JPH03236475A - 大気圧プラズマ表面処理法 - Google Patents
大気圧プラズマ表面処理法Info
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- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 title claims abstract description 40
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 49
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims abstract description 23
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims abstract description 18
- 239000004744 fabric Substances 0.000 claims abstract description 12
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 claims abstract description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 6
- 239000004033 plastic Substances 0.000 claims abstract description 6
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 claims abstract description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 5
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 4
- 239000000123 paper Substances 0.000 claims abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 33
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 30
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 19
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 14
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims description 12
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 8
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 3
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 2
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 claims description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 28
- 239000002904 solvent Substances 0.000 abstract 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 16
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- WPYMKLBDIGXBTP-UHFFFAOYSA-N benzoic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC=CC=C1 WPYMKLBDIGXBTP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000010408 film Substances 0.000 description 12
- CZDYPVPMEAXLPK-UHFFFAOYSA-N tetramethylsilane Chemical compound C[Si](C)(C)C CZDYPVPMEAXLPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 9
- 239000005711 Benzoic acid Substances 0.000 description 6
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 235000010233 benzoic acid Nutrition 0.000 description 6
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 6
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- -1 and jetanolamine Chemical class 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 5
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 5
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 4
- HUMNYLRZRPPJDN-UHFFFAOYSA-N benzaldehyde Chemical compound O=CC1=CC=CC=C1 HUMNYLRZRPPJDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 4
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 4
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 4
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 4
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 4
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 4
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 3
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZTQSAGDEMFDKMZ-UHFFFAOYSA-N butyric aldehyde Natural products CCCC=O ZTQSAGDEMFDKMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 3
- JFTBTTPUYRGXDG-UHFFFAOYSA-N methyl violet Chemical compound Cl.C1=CC(=NC)C=CC1=C(C=1C=CC(=CC=1)N(C)C)C1=CC=C(N(C)C)C=C1 JFTBTTPUYRGXDG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010445 mica Substances 0.000 description 3
- 229910052618 mica group Inorganic materials 0.000 description 3
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- DSSYKIVIOFKYAU-XCBNKYQSSA-N (R)-camphor Chemical compound C1C[C@@]2(C)C(=O)C[C@@H]1C2(C)C DSSYKIVIOFKYAU-XCBNKYQSSA-N 0.000 description 2
- JHUUPUMBZGWODW-UHFFFAOYSA-N 3,6-dihydro-1,2-dioxine Chemical compound C1OOCC=C1 JHUUPUMBZGWODW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FERIUCNNQQJTOY-UHFFFAOYSA-N Butyric acid Chemical compound CCCC(O)=O FERIUCNNQQJTOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000298 Cellophane Polymers 0.000 description 2
- 241000723346 Cinnamomum camphora Species 0.000 description 2
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N Dimethylsulphoxide Chemical compound CS(C)=O IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 2
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N Naphthalene Chemical compound C1=CC=CC2=CC=CC=C21 UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NBBJYMSMWIIQGU-UHFFFAOYSA-N Propionic aldehyde Chemical compound CCC=O NBBJYMSMWIIQGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229960000583 acetic acid Drugs 0.000 description 2
- 150000008065 acid anhydrides Chemical class 0.000 description 2
- 150000001299 aldehydes Chemical class 0.000 description 2
- 150000001338 aliphatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- 229960000846 camphor Drugs 0.000 description 2
- 229930008380 camphor Natural products 0.000 description 2
- IJOOHPMOJXWVHK-UHFFFAOYSA-N chlorotrimethylsilane Chemical compound C[Si](C)(C)Cl IJOOHPMOJXWVHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N dimethylselenoniopropionate Natural products CCC(O)=O XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 150000008282 halocarbons Chemical class 0.000 description 2
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 description 2
- FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N maleic anhydride Chemical compound O=C1OC(=O)C=C1 FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- BKIMMITUMNQMOS-UHFFFAOYSA-N nonane Chemical compound CCCCCCCCC BKIMMITUMNQMOS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QNGNSVIICDLXHT-UHFFFAOYSA-N para-ethylbenzaldehyde Natural products CCC1=CC=C(C=O)C=C1 QNGNSVIICDLXHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 2
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 2
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 2
- FALRKNHUBBKYCC-UHFFFAOYSA-N 2-(chloromethyl)pyridine-3-carbonitrile Chemical compound ClCC1=NC=CC=C1C#N FALRKNHUBBKYCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 2-METHOXYETHANOL Chemical compound COCCO XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxyethanol Chemical compound CCOCCO ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UIERETOOQGIECD-UHFFFAOYSA-N Angelic acid Natural products CC=C(C)C(O)=O UIERETOOQGIECD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N Cyclohexane Chemical compound C1CCCCC1 XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Chemical compound CC(C)CC(C)=O NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Natural products CCC(C)C(C)=O UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N Methyl methacrylate Chemical compound COC(=O)C(C)=C VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CYTYCFOTNPOANT-UHFFFAOYSA-N Perchloroethylene Chemical group ClC(Cl)=C(Cl)Cl CYTYCFOTNPOANT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N Vinyl chloride Chemical compound ClC=C BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 229910003481 amorphous carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 150000001732 carboxylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 150000001735 carboxylic acids Chemical class 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- WJTCGQSWYFHTAC-UHFFFAOYSA-N cyclooctane Chemical compound C1CCCCCCC1 WJTCGQSWYFHTAC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004914 cyclooctane Substances 0.000 description 1
- HPNMFZURTQLUMO-UHFFFAOYSA-N diethylamine Chemical compound CCNCC HPNMFZURTQLUMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 1
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 1
- XYIBRDXRRQCHLP-UHFFFAOYSA-N ethyl acetoacetate Chemical compound CCOC(=O)CC(C)=O XYIBRDXRRQCHLP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000012362 glacial acetic acid Substances 0.000 description 1
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000003595 mist Substances 0.000 description 1
- 238000002715 modification method Methods 0.000 description 1
- TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N octane Chemical compound CCCCCCCC TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002898 organic sulfur compounds Chemical class 0.000 description 1
- 150000007965 phenolic acids Chemical class 0.000 description 1
- WVDDGKGOMKODPV-ZQBYOMGUSA-N phenyl(114C)methanol Chemical compound O[14CH2]C1=CC=CC=C1 WVDDGKGOMKODPV-ZQBYOMGUSA-N 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 235000019260 propionic acid Nutrition 0.000 description 1
- 239000005297 pyrex Substances 0.000 description 1
- IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N quinbolone Chemical compound O([C@H]1CC[C@H]2[C@H]3[C@@H]([C@]4(C=CC(=O)C=C4CC3)C)CC[C@@]21C)C1=CCCC1 IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N 0.000 description 1
- 239000005871 repellent Substances 0.000 description 1
- 239000000741 silica gel Substances 0.000 description 1
- 229910002027 silica gel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229940014800 succinic anhydride Drugs 0.000 description 1
- 150000003464 sulfur compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000012209 synthetic fiber Substances 0.000 description 1
- 229920002994 synthetic fiber Polymers 0.000 description 1
- 229950011008 tetrachloroethylene Drugs 0.000 description 1
- UIERETOOQGIECD-ONEGZZNKSA-N tiglic acid Chemical compound C\C=C(/C)C(O)=O UIERETOOQGIECD-ONEGZZNKSA-N 0.000 description 1
- 239000005051 trimethylchlorosilane Substances 0.000 description 1
- AAAQKTZKLRYKHR-UHFFFAOYSA-N triphenylmethane Chemical compound C1=CC=CC=C1C(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 AAAQKTZKLRYKHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HGBOYTHUEUWSSQ-UHFFFAOYSA-N valeric aldehyde Natural products CCCCC=O HGBOYTHUEUWSSQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002747 voluntary effect Effects 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
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- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
- Treatments Of Macromolecular Shaped Articles (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、大気圧プラズマによる表面処理方法に関する
。更に詳しくは、本発明は、大気圧下の高安定性グロー
放電プラズマを用い、比較的低温で、薄膜形成および/
または表面改質を行う表面処理法に関する。
。更に詳しくは、本発明は、大気圧下の高安定性グロー
放電プラズマを用い、比較的低温で、薄膜形成および/
または表面改質を行う表面処理法に関する。
従来より、低圧グロー放電プラズマによる製膜法や表面
改質法が広く知られており、実用化されて来た。この低
圧グロー放電プラズマによる表面処理法としては、室温
で気体の有機化合物の気体のプラズマ化による薄膜形成
および/または表面改質を行う、所謂有機プラズマ方法
があることは知られている。
改質法が広く知られており、実用化されて来た。この低
圧グロー放電プラズマによる表面処理法としては、室温
で気体の有機化合物の気体のプラズマ化による薄膜形成
および/または表面改質を行う、所謂有機プラズマ方法
があることは知られている。
たとえば、真空容器内において炭化水素気体をプラズマ
励起し、シリコン基板またはガラス基板等の表面とアモ
ルファス炭素膜を析出形成する方法や、エチレン等のσ
、β−不飽和炭化水素気体をプラズマ励起して被処理体
の表面と重合体膜を形成する方法などがある。
励起し、シリコン基板またはガラス基板等の表面とアモ
ルファス炭素膜を析出形成する方法や、エチレン等のσ
、β−不飽和炭化水素気体をプラズマ励起して被処理体
の表面と重合体膜を形成する方法などがある。
しかしながら、上記のような従来の低圧グロー放電プラ
ズマによる表面処理法は、装置内をいづれもl X I
0−5− I X I O−3torr程度の真空下
に保つことが必要であり、このため連続処理を行う工業
的設備には莫大な額の設備投資を必要とし、処理コスト
が高くなるという大きな欠点があった。
ズマによる表面処理法は、装置内をいづれもl X I
0−5− I X I O−3torr程度の真空下
に保つことが必要であり、このため連続処理を行う工業
的設備には莫大な額の設備投資を必要とし、処理コスト
が高くなるという大きな欠点があった。
本発明の共同発明者は、従来技術のこのような欠点を克
服するため、常温で気体の炭化水素気体等の反応性気体
をヘリウム等の不活性気体と混合して、大気圧下でプラ
ズマ励起させて被処理体の表面処理を行う方法を提案し
た(特願昭63−138630号)。この方法では、優
れた特性と機能を有する表面処理法が大気圧下で実施可
能となったが、被処理体の材質が金属である場合アーク
放電が発生しがちであるという欠点を有することがその
後明らかとなった。
服するため、常温で気体の炭化水素気体等の反応性気体
をヘリウム等の不活性気体と混合して、大気圧下でプラ
ズマ励起させて被処理体の表面処理を行う方法を提案し
た(特願昭63−138630号)。この方法では、優
れた特性と機能を有する表面処理法が大気圧下で実施可
能となったが、被処理体の材質が金属である場合アーク
放電が発生しがちであるという欠点を有することがその
後明らかとなった。
本発明の共同発明者は、従来技術の上記欠点を更に改善
した特願昭63−202977号を提案した。この発明
では、上部電極の表面を固体誘電体で被覆した固体誘電
体被覆電極を用いることにより、被処理体に金属を用い
た場合でもアーク放電の発生が生ぜず、安定したグロー
放電プラズマにより被処理体の表面処理を行うことがで
きるようになった。
した特願昭63−202977号を提案した。この発明
では、上部電極の表面を固体誘電体で被覆した固体誘電
体被覆電極を用いることにより、被処理体に金属を用い
た場合でもアーク放電の発生が生ぜず、安定したグロー
放電プラズマにより被処理体の表面処理を行うことがで
きるようになった。
上記特願昭61−202977号では、エチレンやCF
、等のような常温で気体の化合物の反応性気体を用いる
場合には、大気圧下可成り安定したグロー放電プラズマ
により表面処理を行ないうるが、常温で液体の化合物の
反応性気体を用いて薄膜形成および/または表面改質を
行う場合、安定したグロー放電プラズマを得ることが極
めて困難であった。
、等のような常温で気体の化合物の反応性気体を用いる
場合には、大気圧下可成り安定したグロー放電プラズマ
により表面処理を行ないうるが、常温で液体の化合物の
反応性気体を用いて薄膜形成および/または表面改質を
行う場合、安定したグロー放電プラズマを得ることが極
めて困難であった。
本発明は、特願昭63−202977号の大気圧プラズ
マ表面処理法において、テトラメチルシラン、スチレン
またはキシレンのような、常温で液体の化合物を反応性
気体源どして用いても極めて安定なグロー放電プラズマ
を容易l:得ることができる新規な大気圧プラズマ表面
処理法の提供を目的とするものである。
マ表面処理法において、テトラメチルシラン、スチレン
またはキシレンのような、常温で液体の化合物を反応性
気体源どして用いても極めて安定なグロー放電プラズマ
を容易l:得ることができる新規な大気圧プラズマ表面
処理法の提供を目的とするものである。
本発明は対向する電極の少くとも一方の、好ましくは両
方の、電極の表面に固体誘電体を配設してなる誘電体被
覆電極を有するプラズマ反応装置と、常温で気体の不活
性気体、常温で液体または固体の化合物の反応性気体及
び常温で液体の有機溶媒の不活性気体を導入し、大気圧
下でプラズマ励起を行って、対向する電極間に位置する
被処理体の表面処理を行うことを特徴とする、大気圧プ
ラズマによる表面処理法が提供される。なお、上記反応
性気体は必要に応じ2種以上の混合物を用いてもよい。
方の、電極の表面に固体誘電体を配設してなる誘電体被
覆電極を有するプラズマ反応装置と、常温で気体の不活
性気体、常温で液体または固体の化合物の反応性気体及
び常温で液体の有機溶媒の不活性気体を導入し、大気圧
下でプラズマ励起を行って、対向する電極間に位置する
被処理体の表面処理を行うことを特徴とする、大気圧プ
ラズマによる表面処理法が提供される。なお、上記反応
性気体は必要に応じ2種以上の混合物を用いてもよい。
本発明の大気圧プラズマ表面処理法によれば、従来使用
が極めて困難であるか乃至は不可能であった常温で液体
または固体の化合物を反応性気体源として用い、大気圧
プラズマ表面処理を行うことが始めて可能となった。そ
れ故、本発明は、大気圧プラズマ表面処理技術の応用範
囲を飛躍的に拡大することを可能としたもので、今後の
プラズマ表面処理技術の分野に多大の貢献をなすもので
ある。
が極めて困難であるか乃至は不可能であった常温で液体
または固体の化合物を反応性気体源として用い、大気圧
プラズマ表面処理を行うことが始めて可能となった。そ
れ故、本発明は、大気圧プラズマ表面処理技術の応用範
囲を飛躍的に拡大することを可能としたもので、今後の
プラズマ表面処理技術の分野に多大の貢献をなすもので
ある。
本発明の詳細及び効果は以下の記載により更に明らかと
なるであろう。
なるであろう。
第1図は本発明の表面処理法に用いられるプラズマ反応
装置の1例である。
装置の1例である。
第1図において、パイレックス製のペルジャー(1)は
、内部と高電圧を印加する上部電極(2)と下部電極(
3)を有している。この上部電極(2)の表面には、ガ
ラス、セラミック、プラスチック等の、好ましくは耐熱
性の、固体誘電体(4)を設けである。一方、アース側
の下部電極(3)の上に表面処理すべき被処理体(5)
を設置する。
、内部と高電圧を印加する上部電極(2)と下部電極(
3)を有している。この上部電極(2)の表面には、ガ
ラス、セラミック、プラスチック等の、好ましくは耐熱
性の、固体誘電体(4)を設けである。一方、アース側
の下部電極(3)の上に表面処理すべき被処理体(5)
を設置する。
He等の不活性気体、テトラメチルシラン等の常温で液
体である化合物の反応性気体及びメチルエチルケトン(
以下rMEKJということあり)のような常温で液体で
ある有機溶媒の不活性気体を混合した混合気体が、気体
導入口(6)より、第2図に示した複数の開孔(7)を
有する多孔管(8)に導入され、開孔(7)から被処理
体(5)に対して均一に分散供給される。反応後未反応
気体及び不活性気体等は排出口(9)より排出される。
体である化合物の反応性気体及びメチルエチルケトン(
以下rMEKJということあり)のような常温で液体で
ある有機溶媒の不活性気体を混合した混合気体が、気体
導入口(6)より、第2図に示した複数の開孔(7)を
有する多孔管(8)に導入され、開孔(7)から被処理
体(5)に対して均一に分散供給される。反応後未反応
気体及び不活性気体等は排出口(9)より排出される。
下部電極(3)には温度センサー(図示せず)が埋設さ
れており、且つ、必要に応じ冷却水入口(10)及び冷
却水出口(11)により供給される冷却水によって、下
部電極(3)を所定温度に維持する。この下部電極(3
)はアースされており、また必要に応じ内部に加熱ヒー
ター(図示せず)を内蔵していてもよい。
れており、且つ、必要に応じ冷却水入口(10)及び冷
却水出口(11)により供給される冷却水によって、下
部電極(3)を所定温度に維持する。この下部電極(3
)はアースされており、また必要に応じ内部に加熱ヒー
ター(図示せず)を内蔵していてもよい。
He等の常温で気体の不活性気体は、流量計(12)か
らシリカゲル等の脱水器(13)を経て蒸発筒(14)
に入る。蒸発筒(14)は内筒(15)を有する二重構
造をなしており、内筒(15)の外表面は加熱用ヒータ
ー(16)によって覆われていて、内蔵する温度センサ
ー(図示せず)により所定温度に保持される。テトラメ
チルシランのような反応性気体源である常温で液体(又
は固体)の化合物は、MEKのような有機溶媒に溶解さ
れ、この溶液が内筒(15)の漏斗状上部開口部(17
)に位置する細管(18)から一定流量で注入され、内
筒(15)の内壁に沿って流下する間に加熱されて蒸発
する。このようにして反応性気体、He等の不活性気体
及びMEK等の有機溶媒の不活性気体の混合気体が気体
導入口(6)、多孔管(8)を経て、均一に被処理体の
表面に送られる。
らシリカゲル等の脱水器(13)を経て蒸発筒(14)
に入る。蒸発筒(14)は内筒(15)を有する二重構
造をなしており、内筒(15)の外表面は加熱用ヒータ
ー(16)によって覆われていて、内蔵する温度センサ
ー(図示せず)により所定温度に保持される。テトラメ
チルシランのような反応性気体源である常温で液体(又
は固体)の化合物は、MEKのような有機溶媒に溶解さ
れ、この溶液が内筒(15)の漏斗状上部開口部(17
)に位置する細管(18)から一定流量で注入され、内
筒(15)の内壁に沿って流下する間に加熱されて蒸発
する。このようにして反応性気体、He等の不活性気体
及びMEK等の有機溶媒の不活性気体の混合気体が気体
導入口(6)、多孔管(8)を経て、均一に被処理体の
表面に送られる。
一方、上部電極(2)と下部電極(3)には高周波の高
電圧が印加されていて安定なグロー放電が起きているの
で、テトラメチルシランのような化合物の反応性気体は
プラズマ励起され、被処理体の表面に溝膜形成および/
または表面改質が有効に行なわれる。
電圧が印加されていて安定なグロー放電が起きているの
で、テトラメチルシランのような化合物の反応性気体は
プラズマ励起され、被処理体の表面に溝膜形成および/
または表面改質が有効に行なわれる。
本発明では、反応性気体源が常温で液体又は常温で固体
の化合物である点に一つの特徴を有する。
の化合物である点に一つの特徴を有する。
このような常温で液体である化合物の例としては、ヘキ
サン、ヘプタン、オクタン、ノナン等の脂肪族炭化水素
、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素、
1,1.1−hリクロロメタン、パークロロエチレン等
のハロゲン化炭化水素類、シクロヘキサン、シクロオク
タン等の環状脂肪族炭化水素類、スチレン、エチレン、
メチルメタアクリル酸等のα、β−不飽和炭化水素類、
エタノール、n−プロパツール、イソプロパツール、n
−ブタノール、インブタノール等のアルコール類、1.
4−ジオキサン、エチルセロソルブ、メチルセロソルブ
等のエーテル類、酢酸エチル、アセト酢酸エチル等のエ
ステル類、ベンズアルデヒド、プロピオンアルデヒド、
ブチルアルデヒド等のアルデヒド類、酢酸、プロピオン
酸、酪酸等のカルボン酸類、トリエチルアミン、ジエチ
ルアミン、ジェタノールアミン等のアミン類、ジメチル
スルホキンド等の有機硫黄化合物類、テトラメチルシラ
ン、トリメチルクロロシラン等の有機珪素化合物等を挙
げることができるが、その地被処理体の表面とプラズマ
励起状態で反応性の有機化合物及びプラズマ励起状態で
重合膜形成性の化合物も、本発明の表面処理法において
反応性気体源として用い得ることは、上記の例示が多種
類の化合物に及ぶことよりも明らかである。
サン、ヘプタン、オクタン、ノナン等の脂肪族炭化水素
、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素、
1,1.1−hリクロロメタン、パークロロエチレン等
のハロゲン化炭化水素類、シクロヘキサン、シクロオク
タン等の環状脂肪族炭化水素類、スチレン、エチレン、
メチルメタアクリル酸等のα、β−不飽和炭化水素類、
エタノール、n−プロパツール、イソプロパツール、n
−ブタノール、インブタノール等のアルコール類、1.
4−ジオキサン、エチルセロソルブ、メチルセロソルブ
等のエーテル類、酢酸エチル、アセト酢酸エチル等のエ
ステル類、ベンズアルデヒド、プロピオンアルデヒド、
ブチルアルデヒド等のアルデヒド類、酢酸、プロピオン
酸、酪酸等のカルボン酸類、トリエチルアミン、ジエチ
ルアミン、ジェタノールアミン等のアミン類、ジメチル
スルホキンド等の有機硫黄化合物類、テトラメチルシラ
ン、トリメチルクロロシラン等の有機珪素化合物等を挙
げることができるが、その地被処理体の表面とプラズマ
励起状態で反応性の有機化合物及びプラズマ励起状態で
重合膜形成性の化合物も、本発明の表面処理法において
反応性気体源として用い得ることは、上記の例示が多種
類の化合物に及ぶことよりも明らかである。
一方、反応性気体源である常温で固体の化合物としては
、安息香酸、ナフタレン(di−カン7アー)等の芳香
族有機化合物類及び無水マレイン酸、無水コハク酸等の
酸無水物類を挙げることができる。
、安息香酸、ナフタレン(di−カン7アー)等の芳香
族有機化合物類及び無水マレイン酸、無水コハク酸等の
酸無水物類を挙げることができる。
更に、本発明においては、反応性気体源である常温で液
体または固体の化合物を、反応時不活性の気体に蒸発さ
れる、有機溶媒に溶解して用いる点にも一つの特徴を有
する。このようにグロー放電下のプラズマ励起を生じる
反応条件下において、被処理体の表面処理反応に、気体
状態で実質的に不活性な成る種の有機溶媒の存在するこ
とが本発明者によって始めて発見された。このような有
機溶媒としては、MEK、アセトン及びメチルイソブチ
ルケトンのような各アルキル部分の炭素原子数が独立し
て1〜6のジアルキルケトン類を例示することができる
。
体または固体の化合物を、反応時不活性の気体に蒸発さ
れる、有機溶媒に溶解して用いる点にも一つの特徴を有
する。このようにグロー放電下のプラズマ励起を生じる
反応条件下において、被処理体の表面処理反応に、気体
状態で実質的に不活性な成る種の有機溶媒の存在するこ
とが本発明者によって始めて発見された。このような有
機溶媒としては、MEK、アセトン及びメチルイソブチ
ルケトンのような各アルキル部分の炭素原子数が独立し
て1〜6のジアルキルケトン類を例示することができる
。
反応性気体源の化合物の上記有機溶媒中溶液の濃度は、
該化合物の種類、被処理体の種類その他の条件によって
、適宜選択することができるが、−船釣Iこは約0.0
1〜50重量%、好ましくは約1〜20重量%が採用し
得る。
該化合物の種類、被処理体の種類その他の条件によって
、適宜選択することができるが、−船釣Iこは約0.0
1〜50重量%、好ましくは約1〜20重量%が採用し
得る。
一方、常温で気体の不活性気体としては、He、Ne、
Ar、 N2等を例示することができる。
Ar、 N2等を例示することができる。
本発明の表面処理法においては、プラズマ反応装置に導
入される混合気体中の常温で気体の不活性気体、反応性
気体、有機溶媒の不活性気体の各割合は、反応性気体の
種類、被処理体の表面、グロー放電条件等によって適宜
選択されるが、一般に常温で気体の不活性気体の濃度は
60〜99゜99容量%、好ましくは80〜99.9容
量%、反応性気体の濃度は5〜0.0001容量%、好
ましくは2〜0.001容量%、有機溶媒の不活性気体
の濃度は35〜0.01容量%、好ましくは18〜0.
1容量%が採用されることができる。
入される混合気体中の常温で気体の不活性気体、反応性
気体、有機溶媒の不活性気体の各割合は、反応性気体の
種類、被処理体の表面、グロー放電条件等によって適宜
選択されるが、一般に常温で気体の不活性気体の濃度は
60〜99゜99容量%、好ましくは80〜99.9容
量%、反応性気体の濃度は5〜0.0001容量%、好
ましくは2〜0.001容量%、有機溶媒の不活性気体
の濃度は35〜0.01容量%、好ましくは18〜0.
1容量%が採用されることができる。
なお、本発明の大気圧プラズマ表面処理法においては、
プラズマ反応装置に導入される気体混合物中の水分は好
ましくは可及的小なく除去しておくことが必要である。
プラズマ反応装置に導入される気体混合物中の水分は好
ましくは可及的小なく除去しておくことが必要である。
本発明の大気圧プラズマ表面処理法では、グロー放電に
より反応性気体を励起し、高エネルギーのプラズマを形
成する。このプラズマの形成は高電圧の印加により行な
うが、この際印加する電圧の値は、被処理体の表面の性
状や表面処理の時間等に応じて適宜決められるが、−船
釣には、例えば100OV〜6000Vの電圧を採用す
ることができる。
より反応性気体を励起し、高エネルギーのプラズマを形
成する。このプラズマの形成は高電圧の印加により行な
うが、この際印加する電圧の値は、被処理体の表面の性
状や表面処理の時間等に応じて適宜決められるが、−船
釣には、例えば100OV〜6000Vの電圧を採用す
ることができる。
なお電源の周波数は、被処理体の材質が金属の場合には
低圧プラズマで使用される13.56MHzでも問題は
無いが、被処理体がプラスチックのように耐熱性の低い
場合にはl−1000KH2の周波数の採用が好適であ
る。
低圧プラズマで使用される13.56MHzでも問題は
無いが、被処理体がプラスチックのように耐熱性の低い
場合にはl−1000KH2の周波数の採用が好適であ
る。
本発明の大気圧プラズマ表面処理法は、前述のようにl
X I O−5〜I X l O−’torr+!=
l+’−+りX空を必要としない点に大きな特徴の一つ
があるが、更に処理温度が従来の一般的CVD法の例え
ば400〜800 ’Cのような高温を必要とせず、極
めて低温で表面処理か行なえる点にも重要な特徴がある
。即ち、本発明では、表面処理の温度がアース側の電極
の温度で表わした場合、室温〜150°C1好ましくは
室温〜80℃、最も好ましくは40〜60℃に保持する
ことができる。本発明では、このように比較的低温の表
面処理温度が採用されるので、プラスチ7りのような耐
熱性の低い材質の被処理体tこも容易に表面処理を行う
ことができる。
X I O−5〜I X l O−’torr+!=
l+’−+りX空を必要としない点に大きな特徴の一つ
があるが、更に処理温度が従来の一般的CVD法の例え
ば400〜800 ’Cのような高温を必要とせず、極
めて低温で表面処理か行なえる点にも重要な特徴がある
。即ち、本発明では、表面処理の温度がアース側の電極
の温度で表わした場合、室温〜150°C1好ましくは
室温〜80℃、最も好ましくは40〜60℃に保持する
ことができる。本発明では、このように比較的低温の表
面処理温度が採用されるので、プラスチ7りのような耐
熱性の低い材質の被処理体tこも容易に表面処理を行う
ことができる。
本発明の表面処理の対象とされる被処理体の材質として
は、プラスチック、ガラス、合成繊維布帛、天然繊維布
帛、紙、セラミックス、金属、木材等を例示する二とが
できる。
は、プラスチック、ガラス、合成繊維布帛、天然繊維布
帛、紙、セラミックス、金属、木材等を例示する二とが
できる。
本発明のプラズマ表面処理法は、大気圧下の反応装置を
用いることができ、しかも従来の大気圧プラズマ表面処
理法では用いることのできなかった、常温で液体又は固
体の化合物の気体を反応性気体として用いることが可能
となり且つ高度に安定なグロー放電プラズマ−を、アー
ク放電の発生無しに、容易に得ることができると同時に
、処理温度も室温〜150°Cと低温で済むといった優
れた効果を奏する。
用いることができ、しかも従来の大気圧プラズマ表面処
理法では用いることのできなかった、常温で液体又は固
体の化合物の気体を反応性気体として用いることが可能
となり且つ高度に安定なグロー放電プラズマ−を、アー
ク放電の発生無しに、容易に得ることができると同時に
、処理温度も室温〜150°Cと低温で済むといった優
れた効果を奏する。
本発明の表面処理法は、上記のように優れた効果を奏す
るので、下記のような多くの用途を有するものである。
るので、下記のような多くの用途を有するものである。
即ち、印刷適性の改善、接着性の向上、染色性の改善、
耐染性の賦与、静電防止性の向上(導電性の賦与)、紫
外線や赤外線の透過防止膜の生成、絶縁性膜の生成等の
ように前記被処理体の多方面の表面特性の改質が本発明
によって工業約6こ容易に行うことが可能となった。
耐染性の賦与、静電防止性の向上(導電性の賦与)、紫
外線や赤外線の透過防止膜の生成、絶縁性膜の生成等の
ように前記被処理体の多方面の表面特性の改質が本発明
によって工業約6こ容易に行うことが可能となった。
以下、実施例により本発明を更に具体的に説明する。
実施例1
電極の直径40mm 電極間の距離10mm上部電極
に直径70mm、厚み0 、1 mmの雲母板を接着し
て誘電体被覆電極とした。
に直径70mm、厚み0 、1 mmの雲母板を接着し
て誘電体被覆電極とした。
被処理体としてポリエステルの布帛を使用し、希ガスは
Heガス、有機化合物はテトラメチルシランを使用した
。
Heガス、有機化合物はテトラメチルシランを使用した
。
テトラメチルシランは沸点26℃の化合物でこれをメチ
ルエチルケトンに10部混合した即ちMEK
90部 テトラメチルシラン 10部 この溶液を細管より微滴として滴下した。
ルエチルケトンに10部混合した即ちMEK
90部 テトラメチルシラン 10部 この溶液を細管より微滴として滴下した。
ヘリウムガスの流量は3000 cc/ minである
。
。
滴下時のヒーター温度は100°Cとした。
放電条件は50000Hz、電圧3000V。
電流は約30mAである。
この条件で電極間にグロー放電を発生させながら、テト
ラメチルシランのMEK溶液を滴下した。
ラメチルシランのMEK溶液を滴下した。
滴下量は0.2m12で、速度は0 、04 m(2/
minである。 この間グロー放電は安定で放電の停
止やアーク放電を起すことはなかった。
minである。 この間グロー放電は安定で放電の停
止やアーク放電を起すことはなかった。
滴下を終ったら直ちにポリエステル布帛を取り出しメチ
ルバイオレットの0.2%水溶液に浸漬した。ポリエス
テル布帛はメチルバイオレットのようなトリフェニルメ
タン系の色素には全く染色されないが、プラズマ処理を
した直径40mmの内部分は染色され、水洗しても色落
ちは見られない。
ルバイオレットの0.2%水溶液に浸漬した。ポリエス
テル布帛はメチルバイオレットのようなトリフェニルメ
タン系の色素には全く染色されないが、プラズマ処理を
した直径40mmの内部分は染色され、水洗しても色落
ちは見られない。
これは明らかにプラズマによるテトラメチルシランの分
子内反応物が生成して、極めて染着し易い被膜を形成し
ていることが判る。
子内反応物が生成して、極めて染着し易い被膜を形成し
ていることが判る。
又同一条件でポリ塩化ビニールの厚さ0.5mmのもの
を基板として行っt;が、直径40mmの円状に透明な
被膜の形成が認められ、セロテープでも密着は完全であ
った。且つその表面は親水性となり著しい水に対する接
触角の変化が起った。
を基板として行っt;が、直径40mmの円状に透明な
被膜の形成が認められ、セロテープでも密着は完全であ
った。且つその表面は親水性となり著しい水に対する接
触角の変化が起った。
ちなみにPVC表面の水に対する接触角は72@ プラ
ズマ処理面は18°である。
ズマ処理面は18°である。
実施例2
電極の直径40mm 電極間の距離8mm上部電極及
び下部電極に厚み0 、 I Qllll、直径7Qm
mの雲母板を接着して誘電体被覆電極とした。
び下部電極に厚み0 、 I Qllll、直径7Qm
mの雲母板を接着して誘電体被覆電極とした。
被処理体としてナイロンの布帛を使用し、希ガスはHe
ガス、有機化合物として沸点146℃のスチレンを使用
した。
ガス、有機化合物として沸点146℃のスチレンを使用
した。
スチレンはメチルエチルケトンに
MEK 95部
スチレン 5部
の割合に混合し、ヒーター温度200℃で細管より滴下
した。滴下量は0.3m<+で、速度は0.03m+2
/minである。
した。滴下量は0.3m<+で、速度は0.03m+2
/minである。
放電の条件は50000Hz、電圧4000V、電流は
40mAである。
40mAである。
Heガスの流速は4000 cc/ minとした。
スチレンの蒸気を混入している間はグロー放電は極めて
安定であった。
安定であった。
終了後、直ちにナイロン布帛を取り出したが、水に浸漬
すると処理された直径40mmと更に周囲5〜6mm即
ち45〜46mmの円は全く水にしみ込まず疎水性を示
した。
すると処理された直径40mmと更に周囲5〜6mm即
ち45〜46mmの円は全く水にしみ込まず疎水性を示
した。
実施例1と同様に0.2%のメチルバイオレット水溶液
に浸漬した所、プラズマ処理された45〜46mmの円
状部分は染色されず、それ以外の部分は染色された。
に浸漬した所、プラズマ処理された45〜46mmの円
状部分は染色されず、それ以外の部分は染色された。
従ってスチレンの場合著しく疎水性の高い反応物又は重
合物の被膜を生成したことをたしかめることができた。
合物の被膜を生成したことをたしかめることができた。
実施例3
電極の直径40mm 電極間の距離10mm上部と下
部の電極に厚み0 、1 mmの雲母板を接着して誘電
体被覆電極とした。
部の電極に厚み0 、1 mmの雲母板を接着して誘電
体被覆電極とした。
被処理体としては、厚み0.2mmのポリエステルシー
トを使用し希釈用不活性ガスはHe1有機化合物として
沸点的250℃の安息香酸を使用した。安息香酸は10
0°C以上で昇華する性質があり、沸点以下であっても
ミストとしてMEKの蒸気に含まれて導入できる。
トを使用し希釈用不活性ガスはHe1有機化合物として
沸点的250℃の安息香酸を使用した。安息香酸は10
0°C以上で昇華する性質があり、沸点以下であっても
ミストとしてMEKの蒸気に含まれて導入できる。
メチルエチルケトン 95部
安息香酸 5部
の割合に混合し安息香酸を溶解する。
透明に溶解した所でヒーターの温度200℃で細管より
滴下した。
滴下した。
滴下量はQ、2mffで、滴下速度は0.2m12/4
分30秒である。ヘリウムの流速は3+5Q/win。
分30秒である。ヘリウムの流速は3+5Q/win。
周波数は50000Hz、電圧4000V、電流は20
mAで滴下中グロー放電は安定であった。
mAで滴下中グロー放電は安定であった。
終了後取り出して直径40〜42mmの円状に銀色に光
る反応物被膜の生成が認められ、セロテープによる密着
は良好であった。
る反応物被膜の生成が認められ、セロテープによる密着
は良好であった。
安息香酸は水に溶解するが、本被膜は疎水性を示し水に
は全く溶解しない。明らかにプラズマ中で分子内の反応
を起したものと考えられる。
は全く溶解しない。明らかにプラズマ中で分子内の反応
を起したものと考えられる。
実施例4
電極の直径 40mm 電極間の距離 9mm上部電
極に厚さ0.3mmのポリエステルシートをゴム系の接
着剤で接着し、誘電体被覆電極とした。尚ポリエステル
シートは直径80mmである。
極に厚さ0.3mmのポリエステルシートをゴム系の接
着剤で接着し、誘電体被覆電極とした。尚ポリエステル
シートは直径80mmである。
被処理体として厚さ0.5mmのポリカーボネート板を
使用し、不活性ガスとしてHeを用いた。
使用し、不活性ガスとしてHeを用いた。
有機化合物として常温で固体のdQカンファー(樟脳)
を使用したadQカン7アーは約210℃で昇華する化
合物であるが、これもMEKに溶解して2000Cのヒ
ーター温度で反応容器中に導入した。
を使用したadQカン7アーは約210℃で昇華する化
合物であるが、これもMEKに溶解して2000Cのヒ
ーター温度で反応容器中に導入した。
メチルエチルケトン 95部
dQカン7アー 5部
これを混合して溶解し、透明な溶液を細管より流速3
、600 cc/minのヘリウム中にヒーター温度2
00℃で滴下した。
、600 cc/minのヘリウム中にヒーター温度2
00℃で滴下した。
滴下量は0.2m(2で0.2m(215分の速度で滴
下した。滴下中グロー放電は極めて安定であった。
下した。滴下中グロー放電は極めて安定であった。
終了後、ポリカーボネート板を取り出したが、直径50
〜60mmの円状に薄膜を形成し、これは美しい青色の
干渉色を持ち、ポリカーボネート板に対する密着性は極
めて良好であった。d4カンファーは水に溶解する為に
、粉末を水面に浮かすと溶解しながら運動するが、本実
施例の被膜は水Iコ溶解しない。
〜60mmの円状に薄膜を形成し、これは美しい青色の
干渉色を持ち、ポリカーボネート板に対する密着性は極
めて良好であった。d4カンファーは水に溶解する為に
、粉末を水面に浮かすと溶解しながら運動するが、本実
施例の被膜は水Iコ溶解しない。
実施例5
実施例2と全く同様の方法で、芳香族炭化水素キンレン
による薄膜形成を行った。被処理体はポリエステルを使
用したが、極めて撥水性の強い円形薄膜を作った。
による薄膜形成を行った。被処理体はポリエステルを使
用したが、極めて撥水性の強い円形薄膜を作った。
実施例6
実施例2と全く同様の方法で、メチルメタクリル酸メチ
ルによる薄膜形成を行った。被処理体はナイロンの布帛
を使用したが、撥水性の円形部分を形成し、実施例2と
全く変らない現象を見せた。
ルによる薄膜形成を行った。被処理体はナイロンの布帛
を使用したが、撥水性の円形部分を形成し、実施例2と
全く変らない現象を見せた。
実施例7
実施例3と全く同様の方法で、メチルエチルケトンの代
りにアセトンを使用し、有機化合物としては硫黄化合物
のジメチルスルホキシドを使用した。被処理体はポリエ
ステルシートである。
りにアセトンを使用し、有機化合物としては硫黄化合物
のジメチルスルホキシドを使用した。被処理体はポリエ
ステルシートである。
本被膜は極めて親水性の強い被膜を形成し、水の中に基
板を浸漬して引き上げ!二時、円形の反応薄膜部分のみ
水に濡れ、他の部分は全く濡れを認めなかった。
板を浸漬して引き上げ!二時、円形の反応薄膜部分のみ
水に濡れ、他の部分は全く濡れを認めなかった。
実施例8
実施例4と全く同様の方法で、アルコール類のベンジル
アルコールによる薄膜形成を行った。被処理体としては
ポリカーボネートを用いた。
アルコールによる薄膜形成を行った。被処理体としては
ポリカーボネートを用いた。
この場合極めて疎水性の強い薄膜を形成した。
実施例9
実施例3と全く同様な方法で、フェノール類の召灰酸(
フェノール)で薄膜形成を行った。
フェノール)で薄膜形成を行った。
被処理体としてナイロンの布帛を用いたが、これも極め
て撥水性の強い円形薄膜を形成した。
て撥水性の強い円形薄膜を形成した。
実施例1O
実施例2と全く同様の方法で、アルデヒド類のベンズア
ルデヒドによる薄膜形成を行った。被処理体としてポリ
エステルシートを用いたが、黄色の薄膜を形成し、これ
は親水性であり、水の中に浸漬し引き上げた時円形の部
分のみ水が付着した。
ルデヒドによる薄膜形成を行った。被処理体としてポリ
エステルシートを用いたが、黄色の薄膜を形成し、これ
は親水性であり、水の中に浸漬し引き上げた時円形の部
分のみ水が付着した。
実施例11
実施例2と全く同様の方法で、ハロゲン化炭化水素の1
.1.1−トリクロルエタンの薄膜形成を行った。被処
理体としてポリエステルシートを用いたが、この場合も
親水性の薄膜が生成した。
.1.1−トリクロルエタンの薄膜形成を行った。被処
理体としてポリエステルシートを用いたが、この場合も
親水性の薄膜が生成した。
実施例12
実施例2と全く同様の方法で、アミン化合物のトリエチ
ルアミンの薄膜を形成した。
ルアミンの薄膜を形成した。
ポリエステルシートに極めて密着のよい青色の蛍光をも
つ親水性のiiを生成した。
つ親水性のiiを生成した。
実施例13
実施例3と全く同様の方法で、酸無水物である無水マレ
イン酸で薄膜形成を行った。
イン酸で薄膜形成を行った。
被処理体としてはポリエステルシートを使用して、やや
密着は悪いが撥水性の強い薄膜を形成しIこ 。
密着は悪いが撥水性の強い薄膜を形成しIこ 。
実施例14
実施例3と全く同様の方法で、エーテル類の1゜4−ジ
オキサンの薄膜形成を行った。
オキサンの薄膜形成を行った。
ポリエステルシートに極めて良く密着する親水性の薄膜
が生皮する。
が生皮する。
実施例15
実施例3と全く同様の方法で、カルボン酸の氷酢酸の薄
膜形成を行った。
膜形成を行った。
ポリエステルシートに極めて密着のよい親水性の薄膜を
形成した。
形成した。
実施例16
実施例2と全く同様の方法で、脂肪族炭化水素のへブタ
ンの薄膜を形成した。
ンの薄膜を形成した。
ポリエステルシートに極めて密着のよい親水性の薄膜を
形成した。
形成した。
比較例1
実施例1と全く同じ方法で、MEKのみを使用して薄膜
の形成を行った。被処理体として塩化ビニルの0.5m
m厚のものを使用した。
の形成を行った。被処理体として塩化ビニルの0.5m
m厚のものを使用した。
かすかに薄膜の形成は認めたが、水にすべて溶解し、洗
ったものは膜のこん跡も認められず、他の有機化合物が
親木性は示しても、水には溶解しないのに比して大きい
差が認められた。
ったものは膜のこん跡も認められず、他の有機化合物が
親木性は示しても、水には溶解しないのに比して大きい
差が認められた。
比較例2
実施例1と全く同じ方法で、アセトンのみを使用した被
処理体としてポリエステルシートを用いt二。
処理体としてポリエステルシートを用いt二。
これも実施例17と全く同様で他の有機化合物と大きい
差が認められた。
差が認められた。
第1図は、この発明の反応装置の一例を示した断面図で
あり、第2図は、該反応装置で用いられる多孔管の平面
図である。 手続補正書(自発) 平成3年2月14
あり、第2図は、該反応装置で用いられる多孔管の平面
図である。 手続補正書(自発) 平成3年2月14
Claims (7)
- 1.対向する電極の少くとも一方の電極の表面に固体誘
電体を配設してなる誘電体被覆電極を有するプラズマ反
応装置に、常温で気体の不活性気体、常温で液体または
常温で固体の化合物の反応性気体及び常温で液体の有機
溶媒の不活性気体を導入し、大気圧下プラズマ励起を行
って、対向する電極の間に位置する被処理体の表面処理
を行うことを特徴とする大気圧プラズマによる表面処理
法。 - 2.該表面処理がアース側電極の温度:室温〜150℃
で行なわれる特許請求の範囲第1項記載の表面処理法。 - 3.常温で液体の有機溶媒がケトン類である特許請求の
範囲第1項記載の表面処理法。 - 4.ケトン類は各アルキル部分の炭素原子数が独立して
1〜6のジアルキルケトンである特許請求の範囲第3項
記載の表面処理法。 - 5.ケトン類はメチルエチルケトン又はアセトンである
特許請求の範囲第4項記載の表面処理法。 - 6.被処理体の材質がプラスチック、ガラス、布帛、紙
、セラミックス及び金属からなる群より選ばれる材質で
ある特許請求の範囲第1〜5項の何れかに記載の表面処
理法。 - 7.対向する2つの電極のそれぞれの表面に固体誘電体
を配設してなる特許請求の範囲第1〜6項の何れかに記
載の表面処理法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2029436A JP2517771B2 (ja) | 1990-02-13 | 1990-02-13 | 大気圧プラズマ表面処理法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2029436A JP2517771B2 (ja) | 1990-02-13 | 1990-02-13 | 大気圧プラズマ表面処理法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03236475A true JPH03236475A (ja) | 1991-10-22 |
| JP2517771B2 JP2517771B2 (ja) | 1996-07-24 |
Family
ID=12276086
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2029436A Expired - Lifetime JP2517771B2 (ja) | 1990-02-13 | 1990-02-13 | 大気圧プラズマ表面処理法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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Cited By (20)
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|---|---|---|---|---|
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| JP2010215776A (ja) * | 2009-03-17 | 2010-09-30 | Mitsui Chemicals Inc | 高分子基材のプラズマ処理方法 |
| JP2010538829A (ja) * | 2007-09-19 | 2010-12-16 | ヴラームス インステリング ヴール テクノロギシュ オンデルゾーク (ヴイアイティーオー) | 大気圧プラズマ蒸着による基板の安定な親水性強化のための方法 |
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|---|---|---|---|---|
| JP2002371363A (ja) * | 2001-06-18 | 2002-12-26 | Konica Corp | 基材の表面処理装置及び表面処理方法並びに薄膜、薄膜積層体、光学フィルム及び画像表示素子 |
-
1990
- 1990-02-13 JP JP2029436A patent/JP2517771B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| US8663751B2 (en) | 2007-09-19 | 2014-03-04 | Vlaamse Instelling Voor Technologisch Onderzoek N.V. (Vito) | Method for stable hydrophilicity enhancement of a substrate by atmospheric pressure plasma disposition |
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