JPH0325178Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案はカートン製函工程に於いて、カートン
に接着用の糊が好ましい状態で付いているか否か
を検査する糊付着状態検査置装置に関するもので
ある。

従来、カートンに糊が好ましい状態で付いてい
るか否かを（換言すれば、糊切れや、糊カスレ、
付き過ぎを起していないかを）検査する装置に
は、好ましい装置がなく、例えば、糊に着色剤を
混合して、その糊を電気光学的に検査する装置が
市販されているけれども、実用上充分に正確かつ
確実な検査ができるものではなかつた。

本考案はこれらの事情にかんがみなされたもの
であつて、特に糊量を静電的に検査することによ
り、カートンに糊が好ましく付いているか否かを
正確、確実に検査し得るものであり、特にその検
査ヘツドにシールド板を取付けることにより検査
ミスを減少せしめ、合せて種々の大きさのカート
ンを検査可能としたものである。

以下一実施例により本考案を詳細に説明する。
第１，２及び３図に本考案に用いられる検査ヘツ
ド１０を示す。同図に於いて１は糊３が好ましく
付着しているか否かが検査される被検査体たるカ
ートンであつて、このカートン１の糊代２には糊
３が運搬方向５に沿つて付着されている。

検査ヘツド１０には対向する二枚の基盤１１，
１１を有し、この基盤１１，１１間をカートン１
の糊代２部分が、図示されていないが所謂サツク
貼機の運搬機構によつて矢印５の方向に運搬さ
れ、その際、カートン１の糊付着状態が検査され
る。それぞれの基盤１１，１１の両側には、静電
容量を検出するための極板１３，１３，１３，１
３が平行に形成されており、この極板１３により
基盤１１，１１間を運搬されるカートン１の静電
容量を検出する。又、基盤１１の両側には発光器
及びフオトセンサー１４，１４が付いており、こ
のフオトセンサー１４からの信号により、カート
ン１が基盤１１，１１間に存在することを示すタ
イミング信号７２（以下第５，６図参照）を得
る。基盤１１の外側には、金属板よりなるシール
ド板１７，１７，１７，１７が間隔１８を隔てか
つ３方を囲む如く取付けられており、このシール
ド板１７によつてカートン１の静電容量測定エリ
ヤをシールド板の内側の基盤１１，１１間のみと
し、カートン１のバタつき及び運搬用のベルト、
カートン１の静電気等による誤動作を防止する。
シールド板１７の間隔１８を変化することにより
大型、小型等種々の形状のカートン１に対して本
装置を使用可能としている。

なお、理解しやすくするため、第１，２，３図
に於いては、シールド板１７は取除かれた状態で
示されており、取付けられた状態は一点破線で示
されている。又、糊は実際には、第２図に示され
る如くカートン１の下面に付着されているが、第
１図では上面に付着された如く描かれている。

上側の基盤１１はヒンジ１９を介して開閉自在
に取付けられ、これにより基盤１１間に紙粉、飛
散糊が付着した場合基盤１１を開いて容易に清掃
可能としている。

次に本装置の検査回路について説明する。

第４図に示す如く前記基盤１１，１１に設けら
れたフオトセンサー１４，１４からの信号はタイ
ミング信号発生回路５０に入力され、このタイミ
ング信号発生回路５０で、両側のフオトセンサー
１４，１４がいづれもカートン１を検知している
ときハイレベル、少なくとも一方のフオトセンサ
ー１４がカートン１を検知していないときはロー
レベルとなるタイミング信号７２（第５図Ａ参
照）を発生する。即ち、一つづきのハイレベルの
区間72Hは一枚のカートンに相当する。

このタイミング信号７２は基準レベル検出回路
３４、比較信号発生回路Ｂ４４、アンドゲート回
路５２、カウンター５４、シフトレジスタ６０へ
入力される。

一方検査ヘツド１０の極板１３，１３，１３，
１３を用いて静電容量センサー２０により検査ヘ
ツド１０内の静電容量を検出するための信号を発
生させる。この際マツチングトリマー２２を用い
て静電容量の検出レベルの補正を行なう。即ち、
多品種のカートン１を検査可能とするためには、
その品種毎に異なる糊量及びカートン厚により変
化する静電容量検出レベルを統一する必要があ
り、そこでその各条件に合うようにマツチングト
リマー２２によつて静電容量の検出レベルの補正
を行なう。

この静電容量センサー２０からの信号に基づ
き、次の静電容量発生回路２４で振幅変調された
静電容量信号を出力する。この静電容量発生回路
２４で得られた信号は振幅変調された信号である
ので次段の増幅回路２６で増幅を行なつた後次段
の整流回路２８で全波整流を行ない、さらに次段
のサンプルホールド回路３０でそのピーク値をサ
ンプルホールドすることにより基盤１１，１１間
の静電容量に対応したアナログ信号である静電容
量信号７４（第５図Ｂ参照）を得る。

得られた静電容量信号７４は比較回路Ａ３２、
基準レベル検出回路３４及び比較回路Ｂ４２へ入
力される。

ここで、本検査装置の検査構成を説明する。

第６図Ａに前記タイミング信号７２を示し、第
６図Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅにそれぞれ正常、糊切れ、糊
カスレ、糊の付き過ぎの場合の静電容量信号７４
を示す。

糊切れを検査判定するには図に示す如く、糊切
れを起している部分はハイレベル部分７４Ｈとし
て現れるので、糊の付着面の基準値Ｖを得てこの
値Ｖに基づいて計算された比較信号と静電容量信
号７４とを比較して静電容量信号７４が比較信号
以下であるか否かを判断することにより判定する
ことができる。

糊カスレの場合は同図に示す如く全体に低いレ
ベルとなるので、一定の設定レベルの比較信号Ｂ
８２と静電容量信号７４とを比較し、静電容量信
号が比較信号以上であるか否かを判断することに
より判定することができる。

糊の付き過ぎの場合は全体に高いレベルとなる
ので、一定の設定レベルの比較信号を得、この比
較信号と静電容量信号７４とを比較し静電容量信
号が比較信号以下であるか否かを判断することに
より判定できる。

この実施例では、糊切れの検査に用いる比較信
号及び糊の付き過ぎの検査に用いる比較信号とし
て、後述の如く糊の付着面の基準値Ｖを順次計測
し、Ｋ×Ｖ＋Ｓ（但しＫは１未満の係数、Ｓは定
数）なる比較信号Ａ７８（即ち、ほぼ一定値では
あるが、順次変化する糊の付着面の基準値Ｖに少
しの割合で追従する比較信号Ａ７８）を用いるこ
とにより、一つの回路で二つの検査を正確に行な
うことができるように構成され、合わせて検査ミ
スをより少くしている。

基準レベル検出回路３４は、カートン１の糊が
付着している部分の基準レベルを設定するもので
ある。この基準レベルの値Ｖの設定に当つて同一
カートンの検査を行なう場合であつてもカートン
に付着した糊量が順次変化するので、本実施例で
は前述の如くその変化に基準レベルを追従させる
ことによつて検査を正確なものとしている。即
ち、この実施例では、前述のタイミング信号７２
の立上り７２Ｔに於いて静電容量信号７４の値を
サンプリングし、このサンプリング値を次の立上
り７２Ｔがくるまでの間ホールドすることにより
糊付着面基準信号７６（第５図Ｃ参照）を得てい
る。この糊付着面基準信号７６はそのときの糊付
着部分の基準レベルの値Ｖに対応する。

この基準レベル検出回路３４で得られた糊付着
面基準信号７６を次段の比較信号発生回路Ａ３６
に入力し、この比較信号発生回路Ａ３６で糊付着
面基準信号７６に１未満の係数Ｋを掛け合わせた
のちある一定のレベルＳ高い方向にシフトする。
この係数Ｋ及びシフトするレベルＳは、外部設定
器Ａ３８により調整可能となつている。この係数
Ｋ及びシフトレベルＳを調整することにより、検
査感度を調整し、これにより良好なカートンまで
付着不良と判定してしまつたり、逆に不良カート
ンを良品と判定する等の検査ミスを防止する。

この比較信号発生回路Ａ３６で得られたところ
の係数が掛けられ且つシフトされた糊付着面基準
信号７６即ち比較信号Ａ７８は比較回路Ａ３２へ
入力され前記の静電容量信号７４と比較され（第
５図Ｅ参照）、静電容量信号７４が比較信号Ａ７
８よりハイレベルである場合（糊切れ又は付き過
ぎの場合は）はハイレベル、逆にローレベルの場
合はＯレベルのパルス信号である判定信号Ａ８０
（第５図Ｆ参照）が比較回路Ａ３２から出力され
るように構成されている。

この比較回路Ａ３２から出力された判定信号Ａ
８０は出力回路４８へ入力される。

一方比較信号発生回路Ｂ４４に於いて、カート
ン１の糊の付着していない面の基準値よりやや高
いレベルの比較信号Ｂ８２を発生させる。即ちレ
ベル値Ｌがカートンの糊の付いていない部分の基
準レベルとすれば、それよりやや高い値の区間
82Hを有する信号を発生させる。この区間82Hの
高さは外部設定器Ｂ４６により調節可能となつて
いる。この実施例ではタイミング信号７２を比較
信号発生回路Ｂ４４に入力し、この比較信号発生
回路Ｂ４４に於いてタイミング信号７２をシフト
することにより比較信号Ｂ８２（第５図Ｇ参照）
を発生させる。この比較信号Ｂ８２の高さを外部
設定器Ｂ４６により調節することにより検査感度
を調節し、検査ミスを防止する。

この比較信号Ｂ８２は比較回路Ｂ４２へ入力さ
れ、静電容量信号７４と比較され（第５図Ｈ参
照）て糊カスレか否かの比較判定を行なう。即
ち、静電容量信号７４が比較信号Ｂ８２より低く
なる場合８（糊カスレである場合）ハイレベル、
そうでない場合はＯレベルの判定信号Ｂ８４（第
５図Ｉ参照）を出力する。

判定信号Ａ８０と判定信号Ｂ８４は出力回路４
８へ入力され、この出力回路４８で理論和を得、
得られた信号はアンドゲート回路５２へ入力され
る。アンドゲート回路５２に於いて、タイミング
信号７２がハイレベルであつてなおかつ出力回路
４８からの信号がハイレベルのとき（換言すれば
カートン１が基盤１１間にあるときに判定信号Ａ
８０又は判定信号Ｂ８４にハイレベル部分があつ
たとき）ハイレベル、少なくとも一方がローレベ
ルのときローレベルとなる検査信号８６を発生す
る。即ちこの検査信号８６のハイレベル部分８６
Ｈのパルスは糊付着不良部分に相当する。

この検査信号８６は一つはカウンター５４へ入
力される。カウンター５４にはタイミング信号７
２も入力される。そしてこのカウンター５４に於
いて、タイミング信号７２がハイレベルである１
つの区間に検査信号８６のハイレベル部分８６Ｈ
が存在するとき１枚の糊付着不良カートンと計数
し、そのような糊付着不良カートンの連続が連続
不良枚数設定器５６に設定された枚数と一致した
とき、警報器Ａ５８へ信号を送り作業者に赤ラン
プ及びブザーで警報を発する。

さらに検査信号８６及びタイミング信号７２は
シフトレジスタ６０へ入力され、このシフトレジ
スタ６０に於いてタイミング信号７２がハイレベ
ルである１つの区間に検査信号８６のハイレベル
部分８６Ｈが存在するとき１枚の糊付着不良カー
トンと計数し、その１枚分の糊付着不良カートン
を示す信号が来る毎にシフトされ、その値が不良
枚数設定器６２に設定された枚数と一致したとき
（換言すれば、検査を開始してしてからの糊付着
不良カートンの枚数が設定された枚数となつたと
き）、警報器Ｂ６４へ信号を送り作業者に赤ラン
プ及びブザーで警報を発する。

このようにして付着不良カートンが連続的に或
る設定枚数生じた場合、及び検査開始からの付着
不良カートン枚数が或る設定枚数となつたときに
作業者に赤ランプ及びブザーで警報を発する。

本考案は以上の如き構成であるから下記に示す
如き優れた実用上の効果を有する。

即ち本考案に於いては、糊の付着量を静電気的
に検知するので、ヘツド内に存在する糊量を正確
に測定することが出来、従来の着色した糊を電気
光学的に検査するのに比較して、カートンの運搬
位置が左右にズレても測定不良を起すことがな
く、種々の形状、大きさのカートンに対して検査
前の調整が極めて容易であり、糊の厚さに影響さ
れずに糊の量を正確かつ確実に計測して糊付着不
良カートンを検査ミスなく判別検査し得る。

特に基盤の外側には、金属板よりなるシールド
板が間隔を隔てかつ３方を囲む如く取付けられて
いるので、静電容量測定エリヤが正確に基盤間の
みとなるので、カートンのバタつき及び運搬用の
ベルト、カートンの静電気等による誤動作を確実
に防止することができるとともに、合わせてシー
ルド板の間隔を変化することにより大型、小型等
種々の形状のカートンに対して本装置を使用可能
としている。

【図面の簡単な説明】

図面は本考案の一実施例を示すものであつて、
第１図はセンサーヘツドの平面図、第２図は同側
面図、第３図は同正面図であり、第４図は本検査
装置のブロツク図、第５図は検査の過程を示す信
号図であつてＡはタイミング信号、Ｂは静電容量
信号、Ｃは糊付着面基準信号、Ｄは比較信号Ａ、
Ｅは静電容量信号と比較信号Ａの比較を表し、Ｆ
は判定信号Ａ，Ｇは比較信号Ｂ，Ｈは静電容量信
号と比較信号Ｂの比較を表し、Ｉは判定信号Ｂ，
Ｊは検査信号をそれぞれ示し、第６図はカートン
の糊付着状態の種々の場合を示し、Ａはタイミン
グ信号、Ｂは正常、Ｃは糊切れ、Ｄは糊カスレ、
Ｅは付き過ぎの状態をそれぞれ示す。 １……カートン、２……糊代、３……糊、１０
……検査ヘツド、１１……基盤、１３……極板、
１４……フオトセンサー、１７……シールド板、
１８……間隔、１９……ヒンジ、２０……静電容
量センサー、２２……マツチングトリマー、２４
……静電容量発生回路、２６……増幅回路、２８
……整流回路、３０……サンプルホールド回路、
３２……比較回路Ａ、３４……基準レベル検出回
路、３６……比較信号発生回路Ａ、３８……外部
設定器Ａ、４２……比較回路Ｂ、４４……比較信
号発生回路Ｂ、４６……外部設定器Ｂ、４８……
出力回路、５０……タイミング信号発生回路、５
２……アンドゲート回路、５４……カウンター、
５６……連続不良枚数設定器、５８……警報器
Ａ、６０……シフトレジスタ、６２……不良枚数
設定器、６４……警報器Ｂ、７２……タイミング
信号、７４……静電容量信号、７６……糊付着面
基準信号、７８……比較信号Ａ、８０……判定信
号Ａ、８２……比較信号Ｂ、８４……判定信号
Ｂ、８６……検査信号。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 静電容量を測定するための検査ヘツド内を被検
   査体たるカートンの糊付着部分を通してその静電
   容量を検出し、得られた静電容量信号に基づいて
   糊の付着状態を検査する装置に於いて、前記検査
   ヘツドには静電容量を測定するための極板が形成
   された２枚の基盤を有し、この基盤の外側にはシ
   ールド板がカートンを通すための間隔を隔てて取
   付けられており、この極板からの信号に基づいて
   検査ヘツド内の静電容量に対応する静電容量信号
   を得る回路、又検査ヘツドの両側にはフオトセン
   サーが設けられ、このフオトセンサーからの信号
   に基づいて１枚のカートンが検査ヘツド内に存在
   することを示すタイミング信号を得る回路、前記
   静電容量信号をタイミング信号に基づいてサンプ
   ルホールドして糊付着面基準信号を得、この信号
   の基準レベルＶに対してKV＋Ｓ（Ｋは係数、Ｓ
   は一定値）を得て比較信号Ａを得、この比較信号
   Ａと静電容量信号を比較して判定信号Ａを得る回
   路、又、タイミング信号をシフトすることにより
   カートンの糊の付いていない部分よりやや高い値
   の比較信号Ｂを発生させ、この比較信号Ｂと静電
   容量信号を比較して判定信号Ｂを得る回路を具備
   し、前記判定信号Ａ及びＢでカートンの糊の付着
   状態を検査することを特徴とする糊付着状態検査
   装置。