JPH04324171A - 光ディスク媒体検査装置のビットエラー検出回路 - Google Patents
光ディスク媒体検査装置のビットエラー検出回路Info
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- JPH04324171A JPH04324171A JP9516991A JP9516991A JPH04324171A JP H04324171 A JPH04324171 A JP H04324171A JP 9516991 A JP9516991 A JP 9516991A JP 9516991 A JP9516991 A JP 9516991A JP H04324171 A JPH04324171 A JP H04324171A
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- JP
- Japan
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- test pattern
- bit
- optical disk
- circuit
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光ディスク媒体検査装置
のビットエラー検出回路にかかり、特に光ディスク媒体
ではなく光ディスク媒体検査装置に起因するビットエラ
ーを除去して測定の信頼性を向上させ、測定を繰り返し
て行う必要性をなくして高速にビットエラーを検出する
のに好適な光ディスク媒体検査装置のビットエラー検出
回路に関する。
のビットエラー検出回路にかかり、特に光ディスク媒体
ではなく光ディスク媒体検査装置に起因するビットエラ
ーを除去して測定の信頼性を向上させ、測定を繰り返し
て行う必要性をなくして高速にビットエラーを検出する
のに好適な光ディスク媒体検査装置のビットエラー検出
回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスク媒体の評価や検査においては
、特定の繰り返しパターンを光ディスクに記録し、記録
された特定のパターンを再生し、各ビット毎に上記記録
された繰り返しパターンと再生パターンとを比較してエ
ラー率を測定するビットエラーレイト測定がある。
、特定の繰り返しパターンを光ディスクに記録し、記録
された特定のパターンを再生し、各ビット毎に上記記録
された繰り返しパターンと再生パターンとを比較してエ
ラー率を測定するビットエラーレイト測定がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術における
ビットエラーレイト測定において、テストパターンが同
期信号であるＲＥＳＹＮＣコードを含んでいない場合、
次のような原因でパターンの再生・比較時に、再生パタ
ーンにビットずれが生じ、その結果光ディスク媒体に起
因していないにもかかわらずバーストエラーが検出され
、誤った測定結果を得てしまうという問題点があった。
ビットエラーレイト測定において、テストパターンが同
期信号であるＲＥＳＹＮＣコードを含んでいない場合、
次のような原因でパターンの再生・比較時に、再生パタ
ーンにビットずれが生じ、その結果光ディスク媒体に起
因していないにもかかわらずバーストエラーが検出され
、誤った測定結果を得てしまうという問題点があった。
【０００４】すなわち、第１に光ディスク媒体の欠陥箇
所において、ＶＦＯ（可変周波数発信器）から出力され
るリードクロックが同期外れを起こすと、それ以後の再
生パターンがビットずれを起こす。
所において、ＶＦＯ（可変周波数発信器）から出力され
るリードクロックが同期外れを起こすと、それ以後の再
生パターンがビットずれを起こす。
【０００５】第２に、光ディスク媒体を回転駆動するス
ピンドルの回転数変動により、ＶＦＯから出力されるリ
ードクロックが同期外れを起こす。これによって、それ
以後の再生パターンがビットずれを起こす。
ピンドルの回転数変動により、ＶＦＯから出力されるリ
ードクロックが同期外れを起こす。これによって、それ
以後の再生パターンがビットずれを起こす。
【０００６】第３に、上記第１及び第２の理由により、
ＶＦＯ回路のマージンに対する要求が過大になる。
ＶＦＯ回路のマージンに対する要求が過大になる。
【０００７】本発明は、上記した従来技術の問題点に鑑
み成されたもので、光ディスク媒体検査装置に起因する
ビットエラーを除去して測定の信頼性を向上させ、測定
を繰り返して行う必要性をなくして高速にビットエラー
検出を行うのに好適な光ディスク媒体検査装置のビット
エラー検出回路を提供することにある。
み成されたもので、光ディスク媒体検査装置に起因する
ビットエラーを除去して測定の信頼性を向上させ、測定
を繰り返して行う必要性をなくして高速にビットエラー
検出を行うのに好適な光ディスク媒体検査装置のビット
エラー検出回路を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の光ディスク媒体
検査装置は、光ディスク媒体にテストパターンを書き込
み、光ディスク媒体からテストパターンを読み出し、読
み出されたテストパターンと書き込んだテストパターン
とを可変周波数発信器から出力されるリードクロックに
同期した状態において比較し、各ビット毎にエラーか否
かを判定するものであり、特に光ディスク媒体から読み
出されたテストパターンと書込テストパターンの間にＶ
ＦＯの同期はずれに起因するビットずれが生じた場合、
エラーの判定をインヒビットする手段を設けたことを特
徴としている。
検査装置は、光ディスク媒体にテストパターンを書き込
み、光ディスク媒体からテストパターンを読み出し、読
み出されたテストパターンと書き込んだテストパターン
とを可変周波数発信器から出力されるリードクロックに
同期した状態において比較し、各ビット毎にエラーか否
かを判定するものであり、特に光ディスク媒体から読み
出されたテストパターンと書込テストパターンの間にＶ
ＦＯの同期はずれに起因するビットずれが生じた場合、
エラーの判定をインヒビットする手段を設けたことを特
徴としている。
【０００９】
【作用】本発明によれば、ＶＦＯの同期外れに起因する
ビットずれが生じた場合、エラー信号をインヒビットす
ることができるため、測定誤りをなくすことが可能にな
る。また、測定誤りがなくなるため、測定の信頼性が向
上し、これによって測定を繰り返して行う必要性がなく
なり、高速にビットエラー検出を行う事が可能になる。
ビットずれが生じた場合、エラー信号をインヒビットす
ることができるため、測定誤りをなくすことが可能にな
る。また、測定誤りがなくなるため、測定の信頼性が向
上し、これによって測定を繰り返して行う必要性がなく
なり、高速にビットエラー検出を行う事が可能になる。
【００１０】
【実施例】以下、添付の図面に示す実施例により、更に
詳細に本発明について説明する。図１は本発明の一実施
例を示すブロック図である。図１において、１は再生２
値化信号Ａをシリアル／パラレル変換するシフトレジス
タ、２は記録テストパターンＢをシリアル／パラレル変
換するシフトレジスタ、３はシフトレジスタ２，３から
出力されるビットパターンを比較する排他オア回路、４
はシフトレジスタ１，２から出力されるパラレルパター
ン信号をアドレス入力とし、シフトレジスタ１から出力
されるパラレルパターン信号とシフトレジスタ２から出
力されるパラレルなパターン信号がビットずれを起こし
ている場合に論理値“０”をデータとして出力するテー
ブルを記憶しているＲＯＭ、５はアンド回路である。
詳細に本発明について説明する。図１は本発明の一実施
例を示すブロック図である。図１において、１は再生２
値化信号Ａをシリアル／パラレル変換するシフトレジス
タ、２は記録テストパターンＢをシリアル／パラレル変
換するシフトレジスタ、３はシフトレジスタ２，３から
出力されるビットパターンを比較する排他オア回路、４
はシフトレジスタ１，２から出力されるパラレルパター
ン信号をアドレス入力とし、シフトレジスタ１から出力
されるパラレルパターン信号とシフトレジスタ２から出
力されるパラレルなパターン信号がビットずれを起こし
ている場合に論理値“０”をデータとして出力するテー
ブルを記憶しているＲＯＭ、５はアンド回路である。
【００１１】次に、図１に示す実施例の動作について説
明する。再生２値化信号Ａはシフトレジスタ１に入力さ
れ、図示しないＶＦＯから出力されるリードクロックＣ
に同期してパラレル／シリアル変換される。さらに、記
録テストパターンＢはシフトレジスタ２に入力され、図
示しないＶＦＯから出力されるリードクロックＣに同期
してパラレル／シリアル変換される。シフトレジスタ１
の中段及びシフトレジスタ２の中段のビットパターンは
、排他オア回路３に入力され、排他オア回路３は両者が
不一致の時に限って、論理値“１”を出力する。ここで
、リードクロックＣが同期外れを起こしたとすると、再
生２値化信号Ａと記録テストパターンＢはビットずれを
起こし、排他オア回路３はエラー信号として論理値“１
”を出力する。しかし、このタイミングにおいて、ＲＯ
Ｍ４はデータとして論理値“０”をエラーインヒビット
信号として出力するため、アンド回路５のアンド条件が
成立せず、アンド回路５は論理値“０”を出力する。し
たがって、エラー信号は出力されない。
明する。再生２値化信号Ａはシフトレジスタ１に入力さ
れ、図示しないＶＦＯから出力されるリードクロックＣ
に同期してパラレル／シリアル変換される。さらに、記
録テストパターンＢはシフトレジスタ２に入力され、図
示しないＶＦＯから出力されるリードクロックＣに同期
してパラレル／シリアル変換される。シフトレジスタ１
の中段及びシフトレジスタ２の中段のビットパターンは
、排他オア回路３に入力され、排他オア回路３は両者が
不一致の時に限って、論理値“１”を出力する。ここで
、リードクロックＣが同期外れを起こしたとすると、再
生２値化信号Ａと記録テストパターンＢはビットずれを
起こし、排他オア回路３はエラー信号として論理値“１
”を出力する。しかし、このタイミングにおいて、ＲＯ
Ｍ４はデータとして論理値“０”をエラーインヒビット
信号として出力するため、アンド回路５のアンド条件が
成立せず、アンド回路５は論理値“０”を出力する。し
たがって、エラー信号は出力されない。
【００１２】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、光ディスク媒体評価装置に起因するビットず
れエラーを除去できる効果かある。
によれば、光ディスク媒体評価装置に起因するビットず
れエラーを除去できる効果かある。
【００１３】また、ビットずれエラーを除去できるので
、測定の信頼性を向上させる効果がある。
、測定の信頼性を向上させる効果がある。
【００１４】また、測定の信頼性を向上させることがで
きるため、測定を繰り返して行う必要性がなくなり、高
速にビットエラーを検出することが可能になる。
きるため、測定を繰り返して行う必要性がなくなり、高
速にビットエラーを検出することが可能になる。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
１ シフトレジスタ、
２ シフトレジスタ、
３ 排他オア回路、
４ ＲＯＭ、
５ アンド回路
Claims (2)
- 【請求項１】光ディスク媒体にテストパターンを書き込
み、光ディスク媒体からテストパターンを読み出し、読
み出されたテストパターンと書き込んだテストパターン
とを可変周波数発信器から出力されるリードクロックに
同期した状態において比較し、各ビット毎にエラーか否
かを判定する光ディスク媒体検査装置のビットエラー検
出回路において、光ディスク媒体から読み出されたテス
トパターンと書込テストパターンの間に可変周波数発信
器の同期はずれに起因するビットずれが生じた場合、エ
ラーの判定をインヒビットする手段を設けたことを特徴
とする光ディスク媒体評価装置のビットエラー検出回路
。 - 【請求項２】上記手段は、読み出されたテストパターン
をシリアル／パラレル変換する第１のシフトレジスタと
、書込テストパターンをシリアル／パラレル変換する第
２のシフトレジスタと、上記第１及び第２のシフトレジ
スタから出力されるビットパターンを比較し、両者が不
一致の場合にエラー信号を出力する排他オア回路と、第
１及び第２のシフトレジスタから出力されるパラレルテ
ストパターン信号をアドレス入力とし、第１のシフトレ
ジスタから出力されるパラレルテストパターン信号と第
２のシフトレジスタから出力されるパラレルテストパタ
ーン信号とがビットずれを起こしている場合にインヒビ
ット信号を出力するためのテーブルを記憶しているＲＯ
Ｍと、上記エラー信号と上記インヒビット信号を受け、
上記ビットずれが生じている場合にエラー信号をインヒ
ビットするアンド回路とから構成されていることを特徴
とする請求項１記載の光ディスク媒体評価装置のビット
エラー検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9516991A JPH04324171A (ja) | 1991-04-25 | 1991-04-25 | 光ディスク媒体検査装置のビットエラー検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9516991A JPH04324171A (ja) | 1991-04-25 | 1991-04-25 | 光ディスク媒体検査装置のビットエラー検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04324171A true JPH04324171A (ja) | 1992-11-13 |
Family
ID=14130265
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9516991A Pending JPH04324171A (ja) | 1991-04-25 | 1991-04-25 | 光ディスク媒体検査装置のビットエラー検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04324171A (ja) |
-
1991
- 1991-04-25 JP JP9516991A patent/JPH04324171A/ja active Pending
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