JPH03295011A - 磁気ヘッド - Google Patents
磁気ヘッドInfo
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- JPH03295011A JPH03295011A JP9642690A JP9642690A JPH03295011A JP H03295011 A JPH03295011 A JP H03295011A JP 9642690 A JP9642690 A JP 9642690A JP 9642690 A JP9642690 A JP 9642690A JP H03295011 A JPH03295011 A JP H03295011A
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- thin film
- magnetic
- film
- magnetic head
- head
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、磁気コアの少なくとも一部が磁性薄膜と電気
絶縁薄膜との積層構造をとる磁気ヘッドに関する。
絶縁薄膜との積層構造をとる磁気ヘッドに関する。
[従来の技術]
コア基体と、該コア基体上に形成された高飽和磁束密度
、高透磁率の磁性薄膜とからなるコア半休同志を接合し
た構造をとる磁気ヘッドは公知であり、近時、例えばV
TRなどにおG1て多用され始めている。
、高透磁率の磁性薄膜とからなるコア半休同志を接合し
た構造をとる磁気ヘッドは公知であり、近時、例えばV
TRなどにおG1て多用され始めている。
核種、コア基体と磁性薄膜とでコア半休を形成する磁気
ヘッドの中には、特開昭61−250810号公報の中
でその1変形例として開示されているように、うず電流
損失の低減を図るため、コア基体上に磁性薄膜、電気絶
縁薄膜、磁性薄膜を順次積層して成膜した多層薄膜構造
(多層磁性層構造)をとるものが知られており、磁性薄
膜間に設けられた層間絶縁g(電気絶縁薄膜)としては
SiO□等の酸化物が用いられていた。
ヘッドの中には、特開昭61−250810号公報の中
でその1変形例として開示されているように、うず電流
損失の低減を図るため、コア基体上に磁性薄膜、電気絶
縁薄膜、磁性薄膜を順次積層して成膜した多層薄膜構造
(多層磁性層構造)をとるものが知られており、磁性薄
膜間に設けられた層間絶縁g(電気絶縁薄膜)としては
SiO□等の酸化物が用いられていた。
[発明が解決しようとする課題]
ところで本願発明者等の実験によれば、上記した従来技
術の如く磁性薄膜間にSin、等の酸化物よりなる電気
絶縁薄膜を介在させた構造を採った場合、磁性薄膜と電
気絶縁薄膜との界面において充分な付着力が得られず、
層間剥離が起き易いということが判明した。そして、こ
の眉間剥離が起きると空隙が生じ、媒体摺動に伴って空
隙部分に磁性粉が溜るため、−度記録した信号が消され
がちになり、ヘッド特性が劣化するという問題があった
。
術の如く磁性薄膜間にSin、等の酸化物よりなる電気
絶縁薄膜を介在させた構造を採った場合、磁性薄膜と電
気絶縁薄膜との界面において充分な付着力が得られず、
層間剥離が起き易いということが判明した。そして、こ
の眉間剥離が起きると空隙が生じ、媒体摺動に伴って空
隙部分に磁性粉が溜るため、−度記録した信号が消され
がちになり、ヘッド特性が劣化するという問題があった
。
従って、本発明の解決すべき技術的課題は上記した従来
技術のもつ問題点を解消することにあり、その目的とす
るところは、磁気コアの少なくとも一部が磁性薄膜と電
気絶縁薄膜との積層構造をとる磁気ヘッドにおいて、層
間剥離をなくし以って磁性粉が溜ることによるヘッドの
帯磁を防止できる磁気ヘッドを提供することにある。
技術のもつ問題点を解消することにあり、その目的とす
るところは、磁気コアの少なくとも一部が磁性薄膜と電
気絶縁薄膜との積層構造をとる磁気ヘッドにおいて、層
間剥離をなくし以って磁性粉が溜ることによるヘッドの
帯磁を防止できる磁気ヘッドを提供することにある。
[課題を解決するための手段]
本発明は上記した目的を達成するため、磁気コアの少な
くとも一部が薄膜によって形成され、且つ該薄膜が磁性
薄膜と電気絶縁薄膜との積層構造(多層磁性層構造)を
とる磁気ヘッドにおいて、前記磁性薄膜と電気絶縁薄膜
との界面の少なくとも一部に、例えば、Cr薄膜よりな
る非磁性接合用薄膜を設けた、構成とされる。
くとも一部が薄膜によって形成され、且つ該薄膜が磁性
薄膜と電気絶縁薄膜との積層構造(多層磁性層構造)を
とる磁気ヘッドにおいて、前記磁性薄膜と電気絶縁薄膜
との界面の少なくとも一部に、例えば、Cr薄膜よりな
る非磁性接合用薄膜を設けた、構成とされる。
[作用]
磁性薄膜と電気絶縁薄膜との間に介在するCr薄膜(非
磁性接合用薄膜)は、例えばS i O,薄膜よりなる
電気絶縁薄膜とは、S i O,中の酸素と結びついて
Cr Ozを生成し易く、この化学結合によって強固な
付着力が得られ、また、例えばCoNbZr非晶質磁性
合金膜よりなる磁性薄膜とは、金属結合をするためここ
でも強固な付着力が得られる。よって、非磁性接合用薄
膜は磁性薄膜と電気絶縁薄膜の両者に対して強い付着力
を持つため、従来の如く眉間剥離が生じることが無く、
剥離空隙に磁性粉が溜ることに起因するヘッドの帯磁を
防止することができる。
磁性接合用薄膜)は、例えばS i O,薄膜よりなる
電気絶縁薄膜とは、S i O,中の酸素と結びついて
Cr Ozを生成し易く、この化学結合によって強固な
付着力が得られ、また、例えばCoNbZr非晶質磁性
合金膜よりなる磁性薄膜とは、金属結合をするためここ
でも強固な付着力が得られる。よって、非磁性接合用薄
膜は磁性薄膜と電気絶縁薄膜の両者に対して強い付着力
を持つため、従来の如く眉間剥離が生じることが無く、
剥離空隙に磁性粉が溜ることに起因するヘッドの帯磁を
防止することができる。
[実施例]
以下、本発明の一実施例を第1図〜第4図によって説明
する。
する。
第1図は本実施例に係る磁気ヘッドの摺動面側の要部拡
大平面図、第2図は磁気ヘッドの斜視図である。
大平面図、第2図は磁気ヘッドの斜視図である。
第2図において、符号1で総括的に示す磁気ヘッドは、
対をなすコア半休2A、2Bを低融点のガラス8で接合
したものでヘッドチップが構成されている。上記各コア
半体2A、2Bは、フェライトよりなるコア基体3と、
該コア基体3の突き合わせ・対向面側に形成された多層
薄膜部4からなっており、多層薄膜部4は、第1図に示
すように、磁性薄膜5.非磁性接合用薄膜6.電気絶縁
薄膜7.非磁性接合用薄膜6.磁性薄膜5が順次積層さ
れた5層構造となっている。また、前記対をなすコア基
体3の対向面には三角形状の突部3aがそれぞれ形成さ
れ、該突部3aの頂部においで前記多層薄膜部4はトラ
ック幅相当分の幅をもつように平坦化されている0本実
施例においては、上記磁性薄膜5は膜厚が15μmのC
oNbZr非晶質薄膜よりなり、前記非磁性接合用薄膜
6は膜厚が0.03μmのCr1l膜よりなり、電気絶
縁薄膜7は膜厚が0.05μmのS i O,薄膜より
なっており、これらは後述するようにスパッタリング等
の薄膜形成技術で順次成膜されている。
対をなすコア半休2A、2Bを低融点のガラス8で接合
したものでヘッドチップが構成されている。上記各コア
半体2A、2Bは、フェライトよりなるコア基体3と、
該コア基体3の突き合わせ・対向面側に形成された多層
薄膜部4からなっており、多層薄膜部4は、第1図に示
すように、磁性薄膜5.非磁性接合用薄膜6.電気絶縁
薄膜7.非磁性接合用薄膜6.磁性薄膜5が順次積層さ
れた5層構造となっている。また、前記対をなすコア基
体3の対向面には三角形状の突部3aがそれぞれ形成さ
れ、該突部3aの頂部においで前記多層薄膜部4はトラ
ック幅相当分の幅をもつように平坦化されている0本実
施例においては、上記磁性薄膜5は膜厚が15μmのC
oNbZr非晶質薄膜よりなり、前記非磁性接合用薄膜
6は膜厚が0.03μmのCr1l膜よりなり、電気絶
縁薄膜7は膜厚が0.05μmのS i O,薄膜より
なっており、これらは後述するようにスパッタリング等
の薄膜形成技術で順次成膜されている。
なお、9は膜厚が0.2μmのSin、薄膜よりなるギ
ャップ規制薄膜、10は巻線窓、11はコイルである。
ャップ規制薄膜、10は巻線窓、11はコイルである。
上記したように本実施例においては、前記磁性薄膜5と
電気絶縁薄膜7との間に゛層間接合材料としてCrより
なる非磁性接合用薄膜6が介在した構成となっている。
電気絶縁薄膜7との間に゛層間接合材料としてCrより
なる非磁性接合用薄膜6が介在した構成となっている。
このCrは、Sin、薄膜よりなる電気絶縁薄膜6とは
、Sin、中の酸素と結びついてCr Oxを生成し易
く、この化学結合によって強固な付着力が得られ、また
、Co N bZr非晶質磁性合金膜よりなる磁性層I
J5とは、金属結合をするためここでも強固な付着力が
得られる。よって、非磁性接合用薄膜6は磁性薄膜5゜
電気絶縁薄膜7の両者に対して強い付着力を持つため、
従来の如く層間剥離が生じることがない。
、Sin、中の酸素と結びついてCr Oxを生成し易
く、この化学結合によって強固な付着力が得られ、また
、Co N bZr非晶質磁性合金膜よりなる磁性層I
J5とは、金属結合をするためここでも強固な付着力が
得られる。よって、非磁性接合用薄膜6は磁性薄膜5゜
電気絶縁薄膜7の両者に対して強い付着力を持つため、
従来の如く層間剥離が生じることがない。
第3図は、第1,2図に示した磁気ヘッドの製造方法を
示す工程説明図である。
示す工程説明図である。
先ず同図(、)に示すように、前記コア基体3の母材と
なるフェライト基板3’ 、3’上に、ダイシングソー
などにより前記した突部3aを形づくるためにW字形の
溝20を形成し、この際、方のフェライト基板3′には
前記した巻線窓10を形成するための溝21を併せて切
削加工する。
なるフェライト基板3’ 、3’上に、ダイシングソー
などにより前記した突部3aを形づくるためにW字形の
溝20を形成し、この際、方のフェライト基板3′には
前記した巻線窓10を形成するための溝21を併せて切
削加工する。
次に、上記したように溝加工を施したフェライト基板3
′上に、前記磁性薄膜5となるC o N bZr薄膜
を成膜しく同図(b)) 、統いて、前記非磁性接合用
薄膜6となるCr薄膜、前記電気絶縁薄膜7となるS
i O,薄膜を順次成膜した後、再び、Cr1tl膜(
非磁性接合用薄膜6) 、CoNbZr薄膜(磁性薄膜
5)を成膜・形成する(同図(Q))、なお、以上の成
膜には全てConv。
′上に、前記磁性薄膜5となるC o N bZr薄膜
を成膜しく同図(b)) 、統いて、前記非磁性接合用
薄膜6となるCr薄膜、前記電気絶縁薄膜7となるS
i O,薄膜を順次成膜した後、再び、Cr1tl膜(
非磁性接合用薄膜6) 、CoNbZr薄膜(磁性薄膜
5)を成膜・形成する(同図(Q))、なお、以上の成
膜には全てConv。
RFスパッタ法を用いる。
続いて同図(d)に示すように、低融点の鉛系のガラス
8を表面の凹部が完全に埋まるように充填・被着した後
、下層側の磁性層5が所定量露呈するまで表面をラッピ
ング等の手段で研磨・除去し、前記突部3aの頂部の前
記多層薄膜部4がトラック幅をもつように平坦化する。
8を表面の凹部が完全に埋まるように充填・被着した後
、下層側の磁性層5が所定量露呈するまで表面をラッピ
ング等の手段で研磨・除去し、前記突部3aの頂部の前
記多層薄膜部4がトラック幅をもつように平坦化する。
然る後、同図(e)に示すように、一方のフェライト基
板3′のラップ面上に前記ギャップ規制薄膜9となるS
iO2薄膜を、マグネトロンスパッタ法で成膜・形成す
る。
板3′のラップ面上に前記ギャップ規制薄膜9となるS
iO2薄膜を、マグネトロンスパッタ法で成膜・形成す
る。
この後、斯様な薄膜形成部をもつ対となるフェライト基
板3’ 、3’同志を位置合わせして、ガラス8によっ
てボンディングして一体化しく同図(f))、最後に、
この組立ブロックをダイシングソーによってヘッドチッ
プとして切り出し、媒体摺動面に研磨を施した後、コイ
ル11を巻回すれば磁気ヘッドが作製されることになる
。
板3’ 、3’同志を位置合わせして、ガラス8によっ
てボンディングして一体化しく同図(f))、最後に、
この組立ブロックをダイシングソーによってヘッドチッ
プとして切り出し、媒体摺動面に研磨を施した後、コイ
ル11を巻回すれば磁気ヘッドが作製されることになる
。
第4図は前記した実施例による磁気ヘッドと。
従来の(磁性薄膜と電気絶縁薄膜との間に非磁性接合用
薄膜がない磁気ヘッド)との再生出力を比較し、グラフ
化して示す説明図である。同図から明らかなように1本
発明の実施例による磁気ヘッドは眉間剥離がなく、剥離
空間への磁性粉の浸入・蓄積がないので(ヘッドの帯磁
がないので)、従来に較べて再生出力で3〜4dBの改
善が認められた。
薄膜がない磁気ヘッド)との再生出力を比較し、グラフ
化して示す説明図である。同図から明らかなように1本
発明の実施例による磁気ヘッドは眉間剥離がなく、剥離
空間への磁性粉の浸入・蓄積がないので(ヘッドの帯磁
がないので)、従来に較べて再生出力で3〜4dBの改
善が認められた。
以下1本発明の他の実施例を第5図〜第7図によって説
明する。
明する。
第5図(a)〜(c)は本発明の他の実施例に係る磁気
ヘッドの斜視図である。
ヘッドの斜視図である。
第5図(a)において、符号1で総括的に示す磁気ヘッ
ドは、対をなすコア半休2A、2Bを低融点のガラス8
で接合したものでヘッドチップが構成されている。上記
各コア半休2A、2Bは、フェライトよりなるコア基体
3と、該コア基体3の突き合わせ・対向面側に形成され
た多層薄膜部4からなっており、多層薄膜部4は、第1
図に示す前記した構成となっている。なお、9は膜厚0
゜2μmのSiO2薄膜よりなるギャップ規制薄膜、1
0は巻線窓、11はコイルである。
ドは、対をなすコア半休2A、2Bを低融点のガラス8
で接合したものでヘッドチップが構成されている。上記
各コア半休2A、2Bは、フェライトよりなるコア基体
3と、該コア基体3の突き合わせ・対向面側に形成され
た多層薄膜部4からなっており、多層薄膜部4は、第1
図に示す前記した構成となっている。なお、9は膜厚0
゜2μmのSiO2薄膜よりなるギャップ規制薄膜、1
0は巻線窓、11はコイルである。
上記したように本実施例においては、前記磁性薄膜5と
電気絶縁薄膜7との間に層間接合材料としてCrよりな
る非磁性接合用薄膜6が介在した構成となっている。
電気絶縁薄膜7との間に層間接合材料としてCrよりな
る非磁性接合用薄膜6が介在した構成となっている。
第6図は、第5図(a)に示した磁気ヘッドの製造方法
を示す工程説明図である。
を示す工程説明図である。
先ず同図(a)に示すように、前記コア基体3の母材と
なるフェライト基板3’ 、3’上に、ダイシングソー
などにより前記した突部3aを形づくるためにW字形の
溝20を形成し、この際、−方のフェライト基板3′に
は前記した巻線窓10を形成するための溝21を併せて
切削加工する。
なるフェライト基板3’ 、3’上に、ダイシングソー
などにより前記した突部3aを形づくるためにW字形の
溝20を形成し、この際、−方のフェライト基板3′に
は前記した巻線窓10を形成するための溝21を併せて
切削加工する。
次に、上記したように溝加工を施したフェライト基板3
′上に、前記磁性薄膜5となるC o N bZr薄膜
を成膜しく同図(b))、続いて、前記非磁性接合用薄
膜6となるCr薄膜、前記電気絶縁薄1117となるS
i O,薄膜を順次成膜した後。
′上に、前記磁性薄膜5となるC o N bZr薄膜
を成膜しく同図(b))、続いて、前記非磁性接合用薄
膜6となるCr薄膜、前記電気絶縁薄1117となるS
i O,薄膜を順次成膜した後。
再び、Cr薄膜(非磁性接合用%IWA6) 、CoN
bZr1l膜(磁性薄膜5)を成膜・形成する(同図(
c))、なお、以上の成膜には全てCo n v 。
bZr1l膜(磁性薄膜5)を成膜・形成する(同図(
c))、なお、以上の成膜には全てCo n v 。
RFスパッタ法を用いる。
続いて同図(d)に示すように、低融点の鉛系のガラス
8を表面の凹部が完全に埋まるように充填・被着した後
、下層側の磁性層5が所定量露呈するまで表面をラッピ
ング等の手段で研磨・除去し、前記突部3aの頂部の前
記多層薄膜部4がトラック幅をもつように平坦化する。
8を表面の凹部が完全に埋まるように充填・被着した後
、下層側の磁性層5が所定量露呈するまで表面をラッピ
ング等の手段で研磨・除去し、前記突部3aの頂部の前
記多層薄膜部4がトラック幅をもつように平坦化する。
然る後、同図(e)に示すように、一方のフェライト基
板3′のラップ面上に前記ギャップ規制薄膜9となるS
iO□薄膜を、マグネトロンスパッタ法で成膜・形成す
る。
板3′のラップ面上に前記ギャップ規制薄膜9となるS
iO□薄膜を、マグネトロンスパッタ法で成膜・形成す
る。
この後、斯様な薄膜形成部をもつ対となるフェライト基
板3’ 、3’同志を位置合わせして、ガラス8によっ
てボンディングして一体化しく同図(f))、最後に、
この組立ブロックをダイシングソーによってヘッドチッ
プとして切り出し、媒体摺動面に研磨を施した後、コイ
ル11を巻回すれば磁気ヘッドが作製されることになる
。
板3’ 、3’同志を位置合わせして、ガラス8によっ
てボンディングして一体化しく同図(f))、最後に、
この組立ブロックをダイシングソーによってヘッドチッ
プとして切り出し、媒体摺動面に研磨を施した後、コイ
ル11を巻回すれば磁気ヘッドが作製されることになる
。
本実施例による磁気ヘッドは、前述した実施例と同様、
再生出力で3〜4dBの改善が認められた。
再生出力で3〜4dBの改善が認められた。
次に、第5図(b)、(c)において特別1で総括的に
示す磁気ヘッドは対をなすコア半体2A。
示す磁気ヘッドは対をなすコア半体2A。
2Bを低融点のガラス8で接合したものでヘッドチップ
が構成されている。上記各コア半体2A。
が構成されている。上記各コア半体2A。
2Bは、フェライトよりなるコア基体3と、該コア基体
3の突き合わせ・対向面側に形成された多層薄膜部4か
らなっており、多層薄膜部4は、第1図に示す前記した
構成になっている。なお、9は膜厚0.2μmのS i
O,薄膜よりなるギヤツブ規制薄膜、10は巻線窓、
11はコイルである。
3の突き合わせ・対向面側に形成された多層薄膜部4か
らなっており、多層薄膜部4は、第1図に示す前記した
構成になっている。なお、9は膜厚0.2μmのS i
O,薄膜よりなるギヤツブ規制薄膜、10は巻線窓、
11はコイルである。
上記したように本実施例においては、前記磁性薄膜5と
電気絶縁薄膜7との間に層間接合材料としてC,rより
なる非磁性接合用薄膜6が介在した構成となっている。
電気絶縁薄膜7との間に層間接合材料としてC,rより
なる非磁性接合用薄膜6が介在した構成となっている。
第7図は、第5図(b)、(Q)に示した磁気ヘッドの
製造方法を示す工程説明図である。
製造方法を示す工程説明図である。
先ず同図(a)に示すように、前記コア基体3の母材と
なるフェライト基板3’ 、3’上に、ダイシングソー
などにより前記した突部38を形づくるためにW字形の
溝20を切削加工する。
なるフェライト基板3’ 、3’上に、ダイシングソー
などにより前記した突部38を形づくるためにW字形の
溝20を切削加工する。
次に、上記したように溝加工を施したフェライト基板3
′上に、前記磁性薄膜5となるC o N bZr薄膜
を成膜しく同図(b))、続いて、前記非磁性接合用薄
膜6となるCrN膜、前記電気絶縁薄膜7となるSin
、薄膜を順次成膜した後。
′上に、前記磁性薄膜5となるC o N bZr薄膜
を成膜しく同図(b))、続いて、前記非磁性接合用薄
膜6となるCrN膜、前記電気絶縁薄膜7となるSin
、薄膜を順次成膜した後。
再び、Cr薄膜(非磁性接合用薄膜6)、CoNbZr
薄膜(磁性薄膜5)を成膜・形成する(同図(Q))、
なお、以上の成膜には全てCo n v 。
薄膜(磁性薄膜5)を成膜・形成する(同図(Q))、
なお、以上の成膜には全てCo n v 。
RFスパッタ法を用いる。
続いて同図(d)に示すように、低融点の鉛系のガラス
8を表面の凹部が完全に埋まるように充填・被着した後
、下層側の磁性層5が所定量露呈するまで表面をラッピ
ング等の手段で研磨・除去し、前記突部3aの頂部の前
記多層薄膜部4がトラック幅をもつように平坦化する。
8を表面の凹部が完全に埋まるように充填・被着した後
、下層側の磁性層5が所定量露呈するまで表面をラッピ
ング等の手段で研磨・除去し、前記突部3aの頂部の前
記多層薄膜部4がトラック幅をもつように平坦化する。
然る後、同図(e)に示すように、一方のフェライト基
板3′のラップ面上に前記ギャップ規制薄膜9となる5
i02#膜を、マグネトロンスパッタ法で成膜・形成す
る。
板3′のラップ面上に前記ギャップ規制薄膜9となる5
i02#膜を、マグネトロンスパッタ法で成膜・形成す
る。
上記した一対のフェライト基板3′のうち、少なくとも
一方のフェライト基板3′には巻IIA窓10Bもしく
は10Cを形成するための溝21(図示せず)を切削加
工する。
一方のフェライト基板3′には巻IIA窓10Bもしく
は10Cを形成するための溝21(図示せず)を切削加
工する。
この後、斯様な薄膜形成部をもつ対となるフェライト基
板3’ 、3’同志を位置合わせして、ガラス8によっ
てボンディングして一体化しく同図(f))、最後に、
この組立ブロックをダイシングソーによってヘッドチッ
プとして切り出し、媒体摺動面に研磨を施した後、コイ
ル11を巻回すれば磁気ヘッドが作製されることになる
。
板3’ 、3’同志を位置合わせして、ガラス8によっ
てボンディングして一体化しく同図(f))、最後に、
この組立ブロックをダイシングソーによってヘッドチッ
プとして切り出し、媒体摺動面に研磨を施した後、コイ
ル11を巻回すれば磁気ヘッドが作製されることになる
。
本実施例による磁気ヘッドは、前述した実施例と同様、
再生出力で3〜4dBの改善が認められた。
再生出力で3〜4dBの改善が認められた。
なお、上述した実施例では、前記コア基体3にフェライ
ト(磁性体)を用いているが、コア基体には非磁性高硬
度材を用いてもよい、また、前記磁性薄膜5は、金属磁
性材もしくは酸化物磁性材であればよく、前記非磁性接
合用薄膜6も酸化物絶縁材であればよい。また、前記非
磁性接合用薄膜6もCr以外に、Ti、Zr、Hf、V
、Nb。
ト(磁性体)を用いているが、コア基体には非磁性高硬
度材を用いてもよい、また、前記磁性薄膜5は、金属磁
性材もしくは酸化物磁性材であればよく、前記非磁性接
合用薄膜6も酸化物絶縁材であればよい。また、前記非
磁性接合用薄膜6もCr以外に、Ti、Zr、Hf、V
、Nb。
Ta、Mo、W等を用いても1強力な付着力を得ること
ができる。
ができる。
[発明の効果]
以上のように本発明によれば、磁気コアの少なくとも一
部が磁性薄膜と電気絶縁薄膜との積層構造をとる磁気ヘ
ッドにおいて、眉間剥離をなくして剥離空間に磁性粉が
溜ることによるヘッドの帯磁を防止でき、以って特性信
頼性に優れた磁気ヘッドを提供でき、その価値は大きい
。
部が磁性薄膜と電気絶縁薄膜との積層構造をとる磁気ヘ
ッドにおいて、眉間剥離をなくして剥離空間に磁性粉が
溜ることによるヘッドの帯磁を防止でき、以って特性信
頼性に優れた磁気ヘッドを提供でき、その価値は大きい
。
図面は何れも本発明の一実施例に係り、第1図は磁気ヘ
ッドの摺動面倒の要部拡大平面図、第2図は磁気ヘッド
の斜視図、第3図は磁気ヘッドの製造工程を示す説明図
、第4図は本発明の磁気ヘッドと従来の磁気ヘッドの再
生出力特性を対比して示す説明図、第5図は本発明の他
の実施例による磁気ヘッドの斜視図、第6図及び第7図
は磁気ヘッドの製造工程を示す説明図である。 1・・・磁気ヘッド、 2A、2B・・・コア半体、
3・・・コア基体、 3a・・・突部、4・・・多層薄
膜部。 5・・・磁性薄膜、 6・・・非磁性接合用薄膜、7・
・・電気絶縁薄膜、 8・・・ガラス、9・・・ギャッ
プ規制薄膜、 10・・・巻線窓、11・・・コイル。
ッドの摺動面倒の要部拡大平面図、第2図は磁気ヘッド
の斜視図、第3図は磁気ヘッドの製造工程を示す説明図
、第4図は本発明の磁気ヘッドと従来の磁気ヘッドの再
生出力特性を対比して示す説明図、第5図は本発明の他
の実施例による磁気ヘッドの斜視図、第6図及び第7図
は磁気ヘッドの製造工程を示す説明図である。 1・・・磁気ヘッド、 2A、2B・・・コア半体、
3・・・コア基体、 3a・・・突部、4・・・多層薄
膜部。 5・・・磁性薄膜、 6・・・非磁性接合用薄膜、7・
・・電気絶縁薄膜、 8・・・ガラス、9・・・ギャッ
プ規制薄膜、 10・・・巻線窓、11・・・コイル。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、磁気コアの少なくとも一部が薄膜によって形成され
、且つ該薄膜が磁性薄膜と電気絶縁薄膜との積層構造を
とる磁気ヘッドにおいて、前記磁性薄膜と電気絶縁薄膜
との界面の少なくとも一部に非磁性接合用薄膜を設けた
ことを特徴とする磁気ヘッド。 2、請求項1記載において、前記非磁性接合用薄膜とし
てCr薄膜を用いたことを特徴とする磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9642690A JPH03295011A (ja) | 1990-04-13 | 1990-04-13 | 磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9642690A JPH03295011A (ja) | 1990-04-13 | 1990-04-13 | 磁気ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03295011A true JPH03295011A (ja) | 1991-12-26 |
Family
ID=14164667
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9642690A Pending JPH03295011A (ja) | 1990-04-13 | 1990-04-13 | 磁気ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03295011A (ja) |
-
1990
- 1990-04-13 JP JP9642690A patent/JPH03295011A/ja active Pending
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