JPH0325994A - 混成集積回路 - Google Patents
混成集積回路Info
- Publication number
- JPH0325994A JPH0325994A JP1161448A JP16144889A JPH0325994A JP H0325994 A JPH0325994 A JP H0325994A JP 1161448 A JP1161448 A JP 1161448A JP 16144889 A JP16144889 A JP 16144889A JP H0325994 A JPH0325994 A JP H0325994A
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- Japan
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- resistor
- electrode
- measurement
- cutout
- coupler
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Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 19
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 11
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 11
- 238000003698 laser cutting Methods 0.000 abstract description 4
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Non-Adjustable Resistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は混成集積回路に関し、特に薄膜２厚膜抵抗体を
有する混成集積回路に関する。
有する混成集積回路に関する。
従来、この種の薄膜，厚膜抵抗体は、第８図に示すよう
に抵抗体２端面全体より電極体１を構成し、その広い電
極体幅のまま測定用電極体１となっていた。
に抵抗体２端面全体より電極体１を構成し、その広い電
極体幅のまま測定用電極体１となっていた。
そのため、抵抗体２の抵抗値測定に於いて、電流が測定
端子間の最短方向に伝わり、測定端子位置によって抵抗
値に誤差を生じる構成となっていた。
端子間の最短方向に伝わり、測定端子位置によって抵抗
値に誤差を生じる構成となっていた。
上述した抵抗体パターンの両端面全体の電極体幅のまま
測定用電極となっている薄膜，厚膜抵抗体の形状では、
測定位置により、測定端子間に流れる電流の伝わりかた
に誤差を生じ、抵抗測定値に測定誤差を生じてしまう欠
点がある。
測定用電極となっている薄膜，厚膜抵抗体の形状では、
測定位置により、測定端子間に流れる電流の伝わりかた
に誤差を生じ、抵抗測定値に測定誤差を生じてしまう欠
点がある。
又、レーザートリミング時の測定位置により、レーザー
カット方向による抵抗値の測定誤差を生じるという欠点
もある。
カット方向による抵抗値の測定誤差を生じるという欠点
もある。
本発明の目的は、電極体の測定位置やレーザーカット方
向による抵抗値の測定誤差の生じない薄膜，厚膜抵抗体
を有する混成集積回路を提供することにある。
向による抵抗値の測定誤差の生じない薄膜，厚膜抵抗体
を有する混成集積回路を提供することにある。
本発明は、抵抗体と、該抵抗体の相対ずる２つの側面に
接続された電極体とを有する混成集積回路に於いて、２
つの前記電極体のそれぞれの領域内に前記抵抗体との接
続面と平行に切欠きを設け該切欠きのそれぞれの一部に
細い連結部が形或されている。
接続された電極体とを有する混成集積回路に於いて、２
つの前記電極体のそれぞれの領域内に前記抵抗体との接
続面と平行に切欠きを設け該切欠きのそれぞれの一部に
細い連結部が形或されている。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第１図〜第４図は本発明の第１の実施例の薄膜，厚膜抵
抗体パターンを示す平面図である。
抗体パターンを示す平面図である。
第１の実施例は、第１図〜第４図に示すように、電極体
１の領域内に、抵抗体２との接続面と平行に切欠きを設
け、その切欠き部に電極体１にて細い連結部４を形戒し
た例である． 電極体１のパターン内のａよりｆまでは、抵抗値測定時
の測定端子位置を示すものであり、ａ〜ｄ，， ａ 〜
ｅ ， ａ−ｆ 、同じように、ｂ〜ｄ，ｂ〜ｅ ，
ｂ 〜ｆ ， ｃ 〜ｄ ， ｃ 〜ｅ ， ｃ 〜ｆ
間での測定抵抗値は、測定電流の流れが電極体１のパタ
ーンの細い連結部４より入力，出力となり、同条件での
測定となり、均一になる。
１の領域内に、抵抗体２との接続面と平行に切欠きを設
け、その切欠き部に電極体１にて細い連結部４を形戒し
た例である． 電極体１のパターン内のａよりｆまでは、抵抗値測定時
の測定端子位置を示すものであり、ａ〜ｄ，， ａ 〜
ｅ ， ａ−ｆ 、同じように、ｂ〜ｄ，ｂ〜ｅ ，
ｂ 〜ｆ ， ｃ 〜ｄ ， ｃ 〜ｅ ， ｃ 〜ｆ
間での測定抵抗値は、測定電流の流れが電極体１のパタ
ーンの細い連結部４より入力，出力となり、同条件での
測定となり、均一になる。
第５図〜第７図は本発明の第２の実施例の薄膜，厚膜抵
抗体パターンを示す平面図である。
抗体パターンを示す平面図である。
第２の実施例は、第５図〜第７図に示すように、電極体
の領域内に抵抗体２と平行に切欠きを設け、抵抗体２に
て細い連結部１４を形成した例である。
の領域内に抵抗体２と平行に切欠きを設け、抵抗体２に
て細い連結部１４を形成した例である。
効果としては、電極体内のａ〜ｄ，ａ〜ｅ，ａ〜ｆ、同
じように、ｂ〜ｄ ， Ｌ＋〜ｅ ， ｂ〜ｆ ，
ｃ〜ｄ，ｃ〜ｅ，ｃ〜ｆ間の測定抵抗値が第１の実施例
と同様、均一に測定出来るという利点がある。
じように、ｂ〜ｄ ， Ｌ＋〜ｅ ， ｂ〜ｆ ，
ｃ〜ｄ，ｃ〜ｅ，ｃ〜ｆ間の測定抵抗値が第１の実施例
と同様、均一に測定出来るという利点がある。
以上説明したように本発明，、薄膜，厚膜抵抗体パター
ンに於いて、測定しようとする抵抗体の電極体に測定電
流の流れを一定方向にするための細い連結部を形戒する
ことにより、電極体内の測定位置及びレーザートリミン
グのカツ１〜方向カット状態に影響されることなく、均
一の抵抗値測定が容易に出来るという効果がある。
ンに於いて、測定しようとする抵抗体の電極体に測定電
流の流れを一定方向にするための細い連結部を形戒する
ことにより、電極体内の測定位置及びレーザートリミン
グのカツ１〜方向カット状態に影響されることなく、均
一の抵抗値測定が容易に出来るという効果がある。
／）／Ｚ
げ
ａ
第１図〜第４図は本発明の第１の実施例の薄膜２厚膜抵
抗体パターンを示す平面図、第５図〜第７図は本発明の
第２の実施例の薄膜，厚膜抵抗体パターンを示す平面図
、第８図は従来の薄膜，厚膜抵抗体パターンの一例を示
す平面図である． １・・・電極体、２・・・抵抗体、３・・・レーザーカ
ット位置、１１．１４−・・細い連結部、ａ，ｂ，ｃ，
ｄ，ｅ，ｆ・・・抵抗測定用端子位置。
抗体パターンを示す平面図、第５図〜第７図は本発明の
第２の実施例の薄膜，厚膜抵抗体パターンを示す平面図
、第８図は従来の薄膜，厚膜抵抗体パターンの一例を示
す平面図である． １・・・電極体、２・・・抵抗体、３・・・レーザーカ
ット位置、１１．１４−・・細い連結部、ａ，ｂ，ｃ，
ｄ，ｅ，ｆ・・・抵抗測定用端子位置。
Claims (1)
- 抵抗体と、該抵抗体の相対する２つの側面に接続され
た電極体とを有する混成集積回路に於いて、２つの前記
電極体のそれぞれの領域内に前記抵抗体との接続面と平
行に切欠きを設け該切欠きのそれぞれの一部に細い連結
部を形成したことを特徴とする混成集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1161448A JPH0325994A (ja) | 1989-06-23 | 1989-06-23 | 混成集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1161448A JPH0325994A (ja) | 1989-06-23 | 1989-06-23 | 混成集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0325994A true JPH0325994A (ja) | 1991-02-04 |
Family
ID=15735301
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1161448A Pending JPH0325994A (ja) | 1989-06-23 | 1989-06-23 | 混成集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0325994A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0829885A1 (en) * | 1996-09-03 | 1998-03-18 | Delco Electronics Corporation | Thick film resistor |
| EP1011109A4 (en) * | 1997-04-16 | 2000-06-21 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | RESISTANCE AND METHOD FOR THE PRODUCTION THEREOF |
| JP2006073879A (ja) * | 2004-09-03 | 2006-03-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 検出用抵抗器の実装基板 |
| JP2007329421A (ja) * | 2006-06-09 | 2007-12-20 | Koa Corp | 金属板抵抗器 |
| JP2013504213A (ja) * | 2009-09-04 | 2013-02-04 | ヴィシェイ デイル エレクトロニクス，インコーポレイテッド | 抵抗の温度係数（ｔｃｒ）補償機能／作用を備えた抵抗器 |
| US11555831B2 (en) | 2020-08-20 | 2023-01-17 | Vishay Dale Electronics, Llc | Resistors, current sense resistors, battery shunts, shunt resistors, and methods of making |
| EP4141895A4 (en) * | 2020-04-20 | 2024-07-03 | KOA Corporation | SHUNT RESISTANCE |
-
1989
- 1989-06-23 JP JP1161448A patent/JPH0325994A/ja active Pending
Cited By (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0829885A1 (en) * | 1996-09-03 | 1998-03-18 | Delco Electronics Corporation | Thick film resistor |
| EP1011109A4 (en) * | 1997-04-16 | 2000-06-21 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | RESISTANCE AND METHOD FOR THE PRODUCTION THEREOF |
| US6348392B1 (en) | 1997-04-16 | 2002-02-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Resistor and method of manufacturing the same |
| JP2006073879A (ja) * | 2004-09-03 | 2006-03-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 検出用抵抗器の実装基板 |
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| US9400294B2 (en) | 2009-09-04 | 2016-07-26 | Vishay Dale Electronics, Llc | Resistor with temperature coefficient of resistance (TCR) compensation |
| JP2014090205A (ja) * | 2009-09-04 | 2014-05-15 | Vishay Dale Electronics Inc | 抵抗の温度係数（ｔｃｒ）補償機能／作用を備えた抵抗器 |
| US8878643B2 (en) | 2009-09-04 | 2014-11-04 | Vishay Dale Electronics, Inc. | Resistor with temperature coefficient of resistance (TCR) compensation |
| JP2013504213A (ja) * | 2009-09-04 | 2013-02-04 | ヴィシェイ デイル エレクトロニクス，インコーポレイテッド | 抵抗の温度係数（ｔｃｒ）補償機能／作用を備えた抵抗器 |
| US9779860B2 (en) | 2009-09-04 | 2017-10-03 | Vishay Dale Electronics, Llc | Resistor with temperature coefficient of resistance (TCR) compensation |
| US10217550B2 (en) | 2009-09-04 | 2019-02-26 | Vishay Dale Electronics, Llc | Resistor with temperature coefficient of resistance (TCR) compensation |
| US10796826B2 (en) | 2009-09-04 | 2020-10-06 | Vishay Dale Electronics, Llc | Resistor with temperature coefficient of resistance (TCR) compensation |
| US11562838B2 (en) | 2009-09-04 | 2023-01-24 | Vishay Dale Electronics, Llc | Resistor with temperature coefficient of resistance (TCR) compensation |
| US12009127B2 (en) | 2009-09-04 | 2024-06-11 | Vishay Dale Electronics, Llc | Resistor with temperature coefficient of resistance (TCR) compensation |
| EP4141895A4 (en) * | 2020-04-20 | 2024-07-03 | KOA Corporation | SHUNT RESISTANCE |
| US12249445B2 (en) | 2020-04-20 | 2025-03-11 | Koa Corporation | Shunt resistor |
| US11555831B2 (en) | 2020-08-20 | 2023-01-17 | Vishay Dale Electronics, Llc | Resistors, current sense resistors, battery shunts, shunt resistors, and methods of making |
| US12196783B2 (en) | 2020-08-20 | 2025-01-14 | Vishay Dale Electronics, Llc | Resistors, current sense resistors, battery shunts, shunt resistors, and methods of making |
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