JPH0369037A

JPH0369037A - 光ディスクプリフォーマット部自動検出装置

Info

Publication number: JPH0369037A
Application number: JP20520089A
Authority: JP
Inventors: Masao Yokoi; 横井　雅生; Mamoru Kondo; 守近藤
Original assignee: Yokogawa Electric Corp
Current assignee: Yokogawa Electric Corp
Priority date: 1989-08-07
Filing date: 1989-08-07
Publication date: 1991-03-25

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〈産業上の利用分野〉本発明は、光ディスクのプリフォーマット部の位置を自
動的に検出する光ディスクプリフォーマット部自動検出
装置に関する。

〈従来の技術〉光ディスクには、第４図に示すように各セクタの先頭に
、そのセクタの情報を示すグリフオーマットがある。こ
のプリフォーマットは通常能の部分（プリフォーマット
部以外の部分）よりも反射率が高くなるように形成され
ている。

ところで、光ディスクの品質検査では反射率や傷を調べ
るが、その検査の場合プリフォーマット部分は測定の対
象から外している。プリフォーマット部分を測定の対象
から外すためにはグリフオーマットの位置を正しく検出
しておく必要がある。

〈発明が解決しようとする課題〉プリフォーマットの位置は、通常反射率の違い（プリフ
ォーマット部とデータ部とでは反射率に明らかな差異が
ある）によって検出するが、ディスク面の傷などとの区
別がつかず、誤認の可能性がある。このためその検査の
後にオシロスコープにより再確認しており、非常に手間
がかかるという問題があった。

本発明の目的は、このような点に鑑みてなされたもので
、光ディスクのプリフォーマット位置を自動検出する検
出装置を提供することにある。

く課題を解決するための手段〉このような目的を達成するために、本発明では、光ディ
スクを回転させるスピンドルモータに連結しディスクの
基準位置で発生するパルスと回転に応じて発生するパル
スとを出力するエンコーダと、光ディスクからの反射ビームを検出し、反射ビームの強
度に応じた電気信号を出力する光学ヘッド部と、この光学ヘッド部からの電気信号を２値化する２値化手
段と、前記エンコーダの出力パルスを受け、ディスクの基準位
置で発生するパルスが発生した後回転に応じて発生する
パルスをカウントする位置データ読取り手段と、前記２値化手段よりパルスが出力されるごとに読み出さ
れる前記位置データ読取り手段の値を記憶すると共に、
他の必要なデータを記憶するためのメモリと、下記の手順によりプリフォーマット位置を求める機能を
有する処理手段と、前記各部に必要な制御を行うための制御手段を具備した
ことを特徴とする光ディスクプリフォーマット部自動検
出装置。

記 ■実測した各位置データごとに、自身の位置データを基
準とし、光ディスクのセクタ数から各セクタの論理的な
プリフォーマット位置を算出する。

■次にこの論理的なプリフォーマット位置データと実測
されたグリフオーマット位置データとの差より標準面差
を求める。

■各位置データについて、上記のようにして標準偏差を
求める。

■求められた各ａ準偏差の内で最小となるものを抽出し
、その場合の位置データから論理的なプリフォーマット
位置を求める。

■求められた論理的なプリフォーマット位置データ列の
中でスピンドル基準位置から最も近い値を最終的に求め
るプリフォーマット位置オフセットとする。

く作用〉本発明は、光ディスクの反射率の相違を２値化し、その
位置をスピンドルの基準位置からの角度に対応したデー
タとして求める。その測定データを基にして、プリフォ
ーマットの規則性に着目し、処理手段においてすべての
位置データか□らの標準偏差を求めて、それが最小とな
る場合を抽出する。

更に、その場合において、スピンドル基準位置に最も近
い（ｉも角度が小さい）データを最も信頼性のあるプリ
フォーマット位置オフセットとして選ぶ。

この上うにして、実測位置データを基に論理的なプリフ
ォーマット位置を求める。

〈実施例〉以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。

第１図は本発明に係る光ディスクプリフォーマット部自
動検出装置の一実施例を示す要部構成図である。図にお
いて、１は光ディスク、２は光ディスクを回転させるた
めのスピンドルモータである。

３はエンコーダで、スピンドルモータの回転軸に連結し
、ディスクの１回転中に１回出るノくルス（Ｚ相パルス
という）と、Ｚ相パルスから次のＺ相パルスまでの間に
所定個数のパルス（Ａ相Ｓルスという）を発生するよう
になっている。５は光学ヘッド部で、光ビーム４を出射
する光学へ・ンドと、光ディスクからの反射ビームを電
気信号に変換し出力するアンプから構成されている。６
は光学ヘッド部を光ディスクの径方向に移動させること
のできるスライドテーブルである。

１０はエンコーダ３と光学ヘッド部５からの信号を受け
、プリフォーマット部を自動的に求める処理装置で、２
値化手段１１、位置データ読取り手段１２、メモリ１３
、処理手段１４、制御手段１５、およびこれら各部を相
互に接続しデータの伝送をするためのバス１６より構成
される。

２値化手段１１は前記光学ヘッド部から与えられる反射
ビーム強度に対応したアナログ信号をある閾値で２ｉ化
するものである。プリフォーマット部では反射率が他の
部分に比べて高く、反射ビーム強度が大きいため、プリ
フォーマット位置に対応した２１化パルスが得られる。

位置データ読取り手段１２は、エンコーダ３の２相パル
ス発生時点後のＡ相パルスをカウントするもので、その
カウント値は光ディスクの回転位置に対応した位置デー
タ（角度データ）である。

位置データ読取り手段１２で求めた位置データは、２値
化手段１１の出力パルスの立ち上がりのタイミングでメ
モリ１３に順次記憶される。すなわち、プリフォーマッ
ト部出現ごとの角度データが記憶される。

処理手段１４は、メモリ１３に記憶された各位置データ
を基にしてプリフォーマット位置を決定する回路で、次
の■〜■の手順によりプリフォーマット位置を求める機
能を有する。

■実測した各位置データごとに、自身の位置データを基
準とし、光ディスクのセクタ数から各セクタの論理的な
プリフォーマット位置（位置データはセクタ数分だけの
個数があるので、以後プリフォーマット位置データ列と
呼ぶこともある）を算出する。

■次にこの論理的なプリフォーマット位置データと実測
されたプリフォーマット位置データとの差より標準偏差
を求める。

■多位置データについて、上記のようにして標準偏差を
求める。

■求められた各標準偏差の内で最小となるものを抽出し
、その場合の位置データから論理的なプリフォーマット
位置を求める。

■求められた論理的なプリフォーマット位置データ列の
中でスピンドル基準位置くＺ相パルス発生時の位置）か
ら最も近い値（最も小さい角度データ）を最終的に求め
るプリフォーマット位置データとする。

制御手段１５は、各部を適宜制御するもので、２値化手
段１１よりパルスが出力されるごとに位置データ読取り
手段１２の出力を続出してメモリ１３に格納すると共に
、データが揃った時点で処理手段１４を起動してプリフ
ォーマット位置を求める処理を実行させる等の必要な制
御を行う。

このような構成における動作を次に説明する。

スピンドルモータ２を駆動して光デイスク１を回転させ
、光学ヘッド部２より得られる反射ビームを２値化手段
１１で２値化する。ディスク１回転中に、２値化手段１
１より出力されるパルスの各立ち上がりで位置データ読
取り手段１２の出力を読出して、メモリ１３に格納する
。１つのプリフォーマット部内でも反射ビーム強度が変
化し２１直化パルスが複数回発生するため、第２図（ｂ
）に示すように１つのプリフォーマツｌ一部について複
数の位置データが測定される（１回転でに個のデータ、
すなわちｄｌ　、ｄ２　、ｄ３　、、、、ｄｋが測定さ
れる〉、これらの位置データはメモリー３に格納される
。その後処理手段１４を起動し、次の処理を実行させる
。第３図に示すフローは処理手段による処理動作フロー
である。

メモリに格納されたプリフォーマット位置データの任意
の一つを基準として、次の関係により論理的なプリフォ
ーマット位置ｄ・・を求める。

Ｊｄ、ｊ＝ｄ、＋３６０Ｘｊ　／Ｓただし、ｉ＝１．２．、、、ｋＪ＝１．２．、、、ＳＳはセクタ数（予め設定されている）例えば、第１番目のデータｄ１を取り出し、これを基に
第２図の（ａ＞に示すような論理的なグリフオーマット
位１ｌｆｄｉｊを求める。

この各論理ｇｉｄ、ｊから士（１／４）Ｘ　（３６０／
セクタ数）の範囲内で論理値に最も近い実測データをそ
れぞれ選択する。その値を、第２図（ｂ）に示すように
、ｄ′、（ただし、Ｊ＝１．２．、、。

Ｓ）とする。

各論理値ｄｉｊとそれに対応するデータｄＪとの差によ
る標ｆｔ、ａ差を次式に従って求める。

このようにして、ｄ２以降の実測データについても標準
偏差を求める。これによりに個の標準偏差（σ１．σ２
””　σｋ）が得られる。

そこで、ｋ個のＷＡ準偏差の中で最小となる場合が最も
信頼性のあるプリフォーマット位置であることから、標
準偏差が最小となる場合の位置データー（ｄ、）を基に
して、再び論理的なプリフォーマット位置（プリフォー
マット位置データ列）を計算する。そのうちでスピンド
ル基準位置（２相パルス発生時点）から最も小さい位置
データ（角度データ）を求める位置データと決定する。

以上のようにして決定されたプリフォーマット位置は次
のように利用される。すなわち、求めたプリフォーマッ
ト位置を基にプリフォーマット部分消去信号を作り、光
ディスクの反射率や湯側定時にはそのプリフォーマット
部分消去信号によってプリフォーマットの影響を除去す
るようにして測定する。

なお、実施例では標準偏差により規則性を見つけるよう
にしているが、標準偏差の代わりに高速フーリエ変換に
よりセクタ数Ｓでのパワースペクトルで比較するように
して最も信頼性のあるプリフォーマット位置を求めるよ
うにすることもできる。

〈発明の効果〉以上詳細に説明したように、本発明によれば、次のよう
な効果がある。

■オペレータ喰グリフオーマットの位置を確認する必要
がなく、光ディスクを検査する場合、検査装置を常時監
視あるいは操作している必要がなくなった。

■測定時間が短縮された。

、■等分割プリフォーマットディスクの場合は、セクタ
数に依存することなくプリフォーマット位置を求めるこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る光ディスクプリフォーマット部自
動検出装置の一実施例を示す要部構成図、第２図は実測
データと論理値との関係を示す図、第３図は処理手段の
動作フローを示す図、第４図はディスクのプリフォーマ
ット位置を示す概念図である。１・・・光ディスク、２・・・スピンドルモータ、３・
・・エンコーダ、５・・・光学ヘッド部、６・・・スラ
イドテーブル、１０・・・処理装置、１１・・・２値化
手段、１２・・・位置データ読取り手段、１３・・・メ
モリ、１４・・・処理手段、１５・・・制御手段、１６
・・・バス。３第図等分割プリフォーマット

Claims

【特許請求の範囲】光ディスクを回転させるスピンドルモータに連結しディ
スクの基準位置で発生するパルスと回転に応じて発生す
るパルスとを出力するエンコーダと、光ディスクからの反射ビームを検出し、反射ビームの強
度に応じた電気信号を出力する光学ヘッド部と、この光学ヘッド部からの電気信号を２値化する２値化手
段と、前記エンコーダの出力パルスを受け、ディスクの基準位
置で発生するパルスが発生した後回転に応じて発生する
パルスをカウントする位置データ読取り手段と、前記２値化手段よりパルスが出力されるごとに読み出さ
れる前記位置データ読取り手段の値を記憶すると共に、
他の必要なデータを記憶するためのメモリと、下記の手順によりプリフォーマット位置を求める機能を
有する処理手段と、前記各部に必要な制御を行うための制御手段を具備した
ことを特徴とする光ディスクプリフオーマット部自動検
出装置。記（１）実測した各位置データごとに、自身の位置データ
を基準とし、光ディスクのセクタ数から各セクタの論理
的なプリフォーマット位置を算出する。（２）次にこの論理的なプリフォーマット位置データと
実測されたプリフォーマット位置データとの差より標準
偏差を求める。（３）各位置データについて、上記のようにして標準偏
差を求める。（４）求められた各標準偏差の内で最小となるものを抽
出し、その場合の位置データから論理的なプリフォーマ
ット位置を求める。（５）求められた論理的なプリフォーマット位置データ
列の中でスピンドル基準位置から最も近い値を最終的に
求めるプリフォーマット位置オフセットとする。