JPH0329411A - 遅延回路 - Google Patents
遅延回路Info
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- JPH0329411A JPH0329411A JP1163314A JP16331489A JPH0329411A JP H0329411 A JPH0329411 A JP H0329411A JP 1163314 A JP1163314 A JP 1163314A JP 16331489 A JP16331489 A JP 16331489A JP H0329411 A JPH0329411 A JP H0329411A
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- Japan
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- delay time
- inverter circuit
- mos transistor
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 101001099542 Aspergillus niger Pectin lyase A Proteins 0.000 description 3
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
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- Pulse Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はCMOS半導体集積回路により構成される遅延
回路に関する。
回路に関する。
[従来の技術コ
従来から、この種の遅延回路として第3図に示?回路が
知られている。
知られている。
第3図に示すように、正電源VDDと接地GNDとの間
に相1111対接続されたPチャネル型MOSトランジ
スタP.及びNチャネル型MOSトランジスタN.は入
力段のCMOSインバータ回路Illを構成している。
に相1111対接続されたPチャネル型MOSトランジ
スタP.及びNチャネル型MOSトランジスタN.は入
力段のCMOSインバータ回路Illを構成している。
このCMOSインバータ回路I.■は入力端子INを介
して入力された信号を反転させて出力部Aに出力する。
して入力された信号を反転させて出力部Aに出力する。
このCMOSインバータ回路I IIの出力部Aと接地
GNDとの間にはコンデンサC1が接続されている。こ
のコンデンサCIの容量とPチャネル型MOSトランジ
スタP1■及びNチャネル型MOSトランジスタN1■
のオン抵抗とにより決まる時定数により、CMOSイン
バータ回路I IIの出力信号の遅延時間が決定される
。また、電源V。Dと接地GNDとの間に直列に接続さ
れたPチャネル型MOSトランジスタP14及びNチャ
ネル型MOSトランジスタN14は、出力段のCMOS
インバータ回路工.■を構成している。このCMOSイ
ンバータ回路工、■は出力部Aの電位が所定のスレッシ
ロルド電圧に達し?ときにその出力を反転させ、出力端
子OUTを介して出力する。更に、電源V DDと出力
部Aとの間にはPチャネル型MOSトランジスタP1■
及びP■3が直列に接続されている。また、出力部Aと
接地GNDとの間にはNチャネル型MOSトランジスタ
Nl2及びNl3が直列に接続されている。そして、M
OSトランジスタPI■及びN1。のゲート電極は、入
力端子INに共通接続され、MOSトランジスタP13
及びNl3のゲート電極は、出力端子OUTに共通接続
されている。
GNDとの間にはコンデンサC1が接続されている。こ
のコンデンサCIの容量とPチャネル型MOSトランジ
スタP1■及びNチャネル型MOSトランジスタN1■
のオン抵抗とにより決まる時定数により、CMOSイン
バータ回路I IIの出力信号の遅延時間が決定される
。また、電源V。Dと接地GNDとの間に直列に接続さ
れたPチャネル型MOSトランジスタP14及びNチャ
ネル型MOSトランジスタN14は、出力段のCMOS
インバータ回路工.■を構成している。このCMOSイ
ンバータ回路工、■は出力部Aの電位が所定のスレッシ
ロルド電圧に達し?ときにその出力を反転させ、出力端
子OUTを介して出力する。更に、電源V DDと出力
部Aとの間にはPチャネル型MOSトランジスタP1■
及びP■3が直列に接続されている。また、出力部Aと
接地GNDとの間にはNチャネル型MOSトランジスタ
Nl2及びNl3が直列に接続されている。そして、M
OSトランジスタPI■及びN1。のゲート電極は、入
力端子INに共通接続され、MOSトランジスタP13
及びNl3のゲート電極は、出力端子OUTに共通接続
されている。
このように構成された従来の遅延回路では、入力端子I
Nを介して入力される入力信号が接地電位に変化すると
、Pチャネル型MOSトランジスタPllを介してコン
デンサC1が充電される。これにより、出力部Aの電位
が上昇する。出力部Aの電位がNチャネル型MOSトラ
ンジスタNI4のスレッシロルド電圧に達すると、CM
OSインバータ回路I1■の出力は接地レベルに反転す
る。この時間の遅れが立下り時の遅延時間(TPIIL
)となる。CMOSインバータ回路I12の出力が接地
?ベルになると、Pチャネル型MOSトランジスタPl
3がオンする。トランジスタP1。は既にオン状態であ
るから、この瞬間よりPチャネル型MOSトランジスタ
P+++P1■,PI:lを介してコンデンサCIが急
速に充電され、山力部Aは重源V。0レベルに立上る。
Nを介して入力される入力信号が接地電位に変化すると
、Pチャネル型MOSトランジスタPllを介してコン
デンサC1が充電される。これにより、出力部Aの電位
が上昇する。出力部Aの電位がNチャネル型MOSトラ
ンジスタNI4のスレッシロルド電圧に達すると、CM
OSインバータ回路I1■の出力は接地レベルに反転す
る。この時間の遅れが立下り時の遅延時間(TPIIL
)となる。CMOSインバータ回路I12の出力が接地
?ベルになると、Pチャネル型MOSトランジスタPl
3がオンする。トランジスタP1。は既にオン状態であ
るから、この瞬間よりPチャネル型MOSトランジスタ
P+++P1■,PI:lを介してコンデンサCIが急
速に充電され、山力部Aは重源V。0レベルに立上る。
一方、入力y:tli−F−I Nを介して入力される
入力信号が電源電位V。0に変化すると、Nチャネル型
MOSトランジスタN1■がオンして、コンデンサCI
の蓄桔電荷は、MOSトランジスタNllを介して放電
される。これにより出力部Aの電位が下降する。出力部
Aの電位がPチャネル型MOSトランジスタpt4のス
レッショルド電圧に達すると、CMOSインバータ回路
I12の出力は電源レベルに反転する。この時間の遅れ
が立上り時の遅延時間(Tpz.u)となる。CMOS
インバータ回路I.■の出力が電源電圧レベルになると
、Nチャネノレ型MOSトランジスタNIGがオンする
。トランジスタN.■は既にオン状態であるから、この
瞬間よりNチャネル型MOSトランジスタNIIIN+
■,N1Gを介してコンデンサC1の電荷が急速に放電
され、出力部Aは接地レベルに立下る。
入力信号が電源電位V。0に変化すると、Nチャネル型
MOSトランジスタN1■がオンして、コンデンサCI
の蓄桔電荷は、MOSトランジスタNllを介して放電
される。これにより出力部Aの電位が下降する。出力部
Aの電位がPチャネル型MOSトランジスタpt4のス
レッショルド電圧に達すると、CMOSインバータ回路
I12の出力は電源レベルに反転する。この時間の遅れ
が立上り時の遅延時間(Tpz.u)となる。CMOS
インバータ回路I.■の出力が電源電圧レベルになると
、Nチャネノレ型MOSトランジスタNIGがオンする
。トランジスタN.■は既にオン状態であるから、この
瞬間よりNチャネル型MOSトランジスタNIIIN+
■,N1Gを介してコンデンサC1の電荷が急速に放電
され、出力部Aは接地レベルに立下る。
このように、上記遅延回路の遅延時間は、Pチャネル型
MOSトランジスタP.又はNチャネル型MOSトラン
ジスタN+tのオン抵抗とコンデンサCjの容量との時
定数により決定される。
MOSトランジスタP.又はNチャネル型MOSトラン
ジスタN+tのオン抵抗とコンデンサCjの容量との時
定数により決定される。
[発明が解決しようとする課題コ
しかしながら、上述した従来の遅延回路においては、電
源電圧、温度又はスレッショルド電圧に変動が起こった
場合に、コンデンサC1に対する充電不足又は放電不足
が発生して入力信号の遅延時間TPLIIと遅延時間T
putとが相対的に大きく変化し、これにより、入力波
形に対する出力波形のデューティ比に変化が生じるとい
う問題点がある。また、遅延時間T PIIL I T
ptoを一つのインバータ回路によって決定している
ため、所望する遅延時間の遅延回路の設計が困難である
という問題点がある。
源電圧、温度又はスレッショルド電圧に変動が起こった
場合に、コンデンサC1に対する充電不足又は放電不足
が発生して入力信号の遅延時間TPLIIと遅延時間T
putとが相対的に大きく変化し、これにより、入力波
形に対する出力波形のデューティ比に変化が生じるとい
う問題点がある。また、遅延時間T PIIL I T
ptoを一つのインバータ回路によって決定している
ため、所望する遅延時間の遅延回路の設計が困難である
という問題点がある。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
立上り時及び立下り時の遅延時間の相対変化が少なく、
所望する遅延時間を容易に設定することができる遅延回
路を提供することを目的とする。
立上り時及び立下り時の遅延時間の相対変化が少なく、
所望する遅延時間を容易に設定することができる遅延回
路を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段コ
本発明に係る遅延回路は、正電源と負電源との間にPチ
ャネル型MOSトランジスタ及びNチャネル型MOSト
ランジスタが相補対接続されてなるインバータ回路が4
段縦続接続されて構成され、第1段のインバータ回路は
、そのPチャネル型MOSトランジスタがそのNチャネ
ル型MOSトランジスタに比して小さいオン抵抗を有し
、第3段のインバータ回路は、そのNチャネル型MOS
LランジスタがそのPチャネノレ型MOSトランジスタ
に比して小さいオン抵抗を有することを特徴とする。
ャネル型MOSトランジスタ及びNチャネル型MOSト
ランジスタが相補対接続されてなるインバータ回路が4
段縦続接続されて構成され、第1段のインバータ回路は
、そのPチャネル型MOSトランジスタがそのNチャネ
ル型MOSトランジスタに比して小さいオン抵抗を有し
、第3段のインバータ回路は、そのNチャネル型MOS
LランジスタがそのPチャネノレ型MOSトランジスタ
に比して小さいオン抵抗を有することを特徴とする。
[作用コ
本発明においては、入力信号がハイレベルになると、第
1段のインバータ回路のNチャネル型MOSトランジス
タがオンする。この第1段のNチャネル型MOSトラン
ジスタは駆動能力が小さい?め、その出力信号の立下り
に比較的長い時問を要する。この時間が立上り時の遅延
時間TPL■となる。従って、TpL■はこの第1段の
Nチャネル型MOSトランジスタの駆動能力により決定
される。この信号は第2段乃至第4段のインバータ回路
で順次反耘されて、出力端子OUTを介して出力される
。
1段のインバータ回路のNチャネル型MOSトランジス
タがオンする。この第1段のNチャネル型MOSトラン
ジスタは駆動能力が小さい?め、その出力信号の立下り
に比較的長い時問を要する。この時間が立上り時の遅延
時間TPL■となる。従って、TpL■はこの第1段の
Nチャネル型MOSトランジスタの駆動能力により決定
される。この信号は第2段乃至第4段のインバータ回路
で順次反耘されて、出力端子OUTを介して出力される
。
また、入力信号がローレベルになると、第3段のインバ
ータ回路にはローレベルの信号が入力される。そうする
と、第3段のインバータ回路のPチャネル型MOSトラ
ンジスタがオンする。この第3段のインバータ回路のP
チャネル型MOSトランジスタは駆動能力が小さいため
、その出力信号の立上りに比較的長い時間を要する。こ
の時間が立下り時の遅延時問TPIILとなる。従って
、TPIILはこの第3段のPチャネル型MOSトラン
ジスタの駆動能力により決定される。この信号は第4段
のインバータ回路で反転されて、出力姻子OUTを介し
て出力される。
ータ回路にはローレベルの信号が入力される。そうする
と、第3段のインバータ回路のPチャネル型MOSトラ
ンジスタがオンする。この第3段のインバータ回路のP
チャネル型MOSトランジスタは駆動能力が小さいため
、その出力信号の立上りに比較的長い時間を要する。こ
の時間が立下り時の遅延時問TPIILとなる。従って
、TPIILはこの第3段のPチャネル型MOSトラン
ジスタの駆動能力により決定される。この信号は第4段
のインバータ回路で反転されて、出力姻子OUTを介し
て出力される。
このように、本発明においては、遅延時間? pLI1
を決定するインバータ回路と、遅延時間TPIILを決
定するインバータ回路とが異なる。このため、入力信号
の立上りの際には、遅延時間T’pt.■に関与しない
第3段のインバータ回路の出力端は速やかに放電され、
入力信号の立下りの際には、遅延時間TIIIILに関
与しない第1段のインバータ回路の出力端は速やかに充
電される。従って、第1段及び第3段のインバータ回路
は、共に基準電位からの放電及び充電を行うので、電源
電圧、温度又はトランジスタのスレッシθルド電圧が変
化した場合でも、遅延時間TPLN及びT’pnz.が
相対的に変化することがない。また、遅延時間TPLI
IとTPIILとを異なるインバータによって夫々独立
に設定できるので、遅延時間の設計が容易になる。
を決定するインバータ回路と、遅延時間TPIILを決
定するインバータ回路とが異なる。このため、入力信号
の立上りの際には、遅延時間T’pt.■に関与しない
第3段のインバータ回路の出力端は速やかに放電され、
入力信号の立下りの際には、遅延時間TIIIILに関
与しない第1段のインバータ回路の出力端は速やかに充
電される。従って、第1段及び第3段のインバータ回路
は、共に基準電位からの放電及び充電を行うので、電源
電圧、温度又はトランジスタのスレッシθルド電圧が変
化した場合でも、遅延時間TPLN及びT’pnz.が
相対的に変化することがない。また、遅延時間TPLI
IとTPIILとを異なるインバータによって夫々独立
に設定できるので、遅延時間の設計が容易になる。
[実施例コ
次に、本発明の実施例について添付の図面を参照して説
明する 第1図は本発明の実施例に係る遅延回路を示す回路図で
ある。
明する 第1図は本発明の実施例に係る遅延回路を示す回路図で
ある。
第1図に示すように、この遅延回路は、入力端子INと
出力端子OUTとの間に4つのCMOSインバータ回路
I.,I。+ I3+ 14が縦続接続されて構成
されている。
出力端子OUTとの間に4つのCMOSインバータ回路
I.,I。+ I3+ 14が縦続接続されて構成
されている。
CMOSインバータ回路I.乃至I4は夫々電源V。D
と接地GNDとの間に相浦対接続されたPチャネル型M
OSトランジスタP1及びNチャネル型MOSトランジ
スタN.1Pチャネル型MOSトランジスタP2及びN
チャネル型MOSトランジスタN2、Pチャネノレ型M
OSトランジスタP3及びNチャネル型MOSトランジ
スタN,並びにPチャネル型MOSトランジスタP4及
びNチャネル型MOSトランジスタN4により構成され
ている。
と接地GNDとの間に相浦対接続されたPチャネル型M
OSトランジスタP1及びNチャネル型MOSトランジ
スタN.1Pチャネル型MOSトランジスタP2及びN
チャネル型MOSトランジスタN2、Pチャネノレ型M
OSトランジスタP3及びNチャネル型MOSトランジ
スタN,並びにPチャネル型MOSトランジスタP4及
びNチャネル型MOSトランジスタN4により構成され
ている。
また、Pチャネル型MOSトランジスタP+は、Nチャ
ネル型MOSトランジスタNlに比して、そのオン抵抗
が小さく、つまり駆動能力が高く設定されている。Nチ
ャネル型MOSトランジスタN3はPチャネル型MOS
トランジスタP3に比して、そのオン抵抗が小さく、つ
まり駆動能力が高く設定されている。Pチャネル型MO
SトランジスタP2l P4及びNチャネル型MOSト
ランジスタN..N4の駆動能力は略等しく設定されて
いる。
ネル型MOSトランジスタNlに比して、そのオン抵抗
が小さく、つまり駆動能力が高く設定されている。Nチ
ャネル型MOSトランジスタN3はPチャネル型MOS
トランジスタP3に比して、そのオン抵抗が小さく、つ
まり駆動能力が高く設定されている。Pチャネル型MO
SトランジスタP2l P4及びNチャネル型MOSト
ランジスタN..N4の駆動能力は略等しく設定されて
いる。
このようにIvi成された遅延回路においては、入力端
子INに人力された入力信号がハイレベルになると、第
1段のCMOSインバータ回路1.のNチャネル型MO
SトランジスタNlがオンする。
子INに人力された入力信号がハイレベルになると、第
1段のCMOSインバータ回路1.のNチャネル型MO
SトランジスタNlがオンする。
Nチャネル型MOSトランジスタN1は駆動能力が小さ
いため、その出力信号の立下りに比較的長い時間を要す
る。
いため、その出力信号の立下りに比較的長い時間を要す
る。
しかし、CMOSインバータ回路I,の出力レベルが次
段のCMOSインバータ回路I2の入力スレッシaルド
レベルを超えると、次段以降のCMOSインバータ回路
I2.I3,I4は急速にその出力状態を変化させる。
段のCMOSインバータ回路I2の入力スレッシaルド
レベルを超えると、次段以降のCMOSインバータ回路
I2.I3,I4は急速にその出力状態を変化させる。
従って、この立上り時の遅延時間TPLI1は第1段の
CMOSインバータ回路I,の出力変化の時間により決
定される。
CMOSインバータ回路I,の出力変化の時間により決
定される。
また、入力信号がローレベルになると、第1段及び第2
段のCMOSインバータ回路I,,I2は急速にその出
力状態を変化させ、第3段のCMOSインバータ回路I
3のPチャネル型MOSトランジスタP3がオンする。
段のCMOSインバータ回路I,,I2は急速にその出
力状態を変化させ、第3段のCMOSインバータ回路I
3のPチャネル型MOSトランジスタP3がオンする。
しかし、Pチャネル型MOSI−ランジスタP3は駆動
能力が小さいため、その出力信号の立上りに比較的長い
時間を要する。従って、遅延時間TPIILは第3段の
CMOSインバータ回路I3により決定される。
能力が小さいため、その出力信号の立上りに比較的長い
時間を要する。従って、遅延時間TPIILは第3段の
CMOSインバータ回路I3により決定される。
第2図は本発明の実施例に係る遅延回路の動作をシミュ
レーシロンした結果を示すグラフ図であり、測定点は第
1図中のCMOSインバータ回路r.,I..IIの出
力端である節点a+ b+ Cと入力端子IN及び
出力端子OUTである。横軸には経過時間、縦軸には電
圧を示す。第2図から明らかなように、入力信号がロー
レベルからハイレベルに変わるとき、遅延時間TPLI
1は節点aの電圧、即ち、CMOSインバータ回路I,
により決定されている。また、入力信号がハイレペルか
らローレベルに変わるとき、遅延時間T PHLは節点
Cの電圧、即ち、CMOSインバータ回路I3により決
定されている。
レーシロンした結果を示すグラフ図であり、測定点は第
1図中のCMOSインバータ回路r.,I..IIの出
力端である節点a+ b+ Cと入力端子IN及び
出力端子OUTである。横軸には経過時間、縦軸には電
圧を示す。第2図から明らかなように、入力信号がロー
レベルからハイレベルに変わるとき、遅延時間TPLI
1は節点aの電圧、即ち、CMOSインバータ回路I,
により決定されている。また、入力信号がハイレペルか
らローレベルに変わるとき、遅延時間T PHLは節点
Cの電圧、即ち、CMOSインバータ回路I3により決
定されている。
?た、節点aへの充電及び節点Cからの放電は急速に行
われるので、節点al Cは常に基準となる電位(V
oD,GND)から放電及び充電される。
われるので、節点al Cは常に基準となる電位(V
oD,GND)から放電及び充電される。
このため、電源電圧、温度又はトランジスタのスレッシ
ョルド電圧が変動した場合でも、遅延時間T PLII
I T pIILの相対変化が少なく、デューティ比
の変動を防止することができる。
ョルド電圧が変動した場合でも、遅延時間T PLII
I T pIILの相対変化が少なく、デューティ比
の変動を防止することができる。
更に、遅延時間T PLIIとT PIILとを夫々C
MOSインバータ回路Il,I3によって個別に設定で
きるので、遅延時間の設計が容易になる。また、CMO
Sインバータ回路I2又はCMOSインバ・ータ回路I
4により遅延時間T PLII I T potの両者
を決定することも可能である。
MOSインバータ回路Il,I3によって個別に設定で
きるので、遅延時間の設計が容易になる。また、CMO
Sインバータ回路I2又はCMOSインバ・ータ回路I
4により遅延時間T PLII I T potの両者
を決定することも可能である。
[発明の効果コ
以上説明したように本発明によれば、遅延回路の遅延時
間TPL■及びT PIILを決定するインバータ回路
が異なっている。これにより、所望する遅延時間の遅延
回路を設計することが容易である。
間TPL■及びT PIILを決定するインバータ回路
が異なっている。これにより、所望する遅延時間の遅延
回路を設計することが容易である。
また、遅延時間の電源電圧、温度又はトランジスタのス
レッシaルド電圧に変動が生じても、遅延?間のT P
to及びTpot.が相対的に変化することを抑制する
ことができるため、デューティ比の変動を防止すること
できる。
レッシaルド電圧に変動が生じても、遅延?間のT P
to及びTpot.が相対的に変化することを抑制する
ことができるため、デューティ比の変動を防止すること
できる。
第1図は本発明の実施例に係る遅延回路を示す回路図、
第2図はその遅延回路のシミュレーション結果を示すグ
ラフ図、第3図は従来の遅延回路を示す回路図である。 If,I2,I。+ I41 1+s+ I+■
; CMOSインバータ回路、P+t P21 P
31 P41P +1+ P 121 P Il
l P 14 : Pチャネル型MOSトランジスタ
、N r + N2 r N3 + N4 + N l
l+N1■+ N ,3+ N 14 1 Nチャネル
型MOSトランジスタ、C1 ;コンデンサ、IN;入
力端子、OUT;出力端子
第2図はその遅延回路のシミュレーション結果を示すグ
ラフ図、第3図は従来の遅延回路を示す回路図である。 If,I2,I。+ I41 1+s+ I+■
; CMOSインバータ回路、P+t P21 P
31 P41P +1+ P 121 P Il
l P 14 : Pチャネル型MOSトランジスタ
、N r + N2 r N3 + N4 + N l
l+N1■+ N ,3+ N 14 1 Nチャネル
型MOSトランジスタ、C1 ;コンデンサ、IN;入
力端子、OUT;出力端子
Claims (1)
- (1)正電源と負電源との間にPチャネル型MOSトラ
ンジスタ及びNチャネル型MOSトランジスタが相補対
接続されてなるインバータ回路が4段縦続接続されて構
成され、第1段のインバータ回路は、そのPチャネル型
MOSトランジスタがそのNチャネル型MOSトランジ
スタに比して小さいオン抵抗を有し、第3段のインバー
タ回路は、そのNチャネル型MOSトランジスタがその
Pチャネル型MOSトランジスタに比して小さいオン抵
抗を有することを特徴とする遅延回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1163314A JPH0329411A (ja) | 1989-06-26 | 1989-06-26 | 遅延回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1163314A JPH0329411A (ja) | 1989-06-26 | 1989-06-26 | 遅延回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0329411A true JPH0329411A (ja) | 1991-02-07 |
Family
ID=15771481
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1163314A Pending JPH0329411A (ja) | 1989-06-26 | 1989-06-26 | 遅延回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0329411A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5453709A (en) * | 1993-07-20 | 1995-09-26 | Sharp Kabushiki Kaisha | Constant CMOS delay circuit |
| US6300813B1 (en) | 1998-10-07 | 2001-10-09 | Nec Corporation | Delay circuit |
-
1989
- 1989-06-26 JP JP1163314A patent/JPH0329411A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5453709A (en) * | 1993-07-20 | 1995-09-26 | Sharp Kabushiki Kaisha | Constant CMOS delay circuit |
| US6300813B1 (en) | 1998-10-07 | 2001-10-09 | Nec Corporation | Delay circuit |
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