JPH03234037A - Ｉｃソケツト開放装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ＩＣ試験時に使用するＩＣソケット開放装置
に関するものである。

〔従来の技術〕

一般に、ＩＣ試験に使用されるＩＣソケットとしては、
第３図に示すようなものが知られている。これを同図に
基づいて説明すると、同図において、符号１で示すＩＣ
ソケットは、ＩＣ２を挿抜する開口部３を有する筺体４
およびこの筺体４に開閉自在に枢支され閉状態において
ＩＣ２のリード２ａを押圧する押圧体５を有する蓋体６
とからなり、試験用の基板７上に載置されている。なお
、８はＩＣ２の移し替えに使用されるピンセントである
。

このように構成されたＩＣソケットの使用による試験は
、基板７上に載置された筺体４を蓋体６の回動によって
開放し、次にこの筺体４内にＩＣ２を収納した後、蓋体
６の回動によって筺体４を閉塞し行われる。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところで、この種のＩＣソケットにおいては、人手によ
って一個ずつ開放するものであるため、多数のソケット
を開放する場合に多大の時間を費やし、作業効率が低下
するという問題があった。また、開放時に筺体４内のＩ
Ｃ２を押圧する機能を備えておらず、このため筺体４内
から蓋体６側にＩＣ２の装着位置が移り替わることがあ
った。この結果、ビンセット８によって蓋体６側から筺
体４内にＩＣ２を移し替える作業が必要になり、ＩＣ２
のリード折り曲がりによる不良品が発生するという問題
もあった。

このため、従来より筺体４内のＩＣ２を押圧した状態で
多数のＩＣソケット１を開放することができる装置の出
現が要望されていた。

本発明はこのような要望に応えるべくなされたもので、
作業効率を高めることができると共に、ＩＣの不良発生
を防止することができるＩＣソケット開放装置を提供す
るものである。

〔課題を解決するための手段〕 本発明に係るＩＣソケット開放装置は、ＩＣを挿抜する
開口部を有する筺体およびこの筺体に開閉自在に枢支さ
れ閉状態においてＩＣを押圧する第１の押圧体と内外に
開口する貫通窓を有する蓋体からなる多数のＩＣソケッ
トが所定の間隔をもって並列載置される基板と、この基
板上に位置決め保持されＩＣソケットの並列方向に延在
する軸棒を有する治具とを備え、この治具の軸棒に貫通
窓を挿通してＩＣを押圧する第２の押圧体を設けると共
に、蓋体と筺体との間に臨む爪部を有するスライダを摺
動自在に設け、このスライダの摺動によって蓋体を開方
向に押圧するテーパを爪部に形成したものである。

〔作　用〕

本発明においては、第２の押圧体によってＩＣを押圧し
たまま、スライダの摺動による爪部の押圧によって多数
の蓋体を筺体から開放することができる。

〔実施例〕

以下、本発明の構成等を図に示す実施例によって詳細に
説明する。

第１図（ａｌおよび（ｂｌは本発明に係るＩＣソケット
開放装置の要部を拡大して示す縦断面図とそのｂｂ線断
面図、第２図（ａｌ〜（Ｃ）は同じく本発明におけるＩ
Ｃソケット開放装置の全体を示す斜視図と平面図と断面
図である。同図において、符号１１で示す多数のＩＣソ
ケットは、ＩＣ１２を挿抜する開口部１３ａを有する筺
体１３と、この筺体１３に開閉自在に枢支され閉状態に
おいてＩＣ１２を押圧する第１の押圧体１４および表裏
面に開口する貫通窓１５を有する蓋体１６とからなり、
基板１７上に所定の間隔をもって並列載置されている。

Ｉ８は前記ＩＣソケット１１の並列方向に延在する３個
の軸棒１９を有する治具で、前記基板１７上に位置決め
保持されている。この治具１８の軸棒１９には、前記貫
通窓１５を挿通してＩＣ１２を押圧する第２の押圧体と
しての押圧ビン２０が固定され、かつ前記蓋体１６と前
記筺体１３との間に臨む爪部２１を多数個有するスライ
ダ２２が摺動自在に設けられている。そして、この爪部
２１には、前記スライダ２２の一方向への摺動によって
前記蓋体１６を開方向に押圧するテーパ２３が形成され
ている。また、２４は前記ＩＣソケット１１の位置決め
部材である。なお、２５は前記スライダ２２に摺動力を
付与するために使用される摘み、２６は前記押圧ビン２
０と前記ＩＣ１２の間隔を０〜５０μｍの範囲で調整す
るためのボルトである。

このように構成されたＩＣソケット開放装置においては
、押圧ビン２０によってＩＣ１２を押圧したまま、スラ
イダ２２の摺動による爪部２１の押圧によって多数の蓋
体１６を筺体１３から開放することができる。この場合
、蓋体１６と筺体１３との間に臨む爪部２１のテーパ２
３がカム面として作用し、蓋体１６が回動して両部材１
３．１６の間隔がＬｌからＬｌ　（ｔ＋＜Ｌｚ）に変化
する。

したがって、本実施例においては、多数個のソケット１
１を開放する場合の作業時間を短縮することができる。

また、本実施例において、押圧ビン２０によってＩＣ１
２を押圧したままソケット開放できることは、開放時に
従来のようにＩＣ１２の装着位置が筺体１３から蓋体１
６側に移り替わることがないから、ビンセットによるＩ
Ｃ１２の移し替え作業が不要になり、ＩＣリードの折り
曲げを阻止することができる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、ＩＣを挿抜する開
口部を有する筺体およびこの筺体に開閉自在に枢支され
閉状態においてＩＣを押圧する第１の押圧体と内外に開
口する貫通窓を有する蓋体からなる多数のＩＣソケット
が所定の間隔をもって並列載置される基板と、この基板
上に位置決め保持されＩＣソケットの並列方向に延在す
る軸棒を有する治具とを備え、この治具の軸棒に貫通窓
を挿通してＩＣを押圧する第２の押圧体を設けると共に
、蓋体と筺体との間に臨む爪部を有するスライダを摺動
自在に設け、このスライダの摺動によって蓋体を開方向
に押圧するテーパを爪部に形成したので、押圧体によっ
てＩＣを押圧したまま、スライダの摺動による爪部の押
圧によって多数の蓋体を筺体から開放することができる
。したがって、多数のソケットを開放する場合の作業時
間を短縮することができるから、作業効率を高めること
ができる。

また、第２の押圧体によってＩＣを押圧したままソケッ
ト開放できることは、開放時に従来のようにＩＣの装着
位置が筺体内から蓋体側に移り替わることがないから、
ビンセットによるＩＣの移し替え作業が不要になり、Ｉ
Ｃリードの折り曲げを阻止してＩＣの不良品発生を防止
することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）および（ｂｌは本発明に係るＩＣソケット
開放装置の要部を拡大して示す縦断面図とそのｂ−ｂ線
断面図、第２図（ａｌ〜（Ｃ）は同じく本発明における
ＩＣソケット開放装置の全体を示す斜視図と平面図と断
面図、第３図は従来のＩＣソケットを開放した場合の作
業例を示す正面図である。 １１　・　・　・ＩＣソケット、１２・　・　・ＩＣ，
１３・・・筺体、１４・・・第１の押圧体、１５・・・
貫通窓、１６・・・蓋体、１７・・・基板、１８・・・
治具、１９・・・軸棒、２０・・・押圧ピン、２１・・
・爪部、２２・・・スライダ、２３・・・テーパ。 代　理　人　大岩増雄 第３図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. ＩＣを挿抜する開口部を有する筺体およびこの筺体に開
   閉自在に枢支され閉状態においてＩＣを押圧する第１の
   押圧体と内外に開口する貫通窓を有する蓋体からなる多
   数のＩＣソケットが所定の間隔をもって並列載置される
   基板と、この基板上に位置決め保持され前記ＩＣソケッ
   トの並列方向に延在する軸棒を有する治具とを備え、こ
   の治具の軸棒に前記貫通窓を挿通してＩＣを押圧する第
   ２の押圧体を設けると共に、前記蓋体と前記筺体との間
   に臨む爪部を有するスライダを摺動自在に設け、このス
   ライダの摺動によって前記蓋体を開方向に押圧するテー
   パを前記爪部に形成したことを特徴とするＩＣソケット
   開放装置。