JPH0330863Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0330863Y2
JPH0330863Y2 JP14031385U JP14031385U JPH0330863Y2 JP H0330863 Y2 JPH0330863 Y2 JP H0330863Y2 JP 14031385 U JP14031385 U JP 14031385U JP 14031385 U JP14031385 U JP 14031385U JP H0330863 Y2 JPH0330863 Y2 JP H0330863Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tank
test
environmental test
environmental
chamber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP14031385U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6247979U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP14031385U priority Critical patent/JPH0330863Y2/ja
Publication of JPS6247979U publication Critical patent/JPS6247979U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0330863Y2 publication Critical patent/JPH0330863Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は、半導体等の電子部品を様々な温度や
湿度の環境下で、それらの信頼性に関する通電試
験を行なうための環境試験装置に関するもので、
特に試験装置そのものが耐えられないような高温
又は低温環境における長時間の試験履行に適した
装置に関するものである。
従来の技術 従来の環境試験装置としては、恒温恒湿装置内
に被試験体を入れ、その中で様々な環境試験を行
なうようにした固定型(バツチ型)のものや、第
2図に示すように、断熱材で覆われた高温槽1
と、中間槽2と低温槽3とからなり、高温槽1に
対して加熱専用恒温空気供給装置4から陽圧の高
温空気を送風するようにし、低温槽3に対して低
温用恒温空気供給装置5からはやはり陽圧の低温
空気を送風するようにし、さらに中間槽2内部に
ヒーター6を設置したものにおいて、各槽内を移
動する搬送ベルト7を装備し、該搬送ベルト7上
に載置された被試験物8を特定の場所において、
検査ステーシヨン9で通電試験を行なうようにし
たものがある。
考案が解決しようとする問題点 しかしながらかかる従来の環境試験装置では、
様々な温度下において環境試験を行なうことが出
来る利点は有つても、試験槽内に検査ステーシヨ
ンを配置しているので、検査ステーシヨン自体が
温度に耐えられないといつた不都合があつた。ま
たかかる装置では、特定の場所でのみ通電試験を
行なうようにしているため、長時間連続した通電
試験を行なうには無理があつた。搬送ベルトの下
方に検査ステーシヨンを設置し、連続した通電試
験を行なうことが考えられるが、かかる場合には
検査ステーシヨンが下方に設置されているために
検査の途中に検査状態を目視できないといつた不
都合がある。
そこで本考案はかかる従来技術の欠点に鑑み、
連続した通電試験が可能で、且つ検査状態をいつ
でも目視できるような装置を提供することを目的
とする。
問題を解決するための手段 すなわち本考案は、ダクトを通じて恒温空気供
給装置と接続された環境試験槽と、該環境試験槽
内において長手方向に敷設された互いに平行な案
内レールと、該案内レールに沿つて連続して移動
する搬送手段と、該搬送手段の中央部に固着され
た環境試験槽の上壁まで伸びる垂直板とからな
り、前記案内レール、搬送手段及び垂直板により
環境試験室内が恒温槽と常温槽とに区画された前
記搬送手段上方の常温槽側に試験装置が配置さ
れ、試験装置が配置された環境試験槽の側壁又は
上壁に窓が設けられ、搬送手段の下方が給電エリ
アとされ、給電エリアと常温槽とを連通したライ
ン型環境試験装置により本目的を達成する。
尚垂直板は、案内レールに沿つて直立に固着さ
れる。
作 用 本考案の装置では、駆動装置の作動により搬送
手段が連続的に移動し、それと共に搬送手段上の
試験装置、垂直板及び被試験物が搬送される。そ
の際、ダクトを通じて恒温空気が環境試験装置内
の恒温槽側に送り込まれる。
しかし、環境試験槽内が連続する搬送手段上の
垂直板等によつて恒温槽と常温槽とに区画されて
いるので、試験装置は常温の状態に維持される。
したがつて、本考案にかかる装置では、試験装置
が高温に晒されることにより壊れることなく、連
続した試験を行なうことが出来る。
また試験中は、環境試験槽の常温槽側の側壁又
は上壁に窓が設けられているので、試験者は環境
試験における試験結果をいつでも目視することが
できる。
実施例 以下に本考案を第11図に示された一実施例に
従つて詳細に説明する。
図において、10は断熱材11からなる環境試
験槽であり、該環境試験槽10はダクト12を通
じて図示しない恒温空気供給装置と接続されてい
る。
環境試験槽10内の長手方向には、その両側壁
に固着された支持部材13,14と、該支持部材
13,14に接続された枕木材15,16を介し
て案内レール17,18が敷設されている。この
案内レール17,18上には図示しない駆動手段
によつて連続して移動する搬送手段19が載置さ
れている。
この搬送手段19の中央部には、環境試験槽1
0内の搬送手段上部を恒温槽20と常温槽21と
に区画する断熱材よりなる搬送手段と同じ長さの
垂直板22が案内レールと平行に固着されてい
る。
さらにこの垂直板22と環境試験槽10内の上
壁との間には、恒温槽20と常温槽21とをより
完全に区画するべく上壁にパツキン23が装着さ
れている。
24は搬送手段19の恒温槽20側に載置され
た被試験物であり、25は各搬送手段19の常温
槽21側に載置された試験装置であり、26は試
験装置25の表示部である。
また27は環境試験槽10の常温槽21側の側
壁に設けた表示部26を目視するための窓であ
る。28は各搬送手段の下方に装着された給電エ
リアである。
尚本考案にかかる装置では、環境試験槽10内
は連続して移動する搬送手段19と、該搬送手段
19に固着された垂直板22と、案内レール17
と、枕木材15と、支持部材13により恒温槽2
0と常温槽21とに区画隔離されている。
支持部材14には、搬送手段12の下方(給電
エリア)と搬送手段の上方方(常温槽側)とを連
通するための切り欠きが設けられている。
以上説明したように本考案にかかる装置では、
ダクト2を介して恒温空気供給手段より恒温槽2
0内に低温又は高温の空気が供給される。その結
果環境試験槽10内は、恒温槽20と常温槽21
とに分けられる。
そして恒温槽20側の各搬送手段に載置された
被試験物24は搬送中に所定の温度に加熱又は冷
却され、その間試験装置25によつて被試験物2
4に関して通電試験が行なわれる。
その通電結果は常時表示部26に表示されるの
で試験者は、窓27を介して目視することが出来
る。恒温槽21内は、垂直板22等で恒温槽20
と区画されているために高温又は低温になること
がない。
尚給電エリア21は様々な種類の通電試験を行
なうためになるべく広くとる必要がある。
また、本考案にかかる給電エリア21への通電
は、図面には示していないが集電ブラシ等により
外部から集めるようにする。
又本実施例では、窓を環境試験槽の側壁に設け
たが、これに限定されるものではなく試験装置の
表示部の位置によつてて上壁部に設けてもよい。
効 果 以上説明したように本考案にかかる装置では、
試験装置と恒温槽内とが隔離されているので、試
験装置がこわれにく。
また搬送手段の上側を垂直板により常温槽と高
温槽とに区画した結果、試験装置を目視しやすい
搬送手段の上側に設けることができる。その為窓
を環境試験槽の側壁又は上壁に設けることがで
き、試験者は常に試験状態を目視することが出来
る。
さらに試験装置を搬送手段の上方に設け、搬送
手段の下方の給電エリアを広くとるように構成し
たため給電の数が多くとれ、様々な種類の通電試
験を行なうことが出来る。
給電エリアへの通電を集電ブラシ等でとるよう
に構成したため、連続した通電試験を行なうこと
が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案にかかる装置の一実施例を示す
装置の横断面図、第2図は従来技術を示す装置の
縦断面図である。 1……高温槽、2……中間槽、3……低温槽、
4,5……空気供給装置、6……ヒーター、7…
…搬送ベルト、8……被試験物、9……検査ステ
ーシヨン、10……環境試験槽、11……断熱
材、12……ダクト、13,14……支持部材、
15,16……枕木材、17,18……案内レー
ル、19……搬送手段、20……恒温槽、21…
…常温槽、22……垂直板、23……パツキン、
24……被試験物、25……試験装置、26……
表示部、27……窓。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) ダクトを通じて恒温空気供給装置と接続され
    た環境試験槽と、該環境試験槽内において長手
    方向に敷設された互いに平行な案内レールと、
    該案内レールに沿つて連続して移動する搬送手
    段と、該搬送手段上に固着された環境試験槽の
    上壁まで伸びる垂直板とからなり、前記案内レ
    ール、搬送手段及び垂直板により環境試験室内
    が恒温槽と常温槽とに区画された前記搬送手段
    上方の常温槽側に試験装置が配置され、試験装
    置が配置された環境試験槽の側壁又は上壁に窓
    が設けられ、搬送手段の下方が給電エリアとさ
    れ、給電エリアと常温槽とが連通していること
    を特徴とするライン型環境試験装置。 (2) 搬送手段上に固着された垂直板の上部と環境
    試験槽の上壁との間にパツキンを装着したこと
    を特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項記
    載のライン型環境試験装置。
JP14031385U 1985-09-13 1985-09-13 Expired JPH0330863Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14031385U JPH0330863Y2 (ja) 1985-09-13 1985-09-13

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14031385U JPH0330863Y2 (ja) 1985-09-13 1985-09-13

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6247979U JPS6247979U (ja) 1987-03-24
JPH0330863Y2 true JPH0330863Y2 (ja) 1991-06-28

Family

ID=31047046

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14031385U Expired JPH0330863Y2 (ja) 1985-09-13 1985-09-13

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0330863Y2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6247979U (ja) 1987-03-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6005404A (en) Environmental test apparatus with partition-isolated thermal chamber
KR101411233B1 (ko) 전지검사장치
CN103537326A (zh) 恒温箱及测温系统
JPH0330863Y2 (ja)
US4692694A (en) Load testing apparatus for electronic components
JPH0333023Y2 (ja)
CN110261007A (zh) 一种应用无线温度传感器和无人机精确定位的数据机房局部热点探测系统及方法
Box Measuring Thermal Conductance in Large Wall Sections
CN106707133A (zh) 一种隧道式电路板综合时效老化处理检测装置
KR102342165B1 (ko) 국부적 기류를 이용한 전자기기의 열충격 시험장치
US5929340A (en) Environmental test apparatus with ambient-positioned card support platform
CN105352536A (zh) 一种轨道式连续循环多温区试验箱及试验方法
JP3254775B2 (ja) Icデバイスの恒温試験装置
JPH05172735A (ja) 環境試験装置の構造
JPH0229188B2 (ja)
JPS62204173A (ja) エ−ジング装置
JPH075425Y2 (ja) 測定部の結露防止装置
JPH0645910Y2 (ja) ソケットボードの結露防止装置
JPH0539500Y2 (ja)
US7234510B1 (en) X-ray food inspection console support and cooling system
CN216207622U (zh) 基于服务器虚拟化的硬件散热性能测试设备
US6803547B2 (en) Apparatus for and method of heating semiconductor devices
DE69031883D1 (de) Kühlvorrichtung mit elektrisch isoliertem Wärmerohr für Halbleiter
CN223166858U (zh) 一种用于油浸式变压器套管的试验装置
JPS59147278A (ja) 電子部品の負荷試験装置