JPH03274820A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPH03274820A
JPH03274820A JP2073797A JP7379790A JPH03274820A JP H03274820 A JPH03274820 A JP H03274820A JP 2073797 A JP2073797 A JP 2073797A JP 7379790 A JP7379790 A JP 7379790A JP H03274820 A JPH03274820 A JP H03274820A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
mosfets
transistors
mosfet
current
Prior art date
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Pending
Application number
JP2073797A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuji Yamanishi
山西 雄司
Hiroshi Tanida
宏 谷田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP2073797A priority Critical patent/JPH03274820A/ja
Publication of JPH03274820A publication Critical patent/JPH03274820A/ja
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  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、特にイグナイタの出力素子として利用する半
導体装置に関する。
従来の技術 第4図(a)にMOSFETを用いた場合の従来のイグ
ナイタ回路を示した。1はトランス、2はスイッチング
用MO5FET、3は制御用回路、4は点火点、5は電
源端子を示している。制御用回路3からの信号によりM
OSFET2を動作させるとトランス1を流れる電流は
、第4図(b)に示すように時間とともに直線的に増加
し、時間toのとき最適電流ioとなってMOSFET
2が遮断され点火点4に最適条件で点火される。なお、
トランス1に流れる電流の増加率は、電源電圧及びトラ
ンスのインダクタンスにほぼ比例している。
発明が解決しようとする課題 上記の従来回路では、電源端子5に印加される電源電圧
(バッテリー電圧)が低下すると、第4図(b)の時間
に対する電流の増加率が低下し、−点鎖線で示すように
最適電流10に達しないうちにMOSFET2が遮断さ
れるため、二次側へ発生する電圧が低くなり、点火がし
にくくなるという課題があった。このような電源電圧の
低下は気温が低いときの起動におこりやすい。この課題
を改善するには、トランスのインダクタンスを小さくす
るとよいが、これによって、第4図(C)に示すように
エンジンの機械的に最適な点火のための時間to と、
電気的なMOSFET2の動作の最適なタイミング時間
t1がずれた場合、実際には時間toでMOSFETが
遮断されるため、最適電流Ioより多く流れ、トランス
1に電流が流れすぎるというおそれがある。本発明はこ
のような課題を解決するもので、イグナイタ回路におい
て点火を確実に行ない、またトランジスタのサイズの縮
小を可能とする半導体装置を提供することを目的とする
課題を解決するための手段 上記の課題を解決するための手段として本発明の半導体
装置は複数個のトランジスタが形成されたグループを複
数個有し、前記各グループが半導体基板上に交互に配列
され、同一グループ内のトランジスタの制御用端子が共
通に接続されるとともに、すべての前記トランジスタが
電源間に並列に接続された半導体装置、又は大きさの異
なる複数種のトランジスタが半導体基板上に交互に配列
され、同一サイズのトランジスタの制御用端子が共通に
接続され、電源間にすべてのトランジスタが並列に接続
されたものである。
作用 本発明の半導体装置をイグナイタのスイッチング装置に
用い、制御端子に印加する信号により動作させるトラン
ジスタの数を変化させるとイグナイタのトランスに流れ
る電流を定電流制御できるようになり、低インダクタン
スのトランスを使用することができるようになる。
実施例 本発明の半導体装置の一実施例について、第1図(a)
を参照して説明する。この実施例ではトランジスタとし
てMOSFETを用いた場合を示す。この構造は半導体
基板6の上に2組のMOSFETのグループA7とグル
ープB8を交互に配置したものである。そして、グルー
プA7はMOSFET3傭、グループB8はMOSFE
T411備え、グループA7とグループB8とはそれぞ
れ30組ずつ配置され、合計グループA7は9011.
グループB8は12011のMOSFETからなってい
る。グループA7に属するMOSFETのゲートはそれ
ぞれ共通に第1のゲート端子9に接続され、またグルー
プB8に属するMOSFETのゲートはそれぞれ共通に
第2のゲート端子10に接続され、グループA群とグル
ープB群別々の2本のゲート端子9゜10を有する構造
である。なお、第1図(a)では電源ラインと接地ライ
ンを省略している。
次に、この実施例例の等価回路を第1図(b)に示す。
グループA群11にはMOSFETが90餡、グルー1
8群12にはMOSFETが12011あり、グループ
A群11のMOSFETの全てのゲートは第1のゲート
端子9に接続され、グルー18群12のM OS F 
E Tの全てのゲートは第2のゲート端子10に接続さ
れている。そして、全てのMOSFETは電源端子13
と接地端子14間に並列に接続されている。
グループA群11のMOSFETとグルー18群12の
MOSFET、さらに両方の全てのMOSFETのドレ
イン電流とそれぞれのオン抵抗の関係を第2図に示す。
第2図において、CはグループA群のMOSFETの特
性曲線、Dはグルー18群のMOSFETの特性曲線、
Eは両方のグループ群のMOSFETの特性曲線である
。低インダクタンスのトランスを用いて、第1図のMO
SFETを全て動作させると、第4図(C)で示したよ
うに、時間toではトランスのもつ抵抗成分とMOSF
ETのオン抵抗で決まる電流により最適電流1.より多
く流れてしまうおそれがある。したがって、最適電流1
.に達したとき電流値をこの値に固定する必要がある、
すなわち定電流制御をしなければならない。本発明では
、第1図に示したMOSFETのグルー18群のトラン
ジスタのオン抵抗が急激に立ち上がる電流値IQがこの
定電流制御をかける電流値になるよう、MOSFETの
個数を決めている。なお、グループA群のトランジスタ
の数は面積をとらないためにグルー18群のトランジス
タの数より少なくする方がよい。しかしあまり少なくす
るとオン抵抗の立ち上がり電流の差がなくなってくるの
で、差がはっきり生じるトランジスタの数にする。
次に、第3図を参照して動作を説明する。はじめはグル
ープA群とB群の両方のMOSFETを動作させるが、
電流値が定電流制御をかける値(Io)に達したとき(
t2)、グループA群のMOSFETを停止させ、グル
ー18群のMOSFETだけを動作させる。すると動作
しているグルー18群のMOSFETは、電流値1.よ
りも大きな電流が流れないため定電流が流れる。そして
時間toで全てのMOSFETを停止させることにより
、トランスに最適電流でイグナイタを動作させるところ
でMOSFETのグループA、Bをチップ内に交互に配
置しているのは、定電流制御をかける際に、MOSFE
Tの動作領域が飽和領域となるので熱損失が大きくなる
ことから、チップ内の熱発生を均一化して極部的な熱発
生を防止するためである。なお、実施例ではMOSFE
Tについて述べたが、バイポーラトランジスタを利用し
てもよい。また、ランジスタのサイズの違いを利用して
オン抵抗の立ち上がり特性を利用してもよいことはあき
らかである。
発明の効果 本発明を用いることにより、イグナイタ回路において点
火を確実に行なえるようになり、またトランスのサイズ
の縮小が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明を用いた半導体装置の一実施例に
おける平面図、同図(b)はその等価回路図、第2図は
同トランジスタ群のドレイン電流とオン抵抗の関係を示
した図、第3図は同イグナイタに利用したときの一次側
電流の時間変化を示した図、第4図(a)は従来のイグ
ナイタ回路を示す図、同図(b) 、 (c)はそれぞ
れ同図(a)に示した回路の一次側電流の時間変化を示
す図である。 6・・・・・・半導体基板、7・・・・・・グループA
、8・・・・・・グループB、9・・・・・・第1のゲ
ート端子、10・・・・・・第2のゲート端子、11・
・・・・・グループA群、12・・・・・・グルー18
群、13・・・・・・電源端子、14・・・・・・接地
端子。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数個のトランジスタが形成されたグループを複
    数個有し、前記各グループが半導体基板上に交互に配列
    され、同一グループ内のトランジスタの制御用端子が共
    通に接続されるとともに、すべての前記トランジスタが
    電源間に並列に接続されている半導体装置。
  2. (2)大きさの異なる複数種のトランジスタが半導体基
    板上に交互に配列され、同一サイズのトランジスタの制
    御用端子が共通に接続されるとともに、電源間にすべて
    の前記トランジスタが並列に接続されている半導体装置
  3. (3)トランジスタがMOSトランジスタで、制御用端
    子がゲート端子である請求項1もしくは2記載の半導体
    装置。
  4. (4)トランジスタがバイポーラトランジスタで制御用
    端子がベース端子である請求項1もしくは2記載の半導
    体装置。
JP2073797A 1990-03-23 1990-03-23 半導体装置 Pending JPH03274820A (ja)

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JP2073797A JPH03274820A (ja) 1990-03-23 1990-03-23 半導体装置

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JP2073797A Pending JPH03274820A (ja) 1990-03-23 1990-03-23 半導体装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018506945A (ja) * 2015-06-09 2018-03-08 ミツビシ・エレクトリック・アールアンドディー・センター・ヨーロッパ・ビーヴィMitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V. マルチダイパワーモジュールを備えるシステム、およびマルチダイパワーモジュールの動作を制御する方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018506945A (ja) * 2015-06-09 2018-03-08 ミツビシ・エレクトリック・アールアンドディー・センター・ヨーロッパ・ビーヴィMitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V. マルチダイパワーモジュールを備えるシステム、およびマルチダイパワーモジュールの動作を制御する方法

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