JPH0326046U - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0326046U
JPH0326046U JP8505789U JP8505789U JPH0326046U JP H0326046 U JPH0326046 U JP H0326046U JP 8505789 U JP8505789 U JP 8505789U JP 8505789 U JP8505789 U JP 8505789U JP H0326046 U JPH0326046 U JP H0326046U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tilt angle
holder
specimen
sample
electron microscope
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8505789U
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP8505789U priority Critical patent/JPH0326046U/ja
Publication of JPH0326046U publication Critical patent/JPH0326046U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本案による試料ホールダ傾斜角検出回
路と試料微動装置の構成を示す図である。 3……対物レンズ、4……試料台、6……試料
ホールダ、7……傾斜モータ、10……傾斜角表
示機能、11……傾斜角検出機構、12……検出
回路、13……制御回路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 電子顕微鏡等の試料微動装置内に挿入される試
    料ホールダの傾斜角制限の為、検出回路を設ける
    と共に各種の試料ホールダごとに許容される最大
    の傾斜角を表示しこの表示内容を検出する事によ
    り試料ホールダ挿入事に最大傾斜角の設定を行な
    い、試料ホールダ傾斜時に発生する試料ホールダ
    周辺部との接触や接触により起こる破損防止を図
    る事を特徴とする電子顕微鏡等の試料微動装置。
JP8505789U 1989-07-21 1989-07-21 Pending JPH0326046U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8505789U JPH0326046U (ja) 1989-07-21 1989-07-21

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8505789U JPH0326046U (ja) 1989-07-21 1989-07-21

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0326046U true JPH0326046U (ja) 1991-03-18

Family

ID=31633953

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8505789U Pending JPH0326046U (ja) 1989-07-21 1989-07-21

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0326046U (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0849765A3 (en) Charged particle beam system with optical microscope
JPH0326046U (ja)
JPS5941967U (ja) 走査電子顕微鏡等における試料位置表示装置
JPH02120259U (ja)
JPS6244451Y2 (ja)
JPS63192836U (ja)
JPS61200657A (ja) 電子顕微鏡等の試料微動装置
JPH085363Y2 (ja) 基板に対する検知レバーの支承装置
JPH0231057U (ja)
JPS584482U (ja) 自転車用架台
JPH11345537A (ja) プッシュスイッチ用押ボタンの支持構造
JPS60131952U (ja) 像表示装置
JPS60166969U (ja) 走査電子顕微鏡試料台
JPS6049214A (ja) 傾斜検出器
JPH0326110U (ja)
JPS61104961U (ja)
JPS64259U (ja)
JPS6085056U (ja) 立体観察用試料傾斜装置
JPH0326047U (ja)
JPS60121249U (ja) 走査電子顕微鏡等における試料装置
JPH0324925U (ja)
JPS60129064U (ja) 電子顕微鏡
JPS616251U (ja) 電子ビ−ム位置変動防止装置
Blanc et al. Self-revealing microscopies: natural contrast for the control of industrial processes
JPH0364462U (ja)