール
ドされる。
この時、第1の配線(11)がロウレベルから71イレ
ベルに変化した場合、第2の配線(12)の電位Vは配
線間容量C4により影響を受けるがC6は前述のC1に
比べて非常に小さいため、第2の配線(12)の電位の
変化ΔV、は、Δv1に比べて非常に小さい。従って、
アナログ電圧レベルVの安定度が良くなり、A/D変換
精度を向上することが可能である。
ベルに変化した場合、第2の配線(12)の電位Vは配
線間容量C4により影響を受けるがC6は前述のC1に
比べて非常に小さいため、第2の配線(12)の電位の
変化ΔV、は、Δv1に比べて非常に小さい。従って、
アナログ電圧レベルVの安定度が良くなり、A/D変換
精度を向上することが可能である。
(ト)発明の効果
以上に説明したように、本発明によればデジタル信号配
線とアナログ信号配線とから成る平行配線間の容量を従
来に比べて非常に小さくできるので、アナログ信号の電
位レベルを安定化した半導体集積回路を製造することが
できる。
線とアナログ信号配線とから成る平行配線間の容量を従
来に比べて非常に小さくできるので、アナログ信号の電
位レベルを安定化した半導体集積回路を製造することが
できる。
第1図は、本発明に係る一実施例の断面図、第2図は、
本発明に係るA/Dコンバータ回路の回路図、 第3図は、第2図の回路の動作例を示すタイミングチャ
ート、 第4図は、従来例に係る断面図、 第5図は、従来例に係るA/Dコンバータ回路の回路図
、 第6図は、 第5図の回路の動作例を示すタイ ングチヤードである。
本発明に係るA/Dコンバータ回路の回路図、 第3図は、第2図の回路の動作例を示すタイミングチャ
ート、 第4図は、従来例に係る断面図、 第5図は、従来例に係るA/Dコンバータ回路の回路図
、 第6図は、 第5図の回路の動作例を示すタイ ングチヤードである。
Claims (3)
- (1)デジタル信号用の第1の配線と、アナログ信号用
の第2の配線とから成る平行配線を有する半導体集積回
路装置において、前記平行配線間に絶縁膜を介して形成
され、かつ一定の電位に固定された電気的シールド用の
第3の配線とを有することを特徴とする半導体集積回路
装置。 - (2)前記第3の配線は、電源電位又は接地電位が印加
され、一定の電位に固定されていることを特徴とする請
求項第1項記載の半導体集積回路装置。 - (3)前記第1、第2及び第3の配線は、同一層のアル
ミニウム層又はアルミニウム合金層により形成されて成
ることを特徴とする請求項第1項又は請求項第2項記載
の半導体集積回路装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1956590A JPH03224232A (ja) | 1990-01-30 | 1990-01-30 | 半導体集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1956590A JPH03224232A (ja) | 1990-01-30 | 1990-01-30 | 半導体集積回路装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03224232A true JPH03224232A (ja) | 1991-10-03 |
Family
ID=12002819
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1956590A Pending JPH03224232A (ja) | 1990-01-30 | 1990-01-30 | 半導体集積回路装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03224232A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03238823A (ja) * | 1990-02-15 | 1991-10-24 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
| US5585664A (en) * | 1993-12-28 | 1996-12-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor integrated circuit device |
-
1990
- 1990-01-30 JP JP1956590A patent/JPH03224232A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03238823A (ja) * | 1990-02-15 | 1991-10-24 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
| US5585664A (en) * | 1993-12-28 | 1996-12-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor integrated circuit device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3372923B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPS59186410A (ja) | 帰還型増幅器 | |
| US6549029B1 (en) | Circuit and method for measuring capacitance | |
| JPH03224232A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JP3267479B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JP2001144091A (ja) | 半導体集積回路 | |
| US6919614B2 (en) | Circuit with an integrated voltage regulator and its manufacturing process | |
| JPH03224233A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JPH0547943A (ja) | 半導体集積装置 | |
| US6818953B2 (en) | Protection of an integrated circuit against electrostatic discharges and other overvoltages | |
| JP2006121377A (ja) | 入力回路及び半導体装置 | |
| KR920008420B1 (ko) | 반도체장치 | |
| JPH10326868A (ja) | 半導体装置 | |
| JPS5899033A (ja) | 集積回路装置 | |
| JPH09321595A (ja) | スイッチ回路及びこれを用いたad変換回路 | |
| JPH0669080B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| US6268757B1 (en) | Semiconductor device having capacitor that reduce fluctuation of power supply | |
| KR20020047212A (ko) | 전자 디바이스의 파라미터 측정 방법 및 장치 | |
| JP3099814B2 (ja) | 半導体集積回路装置および基準電圧配線のレイアウト方法 | |
| JPH0265238A (ja) | 半導体集積装置 | |
| JPS6390842A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH0465988B2 (ja) | ||
| JPH09246476A (ja) | 半導体集積回路の電源線及びそのレイアウト方法 | |
| JPH0982885A (ja) | 半導体装置 | |
| JPH02264432A (ja) | 半導体装置 |