JPH0335934A - 放電分類装置 - Google Patents
放電分類装置Info
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- JPH0335934A JPH0335934A JP16961889A JP16961889A JPH0335934A JP H0335934 A JPH0335934 A JP H0335934A JP 16961889 A JP16961889 A JP 16961889A JP 16961889 A JP16961889 A JP 16961889A JP H0335934 A JPH0335934 A JP H0335934A
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- JP
- Japan
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- discharge
- data
- voltage
- classification
- creating
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- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的J
(+??二半上のfり用分野)
本発明は、放電加工などの放電応用機器に光lt’、
する放電11を分類する放電分類装置に関する。
する放電11を分類する放電分類装置に関する。
(従来0)技術)
例えば放電加工にはワイヤ放電加工や形彫り放電加工な
どがあるが、このうち例えばワイヤ放電加工について説
明すると、これは被加工物Iこ対してワfヤ電極を所定
間隔おいて配置してこれら被加工物及び゛ノイrm極を
加丁槽の由に浸透し、この状態に被加圧物とワイヤ電極
との間に直流i代圧を印加する。そして、例えばワイヤ
電極を披加り物に(&近させてそのギャップ量が所定量
になるとワイヤ電極と被加工物との間に放電が発生する
。
どがあるが、このうち例えばワイヤ放電加工について説
明すると、これは被加工物Iこ対してワfヤ電極を所定
間隔おいて配置してこれら被加工物及び゛ノイrm極を
加丁槽の由に浸透し、この状態に被加圧物とワイヤ電極
との間に直流i代圧を印加する。そして、例えばワイヤ
電極を披加り物に(&近させてそのギャップ量が所定量
になるとワイヤ電極と被加工物との間に放電が発生する
。
しかるに、この放電エネルギーによって被加工物は加工
される。
される。
このよ・うなワイヤ放電加工では加工状、1!!の良否
か判断されるが、この判断は放電状態が1[常であるか
異常であるかによりtl断じており、このtll 1t
Iiは次のような方法によって行われている。すなわち
、 ■作業L4が放電柱を1−1硯し、この族7ti t、
J−の輝度から経験や勘によって放電状態をill断す
る。
か判断されるが、この判断は放電状態が1[常であるか
異常であるかによりtl断じており、このtll 1t
Iiは次のような方法によって行われている。すなわち
、 ■作業L4が放電柱を1−1硯し、この族7ti t、
J−の輝度から経験や勘によって放電状態をill断す
る。
■作業員が欣屯の音を聞き、この放電の音から経験や肋
によってbl、屯状態をI’11断する。
によってbl、屯状態をI’11断する。
■ワイヤ放電分類装置にオシロスコープがgパられでい
れば、このオシロスコープに例えばワ1ヤ電極と被加圧
物との間の放電電圧及び放電7を流の波1[二を表示さ
せ、これら放電電圧及び放電電流から放電状態を判断す
る。
れば、このオシロスコープに例えばワ1ヤ電極と被加圧
物との間の放電電圧及び放電7を流の波1[二を表示さ
せ、これら放電電圧及び放電電流から放電状態を判断す
る。
■ワイヤ放電υ1「L装置に予め放電状、態の良、吾の
基準か設定されていれば、この凰ベヘに従って族1”目
状態を判断する。
基準か設定されていれば、この凰ベヘに従って族1”目
状態を判断する。
以上である。
しかしながら、上記各方法のうち■及び■の7゜法は定
量的な放電状態の判断でなく判断の結果にばらつきが生
しる。又、■の方性はオシロスコープの周波数帯域が放
電よりも遅く、リアルタイムで放電li電圧及び放電電
流を表示することができない。さらに、放電の発生はラ
ンダムでありかつ族7TS電圧及び放電電流は保持され
ないので、オシロスコープに表示されている放電電圧及
び放?M亀流はい−)の波形はillりにくくかつe、
形からは定量的な判断が困難である。■の方l去では良
否の基準は例えばδメーカにおいて設定したものであり
、全ての放電状態の判断に適用できるものではない。
量的な放電状態の判断でなく判断の結果にばらつきが生
しる。又、■の方性はオシロスコープの周波数帯域が放
電よりも遅く、リアルタイムで放電li電圧及び放電電
流を表示することができない。さらに、放電の発生はラ
ンダムでありかつ族7TS電圧及び放電電流は保持され
ないので、オシロスコープに表示されている放電電圧及
び放?M亀流はい−)の波形はillりにくくかつe、
形からは定量的な判断が困難である。■の方l去では良
否の基準は例えばδメーカにおいて設定したものであり
、全ての放電状態の判断に適用できるものではない。
また、■の方法では各メーカごとに異常回避策を講じて
おり抽々の断線予防を(2ているが、そのため1.:述
に最高効率の加工を実現できず例えば常に00〜70%
の効率にしているなど、加工状態の検知に正確さを欠く
ものである。そのうえ、■及び■の方法で検出される放
電電圧及び放TrX電流は平均値であって、これら放電
電圧及び放電電流からは被加工物とワイヤ電極との間の
短絡しか検出できない。ところが、夫際の放電では被加
工物とワイヤ電極との間に加」二h″Iか除失されずに
仔([シ1、この加を屑の瓜によりb欠本状態が変化す
るので、加工状態を認識するには細く放7ば状態を解析
する必要がある。しか1.=ながら、上記各)j注では
いずれも放電lS状態を細く解析することが困難となっ
ている。
おり抽々の断線予防を(2ているが、そのため1.:述
に最高効率の加工を実現できず例えば常に00〜70%
の効率にしているなど、加工状態の検知に正確さを欠く
ものである。そのうえ、■及び■の方法で検出される放
電電圧及び放TrX電流は平均値であって、これら放電
電圧及び放電電流からは被加工物とワイヤ電極との間の
短絡しか検出できない。ところが、夫際の放電では被加
工物とワイヤ電極との間に加」二h″Iか除失されずに
仔([シ1、この加を屑の瓜によりb欠本状態が変化す
るので、加工状態を認識するには細く放7ば状態を解析
する必要がある。しか1.=ながら、上記各)j注では
いずれも放電lS状態を細く解析することが困難となっ
ている。
(発明が解決しようとする課題)
以上の上うに放電状態を細く解析することか困難であっ
た。
た。
そこで本発明は、放電状態を分類できて111り解析で
きる放電分類装置を提供することを目的とする。
きる放電分類装置を提供することを目的とする。
〔発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は、放電応用機器の放電電圧又はb欠本?K M
のいずれか一方又は両方を検出する検出器と、この検出
器からの検出信号を一定間隔毎の信号採取期間ごとに所
定のサンプリング周期でディジタル変換して取り込む信
号採取手段と、この信号採取手段で採取された各検出信
号から各放電における放電8電圧などの放電データを作
成する放電データ作成手段と、この放電データ作成手段
で作成ピれた放電電圧が所定レベル以下であればこの放
n本圧の放電状態は異常であると分類する異常分力手段
とを備えて上記目的を達成しようとする放電分類装置で
ある。
のいずれか一方又は両方を検出する検出器と、この検出
器からの検出信号を一定間隔毎の信号採取期間ごとに所
定のサンプリング周期でディジタル変換して取り込む信
号採取手段と、この信号採取手段で採取された各検出信
号から各放電における放電8電圧などの放電データを作
成する放電データ作成手段と、この放電データ作成手段
で作成ピれた放電電圧が所定レベル以下であればこの放
n本圧の放電状態は異常であると分類する異常分力手段
とを備えて上記目的を達成しようとする放電分類装置で
ある。
又本発1jJlは、放電応用機器の放電電圧又は放電7
1iaのいずれか一方又は両方を検出する検出器とこの
検出器からの検出信号を一定間隔毎の信号探lrl I
fJJ間ごとに所定のサンプリング周期でディジタル変
換して取り込む信号採取手段と、この信号採取手段で採
取された各検出信号から各放電における放電電圧などの
パラメータから成る放電データを作成する放電データ作
成手段と、この放電データ作成手段で作成された放電電
圧が所定レベル以下であればこの放電電圧の放電状態は
異常であると分類する冗常分類手段と、放電データ作成
手段で作成された放電データから異常分類手段で異常と
分類されたデータを除き、残りの放電データから各パラ
メータのヒストグラムを作成してその頻度から放電状態
を少なくとも2つに分類する正常分類手段とを備えて上
記目的を達成しようとする放電分類装置である。
1iaのいずれか一方又は両方を検出する検出器とこの
検出器からの検出信号を一定間隔毎の信号探lrl I
fJJ間ごとに所定のサンプリング周期でディジタル変
換して取り込む信号採取手段と、この信号採取手段で採
取された各検出信号から各放電における放電電圧などの
パラメータから成る放電データを作成する放電データ作
成手段と、この放電データ作成手段で作成された放電電
圧が所定レベル以下であればこの放電電圧の放電状態は
異常であると分類する冗常分類手段と、放電データ作成
手段で作成された放電データから異常分類手段で異常と
分類されたデータを除き、残りの放電データから各パラ
メータのヒストグラムを作成してその頻度から放電状態
を少なくとも2つに分類する正常分類手段とを備えて上
記目的を達成しようとする放電分類装置である。
さらに本発明は、放電応用機器の放電電圧又は族57I
i流のいずれか一方又は両方を検出する検出器と、この
検出器からの検出信号を一定間隔毎の信号採取期間ごと
に所定のサンプリング周期でディジタル変換して取り込
む信号採取手段と、この信号採取手段で採取された各検
出信号から各放電における放電電圧などのパラメータか
ら成る放電データを作成する放電データ作成手段と、こ
の放電データ作成手段で作成された放電データから電流
ピークのヒストグラムを作成し、このヒストグラムの頻
度分布から放電状態を分類する分類手段とを備えて上記
目的を達成しようとする放電分類装置である。
i流のいずれか一方又は両方を検出する検出器と、この
検出器からの検出信号を一定間隔毎の信号採取期間ごと
に所定のサンプリング周期でディジタル変換して取り込
む信号採取手段と、この信号採取手段で採取された各検
出信号から各放電における放電電圧などのパラメータか
ら成る放電データを作成する放電データ作成手段と、こ
の放電データ作成手段で作成された放電データから電流
ピークのヒストグラムを作成し、このヒストグラムの頻
度分布から放電状態を分類する分類手段とを備えて上記
目的を達成しようとする放電分類装置である。
(作 用)
このような手段を備えたことにより、放電応用機器の放
r1電圧又は放電電流のいずれか一方又は両方が検出器
されると、この検出信号は信号採取手段によって一定間
隔毎の信号採取期間ごとに所定のサンプリング周期でデ
ィジタル変換して取り込まれ、放電データ作成手段によ
ってこれら採取された各検出信号から各放電における放
電電圧などの放電データが作成される。そして、これら
放電データから異常分類手段は族11!電圧が所定レベ
ル以下であればこの放電![圧の放電状態は異常である
と分類する。
r1電圧又は放電電流のいずれか一方又は両方が検出器
されると、この検出信号は信号採取手段によって一定間
隔毎の信号採取期間ごとに所定のサンプリング周期でデ
ィジタル変換して取り込まれ、放電データ作成手段によ
ってこれら採取された各検出信号から各放電における放
電電圧などの放電データが作成される。そして、これら
放電データから異常分類手段は族11!電圧が所定レベ
ル以下であればこの放電![圧の放電状態は異常である
と分類する。
父上記手段を備えたことにより、上記異常分類手段で異
常放電が分類されると、正常分類手段は放電データから
異常と分類されたデータを除き、残りの/ik 7にデ
ータから各パラメータのヒストグラムを作成してその頻
度から放電状態を少なくとも2つに分類する。
常放電が分類されると、正常分類手段は放電データから
異常と分類されたデータを除き、残りの/ik 7にデ
ータから各パラメータのヒストグラムを作成してその頻
度から放電状態を少なくとも2つに分類する。
さらに上記手段を備えたことにより、上記放電データ作
成手段で作成された放電データから分類手段は′4ii
iltピークのヒストグラムを作成し、このヒストグラ
ムの頻度分布から放電状態を分類する。
成手段で作成された放電データから分類手段は′4ii
iltピークのヒストグラムを作成し、このヒストグラ
ムの頻度分布から放電状態を分類する。
(実施例)
以下、本発明の第1実施例について図面を参照して説明
する。
する。
第1図は放電分類装置の全体構成図である。加工捨1の
内部には被加工物2が浸透されている。
内部には被加工物2が浸透されている。
この被加工物2には所定間隔をおいてワイヤ電極3が配
置されている。なお、このワイヤ電極3は上部ワイヤガ
イド体4及び図示しない下部ワイヤガイド体により支持
されている。これら被加工物2とワイヤ電1!i13と
の間には放電制御回路5を介して直流電源6が接続され
て放電回路を形成している。この場合、直流電源6は正
極を被加工物2に接続している。かかる放電回路には電
圧検出器7が直流電源6に対して並列接続されるととも
に電流検出器8が直流電源6に対して直列接続されてい
る。
置されている。なお、このワイヤ電極3は上部ワイヤガ
イド体4及び図示しない下部ワイヤガイド体により支持
されている。これら被加工物2とワイヤ電1!i13と
の間には放電制御回路5を介して直流電源6が接続され
て放電回路を形成している。この場合、直流電源6は正
極を被加工物2に接続している。かかる放電回路には電
圧検出器7が直流電源6に対して並列接続されるととも
に電流検出器8が直流電源6に対して直列接続されてい
る。
一方、10は分類装置本体であって、この分類装置本体
10にはアッテネータ(ATT)11゜12が備えられ
、一方のアッテネータ11に電圧検出器7が接続される
とともに他方のアッテネータ12に電流検出器8が接続
されている。これらアッテネータ11.12にはそれぞ
れメモリが内蔵された各A/D (アナログ/ディジタ
ル)変換器13.14が接続され、これらA/D変換器
13.14はバス15を介してCPU (中央処理装置
)16に接続されている。このCPU16にはバス15
を介してタイミングコントローラ17、RAM (ラン
ダム・アクセス番メモリ)18、ROM (リード・オ
ンリ・メモリ)19及び表示駆動部20が接続されてい
る。タイミングコントローラ17はA/D変換器13.
14における信号取込みタイミングを制御するものであ
る。又、表示駆動部20には表示器21が接続されて表
示器21を表示駆動するものとなっている。ROM1つ
には、取込んだ印加電圧及び放電電流から放電開始時刻
や放電終了時刻、電流ピーク値、パルス間隔など放電デ
ータを求め、このIJ!!、電データから放電の良否を
判断する内容の放電解析プログラムが記憶されている。
10にはアッテネータ(ATT)11゜12が備えられ
、一方のアッテネータ11に電圧検出器7が接続される
とともに他方のアッテネータ12に電流検出器8が接続
されている。これらアッテネータ11.12にはそれぞ
れメモリが内蔵された各A/D (アナログ/ディジタ
ル)変換器13.14が接続され、これらA/D変換器
13.14はバス15を介してCPU (中央処理装置
)16に接続されている。このCPU16にはバス15
を介してタイミングコントローラ17、RAM (ラン
ダム・アクセス番メモリ)18、ROM (リード・オ
ンリ・メモリ)19及び表示駆動部20が接続されてい
る。タイミングコントローラ17はA/D変換器13.
14における信号取込みタイミングを制御するものであ
る。又、表示駆動部20には表示器21が接続されて表
示器21を表示駆動するものとなっている。ROM1つ
には、取込んだ印加電圧及び放電電流から放電開始時刻
や放電終了時刻、電流ピーク値、パルス間隔など放電デ
ータを求め、このIJ!!、電データから放電の良否を
判断する内容の放電解析プログラムが記憶されている。
又、ROM i 9には、タイミングコントローラ17
でのA/D変換器13゜14に対する信号採取タイミン
グプログラムが記憶されている。しかるに、この信号採
取タイミンに電圧検出信号、電流検出信号をそれぞれ8
ビ・ノドにディジタル変換して1回の信号採取期間で例
えば1024〜65538 Bのデータを採取するもの
となる。なお、各(li号採取明開開間隔は一定期間Δ
Hに設定されている。しかるに、各A / D ’5換
器13.14、CPU16、タイミングコントロう17
及びROM 19により信号採取手段が溝底されている
。又、ROM1.9には放電データ作成プログラム、異
常分類プログラム及びiT、′畠う)類プログラムが1
:記憶されている。これ1こより、上4′:己CPU1
6は第2図に示すように信号PR取j□段16−1、放
電データ作成−手段16−2、“tこ′畠う)類手段1
6−3及び正常分類T段16−4の呂機能を有するもの
となる。なお、信号採取手段161は上記の如くこの手
段16−1の一部の機能をffシている。放電データ作
成手段16−2は、信号採取手段で採取されたディジタ
ル電圧検出((i号及びディジタル電流検出信号から各
放電における放電電圧や放電電流などのパラメータから
成る放電データを作成する機能を有するものであり、叉
異常分類手段16−3は放電データ作成手段]6−2で
作成された放電電圧が所定レベルの数本限界電圧以下で
あればこの放電電圧での放電状態は異常であると分類す
る機能を有するものである。そして、正常分類手段16
−4は放電データ作成手段16−2で作成された放電デ
ータから異常分類手段16−3で異常と分類されたデー
タを除き、残りの放電データから放電電圧のヒストグラ
ムを作成してその頻度から被加工物2とワイヤ電極3と
の間の加工屑が十分清掃された場合の放電状態と、回加
E屑が十分清掃されない場合の放電状態とに分類する機
能をaするしのである。
でのA/D変換器13゜14に対する信号採取タイミン
グプログラムが記憶されている。しかるに、この信号採
取タイミンに電圧検出信号、電流検出信号をそれぞれ8
ビ・ノドにディジタル変換して1回の信号採取期間で例
えば1024〜65538 Bのデータを採取するもの
となる。なお、各(li号採取明開開間隔は一定期間Δ
Hに設定されている。しかるに、各A / D ’5換
器13.14、CPU16、タイミングコントロう17
及びROM 19により信号採取手段が溝底されている
。又、ROM1.9には放電データ作成プログラム、異
常分類プログラム及びiT、′畠う)類プログラムが1
:記憶されている。これ1こより、上4′:己CPU1
6は第2図に示すように信号PR取j□段16−1、放
電データ作成−手段16−2、“tこ′畠う)類手段1
6−3及び正常分類T段16−4の呂機能を有するもの
となる。なお、信号採取手段161は上記の如くこの手
段16−1の一部の機能をffシている。放電データ作
成手段16−2は、信号採取手段で採取されたディジタ
ル電圧検出((i号及びディジタル電流検出信号から各
放電における放電電圧や放電電流などのパラメータから
成る放電データを作成する機能を有するものであり、叉
異常分類手段16−3は放電データ作成手段]6−2で
作成された放電電圧が所定レベルの数本限界電圧以下で
あればこの放電電圧での放電状態は異常であると分類す
る機能を有するものである。そして、正常分類手段16
−4は放電データ作成手段16−2で作成された放電デ
ータから異常分類手段16−3で異常と分類されたデー
タを除き、残りの放電データから放電電圧のヒストグラ
ムを作成してその頻度から被加工物2とワイヤ電極3と
の間の加工屑が十分清掃された場合の放電状態と、回加
E屑が十分清掃されない場合の放電状態とに分類する機
能をaするしのである。
次に上記の如く構成された装置の作用について参照して
説明する。
説明する。
被加工物2とワイヤ電極3との間に直流電源6から放電
制御回路5を通して直流電圧が印加され、この状態に被
加工物2とワイヤ電極3とのギャップ量が所定量となる
と、被加工物2とワイヤ電極3との間に放電が発生する
。この枚7aのエネルギにまり被加工物2は加工される
。
制御回路5を通して直流電圧が印加され、この状態に被
加工物2とワイヤ電極3とのギャップ量が所定量となる
と、被加工物2とワイヤ電極3との間に放電が発生する
。この枚7aのエネルギにまり被加工物2は加工される
。
この状態に電圧検出器7は被加工物2とワ・fヤ屯極3
との間の族7IS電圧を検出してその電L[検出信号を
出力し、又7tS流検出器8は彼IJI+工物2からワ
イヤ電極3に流れた放電電流を検出してその電流検出信
号を出力する。これら電圧検出信号及び電流検出信号は
それぞれアッテネータ11.12で処理しやすいレベル
に減衰されてA/D、&換器13.14に人力する。こ
のとき、各A/D変換器1′3.14は共にタイミング
コントローラ17により制卸されてそれぞれ電圧検出信
号、?d電流検出信号ディジタル変換して取込む。つま
り、各A/D変換器13.14は一定間隔ΔH毎の各信
号採取期間においてそれぞれ例えばxns毎にjail
II!fに電圧検出信号、電流検出信号をそれぞれ8
ビツトにディジタル変換して取込む。これにより、1回
の信号採取期間例えば信号採取期間S1において上記B
のデータが取込まれる。このように1回の信号採取期間
で取込んだディジタル電圧検出信号及びディジタル電流
信号はそれぞれ各A/D変換器1.3.14内のメモリ
に一時記憶され、各信号採取期間の経過の後にCPU1
6によってRAM18に移されて記憶される。
との間の族7IS電圧を検出してその電L[検出信号を
出力し、又7tS流検出器8は彼IJI+工物2からワ
イヤ電極3に流れた放電電流を検出してその電流検出信
号を出力する。これら電圧検出信号及び電流検出信号は
それぞれアッテネータ11.12で処理しやすいレベル
に減衰されてA/D、&換器13.14に人力する。こ
のとき、各A/D変換器1′3.14は共にタイミング
コントローラ17により制卸されてそれぞれ電圧検出信
号、?d電流検出信号ディジタル変換して取込む。つま
り、各A/D変換器13.14は一定間隔ΔH毎の各信
号採取期間においてそれぞれ例えばxns毎にjail
II!fに電圧検出信号、電流検出信号をそれぞれ8
ビツトにディジタル変換して取込む。これにより、1回
の信号採取期間例えば信号採取期間S1において上記B
のデータが取込まれる。このように1回の信号採取期間
で取込んだディジタル電圧検出信号及びディジタル電流
信号はそれぞれ各A/D変換器1.3.14内のメモリ
に一時記憶され、各信号採取期間の経過の後にCPU1
6によってRAM18に移されて記憶される。
このようにディジタル電圧検出信号及びディジタル電流
信号が取込まれてRAMI 8に記憶され、例えば10
回の信号採取期間が終了すると、CPU16の放電デー
タ作成手段16−2は各ディジタル電圧検出信号及びデ
ィジタル電流信号からそれぞれ第3図に示すような放電
電圧及び放電電流の各波形を求め、これら波形から放電
発生の順番に発生番号rlJ r2J・・・rNJを
付す。そして、CPU16はこれら波形から各放電にお
ける放電開始al、 C2・・・anや放電終了bl、
b2・・・bn、放電化圧cl、 C2・・・an、
電流ビークdi、 d2・・・dnS電流パルス幅el
、 C2・・・en、放電エネルギN、 r2・・・r
n1パルス間隔gl、 C2・・・goなどの各パラメ
ータから成る放電データDを求めてRAM18にテーブ
ル化して記憶する。
信号が取込まれてRAMI 8に記憶され、例えば10
回の信号採取期間が終了すると、CPU16の放電デー
タ作成手段16−2は各ディジタル電圧検出信号及びデ
ィジタル電流信号からそれぞれ第3図に示すような放電
電圧及び放電電流の各波形を求め、これら波形から放電
発生の順番に発生番号rlJ r2J・・・rNJを
付す。そして、CPU16はこれら波形から各放電にお
ける放電開始al、 C2・・・anや放電終了bl、
b2・・・bn、放電化圧cl、 C2・・・an、
電流ビークdi、 d2・・・dnS電流パルス幅el
、 C2・・・en、放電エネルギN、 r2・・・r
n1パルス間隔gl、 C2・・・goなどの各パラメ
ータから成る放電データDを求めてRAM18にテーブ
ル化して記憶する。
次にCPU16の異常分類手段16−3は予め設定され
た放電限界電圧と各放電電圧cl、 C2・・・enと
を比較して放電限界電圧よりもレベルが低い放電電圧例
えばC2を異常放電であるアーク放電パルス及び短絡と
して検出する。このように異常放電が検出されると、こ
の異常数Ysc2の発生番号「2」の放電開始C2や放
電終了b2、放電電圧C2、電流ピーク値d2の各デー
タがテーブルから抹消される。
た放電限界電圧と各放電電圧cl、 C2・・・enと
を比較して放電限界電圧よりもレベルが低い放電電圧例
えばC2を異常放電であるアーク放電パルス及び短絡と
して検出する。このように異常放電が検出されると、こ
の異常数Ysc2の発生番号「2」の放電開始C2や放
電終了b2、放電電圧C2、電流ピーク値d2の各デー
タがテーブルから抹消される。
なお、この場合、発生番号「2」はRAM18に形成さ
れた異常放電のテーブルに移される。これにより、異常
放電(アーク放電パルス)と正常放電とが分類される。
れた異常放電のテーブルに移される。これにより、異常
放電(アーク放電パルス)と正常放電とが分類される。
次にCPU16の正常分類手段16−4は異常放電が抹
消された放ホデータDから放電電圧cl。
消された放ホデータDから放電電圧cl。
C3,C4・・・Cn−1,cnを抽出して第4図に示
す放電電圧のヒストグラムを作成する。このようにして
作成されたヒストグラムには2つの正規分布Q1Q2が
現れる。ここで、正規分布Qlは被加工物2とワイヤ7
1S極3との間が加工液の流れにより十分に清浄化され
て加工屑が取り去られた状態における放電電圧を示して
おり、この状態で放電電圧が正規性njQ1を示すのは
被加工物2とワイヤ電極3との間の僅かな残留加工屑に
より放電抵抗値の変動やワイヤ電極3の振動等による被
加工物2とワイヤ電極3との間のギャップ量の変化によ
ってばらつくことに起因する。一方、正規分布Q2は正
規分布Qlでの放電加工から例えば加工速度を速めた場
合であって、この場合は被加工物2とワイヤ電極3との
間にかなりの加工屑が残り、この加工屑によってギャッ
プ間の抵抗値が小さくなって放電電圧が低くても放電が
生じている過渡的な放電を示している。しかるに、正常
分類手段16−4は正常の放電から真に正常な放電と過
渡的な放電を分類する。
す放電電圧のヒストグラムを作成する。このようにして
作成されたヒストグラムには2つの正規分布Q1Q2が
現れる。ここで、正規分布Qlは被加工物2とワイヤ7
1S極3との間が加工液の流れにより十分に清浄化され
て加工屑が取り去られた状態における放電電圧を示して
おり、この状態で放電電圧が正規性njQ1を示すのは
被加工物2とワイヤ電極3との間の僅かな残留加工屑に
より放電抵抗値の変動やワイヤ電極3の振動等による被
加工物2とワイヤ電極3との間のギャップ量の変化によ
ってばらつくことに起因する。一方、正規分布Q2は正
規分布Qlでの放電加工から例えば加工速度を速めた場
合であって、この場合は被加工物2とワイヤ電極3との
間にかなりの加工屑が残り、この加工屑によってギャッ
プ間の抵抗値が小さくなって放電電圧が低くても放電が
生じている過渡的な放電を示している。しかるに、正常
分類手段16−4は正常の放電から真に正常な放電と過
渡的な放電を分類する。
このように上記一実施例においては、放電電圧及び放1
!電流をの各検出信号採取して放電データDを作成し、
この放電データから放電電圧が放電限界電圧以下であれ
ばこの放電電圧の放電状態は異常であると分類するよう
にしたので、放電は正常であるか異常つまりアーク放電
パルスか短絡であるかが定量的に判別できる。
!電流をの各検出信号採取して放電データDを作成し、
この放電データから放電電圧が放電限界電圧以下であれ
ばこの放電電圧の放電状態は異常であると分類するよう
にしたので、放電は正常であるか異常つまりアーク放電
パルスか短絡であるかが定量的に判別できる。
さらに放電データDから異常と分類されたデータを除き
、残りの放電データDから放電電圧のヒストグラムを作
成してその頻度から放電状態を分類するようにしたので
、正常放電をさらに僅かな残留加工屑による放電抵抗値
の変動やワイヤ電極3の振動等に起因する放電と、加工
屑によってギャップ間の抵抗値が小さくなったときの過
渡的な放電とに分類できる。以上のような放電の分類の
結果、加工状態を正確に認識することが可能となり、放
電加工の効率を向上できる。
、残りの放電データDから放電電圧のヒストグラムを作
成してその頻度から放電状態を分類するようにしたので
、正常放電をさらに僅かな残留加工屑による放電抵抗値
の変動やワイヤ電極3の振動等に起因する放電と、加工
屑によってギャップ間の抵抗値が小さくなったときの過
渡的な放電とに分類できる。以上のような放電の分類の
結果、加工状態を正確に認識することが可能となり、放
電加工の効率を向上できる。
次に本発明の第2実施例について説明する。々お、同実
施例のハードウェア構成は第1図に示すyA′111と
同一なので、同図の符号を用いて異なる機能部分のみ説
明する。ROM19には信号採取プログラム、放電デー
タ作成プログラム及び分類プログラムが記憶されている
。これにより、CPU16は第5図に示すように信号採
取手段16−1、放電データ作成手段16−2及び分類
手段16−5の各機能を有するものとなる。ここで、分
類手段16−5は放電データ作成手段16−2で作成さ
れた放電データDから電流ピークのヒストグラムを作成
し、このヒストグラムの頻度分布から放電状態を異常、
過渡的及び真の正常に分類する機能をaするものである
。
施例のハードウェア構成は第1図に示すyA′111と
同一なので、同図の符号を用いて異なる機能部分のみ説
明する。ROM19には信号採取プログラム、放電デー
タ作成プログラム及び分類プログラムが記憶されている
。これにより、CPU16は第5図に示すように信号採
取手段16−1、放電データ作成手段16−2及び分類
手段16−5の各機能を有するものとなる。ここで、分
類手段16−5は放電データ作成手段16−2で作成さ
れた放電データDから電流ピークのヒストグラムを作成
し、このヒストグラムの頻度分布から放電状態を異常、
過渡的及び真の正常に分類する機能をaするものである
。
このような構成であれば、分類手段16−5は上記放電
データDから電流ビークdi、 d2. d3. ・
・dnのヒストグラムを作成する。第6図及び第7図は
電流ピークのヒストグラムであって、第6図ではiE規
分市が2つ現われ、第7図では正規分布が3つ現われて
いる。第6図のヒストグラムでの放電の分類を説明する
と、分類手段16−5はヒストグラムの変曲点を通るス
レッショルドS2を設定し、このスレッショルドS1を
境界としてヒストグラムを21j¥p、、P2に分ける
。そして、分類手段16−5はヒストグラム群P1を真
に正常な放電とするとともにヒストグラムlpzをAa
的な放電と分類する。又、第7図のヒストグラムでの放
電の分類を説明すると、分類手段16−5はヒストグラ
ムの各食油点を通る各スレッショルドS2.S3を設定
し、これらスレッショルドS2.Slを境界としてヒス
トグラムを31!T PP2及びP3に分ける。そして
、分類手段165は上記同様にヒストグラムr、? p
+を真に正常な放電とするととしにヒストグラムu
P 2を過渡的な放電とし、さらにヒストグラムI!I
P 3を異常放電(アーク放電パルスや短絡)と分類
する。
データDから電流ビークdi、 d2. d3. ・
・dnのヒストグラムを作成する。第6図及び第7図は
電流ピークのヒストグラムであって、第6図ではiE規
分市が2つ現われ、第7図では正規分布が3つ現われて
いる。第6図のヒストグラムでの放電の分類を説明する
と、分類手段16−5はヒストグラムの変曲点を通るス
レッショルドS2を設定し、このスレッショルドS1を
境界としてヒストグラムを21j¥p、、P2に分ける
。そして、分類手段16−5はヒストグラム群P1を真
に正常な放電とするとともにヒストグラムlpzをAa
的な放電と分類する。又、第7図のヒストグラムでの放
電の分類を説明すると、分類手段16−5はヒストグラ
ムの各食油点を通る各スレッショルドS2.S3を設定
し、これらスレッショルドS2.Slを境界としてヒス
トグラムを31!T PP2及びP3に分ける。そして
、分類手段165は上記同様にヒストグラムr、? p
+を真に正常な放電とするととしにヒストグラムu
P 2を過渡的な放電とし、さらにヒストグラムI!I
P 3を異常放電(アーク放電パルスや短絡)と分類
する。
このように上記第2実施例においては、放電データDか
ら電流ピークの巳ストグラムを作成してその頻度分(I
Tから放電状態を真に正常な放電、過渡的な放電及び異
常放電と分類するようにしたので、上記第1実施例と同
様の効果を奏することができる。そのうえ、放電電流は
加工条件及び加工状態を総合的に反映しかつ不安定要素
やノイズは含まれないので、放電の分類結果の信頼性が
高い。
ら電流ピークの巳ストグラムを作成してその頻度分(I
Tから放電状態を真に正常な放電、過渡的な放電及び異
常放電と分類するようにしたので、上記第1実施例と同
様の効果を奏することができる。そのうえ、放電電流は
加工条件及び加工状態を総合的に反映しかつ不安定要素
やノイズは含まれないので、放電の分類結果の信頼性が
高い。
なお、本発明は上記各実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、第
1実施例において異常放電と正常放電との分類は放電エ
ネルギN、 「2・・・(’nのヒストグラムを作成し
てその正規分布から分類してもよい。又、本装置はワイ
ヤ放電加工装置に限らず、形彫り放電加工や電解加工、
さらには電圧信号及び71Sa信号のサンプリングのレ
ンジ変更により溶接機やレーザ応用機器、照明機素、ス
パッタリング装置、PVD?CVDのプラズマ加工装置
などの放電応用機器にも適用できる。このうちスパッタ
リング装置では放電状態を検出することで放電媒体の流
量調整ができる。
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、第
1実施例において異常放電と正常放電との分類は放電エ
ネルギN、 「2・・・(’nのヒストグラムを作成し
てその正規分布から分類してもよい。又、本装置はワイ
ヤ放電加工装置に限らず、形彫り放電加工や電解加工、
さらには電圧信号及び71Sa信号のサンプリングのレ
ンジ変更により溶接機やレーザ応用機器、照明機素、ス
パッタリング装置、PVD?CVDのプラズマ加工装置
などの放電応用機器にも適用できる。このうちスパッタ
リング装置では放電状態を検出することで放電媒体の流
量調整ができる。
以上詳記したように本発明によれば、放電状態を分類で
きて細くM析できる放電分類装置を提供できる。
きて細くM析できる放電分類装置を提供できる。
第1図乃至第4図は本発明に係わる放電分類装置の第1
実施例を説明するための図であって、第1図は構成図、
第2図は機能ブロック図、第3図は放電電圧及び放電電
流の波形図、第4図は放電の分類作用を説明するための
図、第5図は本発明装置の第2実施例の機能ブロック図
、第6図及び第7図は放電の分類作用を説明するための
図である。 1・・・加工檜、2・・・波加工物、3・・ワイヤ電極
、4・・・上部ワイヤガイド体、5・・・放電制御回路
、6・・・直流電源、7・・・電圧検出器、8・・車流
検出器、10・・・モニタ装置本体、11.12・・・
アッテネタ、13.14・・・A/D変換器、15・・
・バス、16・ CPU、16−1・・・信号採取手段
、16−2・・・放電データ作成手段、16−3・・・
兄常分類手段、16−4・・・正常分類手段、16−5
・・・分類手段、17・・・タイミングコントローラ、
18・・・RAM、19・・・ROM、20・・・表示
駆動部、21・・・表示器。 第 2 図 窒 に# 図 放電電圧 第 図 第 図
実施例を説明するための図であって、第1図は構成図、
第2図は機能ブロック図、第3図は放電電圧及び放電電
流の波形図、第4図は放電の分類作用を説明するための
図、第5図は本発明装置の第2実施例の機能ブロック図
、第6図及び第7図は放電の分類作用を説明するための
図である。 1・・・加工檜、2・・・波加工物、3・・ワイヤ電極
、4・・・上部ワイヤガイド体、5・・・放電制御回路
、6・・・直流電源、7・・・電圧検出器、8・・車流
検出器、10・・・モニタ装置本体、11.12・・・
アッテネタ、13.14・・・A/D変換器、15・・
・バス、16・ CPU、16−1・・・信号採取手段
、16−2・・・放電データ作成手段、16−3・・・
兄常分類手段、16−4・・・正常分類手段、16−5
・・・分類手段、17・・・タイミングコントローラ、
18・・・RAM、19・・・ROM、20・・・表示
駆動部、21・・・表示器。 第 2 図 窒 に# 図 放電電圧 第 図 第 図
Claims (3)
- (1)放電応用機器の放電電圧又は放電電流のいずれか
一方又は両方を検出する検出器と、この検出器からの検
出信号を一定間隔毎の信号採取期間ごとに所定のサンプ
リング周期でディジタル変換して取り込む信号採取手段
と、こ2信号採取手段で採取された各検出信号から各放
電における放電電圧などの放電データを作成する放電デ
ータ作成手段と、この放電データ作成手段で作成された
放電電圧が所定レベル以下であればこの放電電圧の放電
状態は異常であると分類する異常分類手段とを具備した
ことを特徴とする放電分類装置。 - (2)放電応用機器の放電電圧又は放電電流のいずれか
一方又は両方を検出する検出器と、この検出器からの検
出信号を一定間隔毎の信号採取期間ごとに所定のサンプ
リング周期でディジタル変換して取り込む信号採取手段
と、この信号採取手段で採取された各検出信号から各放
電における放電電圧などのパラメータから成る放電デー
タを作成する放電データ作成手段と、この放電データ作
成手段で作成された放電電圧が所定レベル以下であれば
この放電電圧の放電状態は異常であると分類する異常分
類手段と、前記放電データ作成手段で作成された放電デ
ータから前記異常分類手段で異常と分類されたデータを
除き、残りの放電データから各パラメータのヒストグラ
ムを作成してその頻度から放電状態を少なくとも2つに
分類する正常分類手段とを具備したことを特徴とする放
電分類装置。 - (3)放電応用機器の放電電圧又は放電電流のいずれか
一方又は両方を検出する検出器と、この検出器からの検
出信号を一定間隔毎の信号採取期間ごとに所定のサンプ
リング周期でディジタル変換して取り込む信号採取手段
と、この信号採取手段で採取された各検出信号から各放
電における放電電圧などのパラメータから成る放電デー
タを作成する放電データ作成手段と、この放電データ作
成手段で作成された放電データから電流ピークのヒスト
グラムを作成し、このヒストグラムの頻度分布から放電
状態を分類する分類手段とを具備したことを特徴とする
放電分類装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1169618A JPH0761571B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 放電分類装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1169618A JPH0761571B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 放電分類装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0335934A true JPH0335934A (ja) | 1991-02-15 |
| JPH0761571B2 JPH0761571B2 (ja) | 1995-07-05 |
Family
ID=15889838
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1169618A Expired - Lifetime JPH0761571B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 放電分類装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0761571B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8519295B2 (en) * | 2011-12-02 | 2013-08-27 | Mitsubishi Electric Corporation | Controller of electrical discharge machine |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6284919A (ja) * | 1985-10-08 | 1987-04-18 | Amada Co Ltd | 放電加工装置の加工状態検出方法及びその装置 |
| JPS645724A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-10 | Toshiba Corp | Electric discharge processing machine |
-
1989
- 1989-06-30 JP JP1169618A patent/JPH0761571B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6284919A (ja) * | 1985-10-08 | 1987-04-18 | Amada Co Ltd | 放電加工装置の加工状態検出方法及びその装置 |
| JPS645724A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-10 | Toshiba Corp | Electric discharge processing machine |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8519295B2 (en) * | 2011-12-02 | 2013-08-27 | Mitsubishi Electric Corporation | Controller of electrical discharge machine |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0761571B2 (ja) | 1995-07-05 |
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