JPH0322942B2 - - Google Patents

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JPH0322942B2
JPH0322942B2 JP58060123A JP6012383A JPH0322942B2 JP H0322942 B2 JPH0322942 B2 JP H0322942B2 JP 58060123 A JP58060123 A JP 58060123A JP 6012383 A JP6012383 A JP 6012383A JP H0322942 B2 JPH0322942 B2 JP H0322942B2
Authority
JP
Japan
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signal
capacitance
carton
glue
circuit
Prior art date
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Application number
JP58060123A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS59184850A (ja
Inventor
Tsuyoshi Naito
Hiroshi Sanada
Jiro Arima
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toppan Printing Co Ltd filed Critical Toppan Printing Co Ltd
Priority to JP58060123A priority Critical patent/JPS59184850A/ja
Publication of JPS59184850A publication Critical patent/JPS59184850A/ja
Publication of JPH0322942B2 publication Critical patent/JPH0322942B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/60Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrostatic variables, e.g. electrographic flaw testing

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Making Paper Articles (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はカートン製函工程に於いて、カートン
に接着用の糊が好ましい状態で付いているか否か
を検査する糊付着状態検査装置に関するものであ
る。
従来、カートンに糊が好ましい状態で付いてい
るか否かを(換言すれば、糊切れや、糊カスレ、
付き過ぎを起していないかを)検査する装置に
は、好ましい装置がなく、例えば、糊に着色剤を
混合して、その糊を電気光学的に検査する装置が
市販されているけれども、実用上充分に正確かつ
確実な検査ができるものではなかつた。
本発明はこれらの事情にかんがみなされたもの
であつて、特に糊量を静電的に検査することによ
り、カートンに糊が好ましく付いているか否かを
正確、確実に検査し得るものである。
以下−実施例により本発明を詳細に説明する。
第1,2及び3図に本発明に用いられる検査ヘツ
ド10を示す。同図に於いて1は糊3が好ましく
付着しているか否かが検査される被検査体たるカ
ートンであつて、このカートン1の糊代2には糊
3が運搬方向5に沿つて付着されている。
検査ヘツド10には対向する二枚の基盤11,
11を有し、この基盤11,11間をカートン1
の糊代2部分が、図示されていないが所謂サツク
貼機の運搬機構によつて矢印5の方向に運搬さ
れ、その際、カートン1の糊付着状態が検査され
る。それぞれの基盤11,11の両側には、静電
容量を検出するための極板13,13,13,1
3が平行に形成されており、この極板13により
基盤11,11間を運搬されるカートン1の静電
容量を検出する。又、基盤11の両側には発光器
及びフオトセンサー14,14が付いており、こ
のフオトセンサー14からの信号により、カート
ン1が基盤11,11間に存在することを示すタ
イミング信号72(以下第5,6図参照)を得
る。基盤11の外側には、金属板よりなるシール
ド板17,17,17が間隔18を隔てかつ3方
を囲む如く取付けられており、このシールド板1
7によつてカートン1の静電容量測定エリヤをシ
ールド板の内側の基盤11,11間のみとし、カ
ートン1のバタつき及び運搬用のベルト、カート
ン1の静電気等による誤動作を防止する。シール
ド板17の間隔18を変化することにより大型、
小型等種々の形状のカートン1に対して本装置を
使用可能としている。
なお、理解しやすくするため第1,2,3図に
於いては、シールド板17は取除かれた状態で示
されており、取付けられた状態は一点破線で示さ
れている。又、糊は実際には、第2図に示される
如くカートン1の下面に付着されているが、第1
図では上面に付着された如く描かれている。
上側の基盤11はヒンジ19を介して開閉自在
に取付けられ、これにより基盤11間に紙粉、飛
散糊が付着した場合基盤11を開いて容易に清掃
可能としている。
次に本装置の検査回路について説明する。第4
図に示す如く前記基盤11,11に設けられたフ
オトセンサー14,14からの信号はタイミング
信号発生回路50に入力され、このタイミング信
号発生回路50で、両側のフオトセンサー14,
14がいづれもカートン1を検知しているときハ
イレベル、少なくとも一方のフオトセンサー14
がカートン1を検知していないときはローレベル
となるタイミング信号72(第5図A参照)を発
生する。即ち、一つづきのハイレベルの区間72
Hは一枚のカートンに相当する。
このタイミング信号72は基準レベル検出回路
34、比較信号発生回路B44、アンドゲート回
路52、カウンター54、シフトレジスタ60へ
入力される。
一方検査ヘツド10の極板13,13,13,
13を用いて静電容量センサー20により検査ヘ
ツド10内の静電容量を検出するための信号を発
生させる。この際マツチングトリマー22を用い
て静電容量の検出レベルの補正を行なう。即ち、
多品種のカートン1を検査可能とするためには、
その品種毎に異なる糊量及びカートン厚により変
化する静電容量検出レベルを統一する必要があ
り、そこでその各条件に合うようにマツチングト
リマー22によつて静電容量の検出レベルの補正
を行なう。
この静電容量センサー20からの信号に基づ
き、次の静電容量発生回路24で振幅変調された
静電容量信号を出力する。この静電容量発生回路
24で得られた信号は振幅変調された信号である
ので次段の増幅回路26で増幅を行なつた後次段
の整流回路28で全波整流を行ない、さらに次段
のサンプルホールド回路30でそのピーク値をサ
ンプルホールドすることにより基盤11,11間
の静電容量に対応したアナログ信号である静電容
量信号74(第5図B参照)を得る。
得られた静電容量信号74は比較回路A32、
基準レベル検出回路34及び比較回路B42へ入
力される。
ここで、本検査装置の検査構成を説明する。第
6図Aに前記タイミング信号72を示し、第6図
B,C,D,Eにそれぞれ正常、糊切れ、糊カス
レ、糊の付き過ぎの場合の静電容量信号74を示
す。
糊切れを検査判定するには図に示す如く、糊切
れを起している部分はハイレベル部分74Hとし
て現れるので、糊の付着面の基準値Vを得てこの
値Vに基づいて計算された比較信号と静電容量信
号74とを比較して静電容量信号74が比較信号
以下であるか否かを判断することにより判定する
ことができる。
糊カスレの場合は同図に示す如く全体に低いレ
ベルとなるので、一定の設定レベルの比較信号B
82と静電容量信号74とを比較し、静電容量信
号が比較信号以上であるか否かを判断することに
より判定することができる。
糊の付き過ぎの場合は全体に高いレベルとなる
ので、一定の設定レベルの比較信号を得、この比
較信号と静電容量信号74とを比較し静電容量信
号が比較信号以下であるか否かを判断することに
より判定できる。
この実施例では、糊切れの検査に用いる比較信
号及び糊の付き過ぎの検査に用いる比較信号とし
て、後述の如く糊の付着面の基準値Vを順次計測
し、K×V+S(但しKは1未満の係数、Sは定
数)なる比較信号A78(即ち、ほぼ一定値では
あるが、順次変化する糊の付着面の基準値Vに少
しの割合で追従する比較信号A78)を用いるこ
とにより、一つの回路で二つの検査を正確に行な
うことができるように構成され、合わせて検査ミ
スをより少くしている。
基準レベル検出回路34は、カートン1の糊が
付着している部分の基準レベルを設定するもので
ある。この基準レベルの値Vの設定に当つて同一
カートンの検査を行なう場合であつてもカートン
に付着した糊量が順次変化するので、本実施例で
は前述の如くその変化に基準レベルを追従させる
ことによつて検査を正確なものとしている。即
ち、この実施例では、前述のタイミング信号72
の立上り72Tに於いて静電容量信号74の値を
サンプリングし、このサンプリング値を次の立上
り72Tがくるまでの間ホールドすることにより
糊付着面基準信号76(第5図C参照)を得てい
る。この糊付着面基準的信号76はそのときの糊
付着部分の基準レベルの値Vに対応する。
この基準レベル検出回路34で得られた糊付着
面基準信号76を次段の比較信号発生回路A36
に入力し、この比較信号発生回路A36で糊付着
面基準信号76に1未満の係数Kを掛け合わせた
のちある一定のレベルS高い方向にシフトする。
この係数K及びシフトするレベルSは、外部設定
器A38により調整可能となつている。この係数
K及びシフトレベルSを調整することにより、検
査感度を調整し、これにより良好なカートンまで
付着不良と判定してしまつたり、逆に不良カート
ンを良品と判定する等の検査ミスを防止する。
この比較信号発生回路A36で得られたところ
の係数が掛けられ且つシフトされた糊付着面基準
信号76即ち比較信号A78は比較回路A32へ
入力され前記の静電容量信号74と比較され(第
5図E参照)、静電容量信号74が比較信号A7
8よりハイレベルである場合(糊切れ又は付き過
ぎの場合は)はハイレベル、逆にローレベルの場
合は0レベルのパルス信号である判定信号A80
(第5図F参照)が比較回路A32から入力され
るように構成されている。
この比較回路A32から出力された判定信号A
80は出力回路48へ入力される。
一方比較信号発生回路B44に於いて、カート
ン1の糊の付着していない面の基準値よりやや高
いレベルの比較信号B82を発生させる。即ちレ
ベル値Lがカートンの糊の付いていない部分の基
準レベルとすれば、それよりやや高い値の区間8
2Hを有する信号を発生させる。この区間82H
の高さは外部設定器B46により調節可能となつ
ている。この実施例ではタイミング信号72を比
較信号発生回路B44に入力し、この比較信号発
生回路B44に於いてタイミング信号72をシフ
トすることにより比較信号B82(第5図G参
照)を発生させる。この比較信号B82の高さを
外部設定器B46により調節することにより検査
感度を調節し、検査ミスを防止する。
この比較信号B82は比較回路B42へ入力さ
れ、静電容量信号74と比較され(第5図H参
照)て糊カスレか否かの比較判定を行なう。即
ち、静電容量信号74が比較信号B82より低く
なる場合8(糊カスレである場合)ハイレベル、
そうでない場合はOレベルの判定信号B84(第
5図I参照)を出力する。
判定信号A80と判定信号B84は出力回路4
8へ入力され、この出力回路48で理論和を得、
得られた信号はアンドゲート回路52へ入力され
る。アンドゲート回路52に於いて、タイミング
信号72がハイレベルであつてなおかつ出力回路
48からの信号がハイレベルのとき(換言すれば
カートン1が基盤11間にあるときに判定信号A
80又は判定信号B84にハイレベル部分があつ
たとき)ハイレベル、少なくとも一方がローレベ
ルのときローレベルとなる検査信号86を発生す
る。即ちこの検査信号86のハイレベル部分86
Hのパルスは糊付着不良部分に相当する。
この検査信号86は一つはカウンター54へ入
力される。カウンター54にはタイミング信号7
2も入力される。そしてこのカウンター54に於
いて、タイミング信号72がハイレベルである1
つの区間に検査信号86のハイレベル部分86H
が存在するとき1枚の糊付着不良カートンと計数
し、そのような糊付着不良カートンの連続が連続
不良枚数設定器56に設定された枚数と一致した
とき、警報器A58へ信号を送り作業者に赤ラン
プ及びブザーで警報を発する。
さらに検査信号86及びタイミング信号72は
シフトレジスタ60へ入力され、このシフトレジ
スタ60に於いてタイミング信号72がハイレベ
ルである1つの区間に検査信号86のハイレベル
部分86Hが存在するとき1枚の糊付着不良カー
トンと計数し、その1枚分の糊付着不良カートン
を示す信号が来る毎にシフトされ、その値が不良
枚数設定器62に設定された枚数と一致したとき
(換言すれば、検査を開始してからの糊付着不良
カートンの枚数が設定された枚数となつたとき)、
警報器B64へ信号を送り作業者に赤ランプ及び
ブザーで警報を発する。
このようにして付着不良カートンが連続的に或
る設定枚数生じた場合、及び検査開始からの付着
不良カートン枚数が或る設定枚数となつたときに
作業者に赤ランプ及びブザーで警報を発する。
本発明は以上の如き構成であるから下記に示す
如き優れた実用上の効果を有する。
即ち本発明に於いては、糊の付着面を静電気的
に検知するので、ヘツド内に存在する糊量を正確
に測定することが出来、従来の着色した糊を電気
光学的に検査するのに比較して、第1にカートン
の運搬位置が左右にズレても測定不良を起すこと
がなく、第2に種々の形状、大きさのカートンに
対して検査前の調整が極めて容易であり、第3に
糊の厚さに影響されずに糊の量を正確かつ確実に
計測して糊付着不良カートンを検査ミスなく判別
検査し得る。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の一実施例を示すものであつて、
第1図はセンサーヘツドの平面図、第2図は同側
面図、第3図は同正面図であり、第4図は本検査
装置のブロツク図、第5図は検査の過程を示す信
号図であつてAはタイミング信号、Bは静電容量
信号、Cは糊付着面基準信号、Dは比較信号A、
Eは静電容量信号と比較信号Aの比較を表し、F
は判定信号A、Gは比較信号B、Hは静電容量信
号と比較信号Bの比較を表し、Iは判定信号B、
Jは検査信号をそれぞれ示し、第6図はカートン
の糊付着状態の種々の場合を示し、Aはタイミン
グ信号、Bは正常、Cは糊切れ、Dは糊カスレ、
Eは付き過ぎの状態をそれぞれ示す。 1……カートン、2……糊代、3……糊、10
……検査ヘツド、11……基盤、13……極板、
14……フオトセンサー、17……シールド板、
18……間隔、19……ヒンジ、20……静電容
量センサー、22……マツチングトリマー、24
……静電容量発生回路、26……増幅回路、28
……整流回路、30……サンプルホールド回路、
32……比較回路A、34……基準レベル検出回
路、36……比較信号発生回路A、38……外部
設定器A、42……比較回路B、44……比較信
号発生回路B、46……外部設定器B、48……
出力回路、50……タイミング信号発生回路、5
2……アンドゲート回路、54……カウンター、
56……連続不良枚数設定器、58……警報器
A、60……シフトレジスタ、62……不良枚数
設定器、64……警報器B、72……タイミング
信号、74……静電容量信号、76……糊付着面
基準信号、78……比較信号A、80……判定信
号A、82……比較信号B、84……判定信号
B、86……検査信号。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 対向した基盤11、該基盤11に形成されて
    基盤11間の静電容量を測定するための極板1
    3、この極板間の静電容量に対応する静電容量信
    号74を得る機構、カートン1が基盤11間に存
    在することを示すタイミング信号72を得る機
    構、カートンの糊付着面の基準的な静電容量に対
    応する糊付着面基準信号76を得る機構、カート
    ンが基盤11間に存在する間に於いて糊付着面基
    準信号76に対し静電容量信号74がある範囲以
    下にあるか否かを比較判定する機構、カートンが
    基盤11間に存在する間に於いて前記静電容量信
    号74が糊非付着面の値に対してある範囲以上で
    あるか否かを比較判定する機構、これ等の判定結
    果に基づき糊付着不良の場合は糊付着不良を示す
    パルスを含む検査信号86を出力する機構を具備
    することを特徴とする糊付着状態検査装置。
JP58060123A 1983-04-06 1983-04-06 糊付着状態検査装置 Granted JPS59184850A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58060123A JPS59184850A (ja) 1983-04-06 1983-04-06 糊付着状態検査装置

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JP58060123A JPS59184850A (ja) 1983-04-06 1983-04-06 糊付着状態検査装置

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Publication Number Publication Date
JPS59184850A JPS59184850A (ja) 1984-10-20
JPH0322942B2 true JPH0322942B2 (ja) 1991-03-27

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ID=13133033

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JPS59184850A (ja) 1984-10-20

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