JPH033133A - プリフォーマット部位置検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、一定角速度回転型いわゆるＣＡＶ型のプリフ
ォーマット付き光ディスクにおけるプリフォーマット部
の位置を検出する検出装置の改良に関しする。

〈従来の技術〉 光ディスクテスタでＣＡＶプリフォーマット付き光ディ
スクの検査（例えば、傷、ビットエラー等の検査）を行
なう場合、各セクタの先頭部にあるプリフォーマット部
除去が必要であり、従来より各種のプリフォーマット部
位置検出方式がある。

従来のプリフォーマット部位置検出方法は大別して次の
２通りである。

１つは、光ディスク回転用のスピンドルモータに直結し
たエンコーダから発せられるＺ相パルス（１回転に１パ
ルス発生する）をトリガにし、オシロスコープにプリフ
ォーマット部再生信号を表示し、Ｚ相と最初に現われた
プリフォーマット部信号の先頭部の角度差を手動操作に
よりｎ１定する。

測定した角度差、予め設定しであるプリフォーマット数
およびプリフォーマット幅等の精度から、プリフォーマ
ット部マスク信号を生成する方式である。

他の方式としては、プリフォーマット部のセクタマーク
信号またはアドレス信号を再生２値化デジタル処理を行
い、セクタマークまたはアドレスを認識し、この情報か
らプリフォーマット部位置信号を生成する方式である。

〈発明が解決しようとする課題〉 しかしながら、前者の方法では手動に頼るため無人運転
ができないこと、またオシロスコープが必要となる等の
問題があり、後者の場合にはハードウェアが複雑になり
、また多種多様なセクタマークまたはアドレスのフォー
マットにすべて対応させるのは不可能である等の問題が
あった。

本発明は、このような問題点を解決するもので、その目
的は、手動によるプリフォーマット部先頭位置設定作業
やオシロスコープを必要とすることなく、あらゆるセク
タマークやアドレスのフォーマットに対応できるプリフ
ォーマット部位置検出装置ををｔｉ供することにある。

く課題を解決するための手段〉 このような目的を達成するための本発明は、光ディスク
回転用スピンドルモータに直結したエンコーダから出力
されるＺ相パルスおよびＡ相パルスを使用し、Ａ相パル
スを基準としてウィンドを生成しＺ相パルスから各ウィ
ンド内ごとに２値化信号のパルスの立ち上がりエツジの
有無に対応した１、０の２値データを得るパルスエツジ
カウント回路と、プリフォーマット数、プリフォーマッ
ト幅を設定するためのキーボードと、予め設定された前
記プリフォーマット数、プリフォーマット幅およびエツ
ジの有無に対応した２値データを受け、１回転をプリフ
ォーマット数で等分した角度のそれぞれをスタートポイ
ントとし、各スタートポイントからプリフォーマット幅
内にあるウィンド中の前記２値データの各ビットの合計
を１ウインドずらすごとに求め、その合計値が最大とな
ったスタートポイントをプリフォーマットの先頭位置と
決定する機能を有したプロセッサと、前記決定されたプ
リフォーマットの先頭位置、Ｚ相およびＡ相パルスより
各プリフォーマット部位置をマスクするマスク信号を発
生するプリフォーマット部マスク信号生成回路を具備し
たことを特徴とする。

く作用〉 パルスエツジカウント回路で各ウィンドごとに再生２値
化信号のパルスの立ち上がりエツジの有無に対応した１
、０の２値データを得る。プロセッサでは、プリフォー
マット数からスタートポイントを割り出し、各スタート
ポイントから所定幅のプリフォーマット幅を特定し、そ
の特定幅内にある前記２値データの各ビットを１回転分
にわたって合計する。

これをスタートポイントから１ウインドずつずらしなが
ら同様にして合計を求でゆく。その後このようにして求
められた合計値から、それが最大となるスタートポイン
トをプリフォーマットの先頭と決定する。

〈実施例〉 以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。

第１図は本発明に係るプリフォーマット部位置検出装置
の一実施例を示す構成図である。図において、１はＣＡ
Ｖ光ディスク、２はこの光ディスクを回転させるための
スピンドルモータで、３はスピンドルモータの回転を検
出し、１回転ごとに１個のパルス（Ｚ相パルス）と１回
転ごとに１０２４個のパルス（Ａ相パルス）を発生する
エンコーダである。

４は光学ヘッドで、レーザー光を光ディスク１に照射す
ると共に光ディスクからの反射光を受は取り光ディスク
上の情報を再生した再生信号を出力する。光学ヘッドの
出力レーザー光はレーザーパワー制御回路５により所定
のパワーとなるように制御される。６は光ビームが光デ
ィスク上に正しく照射され適切なフォーカスおよびトラ
ッキングが行なわれるように制御するためのサーボ制御
回路である。レーザーパワー制御回路５およびサーボ制
御回路６は、バス経由で接続されたプロセッサ１２から
の指令に基づき動作する。

７は光学ヘッド４が出力する再生信号を適宜の大きさに
増幅するプリアンプ、８は増幅された再生信号を２値化
する２値化回路、９は２値化された再生信号を基にして
光ディスクの傷、ピットエラーレイト等を測定する測定
部である。

１０はパルスエツジカウント回路で、前記２値化回路の
出力とＺ相パルスおよびＡ相パルスを受け、Ａ相パルス
を基準としてウィンドを生成しＺ相パルスから各ウィン
ド内ごとに２値化信号のパルスの立ち上がりエツジの有
無に対応した１、０の２値データを得る。

１１はプリフォーマット部マスク信号生成回路で、Ｚ相
パルス、Ａ相パルスおよびプロセッサ１２よりプリフォ
ーマット部の先頭を示すデータを受け、プリフォーマッ
ト部をマスクするマスク信号を生成する。

プロセッサ１２は、レーザーパワー制御回路５およびサ
ーボ制御回路６へ指示する機能の他、キーボード１３よ
り入力されたプリフォーマット数やプリフォーマット幅
およびパルスエツジカウント回路１０からの情報を基に
プリフォーマット部の先頭位置を求める機能を有する。

また、δ−１定部９からの光ディスクの傷、ビットエラ
ー等の情報（データ）を受け、所定の処理に基づき光デ
ィスクの良否判断等を行なう機能も有する。

なお、特にパルスエツジカウント回路１０、プリフォー
マット部マスク信号生成回路１１、キーボード１３およ
びプロセッサ１２でのプリフォーマット先頭部決定機能
は、本発明特有の部分である。なお、他の構成部分およ
び動作についてはことごとく周知のものであり、特に本
発明とは直接に関係しないこともあるので、ここでは詳
細な説明を省略する。

このような構成における動作は次の通りである。

第２図の動作フローに従って説明する。まず、キーボー
ド１３より入力されたプリフォーマット数（例えば、１
８）、プリフォーマット幅（例えば、１度）をプロセッ
サ１２に記憶する。

次に、光学ヘッド４よりＣＡＶ光ディスク１にレーザー
光を照射し、検出された再生信号をプリアンプ７を介し
て２値化回路８に取り込み２値化する。その２値化信号
は第３図の（ａ）に示すような信号となる。

パルスエツジカウント回路１０では、エンコーダ３より
与えられるＡ相パルスを基準としてウィンド（第３図（
ｂ））を生成し、エンコーダ３から与えられるＺ相パル
ス（第３図（Ｃ））の期間内のウィンド数をカウントす
ると共に、各ウィンドにおいて２値化回路８から与えら
れる再生信号のエツジの有無を判別し、エツジがある場
合は１、ない場合は０とする１回転分にわたる２値デー
タ（第３図（ｄ））を生成し記憶する。このデータはプ
ロセッサ１２へ転送される。

プロセッサ１２では次のような処理を行なう。

まず、３６０度をプリフォーマット数で等分した角度の
それぞれをスタートポイントと定める。

各スタートポイントからプリフォーマット幅分にあるウ
ィンド（第３図（ｅ））中に存在する２値データの各ビ
ットの合計を求める。この場合、最初は図示のようにそ
の合計は１である。次に、スタートポイントを１．ウィ
ンド後へずらし、同様にウィンド中の２値データの各ビ
ットの合計を求める。その合計は３である。

次のスタートポイントでの合計は図示のようになり、合
計が６となる。

以後最後のスタートポイントになるまで上記と同様の動
作を繰り返す。

求められた各合計値の内で最大となる場合のスタートポ
イントをその光ディスクのプリフォーマット部の先頭と
定める。図示の場合は合計が６となる位置である。いま
、ウィンド数が１回転当り１６３８４とすると、この場
合スタートポイントは、３番目であるから、 （３６ｏ＃８３８４）　ｘ　２−０．０４４（度）であ
る。

プリフォーマット数、プリフォーマット幅および決定さ
れたスタートポイントをプリフォーマット部マスク信号
生成回路１１へ転送する。

これにより、プリフォーマット部マスク信号生成回路１
１では第３図の（ｊ）に示すようなマスク信号を出力す
る。測定部９は入力される２値化信号をこのマスク信号
でマスクすることにより、プリフォーマット部が除去さ
れた信号を取り込み、傷、ビットエラー等の測定を行な
うことができる。

〈発明の効果〉 以上詳細に説明したように、本発明によれば次のような
効果がある。

（Ａ）プロセッサ上でプリフォーマット部を自動検出す
る機能を持っているため、従来のようにオシロスコープ
等での確認や手動設定を必要としない。そのため無人運
転が可能である上、プリフォーマット部位置検出に要す
る時間を短縮することもできる。

（Ｂ）Ａ相同期のウィンド中の再生信号のエツジの有無
によりプリフォーマット部を検出するため、多種多様な
プリフォーマットに対応できる。これは、従来のセクタ
マークまたはアドレスを認識するタイプのものでは不可
能である。

（Ｃ）プロセッサでのプリフォーマット部位置決定処理
は統計的処理を含まないため、演算時間が短い。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係るプリフォーマット部位置検出装置
の一実施例を示す構成図、第２図は動作フロー、第３図
はタイムチャートである。 １・・・ＣＡＶ光ディスク　　２・・・スピンドルモー
タ３・・・エンコーダ　　　　　４・・・光学ヘッド５
・・・レーザーパワー制御回路 ６・・・サーボ制御回路　　　７・・・プリアンプ８・
・・２値化回路　　　　　９・・・測定部１０・・・パ
ルスエツジカウント回路 １１・・・プリフォーマット部マスク信号生成回路１２
・・・プロセッサ　　　　１３・・・キーボード第２　
図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 光ディスクからの再生信号を２値化し、この２値化信号
   を基に光ディスクの傷、ビットエラー等を測定する光デ
   ィスクテスタにおいて使用されるプリフォーマット部検
   出装置であって、 光ディスク回転用スピンドルモータに直結したエンコー
   ダから出力されるＺ相パルスおよびＡ相パルスを使用し
   、Ａ相パルスを基準としてウインドを生成しＺ相パルス
   から各ウインド内ごとに２値化信号のパルスの立ち上が
   りエッジの有無に対応した１、０の２値データを得るパ
   ルスエッジカウント回路と、 プリフォーマット数、プリフォーマット幅を設定するた
   めのキーボードと、 予め設定された前記プリフォーマット数、プリフォーマ
   ット幅およびエッジの有無に対応した２値データを受け
   、１回転をプリフォーマット数で等分した角度のそれぞ
   れをスタートポイントとし、各スタートポイントからプ
   リフォーマット幅内にあるウインド中の前記２値データ
   の各ビットの合計を１ウインドずらすごとに求め、その
   合計値が最大となったスタートポイントをプリフォーマ
   ットの先頭位置と決定する機能を有したプロセッサと、
   前記決定されたプリフォーマットの先頭位置、Ｚ相およ
   びＡ相パルスより各プリフォーマット部位置をマスクす
   るマスク信号を発生するプリフォーマット部マスク信号
   生成回路とを具備したことを特徴とするプリフォーマッ
   ト部位置検出装置。